特許7040972IP Force 特許公報全文掲載

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サポートリング付き容器のサポートリングを検査する検査装置及びサポートリング検査方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

従来技術ではサポートリングの破損等の異常は検査できるが、サポートリング上面のキズ等の欠陥が検出できない。また、サポートリング外周に発生するバリ欠陥は、手で触ったときに違和感を生じやすいため、検査することが望ましいが、小さなバリ欠陥を高精度に検出することは難しい。また、サポートリングに存在する切欠きマーク（ネックリングインジケータ）とバリ、キズ等との判別が難しく、検査精度が低下する。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置は、サポートリング付き容器のサポートリングの上方から第１の光を照射する第１光源と、 前記サポートリングの側方から第２の光を照射する第２光源と、 前記サポートリングからの前記第１の光の反射光による第１検査画像及び前記第２の光の反射光による第２検査画像を取得するカメラと、 前記第１検査画像及び前記第２検査画像に基づいて前記サポ・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置及びサポートリング付き容器のサポートリング検査方法によれば、形状欠陥だけでなく、上面の欠陥も検出できると共に、切欠きマークも判別でき、高い検査精度を有する。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 実施の形態１に係るサポートリング付き容器のサポートリング検査装置の構成を示す概略図である。
【図2A】 図１のサポートリング検査装置の検査部の物理的な構成の一例を示すブロック図である。
【図2B】 図１のサポートリング検査装置の検査部の機能的な構成の一例を示すブロック図である。
【図3】 サポートリングからの第１の光の反射光及び第２の光の反射光の合成画像の模式図である。
【図4】 サポートリングからの第１の光の反射光による第１検査画像の模式図である。
【図5】 サポートリングからの第２の光の反射光による第２検査画像の模式図である。
【図6】 サポートリングからの第１の光の反射光による第１検査画像と第２の光の反射光による第２検査画像との差分である第３検査画像の模式図である。
【図7】 実施の形態１に係るサポートリング検査方法のフローチャートである。
【図8】 サポートリングからの第１の光の反射光による別例の第１検査画像の模式図である。
【図9】 サポートリングからの第２の光の反射光による別例の第２検査画像の模式図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１ 口部 ２ 胴部（側壁） ３ 底部 ４ サポートリング １０ サポートリング付き容器（プリフォーム） １２ 第１光源 １３ 第１の光 １４ 第２光源 １５ 第２の光 １６ カメラ １８ 検査部 ２０ サポートリング検査装置 ２１ ＣＰＵ ２２ メモリ ２３ 記憶部 ２４ 表示部 ２５ 入力部 ２６ インタフェース ３１ サポートリング欠陥検出部 ３２ 第１検査画像検査部 ３３ 第２検査画像検査部 ３４ 第３検査画像生成部 ３５ 切欠きマーク領域検出部 ３６ 切欠きマーク領域マスク部 ４１ 切欠きマーク ４２ 黒点 ４３ キズ１ ４４ キズ２ ４５、４６ 切れ目（われ目） ４７、４８ バリ

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