特許 7025962出願番号 特願 2018-48125
アナログ機器検針システム及び方法
出願人 株式会社チノー（識別番号 133526）
2026年 特許公開件数ランキング 1702位 11件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 1743位 8件（※）
公報発行日 2022年2月25
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7025962 ログイン済みの方はこのURLへ
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※ 共同出願を含む
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技術分野
アナログ計器や開閉弁などの各種アナログ機器における現在の状態を指し示す指針の指示位置を検針するアナログ機器検針システム及び方法に関するものである。
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
しかしながら、生産ライン完成品検査のための特許文献１のシステムでは、予め撮像する形状パターンは計器の表示面（指針や目盛りが現れている面）を正面から撮像したものとなるが、実際に作業員が工場プラントの現場で点検する場合は、形状パターンと必ずしも同じ位置、同じ角度で計器が撮像できる保証がないため、撮像した画像と予め記憶する形状パターンとが一致しない場合は適切な指示値が取得できないという問題がある。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
した目的を達成するため、本発明の第１の態様は、測定対象のアナログ値を示す目盛り盤と、測定したアナログ値に応じて前記目盛り盤上を動く指示部とを有するアナログ機器を検針するアナログ機器検針システムであって、
前記アナログ機器を識別する機器情報と、前記アナログ機器の測定値の上下限の範囲を示す測定値範囲情報と、前記目盛り盤内に設定される目盛り領域の形状を特定する形状情報とを少なくとも含む機器・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋
本発明によれば、作業員が検針対象となるアナログ機器を撮像するだけで、自動的に指示部が指し示すアナログ値をデジタル化した測定値として取得することができるため、アナログ機器を検針する手間が省けるとともに、目視による測定値の読み間違いや点検ミス（記入漏れや機器識別の間違い）などのヒューマンエラーを未然に防止することができる。
この特許の権利範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
本発明のアナログ機器検針システムの機能ブロック図である。
【図2】
（ａ）は本発明の検針対象であるアナログ機器の撮像画像例を示す概念図であり、（ｂ）は図２（ａ）の撮像画像に所定の画像処理を施したときの概念図である。
【図3】
撮像画像を２値化した後に黒データのピクセルの相対座標を取得するまでの流れを示す概念図である。
【図4】
目盛り領域内に存在する黒データの各ピクセルの位置を表したヒストグラムである。
代表図 図1本件の代表的な図
１…アナログ機器検針システム
１０…撮像部
２０…記憶部
３０…画像処理部
３１…コード解析手段
３２…２値化処理手段
３３…座標取得手段
３４…位置特定手段
３５…換算手段
４０…機器特定コード
４１…位置検出パターン
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