特許7114850IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

積層セラミックキャパシタ及びその製造方法に関するもので、より詳細には、機械的強度を向上させるとともに、高温信頼性及び耐湿信頼性を改善させることができる積層セラミックキャパシタ及びその製造方法に関するものである。

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明は、機械的強度を向上させるとともに、高温信頼性及び耐湿信頼性を改善させることができる高容量積層セラミックキャパシタ及びその製造方法を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一互いに対向する第1面及び第2面、第1面と第2面を連結する第3面及び第4面を含むセラミック本体と、セラミック本体の内部に配置され、第1面及び第2面に露出し、且つ第3面又は第4面に一端が露出する複数の内部電極と、第1面及び第2面に露出する内部電極の端部上に配置される第1サイドマージン部及び第2サイドマージン部と、を含み、第1サイドマージン部及び第・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一実施形態によると、内部電極が本体の幅方向に露出するようにチップを製作した後、焼成前の段階でチップの幅方向の電極露出面にマージン部を別に付着することにより、積層セラミックキャパシタの製造工程時に発生する内部電極とマージン部との間の界面密着力の低下を防ぐことができるようになる。

また、製造工程によって製作された積層セラミックキャパシタにおいて、内部電極とマージン部との間に発生する空隙の生成を防ぐことで、信頼性を向上させることができる。

尚、内部電極の先端に均一な酸化領域及び絶縁層を確保することができるため、ショート不良を改善させることができる。

さらに、マージン部の緻密度を向上させることができるため、積層セラミックキャパシタの機械的強度の向上及び高温/耐湿信頼性の改善という効果を奏する。

内部電極は、誘電体層の幅方向において全体的に形成され、且つ本体の幅方向の側面に露出した後、マージン部が別に付着されるため、内部電極間の重なり面積を最大化して高容量積層セラミックキャパシタを実現することができ、内部電極による段差の発生を低減させることができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の一実施形態による積層セラミックキャパシタを示す概略的な斜視図である。
【図2】 図1のI-I'の線に沿った断面図である。
【図3】 図2のQ領域の拡大図である。
【図4】 図1のII-II'の線に沿った断面図である。
【図5】 図1に示された積層セラミックキャパシタを構成する一誘電体層を示す上部平面図である。
【図6a】 本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す断面図である。
【図6b】 本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す断面図である。
【図6c】 本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す断面図である。
【図6d】 本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す斜視図である。
【図6e】 本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す斜視図である。
【図6f】 本発明の他の実施形態による積層セラミックキャパシタの製造方法を概略的に示す斜視図である。
【図7a】 本発明の比較例による副成分Mgが足りない誘電体組成物で製作された積層セラミックキャパシタの断面SEM(Scanning Electron Microscope)写真である。
【図7b】 本発明の比較例による副成分Mgが足りない誘電体組成物で製作された積層セラミックキャパシタの断面SEM(Scanning Electron Microscope)写真である。
【図8a】 本発明の比較例による副成分Mgが過量含まれる誘電体組成物で製作された積層セラミックキャパシタの断面SEM(Scanning Electron Microscope)写真である。
【図8b】 本発明の比較例による副成分Mgが過量含まれる誘電体組成物で製作された積層セラミックキャパシタの断面SEM(Scanning Electron Microscope)写真である。
【図9a】 本発明の比較例による副成分Mnが足りない誘電体組成物で製作された積層セラミックキャパシタの断面SEM(Scanning Electron Microscope)写真である。
【図9b】 本発明の比較例による副成分Mnが過量含まれる誘電体組成物で製作された積層セラミックキャパシタの断面SEM(Scanning Electron Microscope)写真である。
【図10】 本発明の実施形態による誘電体組成物で製作された積層セラミックキャパシタの断面SEM(Scanning Electron Microscope)写真である。

代表図 図1本件の代表的な図

110 セラミック本体 111 積層体 112 誘電体層 113 第1サイドマージン部 114 第2サイドマージン部 121 第1内部電極 122 第2内部電極 131 第1外部電極 132 第2外部電極 112a セラミックグリーンシート 121a ストライプ型の第1内部電極パターン 122a ストライプ型の第2内部電極パターン 210 セラミックグリーンシート積層体 220 棒状積層体 123 酸化領域 201 2次相 202 空隙

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