特許 7062481出願番号 特願 2018-55516
電磁波計測装置
出願人 パイオニア株式会社（識別番号 5016）
2026年 特許公開件数ランキング 58位 403件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 168位 146件（※）
公報発行日 2022年5月6
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7062481 ログイン済みの方はこのURLへ
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※ 共同出願を含む
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技術分野
計測用の電磁波を発生させる光伝導素子及び当該電磁波を検出する光伝導素子を含む電磁波計測装置
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
例えば、電磁波の計測を行う場合、電磁波発生素子としての光伝導素子は高出力の電磁波を発生させること、また、検出素子としての光伝導素子は高感度且つ高精度で電磁波を検出することが好ましい。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
請求項１に記載の発明は、第１の基板と第１の基板上にエピタキシャル成長した第１の光伝導層とを含む電磁波発生素子と、第２の基板と第２の基板上にエピタキシャル成長した第２の光伝導層とを含む電磁波検出素子と、を含み、電磁波発生素子における第１の基板と第１の光伝導層との間の格子定数のずれ度合は、電磁波検出素子における第２の基板と第２の光伝導層との間の格子定数のずれ度合よりも小さいことを特徴としている。・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
実施例１に係る電磁波計測装置の斜視図である。
【図2】
実施例１に係る電磁波計測装置における電磁波発生素子及び電磁波検出素子の構成を示す図である。
【図3】
実施例１に係る電磁波計測装置を含む光学測定システムの模式的な回路図である。
【図4】
実施例１に係る電磁波計測装置の電磁波発生素子及び電磁波検出素子の構成例を示す図である。
【図5】
実施例１に係る電磁波計測装置の電磁波発生素子及び比較例に係る電磁波発生素子から発生した電磁波のダイナミックレンジを示す図である。
【図6】
実施例１に係る電磁波計測装置の電磁波検出素子及び比較例に係る電磁波検出素子によって検出された電磁波のダイナミックレンジを示す図である。
【図7】
実施例１に係る電磁波計測装置の電磁波発生素子における格子定数のずれ度合の好ましい範囲を示す図である。
【図8】
実施例１に係る電磁波計測装置の電磁波検出素子における格子定数のずれ度合の好ましい範囲を示す図である。
【図9】
実施例１の変形例１に係る電磁波計測装置における電磁波発生素子及び電磁波検出素子の斜視図である。
【図10】
実施例１の変形例１に係る電磁波計測装置における電磁波発生素子及び電磁波検出素子の上面図である。
代表図 図1本件の代表的な図
１０、１０Ａ 電磁波計測装置
２０ 電磁波発生素子
２１ 第１の基板
２２ バッファ層
２３ 第１の光伝導層
３０、３０Ａ 電磁波検出素子
３１ 第２の基板
３２ バッファ層
３３、３５ 第２の光伝導層
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