特許 7107438 ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2022-07-19

(45)【発行日】2022-07-27

(54)【発明の名称】ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 27/82 20060101AFI20220720BHJP

【ＦＩ】

G01N27/82

【請求項の数】 12

(21)【出願番号】P 2021524683

(86)(22)【出願日】2020-04-07

(86)【国際出願番号】 JP2020015706

(87)【国際公開番号】W WO2020246131

(87)【国際公開日】2020-12-10

【審査請求日】2021-06-25

(31)【優先権主張番号】P 2019105692

(32)【優先日】2019-06-05

(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP

(73)【特許権者】

【識別番号】000001993

【氏名又は名称】株式会社島津製作所

(74)【代理人】

【識別番号】100104433

【弁理士】

【氏名又は名称】宮園 博一

(72)【発明者】

【氏名】伊藤 康展

(72)【発明者】

【氏名】山岡 信行

(72)【発明者】

【氏名】潮 亘

【審査官】小澤 瞬

(56)【参考文献】

【文献】国際公開第２０１８／１０９８２４（ＷＯ，Ａ１）

【文献】特開平０７－３０６１８５（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開昭５５－１２６８５３（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０６－３３１６０２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０２０－００８５００（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｂ６６Ｂ ７／００ － Ｂ６６Ｂ ７／１２

Ｇ０１Ｎ ２７／７２ － Ｇ０１Ｎ ２７／９０９３

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルと、
前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行う制御部と、を備え、
前記制御部は、前記検知コイルにより取得した測定データに基づいて、前記測定データを平滑化処理したデータである平滑化データを取得して、取得した前記平滑化データに基づいて、前記測定データのベースラインを取得して、取得した前記ベースラインに基づいて、前記測定データからピーク波形を取得して、取得した前記ピーク波形に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、ワイヤロープ検査システム。

【請求項2】

前記制御部は、前記ベースラインに対して、正の値を有する測定値群、および、前記ベースラインに対して、負の値を有する測定値群を、前記ピーク波形として取得する制御を行うように構成されている、請求項１に記載のワイヤロープ検査システム。

【請求項3】

参照ピーク波形が記憶された記憶部をさらに備え、
前記制御部は、前記ピーク波形と、前記参照ピーク波形との比較結果に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、請求項１に記載のワイヤロープ検査システム。

【請求項4】

前記参照ピーク波形は、前記ワイヤロープの傷みの種類が既知の測定データである既知データに基づいて、前記既知データを平滑化処理したデータである平滑化データが取得されて、取得された前記既知データの平滑化データに基づいて、前記既知データのベースラインが取得されて、取得された前記既知データのベースラインに基づいて、前記既知データから取得されたピーク波形である、請求項３に記載のワイヤロープ検査システム。

【請求項5】

前記制御部は、前記ピーク波形と、前記参照ピーク波形との比較結果として、前記ピーク波形と、前記参照ピーク波形との間の類似度を取得するとともに、取得した前記類似度に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、請求項３に記載のワイヤロープ検査システム。

【請求項6】

前記制御部は、前記ピーク波形を予め決められた数分だけ分割して、予め決められた数分の代表値を取得するとともに、取得した前記ピーク波形の予め決められた数分の代表値と、前記参照ピーク波形の予め決められた数分の代表値とに基づいて、前記類似度を取得する制御を行うように構成されている、請求項５に記載のワイヤロープ検査システム。

【請求項7】

前記制御部は、前記類似度が所定値よりも高い高類似度の、正の前記ピーク波形および負の前記ピーク波形を取得した場合、取得した正の前記ピーク波形および負の前記ピーク波形の出現順序に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、請求項５に記載のワイヤロープ検査システム。

【請求項8】

前記制御部は、前記類似度が所定値よりも高い高類似度の、正の前記ピーク波形および負の前記ピーク波形を取得した場合、取得した正の前記ピーク波形および負の前記ピーク波形の間の前記ピーク波形の数に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、請求項５に記載のワイヤロープ検査システム。

【請求項9】

前記制御部は、前記ピーク波形に基づいて、前記ピーク波形を特定するパラメータを取得するとともに、取得した前記パラメータに基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、請求項１に記載のワイヤロープ検査システム。

【請求項10】

前記制御部は、前記パラメータとしての、前記ピーク波形の幅、前記ピーク波形の尖り、および、前記ピーク波形の前記ベースラインの傾きのうちの少なくともいずれか１つに基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、請求項９に記載のワイヤロープ検査システム。

【請求項11】

前記制御部は、前記ワイヤロープの傷みの種類として、素線断線、外圧による固定的変形および素線の撚りの緩みのうちの少なくともいずれか１つを検出する制御を行うように構成されている、請求項１に記載のワイヤロープ検査システム。

【請求項12】

ワイヤロープの磁界の変化を検知するステップと、
前記ワイヤロープの磁界の変化を検知して取得した測定データに基づいて、前記測定データを平滑化処理したデータである平滑化データを取得するステップと、
前記平滑化データに基づいて、前記測定データのベースラインを取得するステップと、
前記ベースラインに基づいて、前記測定データからピーク波形を取得するステップと、
前記ピーク波形に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出するステップと、を備える、ワイヤロープ検査方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、ワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、ワイヤロープの状態を検査するワイヤロープ検査装置が知られている。このような構成は、たとえば、国際公開第２０１８／１３８８５０号に開示されている。

【0003】

上記国際公開第２０１８／１３８８５０号には、スチールワイヤロープの状態を検査する検査装置が開示されている。この検査装置は、スチールワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルと、検知コイルからの信号に基づいてスチールワイヤロープの傷の有無を判定する電子回路部とを備えている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【文献】国際公開第２０１８／１３８８５０号

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかしながら、上記国際公開第２０１８／１３８８５０号に記載された検査装置では、スチールワイヤロープの傷の有無を判定することができるだけで、スチールワイヤロープの傷の種類までは判定することができない。この場合、検査員が測定データを確認してスチールワイヤロープの傷の種類を判定する必要があるため、スチールワイヤロープの保守作業の効果的な支援が困難であるという問題点がある。

【0006】

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、ワイヤロープの傷みの種類を検出することにより、ワイヤロープの保守作業の支援を効果的に行うことが可能なワイヤロープ検査システムおよびワイヤロープ検査方法を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0007】

上記目的を達成するために、この発明の第１の局面によるワイヤロープ検査システムは、ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルと、ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行う制御部と、を備え、制御部は、検知コイルにより取得した測定データに基づいて、測定データを平滑化処理したデータである平滑化データを取得して、取得した平滑化データに基づいて、測定データのベースラインを取得して、取得したベースラインに基づいて、測定データからピーク波形を取得して、取得したピーク波形に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている。

【0008】

この発明の第２の局面によるワイヤロープ検査方法は、ワイヤロープの磁界の変化を検知するステップと、ワイヤロープの磁界の変化を検知して取得した測定データに基づいて、測定データを平滑化処理したデータである平滑化データを取得するステップと、平滑化データに基づいて、測定データのベースラインを取得するステップと、ベースラインに基づいて、測定データからピーク波形を取得するステップと、ピーク波形に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類を検出するステップと、を備える。

【発明の効果】

【0009】

本発明によれば、上記のように、ベースラインに基づいて、測定データからピーク波形が取得されるとともに、ピーク波形に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が検出される。これにより、ワイヤロープの傷みの有無だけでなく、ワイヤロープの傷みの種類も検出して、検査員に通知することができる。その結果、検査員が測定データを確認してワイヤロープの傷みの種類を判定する必要がないので、ワイヤロープの傷みの種類を検出することにより、ワイヤロープの保守作業の支援を効果的に行うことができる。また、上記のように、ベースラインに基づいて、測定データからピーク波形が取得されることにより、ベースラインに基づかずにピーク波形が取得される場合と異なり、ワイヤロープの傷みに伴い発生するワイヤロープの変形による低周波成分が低減された正確なピーク波形を取得することができる。その結果、ワイヤロープの傷みに伴い発生するワイヤロープの変形による低周波成分が低減された正確なピーク波形に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類を容易に検出することができる。

【図面の簡単な説明】

【0010】

【図1】一実施形態によるワイヤロープ検査システムの構成を示す概略図である。

【図2】一実施形態によるワイヤロープ検査装置により検査されるワイヤロープが使用されるエレベータを示した模式図である。

【図3】一実施形態によるワイヤロープ検査装置の制御的な構成を示すブロック図である。

【図4】一実施形態による磁性体検査装置の磁界印加部および検出部の構成を説明するための図である。

【図5】一実施形態によるワイヤロープの傷みの種類の検出処理の全体構成を説明するための図である。

【図6】一実施形態によるピーク波形と参照ピーク波形との間の類似度の取得処理を説明するための図である。

【図7】一実施形態によるピーク波形と参照ピーク波形との間の類似度の取得処理における代表値の取得処理を説明するための図である。

【図8】一実施形態によるピーク波形と参照ピーク波形との間の類似度の取得処理の詳細を説明するための図である。

【図9】一実施形態による正負ピーク波形間の出現順序の取得処理を説明するための図である。

【図10】一実施形態による正負ピーク波形間のピーク波形の数の取得処理を説明するための図である。

【図11】一実施形態によるピーク波形のパラメータの取得処理を説明するための図である。

【図12】一実施形態によるピーク波形のパラメータに基づくワイヤロープの傷みの種類の検出処理を説明するための図である。

【図13】一実施形態によるピーク波形の類似度およびピーク波形のパラメータに基づくワイヤロープの傷みの種類の検出処理を説明するための図である。

【図14】一実施形態によるワイヤロープ検査装置のデータ処理系を説明するための図である。

【図15】（Ａ）は、一実施形態によるデータ処理系において、第１メモリに測定データを格納して、第２メモリに格納された測定データを制御部に出力する状態を示した図である。（Ｂ）は、一実施形態によるデータ処理系において、第２メモリに測定データを格納して、第１メモリに格納された測定データを制御部に出力する状態を示した図である。

【発明を実施するための形態】

【0011】

以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。

【0012】

まず、図１～図４を参照して、一実施形態によるワイヤロープ検査システム１００の全体構成について説明する。

【0013】

（ワイヤロープ検査システムの構成）
図１に示すように、ワイヤロープ検査システム１００は、検査対象物であるワイヤロープ１０１を検査するシステムである。ワイヤロープ検査システム１００は、ワイヤロープ１０１の状態を磁気的に検知するワイヤロープ検査装置２００と、ワイヤロープ１０１の検査結果を表示する外部装置３００とを備えている。ワイヤロープ検査システム１００は、ワイヤロープ検査装置２００と外部装置３００とによりワイヤロープ１０１の傷みを検査するように構成されている。

【0014】

ワイヤロープ１０１は、磁性を有する素線材料が編みこまれる（たとえば、ストランド編みされる）ことにより形成されている。ワイヤロープ１０１は、たとえば、鋼製のワイヤロープ（スチールワイヤロープ）である。ワイヤロープ１０１は、Ｘ方向に延びる長尺材からなる磁性体である。ワイヤロープ１０１は、劣化による切断が起こるのを防ぐために、状態（傷等の有無）を監視されている。そして、劣化が所定量より進行したワイヤロープ１０１は、交換される。

【0015】

（ワイヤロープ検査装置）
図２に示すように、ワイヤロープ検査装置２００は、検査対象物であるワイヤロープ１０１の表面に沿って相対移動させながら、ワイヤロープ１０１を検査する。ワイヤロープ１０１は、エレベータ４００を駆動する動索である。エレベータ４００は、かご部４０１と、ワイヤロープ１０１を巻き上げてかご部４０１を昇降させる巻上機４０２と、かご部４０１（ワイヤロープ１０１）の位置を検知する位置センサ４０３とを備えている。エレベータ４００では、ワイヤロープ１０１が巻上機４０２により移動されるため、ワイヤロープ検査装置２００を固定した状態で、ワイヤロープ１０１の移動に伴って、検査が行われる。ワイヤロープ１０１は、ワイヤロープ検査装置２００の位置において、Ｘ方向に延びるように配置されている。

【0016】

図３に示すように、ワイヤロープ検査装置２００は、検知部１と、電子回路部２とを備えている。検知部１は、一対の受信コイル１１および１２を有する差動コイルである検知コイル１０と、励振コイル１３とを含んでいる。電子回路部２は、制御部２１と、受信Ｉ／Ｆ２２と、記憶部２３と、励振Ｉ／Ｆ２４と、電源回路２５と、通信部２６とを含んでいる。また、ワイヤロープ検査装置２００は、磁界印加部４（図４参照）を備えている。

【0017】

ワイヤロープ検査装置２００には、通信部２６を介して外部装置３００が通信可能に接続されている。

【0018】

図１に示すように、外部装置３００は、通信部３０１と、制御部３０２と、表示部３０３と、記憶部３０４とを備えている。外部装置３００は、通信部３０１を介して、ワイヤロープ検査装置２００によるワイヤロープ１０１の傷みの検出結果などのデータを受信するように構成されている。また、外部装置３００は、制御部３０２による制御の下、ワイヤロープ１０１の傷みの検出結果を、表示部３０３に表示するように構成されている。また、外部装置３００は、ワイヤロープ１０１の傷みの検出結果などを、記憶部３０４に記憶するように構成されている。

【0019】

図４に示すように、ワイヤロープ検査装置２００は、検知コイル１０によりワイヤロープ１０１の磁界（磁束）の変化を検知するように構成されている。ワイヤロープ検査装置２００のコイル近傍には、直流磁化器が配置されないように構成されている。

【0020】

（磁界印加部の構成）
図４に示すように、磁界印加部４は、検査対象物であるワイヤロープ１０１に対して予めＹ方向（ワイヤロープ１０１の延びる方向に交差する方向）に磁界を印加し磁性体であるワイヤロープ１０１の磁化の大きさおよび方向を整えるように構成されている。また、磁界印加部４は、磁石４１および４２を含む第１磁界印加部と、磁石４３および４４を含む第２磁界印加部とを含んでいる。第１磁界印加部（磁石４１および４２）は、検知部１に対して、ワイヤロープ１０１の延びる方向の一方側（Ｘ１方向側）に配置されている。また、第２磁界印加部（磁石４３および４４）は、検知部１に対して、ワイヤロープ１０１の延びる方向の他方側（Ｘ２方向側）に配置されている。

【0021】

第１磁界印加部（磁石４１および４２）は、ワイヤロープ１０１の延びる方向（Ｘ方向）に交差する面に平行かつＹ２方向に磁界を印加するように構成されている。第２磁界印加部（磁石４３および４４）は、ワイヤロープ１０１の延びる方向（Ｘ方向）に交差する面に平行かつＹ１方向に磁界を印加するように構成されている。すなわち、磁界印加部４は、長尺材の長手方向であるＸ方向と略直交する方向に磁界を印加するように構成されている。

【0022】

（検知部の構成）
検知コイル１０（受信コイル１１および１２）と、励振コイル１３とは、長尺材からなる磁性体であるワイヤロープ１０１の延びる方向を中心軸として、長手方向に沿うようにそれぞれ複数回巻回されている。また、検知コイル１０および励振コイル１３は、ワイヤロープ１０１の延びるＸ方向（長手方向）に沿って円筒形となるように形成される導線部分を含むコイルである。したがって、検知コイル１０および励振コイル１３の巻回される導線部分の形成する面は、長手方向に略直交している。ワイヤロープ１０１は、検知コイル１０および励振コイル１３の内部を通過する。また、検知コイル１０は、励振コイル１３の内側に設けられている。なお、検知コイル１０および励振コイル１３の配置はこれに限られない。検知コイル１０の受信コイル１１は、Ｘ１方向側に配置されている。また、検知コイル１０の受信コイル１２は、Ｘ２方向側に配置されている。受信コイル１１および１２は、数ｍｍ～数ｃｍ程度の間隔を隔てて配置されている。

【0023】

励振コイル１３は、ワイヤロープ１０１の磁化の状態を励振する。具体的には、励振コイル１３に励振交流電流が流されることにより、励振コイル１３の内部において、励振交流電流に基づいて発生する磁界がＸ方向に沿って印加されるように構成されている。

【0024】

検知コイル１０は、一対の受信コイル１１および１２の差動信号を送信するように構成されている。具体的には、検知コイル１０は、ワイヤロープ１０１の磁界の変化を検知して差動信号を送信するように構成されている。検知コイル１０は、検査対象物であるワイヤロープ１０１のＸ方向の磁界の変化を検知して検知信号（電圧）を出力するように構成されている。すなわち、検知コイル１０は、磁界印加部４によりＹ方向に磁界が印加されたワイヤロープ１０１に対して、Ｙ方向に交差するＸ方向の磁界の変化を検知する。また、検知コイル１０は、検知したワイヤロープ１０１のＸ方向の磁界の変化に基づく差動信号（電圧）を出力するように構成されている。また、検知コイル１０は、励振コイル１３によって発生する磁界の略全てが検知可能に（入力される様に）配置されている。

【0025】

ワイヤロープ１０１に欠陥（傷等）が存在する場合は、欠陥（傷等）のある部分でワイヤロープ１０１の全磁束（磁界に透磁率と面積とを掛けた値）が小さくなる。その結果、たとえば、受信コイル１１が、欠陥（傷等）のある場所に位置する場合、受信コイル１２を通る磁束量が受信コイル１１と比較して変化するため、検知コイル１０による検知電圧の差の絶対値（差動信号）が大きくなる。一方、欠陥（傷等）のない部分での差動信号は略ゼロとなる。このように、検知コイル１０において、欠陥（傷等）の存在をあらわす明確な信号（Ｓ／Ｎ比の良い信号）が検知される。これにより、電子回路部２は、差動信号の値に基づいてワイヤロープ１０１の欠陥（傷等）の存在を検出することが可能である。

【0026】

（電子回路部の構成）
図３に示す電子回路部２の制御部２１は、ワイヤロープ検査装置２００の各部を制御するように構成されている。具体的には、制御部２１は、ＣＰＵ（中央処理装置）などのプロセッサ、メモリ、ＡＤ変換器などを含んでいる。

【0027】

制御部２１は、検知コイル１０から差動信号を受信して、ワイヤロープ１０１の状態を検知するように構成されている。また、制御部２１は、励振コイル１３を励振させる制御を行うように構成されている。また、制御部２１は、通信部２６を介して、ワイヤロープ１０１の状態の検知結果を外部装置３００に送信するように構成されている。

【0028】

受信Ｉ／Ｆ２２は、検知コイル１０から差動信号を受信して、制御部２１に送信するように構成されている。具体的には、受信Ｉ／Ｆ２２は、増幅器を含んでいる。また、受信Ｉ／Ｆ２２は、検知コイル１０の差動信号を増幅して、制御部２１に送信するように構成されている。記憶部２３は、フラッシュメモリなどの記憶媒体を含み、情報を記憶するように構成されている。

【0029】

励振Ｉ／Ｆ２４は、制御部２１から制御信号を受信して、励振コイル１３に対する電力の供給を制御するように構成されている。具体的には、励振Ｉ／Ｆ２４は、制御部２１からの制御信号に基づいて、電源回路２５から励振コイル１３への電力の供給を制御する。

【0030】

（ワイヤロープの傷みの種類の検出）
次に、図５～図１３を参照して、ワイヤロープ１０１の傷みの種類の検出処理について説明する。

【0031】

本実施形態では、図５に示すように、制御部２１は、検知コイル１０により取得した測定データ２０１に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている。制御部２１は、ワイヤロープ１０１の傷みの種類として、素線断線、外圧による固定的変形（以下、単に「キンク」という）および素線の撚りの緩み（以下、単に「アヤ」という）を検出する制御を行うように構成されている。

【0032】

具体的には、まず、制御部２１は、測定データ２０１に基づいて、測定データ２０１を平滑化処理したデータである平滑化データ２０２（スムージングデータ）を取得する制御を行う。具体的には、制御部２１は、測定データ２０１をローパスフィルタにより平滑化処理することにより、平滑化データ２０２を取得する制御を行う。これにより、平滑化データ２０２として、ワイヤロープの傷みに伴うロープの変形により生じた揺らぎ成分（低周波成分）のデータが取得される。

【0033】

次に、制御部２１は、取得した平滑化データ２０２に基づいて、測定データ２０１のベースライン２０３を取得する制御を行う。具体的には、制御部２１は、測定データ２０１の波形と平滑化データ２０２の波形との交点２０２ａを結ぶラインを、ベースライン２０３として取得する制御を行う。

【0034】

次に、制御部２１は、取得したベースライン２０３に基づいて、測定データ２０１を補正する制御を行う。具体的には、制御部２１は、測定データ２０１からベースライン２０３を減算する補正を行う。すなわち、制御部２１は、測定データ２０１から低周波成分を減算する補正を行う。これにより、補正した測定データ２０１は、ワイヤロープの傷みに伴うロープの変形により生じた揺らぎ成分（低周波成分）を除いたデータが取得される。

【0035】

次に、制御部２１は、補正した測定データ２０１に基づいて、ピーク波形２０４を取得する制御を行う。具体的には、制御部２１は、補正した測定データ２０１において、ベースライン２０３に対して正の値を有する測定値群を正のピーク波形２０４として取得する制御を行う。また、制御部２１は、補正した測定データ２０１において、ベースライン２０３に対して負の値を有する測定値群を負のピーク波形２０４として取得する制御を行う。制御部２１は、正のピーク波形２０４と、負のピーク波形２０４とを区別して取得する制御を行う。ピーク波形２０４は、ベースライン２０３による補正時に除かれずに残った、ワイヤロープ１０１の傷みを示す波形成分などの測定データ２０１の高周波成分である。

【0036】

最後に、制御部２１は、取得したピーク波形２０４に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行う。具体的には、制御部２１は、ピーク波形２０４と、参照ピーク波形２０５（症例ピーク波形）との比較結果（後述する類似度２０６）、および、ピーク波形２０４を特定するパラメータ２０７（ピーク指標）に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行う。

【0037】

〈参照ピーク波形との比較に基づくワイヤロープの傷みの種類の検出〉
図６に示すように、制御部２１は、ピーク波形２０４と、特定種類のワイヤロープ１０１の傷みを示す参照用の波形である参照ピーク波形２０５との比較結果に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行う。参照ピーク波形２０５は、ピーク波形２０４を取得する処理と同様の処理により、ワイヤロープ１０１の傷みの種類が既知の測定データ２０１である既知データから得られたピーク波形である。すなわち、参照ピーク波形２０５は、ワイヤロープ１０１の傷みの種類が既知の測定データ２０１である既知データに基づいて、既知データを平滑化処理したデータである平滑化データが取得されて、取得された既知データの平滑化データに基づいて、既知データのベースラインが取得されて、取得された既知データのベースラインに基づいて、既知データから取得されたピーク波形である。

【0038】

参照ピーク波形２０５は、記憶部２３に予め記憶されている。記憶部２３には、参照ピーク波形２０５として、素線断線を示す参照ピーク波形２０５ａ、キンクを示す参照ピーク波形２０５ｂ、および、アヤを示す参照ピーク波形２０５ｃが記憶されている。なお、記憶部２３に記憶される各傷み（素線断線、キンク、アヤ）の参照ピーク波形２０５の数は、１つであってもよいし、複数であってもよい。制御部２１は、素線断線を示す参照ピーク波形２０５ａ、キンクを示す参照ピーク波形２０５ｂ、および、アヤを示す参照ピーク波形２０５ｃの各々と、ピーク波形２０４との比較結果を取得する制御を行う。

【0039】

また、制御部２１は、ピーク波形２０４と、参照ピーク波形２０５との比較結果として、ピーク波形２０４と、参照ピーク波形２０５との間の類似度２０６を取得する制御を行う。そして、制御部２１は、取得した類似度２０６に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行う。

【0040】

この際、図７に示すように、制御部２１は、ピーク波形２０４を予め決められた数ｎ分だけ分割して、予め決められた数ｎ分の代表値Ｐ１～Ｐｎを取得するとともに、取得したピーク波形２０４の予め決められた数ｎ分の代表値Ｐ１～Ｐｎと、参照ピーク波形２０５の予め決められた数ｎ分の代表値ＳＰ１～ＳＰｎとに基づいて、類似度２０６を取得する制御を行う。予め決められた数ｎは、ピーク波形２０４を構成する測定値群の数よりも小さい数であれば特に限られないが、たとえば、７～９程度とすることができる。また、参照ピーク波形２０５の代表値ＳＰ１～ＳＰｎは、予め記憶部２３に記憶させておくことができる。

【0041】

具体的には、図８に示すように、制御部２１は、類似度２０６として、代表値Ｐ１～Ｐｎにより表されるピーク波形２０４のベクトルと、代表値ＳＰ１～ＳＰｎにより表される参照ピーク波形２０５のベクトルとのなす角度θのＣＯＳ値を取得する制御を行う。ＣＯＳ（θ）の値は、図８に示す式により求めることができる。ＣＯＳ（θ）の値が大きいほど（すなわち、角度θが小さいほど）、類似度２０６が大きく、ピーク波形２０４と参照ピーク波形２０５との形が類似することを示す。また、ＣＯＳ（θ）の値が小さいほど（すなわち、角度θが大きいほど）、類似度２０６が小さく、ピーク波形２０４と参照ピーク波形２０５との形が類似しないことを示す。なお、ＣＯＳ（θ）は、類似度２０６の一例であり、類似度２０６の取得方法は、この方法には限られない。

【0042】

制御部２１は、素線断線を示す参照ピーク波形２０５ａ（図６参照）、キンクを示す参照ピーク波形２０５ｂ（図６参照）、および、アヤを示す参照ピーク波形２０５ｃ（図６参照）の各々と、ピーク波形２０４との間の類似度２０６を取得する制御を行う。この際、制御部２１は、正負のピーク波形２０４の各々について、類似度２０６を取得する制御を行う。検知コイル１０が差動コイルである場合、ワイヤロープ１０１の傷みを示す波形は、正負の一対のピーク波形を少なくとも含む波形となるためである。

【0043】

具体的には、ピーク波形２０４が正のピーク波形２０４である場合、素線断線を示す参照ピーク波形２０５ａの正のピーク波形、キンクを示す参照ピーク波形２０５ｂの正のピーク波形、および、アヤを示す参照ピーク波形２０５ｃの正のピーク波形の各々と、ピーク波形２０４との間の類似度２０６が制御部２１により取得される。同様に、ピーク波形２０４が負のピーク波形２０４である場合、素線断線を示す参照ピーク波形２０５ａの負のピーク波形、キンクを示す参照ピーク波形２０５ｂの負のピーク波形、および、アヤを示す参照ピーク波形２０５ｃの負のピーク波形の各々と、ピーク波形２０４との間の類似度２０６が制御部２１により取得される。正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４の両方において高類似度が得られた場合、ワイヤロープ１０１の傷みは高類似度が得られた参照ピーク波形２０５の傷みである可能性がある。

【0044】

また、本実施形態では、図９に示すように、制御部２１は、類似度が所定値よりも高い高類似度の、正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４を取得した場合、取得した正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４の出現順序に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行う。ワイヤロープ１０１の傷みの種類により、正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４の出現順序が異なる傾向があるためである。具体的には、正負のピーク波形２０４の出現順序が第１順序（図９では、正、負の順）である場合、ワイヤロープ１０１の傷みの種類がキンクまたはアヤである可能性がある。また、正負のピーク波形２０４の出現順序が第１順序とは逆の順序である第２順序（図９では、負、正の順）である場合、ワイヤロープ１０１の傷みの種類が素線断線である可能性がある。

【0045】

また、本実施形態では、図１０に示すように、制御部２１は、類似度が所定値よりも高い高類似度の、正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４を取得した場合、取得した正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４の間のピーク波形２０４の数に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行う。ワイヤロープ１０１の傷みの種類により、正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４の間のピーク波形２０４の数が異なる傾向があるためである。具体的には、正負のピーク波形２０４の間のピーク波形２０４の数が予め決められたしきい値未満である場合（すなわち、０または少ない場合）、ワイヤロープ１０１の傷みの種類が素線断線またはキンクである可能性がある。また、正負のピーク波形２０４の間のピーク波形２０４の数が予め決められたしきい値以上である場合（すなわち、多い場合）、ワイヤロープ１０１の傷みの種類がアヤである可能性がある。予め決められたしきい値は、特に限られないが、たとえば、２とすることができる。ワイヤロープ１０１の傷みの種類が素線断線またはキンクである場合、正負のピーク波形２０４の間のピーク波形２０４の数が、０または１程度である場合が多いためである。

【0046】

〈パラメータに基づくワイヤロープの傷みの種類の検出〉
また、本実施形態では、図１１に示すように、制御部２１は、ピーク波形２０４に基づいて、ピーク波形２０４を特定するパラメータ２０７を取得するとともに、取得したパラメータ２０７に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行う。

【0047】

具体的には、制御部２１は、パラメータ２０７としての、ピーク波形２０４の幅２０７ａ、ピーク波形２０４の尖り２０７ｂ、および、ピーク波形２０４のベースライン２０３の傾き２０７ｃに基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行う。ピーク波形２０４の幅２０７ａは、たとえば、ピーク波形２０４のベースライン２０３の長さとすることができる。すなわち、ピーク波形２０４の幅２０７ａは、たとえば、互いに隣接する、測定データ２０１の波形と平滑化データ２０２の波形との交点２０２ａの間の長さとすることができる。ピーク波形２０４の尖り２０７ｂは、たとえば、ピーク波形２０４の幅２０７ａに対するピーク波形２０４の高さ２０７ｄとすることができる。なお、ピーク波形２０４の高さ２０７ｄは、たとえば、ベースライン２０３からピークトップまでの長さとすることができる。ピーク波形２０４のベースライン２０３の傾き２０７ｃは、たとえば、測定データ２０１の時間軸に沿ったラインとベースライン２０３のなす角度とすることができる。

【0048】

図１２に示すように、ワイヤロープ１０１の傷みの種類により、ピーク波形２０４の幅２０７ａが異なる傾向がある。具体的には、ピーク波形２０４の幅２０７ａが大きい場合、ワイヤロープ１０１の傷みの種類がアヤである可能性がある。また、ピーク波形２０４の幅２０７ａが小さい場合、ワイヤロープ１０１の傷みの種類が素線断線またはキンクである可能性がある。なお、ピーク波形２０４の幅２０７ａの大小は、たとえば、幅２０７ａ用のしきい値を設定して判断することができる。幅２０７ａ用のしきい値は、たとえば、参照ピーク波形２０５（２０５ａ～ｃ）の幅に基づいて設定することができる。

【0049】

また、ワイヤロープ１０１の傷みの種類により、ピーク波形２０４の尖り２０７ｂが異なる傾向がある。具体的には、ピーク波形２０４の尖り２０７ｂが大きい場合、ワイヤロープ１０１の傷みの種類が素線断線またはキンクである可能性がある。また、ピーク波形２０４の尖り２０７ｂが小さい場合、ワイヤロープ１０１の傷みの種類がアヤである可能性がある。なお、ピーク波形２０４の尖り２０７ｂの大小は、たとえば、尖り２０７ｂ用のしきい値を用いて判断することができる。尖り２０７ｂ用のしきい値は、たとえば、参照ピーク波形２０５（２０５ａ～ｃ）の尖りに基づいて設定することができる。

【0050】

また、ワイヤロープ１０１の傷みの種類により、ピーク波形２０４のベースライン２０３の傾き２０７ｃが異なる傾向がある。具体的には、ピーク波形２０４のベースライン２０３の傾き２０７ｃが大きい場合、ワイヤロープ１０１の傷みの種類がアヤである可能性がある。また、ピーク波形２０４のベースライン２０３の傾き２０７ｃが小さい場合、ワイヤロープ１０１の傷みの種類が素線断線またはキンクである可能性がある。なお、ピーク波形２０４のベースライン２０３の傾き２０７ｃの大小は、たとえば、傾き２０７ｃ用のしきい値を用いて判断することができる。傾き２０７ｃ用のしきい値は、たとえば、参照ピーク波形２０５（２０５ａ～ｃ）のベースライン２０３の傾きに基づいて設定することができる。

【0051】

〈類似度およびパラメータに基づくワイヤロープの傷みの種類の検出〉
図１３に示すように、制御部２１は、類似度２０６、および、パラメータ２０７に基づいて、素線断線、キンクおよびアヤの各々について、傷みがその傷みである可能性を示す値である評価値を取得するとともに、取得した評価値に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行う。

【0052】

具体的には、まず、制御部２１は、予め決められた評価手順に従って、素線断線、キンクおよびアヤの各々について、類似度２０６の大きさの評価値、正負のピーク波形２０４の出現順序の評価値、正負のピーク波形２０４の間のピーク波形２０４の数の評価値、ピーク波形２０４の幅２０７ａの評価値、ピーク波形２０４の尖り２０７ｂの評価値、および、ピーク波形２０４のベースライン２０３の傾き２０７ｃの評価値を取得する制御を行う。そして、制御部２１は、素線断線、キンクおよびアヤの各々について、複数の評価値の合計値を取得するとともに、取得した３つの合計値のうち、最も高い合計値を有する傷みを、ワイヤロープ１０１の傷みの種類として検出する制御を行う。また、制御部２１は、ワイヤロープ１０１の傷みの種類の検出結果を、外部装置３００に送信する制御を行う。

【0053】

そして、外部装置３００の制御部３０２は、受信したワイヤロープ１０１の傷みの種類の検出結果を、表示部３０３に表示する制御を行う。これにより、ワイヤロープ検査システム１００を使用する検査員は、ワイヤロープ１０１の傷みが、素線断線、キンクおよびアヤのいずれであるかを確認することができる。その結果、検査員は、ワイヤロープ１０１の傷みの種類に応じた保守作業を行うことができる。すなわち、検査員は、ワイヤロープ１０１の傷みが素線断線である場合、至急の対応を要すると判断したり、ワイヤロープ１０１の傷みがキンクである場合、至急の対応は必要ないが監視が必要であると判断したり、ワイヤロープ１０１の傷みがアヤである場合、観察が必要であると判断したりすることができる。

【0054】

（測定データの処理系）
次に、図１４および図１５（Ａ）（Ｂ）を参照して、ワイヤロープ検査システム１００のデータ処理系について説明する。

【0055】

図１４に示すように、ワイヤロープ検査装置２００は、検知コイル１０により測定データ２０１を取得しつつ、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出可能に構成されている。すなわち、ワイヤロープ検査装置２００は、リアルタイムに測定データ２０１を処理しつつ、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出可能に構成されている。

【0056】

具体的には、ワイヤロープ検査装置２００は、入力制御器２７と、第１メモリ２８ａと、第２メモリ２８ｂと、メモリ切替器２９とをさらに備えている。入力制御器２７は、検知コイル１０から測定データ２０１を受信して、第１メモリ２８ａまたは第２メモリ２８ｂに送信する。第１メモリ２８ａおよび第２メモリ２８ｂは、入力制御器２７から受信した測定データ２０１を格納する。メモリ切替器２９は、第１メモリ２８ａまたは第２メモリ２８ｂから測定データ２０１を受信して、制御部２１に送信する。制御部２１は、メモリ切替器２９から受信した測定データ２０１に基づいて、上記したワイヤロープ１０１の傷みの検出処理を行う。

【0057】

図１５（Ａ）（Ｂ）に示すように、ワイヤロープ検査装置２００は、第１メモリ２８ａおよび第２メモリ２８ｂのうちのいずれかに測定データ２０１を格納しつつ、第１メモリ２８ａおよび第２メモリ２８ｂのうちの測定データ２０１を格納中ではない方に格納されている測定データ２０１を制御部２１に送信して、ワイヤロープ１０１の傷みの種類の検出処理を行うように構成されている。

【0058】

具体的には、図１５（Ａ）に示すように、第１メモリ２８ａに測定データ２０１を格納する場合、入力制御器２７は、検知コイル１０から受信した測定データ２０１を、第１メモリ２８ａに送信するように、データ経路を切り替える。この際、メモリ切替器２９は、第２メモリ２８ｂと、制御部２１とを接続するように、データ経路を切り替える。これにより、第２メモリ２８ｂに格納された測定データ２０１が、制御部２１に送信される。そして、第１メモリ２８ａに予め決められた量の測定データ２０１が格納された場合、入力制御器２７により、検知コイル１０から受信した測定データ２０１が、第２メモリ２８ｂに送信されるように、データ経路が切り替えられる。また、この際、メモリ切替器２９により、第１メモリ２８ａと、制御部２１とが接続されるように、データ経路が切り替えられる。

【0059】

また、図１５（Ｂ）に示すように、第２メモリ２８ｂに測定データ２０１を格納する場合、入力制御器２７は、検知コイル１０から受信した測定データ２０１を、第２メモリ２８ｂに送信するように、データ経路を切り替える。この際、メモリ切替器２９は、第１メモリ２８ａと、制御部２１とを接続するように、データ経路を切り替える。これにより、第１メモリ２８ａに格納された測定データ２０１が、制御部２１に送信される。そして、第２メモリ２８ｂに予め決められた量の測定データ２０１が格納された場合、入力制御器２７により、検知コイル１０から受信した測定データ２０１が、第１メモリ２８ａに送信されるように、データ経路が切り替えられる。また、この際、メモリ切替器２９により、第２メモリ２８ｂと、制御部２１とが接続されるように、データ経路が切り替えられる。このように、第１メモリ２８ａおよび第２メモリ２８ｂは、検知コイル１０からの測定データ２０１の格納中は、制御部２１への測定データ２０１の送信をしない。

【0060】

これらの結果、制御部２１は、第１メモリ２８ａまたは第２メモリ２８ｂに格納された測定データ２０１を順次受信しつつ、ワイヤロープ１０１の傷みの種類の検出処理を順次行うことができる。また、制御部２１は、ワイヤロープ１０１の傷みの種類の検出を順次外部装置３００に送信する制御を行う。そして、外部装置３００の制御部３０２は、受信したワイヤロープ１０１の傷みの種類の検出結果を、表示部３０３に順次表示する制御を行う。

【0061】

（本実施形態の効果）
本実施形態では、以下のような効果を得ることができる。

【0062】

本実施形態では、上記のように、ベースライン２０３に基づいて、測定データ２０１からピーク波形２０４が取得されるとともに、ピーク波形２０４に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類が検出される。これにより、ワイヤロープ１０１の傷みの有無だけでなく、ワイヤロープ１０１の傷みの種類も検出して、検査員に通知することができる。その結果、検査員が測定データ２０１を確認してワイヤロープ１０１の傷みの種類を判定する必要がないので、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出することにより、ワイヤロープ１０１の保守作業の支援を効果的に行うことができる。また、上記のように、ベースライン２０３に基づいて、測定データ２０１からピーク波形２０４が取得されることにより、ベースライン２０３に基づかずにピーク波形２０４が取得される場合と異なり、ワイヤロープ１０１の傷みに伴い発生するワイヤロープ１０１の変形による低周波成分が低減された正確なピーク波形２０４を取得することができる。その結果、ワイヤロープ１０１の傷みに伴い発生するワイヤロープ１０１の変形による低周波成分が低減された正確なピーク波形２０４に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を容易に検出することができる。

【0063】

また、本実施形態では、上記のように、制御部２１を、ベースライン２０３に対して、正の値を有する測定値群、および、ベースライン２０３に対して、負の値を有する測定値群を、ピーク波形２０４として取得する制御を行うように構成する。これにより、ワイヤロープ１０１の傷みに伴い発生するワイヤロープ１０１の変形による低周波成分が低減された正確な正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４の両方を取得することができる。その結果、ワイヤロープ１０１の傷みに伴い発生するワイヤロープ１０１の変形による低周波成分が低減された正確な正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４の両方に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類をより容易に検出することができる。

【0064】

また、本実施形態では、上記のように、ワイヤロープ検査システム１００を、参照ピーク波形２０５が記憶された記憶部２３を備えるように構成する。また、制御部２１を、ピーク波形２０４と、参照ピーク波形２０５との比較結果に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行うように構成する。これにより、ピーク波形２０４と、傷みの特徴を良く示す参照ピーク波形２０５との比較結果に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出することができるので、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を正確に検出することができる。

【0065】

また、本実施形態では、上記のように、参照ピーク波形２０５を、ワイヤロープ１０１の傷みの種類が既知の測定データ２０１である既知データに基づいて、既知データの平滑化データが取得されて、取得された既知データの平滑化データに基づいて、既知データのベースラインが取得されて、取得された既知データのベースラインに基づいて、既知データから取得されたピーク波形であるように構成する。これにより、ピーク波形２０４を取得する処理と同様の処理により取得された参照ピーク波形２０５と、ピーク波形２０４とを比較することができるので、ピーク波形２０４と、参照ピーク波形２０５とを容易に比較することができる。

【0066】

また、本実施形態では、上記のように、制御部２１を、ピーク波形２０４と、参照ピーク波形２０５との比較結果として、ピーク波形２０４と、参照ピーク波形２０５との間の類似度２０６を取得するとともに、取得した類似度２０６に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行うように構成する。これにより、ピーク波形２０４と、参照ピーク波形２０５との間の相関を良く示す類似度２０６に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出することができるので、ワイヤロープ１０１の傷みの種類をより正確に検出することができる。

【0067】

また、本実施形態では、上記のように、制御部２１を、ピーク波形２０４を予め決められた数ｎ分だけ分割して、予め決められた数ｎ分の代表値Ｐ１～Ｐｎを取得するとともに、取得したピーク波形２０４の予め決められた数ｎ分の代表値Ｐ１～Ｐｎと、参照ピーク波形２０５の予め決められた数ｎ分の代表値ＳＰ１～ＳＰｎとに基づいて、類似度２０６を取得する制御を行うように構成する。これにより、ピーク波形２０４を予め決められた数ｎ分の代表値Ｐ１～Ｐｎに圧縮した状態で、ピーク波形２０４と、参照ピーク波形２０５との類似度２０６を取得することができるので、類似度２０６を取得する処理の処理負荷の低減を図ることができる。

【0068】

また、本実施形態では、上記のように、制御部２１を、類似度２０６が所定値よりも高い高類似度の、正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４を取得した場合、取得した正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４の出現順序に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行うように構成する。これにより、ワイヤロープ１０１の傷みの種類により、正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４の出現順序が異なることを利用して、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を容易に検出することができる。

【0069】

また、本実施形態では、上記のように、制御部２１を、類似度２０６が所定値よりも高い高類似度の、正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４を取得した場合、取得した正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４の間のピーク波形２０４の数に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行うように構成する。これにより、ワイヤロープ１０１の傷みの種類により、正のピーク波形２０４および負のピーク波形２０４の間のピーク波形２０４の数が異なることを利用して、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を容易に検出することができる。

【0070】

また、本実施形態では、上記のように、制御部２１を、ピーク波形２０４に基づいて、ピーク波形２０４を特定するパラメータ２０７を取得するとともに、取得したパラメータ２０７に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行うように構成する。これにより、ピーク波形２０４の形状を示すパラメータ２０７に基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出することができるので、ワイヤロープ１０１の傷みの種類により、ピーク波形２０４の形状が異なることを利用して、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を正確に検出することができる。

【0071】

また、本実施形態では、上記のように、制御部２１を、パラメータ２０７としての、ピーク波形２０４の幅２０７ａ、ピーク波形２０４の尖り２０７ｂ、および、ピーク波形２０４のベースライン２０３の傾き２０７ｃに基づいて、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を検出する制御を行うように構成する。これにより、ワイヤロープ１０１の傷みの種類により、ピーク波形２０４の幅２０７ａ、ピーク波形２０４の尖り２０７ｂ、および、ピーク波形２０４のベースライン２０３の傾き２０７ｃが異なることを利用して、ワイヤロープ１０１の傷みの種類を容易かつ正確に検出することができる。

【0072】

また、本実施形態では、上記のように、制御部２１を、ワイヤロープ１０１の傷みの種類として、素線断線、外圧による固定的変形（キンク）および素線の撚りの緩み（アヤ）を検出する制御を行うように構成する。これにより、ワイヤロープ１０１に発生しやすい傷みである、素線断線、外圧による固定的変形（キンク）および素線の撚りの緩み（アヤ）を検出することができるので、ワイヤロープ１０１の傷みの種類の検出を効果的に行うことができる。

【0073】

［変形例］
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、請求の範囲によって示され、さらに請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更（変形例）が含まれる。

【0074】

たとえば、上記実施形態では、ワイヤロープがエレベータに使用された例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、ワイヤロープが、クレーン、吊り橋およびロボットなどのエレベータ以外の構成に使用されてもよい。

【0075】

また、上記実施形態では、ワイヤロープ検査システムのワイヤロープ検査装置が、ワイヤロープの傷みの種類の検出制御を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、ワイヤロープ検査システムの外部装置が、ワイヤロープの傷みの種類の検出制御を行ってもよい。この場合、たとえば、外部装置の制御部が、検知コイルにより取得した測定データに基づいて、測定データの平滑化データを取得して、取得した平滑化データに基づいて、測定データのベースラインを取得して、取得したベースラインに基づいて、測定データからピーク波形を取得して、取得したピーク波形に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成すればよい。

【0076】

また、上記実施形態では、検知コイルが、一対の受信コイルを有する差動コイルである例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検知コイルが、単一のコイルにより構成されていてもよい。

【0077】

また、上記実施形態では、ワイヤロープの傷みの種類として、素線断線、外圧による固定的変形（キンク）および素線の撚りの緩み（アヤ）の３種類が検出される例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、ワイヤロープの傷みの種類として、素線断線、外圧による固定的変形（キンク）および素線の撚りの緩み（アヤ）のうちのいずれか１つまたは２つが検出されてもよい。また、ワイヤロープの傷みの種類として、素線断線、外圧による固定的変形（キンク）および素線の撚りの緩み（アヤ）以外の傷みが検出されてもよい。

【0078】

また、上記実施形態では、類似度およびパラメータの両方に基づいて、評価値が取得されるとともに、取得された評価値に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が検出される例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、類似度およびパラメータのうちのいずれか一方のみに基づいて、評価値が取得されるとともに、取得された評価値に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が検出されてもよい。また、本発明では、ワイヤロープの傷みの種類を検出するために、必ずしも評価値が取得される必要はない。すなわち、評価値が取得されることなく、類似度およびパラメータのうちの少なくともいずれか一方に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が検出されてもよい。

【0079】

また、上記実施形態では、類似度が取得される場合に、ピーク波形が予め決められた数分だけ分割される例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、類似度が取得される場合に、必ずしもピーク波形が予め決められた数分だけ分割されなくてもよい。すなわち、ピーク波形が予め決められた数分だけ分割されることなく、ピーク波形と、参照ピーク波形との類似度が取得されてもよい。

【0080】

また、上記実施形態では、類似度に基づいてワイヤロープの傷みの種類が検出される場合に、類似度の大きさ、高類似度の正のピーク波形および負のピーク波形の出現順序、および、高類似度の正のピーク波形および負のピーク波形の間のピーク波形の数に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が検出される例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、類似度に基づいてワイヤロープの傷みの種類が検出される場合に、類似度の大きさ、高類似度の正のピーク波形および負のピーク波形の出現順序、および、高類似度の正のピーク波形および負のピーク波形の間のピーク波形の数のうちのいずれか１つまたは２つに基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が検出されてもよい。また、類似度に基づいてワイヤロープの傷みの種類が検出される場合に、類似度の大きさ、高類似度の正のピーク波形および負のピーク波形の出現順序、および、高類似度の正のピーク波形および負のピーク波形の間のピーク波形の数以外に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が検出されてもよい。

【0081】

また、上記実施形態では、パラメータに基づいてワイヤロープの傷みの種類が検出される場合に、ピーク波形の幅、ピーク波形の尖り、および、ピーク波形のベースラインの傾きに基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が検出される例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、パラメータに基づいてワイヤロープの傷みの種類が検出される場合に、ピーク波形の幅、ピーク波形の尖り、および、ピーク波形のベースラインの傾きのうちのいずれか１つまたは２つに基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が検出されてもよい。また、パラメータに基づいてワイヤロープの傷みの種類が検出される場合に、ピーク波形の幅、ピーク波形の尖り、および、ピーク波形のベースラインの傾き以外に基づいて、ワイヤロープの傷みの種類が検出されてもよい。

【0082】

［態様］
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

【0083】

（項目１）
ワイヤロープの磁界の変化を検知する検知コイルと、
前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行う制御部と、を備え、
前記制御部は、前記検知コイルにより取得した測定データに基づいて、前記測定データを平滑化処理したデータである平滑化データを取得して、取得した前記平滑化データに基づいて、前記測定データのベースラインを取得して、取得した前記ベースラインに基づいて、前記測定データからピーク波形を取得して、取得した前記ピーク波形に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、ワイヤロープ検査システム。

【0084】

（項目２）
前記制御部は、前記ベースラインに対して、正の値を有する測定値群、および、前記ベースラインに対して、負の値を有する測定値群を、前記ピーク波形として取得する制御を行うように構成されている、項目１に記載のワイヤロープ検査システム。

【0085】

（項目３）
参照ピーク波形が記憶された記憶部をさらに備え、
前記制御部は、前記ピーク波形と、前記参照ピーク波形との比較結果に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、項目１または２に記載のワイヤロープ検査システム。

【0086】

（項目４）
前記参照ピーク波形は、前記ワイヤロープの傷みの種類が既知の測定データである既知データに基づいて、前記既知データを平滑化処理したデータである平滑化データが取得されて、取得された前記既知データの平滑化データに基づいて、前記既知データのベースラインが取得されて、取得された前記既知データのベースラインに基づいて、前記既知データから取得されたピーク波形である、項目３に記載のワイヤロープ検査システム。

【0087】

（項目５）
前記制御部は、前記ピーク波形と、前記参照ピーク波形との比較結果として、前記ピーク波形と、前記参照ピーク波形との間の類似度を取得するとともに、取得した前記類似度に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、項目３または４に記載のワイヤロープ検査システム。

【0088】

（項目６）
前記制御部は、前記ピーク波形を予め決められた数分だけ分割して、予め決められた数分の代表値を取得するとともに、取得した前記ピーク波形の予め決められた数分の代表値と、前記参照ピーク波形の予め決められた数分の代表値とに基づいて、前記類似度を取得する制御を行うように構成されている、項目５に記載のワイヤロープ検査システム。

【0089】

（項目７）
前記制御部は、前記類似度が所定値よりも高い高類似度の、正の前記ピーク波形および負の前記ピーク波形を取得した場合、取得した正の前記ピーク波形および負の前記ピーク波形の出現順序に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、項目４～６のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。

【0090】

（項目８）
前記制御部は、前記類似度が所定値よりも高い高類似度の、正の前記ピーク波形および負の前記ピーク波形を取得した場合、取得した正の前記ピーク波形および負の前記ピーク波形の間の前記ピーク波形の数に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、項目４～７のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。

【0091】

（項目９）
前記制御部は、前記ピーク波形に基づいて、前記ピーク波形を特定するパラメータを取得するとともに、取得した前記パラメータに基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、項目１～８のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。

【0092】

（項目１０）
前記制御部は、前記パラメータとしての、前記ピーク波形の幅、前記ピーク波形の尖り、および、前記ピーク波形の前記ベースラインの傾きのうちの少なくともいずれか１つに基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出する制御を行うように構成されている、項目９に記載のワイヤロープ検査システム。

【0093】

（項目１１）
前記制御部は、前記ワイヤロープの傷みの種類として、素線断線、外圧による固定的変形および素線の撚りの緩みのうちの少なくともいずれか１つを検出する制御を行うように構成されている、項目１～１０のいずれか１項に記載のワイヤロープ検査システム。

【0094】

（項目１２）
ワイヤロープの磁界の変化を検知するステップと、
前記ワイヤロープの磁界の変化を検知して取得した測定データに基づいて、前記測定データを平滑化処理したデータである平滑化データを取得するステップと、
前記平滑化データに基づいて、前記測定データのベースラインを取得するステップと、
前記ベースラインに基づいて、前記測定データからピーク波形を取得するステップと、
前記ピーク波形に基づいて、前記ワイヤロープの傷みの種類を検出するステップと、を備える、ワイヤロープ検査方法。

【符号の説明】

【0095】

１０ 検知コイル
２１ 制御部
２３ 記憶部
１００ ワイヤロープ検査システム
１０１ ワイヤロープ
２０１ 測定データ
２０２ 平滑化データ
２０３ ベースライン
２０４ ピーク波形
２０５、２０５ａ～ｃ 参照ピーク波形
２０６ 類似度
２０７ パラメータ
２０７ａ ピーク波形の幅
２０７ｂ ピーク波形の尖り
２０７ｃ ピーク波形のベースラインの傾き
ｎ 予め決められた数
Ｐ１～Ｐｎ ピーク波形の予め決められた数分の代表値
ＳＰ１～ＳＰｎ 参照ピーク波形の予め決められた数分の代表値

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】