特許7113399電子顕微鏡観察方法、透過型電子顕微鏡用絞り走査高速模倣装置、透過型電子顕微鏡及びデータ処理システム

発明の名称　電子顕微鏡観察方法、透過型電子顕微鏡用絞り走査高速模倣装置、透過型電子顕微鏡及びデータ処理システム

出願人　Ｎ−ＥＭラボラトリーズ株式会社　（識別番号 319012060）

　　　　特許公開件数ランキング 30460 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 24686 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7113399

公報発行日　2022年8月5

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7113399

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