【図1】
本発明の一実施形態による撮像システムの絵図を示している。
【図2】
本発明の一実施形態による典型的な撮像システムの概略のブロック図を示している。
【図3】
キャリッジと、線質硬化フィルタと、複数のボウタイフィルタとを含む典型的な統合型フィルタアセンブリの不等角投影図を示している。
【図4A】
第1のサイズのX線ビームのためのコリメーション装置を示している。
【図4B】
第2のサイズのX線ビームのための図4Aのコリメーション装置を示している。
【図4C】
第3のサイズのX線ビームのための図4Aのコリメーション装置を示している。
【図4D】
第4のサイズのX線ビームのための図4Aのコリメーション装置を示している。
【図4E】
第5のサイズのX線ビームのための図4Aのコリメーション装置を示している。
【図5A】
3つのボウタイフィルタと線質硬化フィルタとを有するフィルタアセンブリの第1の位置を示している。
【図5B】
図5Aのフィルタアセンブリの第2の位置を示している。
【図5C】
図5Aのフィルタアセンブリの第3の位置を示している。
【図5D】
図5Aのフィルタアセンブリの第4の位置を示している。
【図6】
統合型フィルタアセンブリに含まれる複数のフィルタを使用して撮像を行うための典型的な方法のフローチャートを示している。
【図7】
遮断プレートを含むコリメータブレードを示している。
【図8A】
遮断プレートを含むX線ビーム用のコリメーション装置の第1の位置を示している。
【図8B】
遮断プレートを含むX線ビーム用のコリメーション装置の第2の位置を示している。
【図9】
診断スキャンに先立つX線管のコンディショニングのための典型的な方法のフローチャートを示している。
【図10】
スキャン前のX線管の温度の典型的な開ループ制御を説明するブロック図を示している。
【図11】
診断スキャンの前にスカウトスキャンを使用してX線管をコンディショニングするための典型的な方法のフローチャートを示している。
【図12】
スカウトスキャンプロトコルのガイドされた選択を説明するブロック図を示している。
【図13】
スカウトスキャンおよび診断スキャンの最中のX線管の温度の変動の典型的なプロットを示している。