特許7128715IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

半導体リレー素子及び半導体リレーモジュール

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、半導体リレーは、より小型で、高電圧、大電流での高速スイッチングが要求されている。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

(1)本発明の半導体リレー素子において、活性領域は、基板上に形成されたバッファ層と、前記バッファ層上に積層された窒化物半導体からなる電子走行層と、前記電子走行層上に積層されている、前記電子走行層を形成する窒化物半導体よりもバンドギャップが大きい窒化物半導体からなる電子供給層と、が順に積層されて構成され、前記活性領域の前記電子供給層の表面上に、第1ドレイン電極と、第1ゲート電極と、第1ソース電・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

(1)本発明の半導体リレー素子の基本ユニットは、基板上に形成されたバッファ層と、バッファ層上に積層された窒化物半導体からなる電子走行層と、電子走行層上に積層されている、電子走行層を形成する窒化物半導体よりもバンドギャップが大きい窒化物半導体からなる電子供給層と、からなる活性領域と、活性領域の電子供給層上に、第1ドレイン電極と、第1ゲート電極と、第1ソース電極と、第2ソース電極と、第2ゲート電極と、第2ドレイン電極と、が順に配置されていること、第1ソース電極と第2ソース電極は、共通ソース電極で共有されている。

半導体リレーの第1半導体スイッチ領域及び第2半導体スイッチ領域のキャリアが半導体素子内部を相互に移動可能となり、個別チップの半導体スイッチを直列接続した場合に比べ、導通損失を低減させることができる。さらに、同一活性領域に2つの半導体スイッチを逆直列接続で形成でき、小型化が図れる。

本発明の半導体リレー素子によれば、第1半導体スイッチ領域及び第2半導体スイッチ領域は、同一基板上に互いに隣接して形成されているため、製造上、第1半導体スイッチ領域及び第2半導体スイッチ領域のオン閾値分布が近似した値となり、安定した駆動が可能となる。

(2)本発明の半導体リレー素子においては、第1ゲート電極と第2ゲート電極は共有され、共有された共通ソース電極を囲んでゲート配線パターンで電気的に接続されている。このため、第1ゲート電極と第2ゲート電極とを容易かつ確実に同電位にすることができ、外部でゲート同士を接続する必要が無いため回路を小型化できる。

(3)本発明の半導体リレー素子は、電子走行層及び電子供給層を含む活性領域に、複数の共通ソース電極と、複数の共通ソース電極を囲むゲート配線パターンを直列に接続して第1ゲート電極と第2ゲート電極を形成し、第1ゲート電極と第2ゲート電極の間に第1ドレイン電極と第2ドレイン電極を交互に配置した構造である。メイン第1ドレインとメイン第2電極は、活性領域を挟んでメインソース電極と反対側に配置している。半導体リレーの基本ユニットを、並列に複数個並べて集積化する場合の構造である。

本発明の半導体リレー素子によれば、電極パターンの交差は、一方の配線をビアホール等で、他の層に配線して交差を避ける必要があるため、少ない方がよく、本電極パターンの配置により、電極同士の交差をメイン第1ドレイン電極と複数の第2ドレイン電極だけにすることができる。

(4)本発明の半導体リレー素子は、電子走行層及び電子供給層を含む活性領域に、複数の共通ソース電極と、共通ソース電極を囲むゲート配線パターンを直列接続及び平列接続を併用して第1ゲート電極と第2ゲート電極を形成し、第1ゲート電極と第2ゲート電極の間に第1ドレイン電極と第2ドレイン電極を交互に配置した構造である。メイン第2ドレイン電極は、活性領域を挟んでメインソース電極とメイン第1ドレインと反対が配置している。このため、本電極パターンの配置により、電極同士の交差を第1ドレイン電極とメインソース電極だけにすることができる。

(5)本発明の半導体リレー素子は、電子走行層及び電子供給層を含む活性領域に、複数の共通ソース電極と、共通ソース電極を囲むゲート配線パターンを直列に接続して第1ゲート電極と第2ゲート電極を形成し、第1ゲート電極と第2ゲート電極の間に第1ドレイン電極と第2ドレイン電極を交互に配置した構造である。メイン第1ドレイン電極は、活性領域を挟んで、メインソース電極とメイン第2ドレイン電極の逆側に配置され、フィンガー状の第1ドレイン電極とフィンガー状の第2ドレイン電極は、フィンガー状の第1ゲート電極とフィンガー状の第2ゲート電極の間に、交互に配置されている。

この電極パターン配置では、第2ドレイン電極はメインソース電極とゲート配線パターン2つの配線と交差する。この場合、メインソース電極とゲート配線パターンの2つの配線を跨いで他の層に配線し、ビアホールで接続する構造とすることができる。

(6)本発明の半導体リレー素子においては、活性領域にメインソース電極を備え、共通ソース電極は、メインソース電極から、活性領域を貫いて配置され、共通ソース電極の一方の側にメインソース電極からフィンガー状の複数の第1ソース電極を配置し、共通ソース電極の他方の側にメインソース電極からフィンガー状の複数の第2ソース電極を配置している。共通ソース電極の両側に配置される第1ゲート電極と第2ゲート電極は、不活性層領域で電気的に接続されている。共通ソース電極の一方の側に配置される第1ゲート電極は、フィンガー状の複数の第1ソース電極を囲んでメインソース電極に沿って配置され、共通ソース電極の他方の側に配置される第2ゲート電極は、フィンガー状の複数の第2ソース電極を囲んでメインソース電極に沿って配置されている。

この電極パターンの配置により、第1ドレイン電極と第2ドレイン電極は、共通ソース電極を挟んで横方向に分離することができ、それぞれの電極パターンが交差すること無く、平面的に配置できる。

(7)本発明の半導体リレー素子は、活性領域を貫いてメインソース電極を兼ねた共通ソース電極を備えている。活性領域には、共通ソース電極の一方の側にフィンガー状の第1ソース電極を備え、共通ソース電極の他方の側にフィンガー状の第2ソース電極を備えている。第1ゲート電極は、第1ソース電極囲んで共通ソース電極に沿って配置され、第2ゲート電極は、第2ソース電極囲んで共通ソース電極に沿って配置されている。

この電極パターンの配置により、第1ドレイン電極と第2ドレイン電極は、共通ソース電極を挟んで縦方向に分離することができ、それぞれの電極パターンが交差すること無く、平面的に配置できる。

(8)本発明の半導体リレー素子は、活性領域を貫いてメインソース電極を兼ねた共通ソース電極を備えている。活性領域には、共通ソース電極の一方の側にフィンガー状の複数の第1ソース電極を備え、共通ソース電極の他方の側にフィンガー状の複数の第2ソース電極を備えている。第1ゲート電極は、第1ソース電極囲んで共通ソース電極に沿って配置され直列に接続され、第2ゲート電極は、第2ソース電極囲んで共通ソース電極に沿って配置され直列に接続されて、第1ゲート電極と第1ゲート電極は、不活性領域において直列に接続されている。

この電極パターンの配置により、複数の第1ドレイン電極とフック数の第2ドレイン電極は、共通ソース電極を挟んで縦方向に分離することができ、それぞれの電極パターンが交差すること無く、平面的に配置できる。

(9)本発明の半導体リレー素子においては、バッファ層上に積層された窒化物半導体からなる電子走行層は、GaN(ガリウム・ナイトライド)で形成され、電子走行層上に形成された電子供給層は、バンドギャップエネルギーが異なるAlxGa1-xN(0.01≦x≦0.4)で形成されている。このGaN-HEMTは横型構造であり、本発明の半導体リレーに好適である。

(10)本発明の半導体リレー素子においては、第1ドレイン電極と第1ゲート電極と共通ソース電極で構成される第1GaN-HEMTと、第2ドレイン電極と第2ゲート電極と共通ソース電極で構成される第2GaN-HEMTは、ノーマリーオフとなるエンハンスメント型である。ゲートとソース間電位を0とすることによりノーマリーオフとなるため、半導体スイッチに好適である。

(11)本発明の半導体リレー素子は、電子供給層上には、更に保護膜が形成されている。GaN-HEMTは、半導体表面における不純物準位および界面準位、あるいはこれらの準位密度に関係して、高バイアス印加後に高抵抗(Ron増大)となる電流コラプス現象が存在する。保護膜は、逆方向リーク電流を抑制することができる。

(12)本発明の半導体リレー素子は、電子走行層及び電子供給層を含む第1活性領域と、電子走行層及び電子供給層を含む第2活性領域と、電子走行層及び電子供給層を含まない不活性領域とを備えている。第1活性領域には、電子供給層上に、第1ドレイン電極と、第1ゲート電極と、第1ソース電極と第2ソース電極を共有した共通ソース電極と、第2ゲート電極と、第2ドレイン電極とが順に配置され、第2活性領域には、電子供給層上に、第3ドレイン電極と、第3ゲート電極と、第3ソース電極とが順に配置されている。

第1活性領域に第1半導体スイッチと第2半導体スイッチが配置され、第2活性領域には、第3半導体スイッチが配置されている。第3半導体スイッチは、半導体リレーのゲート電極に印加される信号の充放電回路に使用され、半導体リレー素子と同じチップ内に存在させている。このため、第3半導体スイッチは、半導体リレーをオン・オフする充放電回路の半導体スイッチとして利用でき、さらなる小型化が実現できる。

(13)本発明の半導体リレー素子においては、第3半導体スイッチの第3ドレイン電極は、半導体リレーの第1ゲート電極と第2ゲート電極と接続され、第3半導体スイッチの第3ソース電極は、半導体リレーの共通ソース電極と第3ソース電極が接続されている。第3半導体スイッチを充放電回路用として使用する場合は、第3ゲート電極と第3ソース電極に抵抗やダイオード等のディスクリート素子を接続すればよい。このため、半導体リレー素子は充放電回路を含めて、さらに小型化が可能である。

(14)本発明の半導体リレー素子は、電子走行層及び電子供給層を含む第1活性領域と、電子走行層及び電子供給層を含む第2活性領域とを備えている。第1活性領域には、第1ゲート電極と第2ゲート電極により囲まれた共通ソース電極が複数存在し、第1ゲート電極と第2ゲート電極間に、第1ドレイン電極と第2ドレイン電極が交互に配置されて、横方向に複数の半導体リレーを形成している。第2活性領域には、第3半導体スイッチが形成されている。このため、この第3半導体スイッチは、複数の半導体リレーに共通の充放電回路として利用できる。

(15)本発明の半導体リレー素子は、電子走行層及び電子供給層を含む第1活性領域と、電子走行層及び電子供給層を含む第2活性領域と、を備えている。第1活性領域には、メインソース電極から一方の側に複数の第1ソース電極が、他方の側に複数の第2ソース電極を備えている。複数の第1ソース電極は第1ゲート電極で囲まれ、複数の第2ソース電極は第2ゲート電極で囲まれ、直列に接続された複数の第1ゲート電極と直列に接続された複数の第2ゲート電極は不活性領域において電気的に接続されている。第1ドレイン電極は、メイン第1ドレイン電極からフィンガー状に第1ゲート電極間に配置され、第2ドレイン電極は、メイン第2ドレイン電極からフィンガー状に第2ゲート電極間に配置され、複数の縦方向に形成された半導体リレーが配置されている。

第2活性領域には、第3半導体スイッチが形成されている。このため、この第3半導体スイッチは、複数の半導体リレーに共通の充放電回路として利用できる。さらに、この半導体リレー及び第3半導体スイッチを接続する電極配置は、それぞれの電極が交差する部分が無く、平面的に配置可能である。

(16)本発明の半導体リレー素子においては、半導体リレーを構成する第1半導体スイッチと第2半導体スイッチがノーマリーオフとなるエンハンスメント型であり、第3半導体スイッチがノーマリーオンとなるデプレッション型である。このため、半導体リレーは、ゲートとソース間がプラス電位と0電位でオン・オフされ、充放電回路に使用される第3半導体スイッチは、0電位とマイナス電位でオン・オフされる。

(17)本発明の半導体リレーモジュールは、本発明の(1)に記載の半導体リレー素子と、半導体リレー素子の開閉を制御する制御回路と、を備えている。このため、大電流を流す用途においても、確実な駆動が可能となると共に、回路全体を小型化・簡素化することができる。

(18)本発明の半導体リレーモジュールは、本発明の(1)に記載の半導体リレー素子と、半導体リレー素子の充放電回路と、半導体リレー素子の開閉を制御する発振回路と、を備えている。このため、大電流を流す用途においても、確実な駆動が可能となると共に、回路全体を小型化・簡素化することができる。

(19)本発明の半導体リレーモジュールは、本発明の(12)に記載の半導体リレー素子と、抵抗又はダイオードのディスクリート素子と、半導体リレー素子の開閉を制御する発振回路とを備えている。

第1活性領域に第1半導体スイッチと第2半導体スイッチが配置され、賽2活性領域には、第3半導体スイッチが配置されている。第3半導体スイッチは、半導体リレーのゲート電極に印加される信号の充放電回路に使用され、半導体リレー素子と同じチップ内に存在させている。このため、大電流を流す用途においても、絶縁トランス等を用いずに小型で確実な駆動が可能となり、充放電回路も小型化できるため、回路全体を小型化・簡素化することができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の半導体リレーの基本回路の構成を示す回路図である。
【図2】 GaN-HEMTの基本構造の模式的断面図である。
【図3】 GaN-HEMTにより実現した本発明の半導体リレー素子の基本ユニットを示した模式的断面図である。
【図4】 本発明の半導体リレー素子の基本ユニットAの配線パターンを示す図である。
【図5】 基本ユニットAを複数並べて並列接続させた半導体リレー素子の平面図である。
【図6】 基本ユニットAを複数並べて並列接続させた他の配線パターンによる半導体リレー素子の平面図である。
【図7】 基本ユニットAを複数並べて並列接続させた他の配線パターンによる半導体リレー素子の平面図である。
【図8】 第1ドレイン電極と第2ドレイン電極を交互に配置する半導体リレー素子において、複数の第1ゲート電極と複数の第2ゲート電極の配線で、直列接続を利用しない場合の比較例を示す図である。
【図9】 基本ユニットAを応用した配線パターンによる半導体リレー素子の平面図である。
【図10】 本発明の半導体リレー素子の基本ユニットBの平面図である。
【図11】 図10で示した半導体リレー素子の基本ユニットBのX1-Y1、X2-Y2、X3-Y3の模式的断面図である。
【図12】 基本ユニットBを複数並べて並列接続させた半導体リレー素子の平面図である。
【図13】 縦型に配列した半導体リレー素子の基本ユニットBの電極配置を同じにして、2つに分割した活性領域に2つの半導体スイッチを複数配置した実施例を示す図である。
【図14】 本発明の半導体リレー素子62を用いた半導体リレーモジュールA60の回路構成を示す図である。
【図15】 本発明の半導体リレー素子62を用いた他の半導体リレーモジュールB65の回路構成を示す図である。
【図16】 半導体リレーモジュールB65を使用して、負荷70への直流電源72を開閉する場合の回路図である。
【図17】 半導体リレーモジュールB65の充放電回路66の一例を説明する図である。
【図18】 半導体リレーを構成する第1半導体スイッチQ1と第2半導体スイッチQ2に、第3半導体スイッチQ3を加えた半導体リレー素子の回路構成を示す図である。
【図19】 第3半導体スイッチを搭載した半導体リレー素子の基本ユニットを示す平面図である。
【図20】 第3半導体スイッチを備えた半導体リレー素子の基本ユニットCによる実施例1を示す図である。
【図21】 第3半導体スイッチを備えた半導体リレー素子の基本ユニットCによる実施例2を示す図である。
【図22】 第3半導体スイッチを搭載した半導体リレー素子80による半導体リレーモジュールC82を示す図である。

代表図 図1本件の代表的な図

Q1 第1半導体スイッチ Q2 第2半導体スイッチ Q3 第3半導体スイッチ S1 第1ソース G1 第1ゲート D1 第1ドレイン S2 第2ソース G2 第2ゲート D2 第2ドレイン S3 第3ソース G3 第3ゲート D3 第3ドレイン 1 ソース端子 2 ゲート端子 3 第1ドレイン端子 4 第2ドレイン端子 5 補助ゲート端子 10 GaN-HEMTの構造 12 基板 14 バッファ層 16 電子走行層 18 電子供給層 20 保護膜 22 ソース電極 24 ゲート電極 26 ドレイン電極 30、30-1、30-2、30-3、30-4、30-5 第1ドレイン電極 32、32-1、32-2、32-3、32-4 第1ゲート電極 33、33-1、33-2、33-3、33-4 第1ソース電極 34、34-1、34-2 共通ソース電極 35、35-1、35-2、35-3、35-4 第2ソース電極 36、36-1、36-2、36-3、36-4 第2ゲート電極 38、38-1、38-2、38-3、38-4、38-5 第2ドレイン電極 40 ゲート配線パターン 42 メインソース電極 44 メイン第1ドレイン電極 46 メイン第2ドレイン電極 48 活性領域 48-1 第1活性領域 48-2 第2活性領域 50 不活性領域 60 半導体リレーモジュールA 62 半導体リレー素子 63 制御回路 64 入力端子 65 半導体リレーモジュールB 66 充放電回路 68 発振回路 70 負荷 72 直流電源 73 ディスクリート素子 74 第3ドレイン電極 76 第3ゲート電極 78 第3ソース電極 80 第3半導体スイッチを搭載した半導体リレー素子 82 半導体リレーモジュールC

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