IP Force 特許公報掲載プロジェクト 2022.1.31 β版

知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」

▶ 東芝電波プロダクツ株式会社の特許一覧

<>
  • 特許-ドループ除去回路 図1
  • 特許-ドループ除去回路 図2
  • 特許-ドループ除去回路 図3
< >
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2022-09-09
(45)【発行日】2022-09-20
(54)【発明の名称】ドループ除去回路
(51)【国際特許分類】
   H03F 1/32 20060101AFI20220912BHJP
   H03F 3/24 20060101ALI20220912BHJP
【FI】
H03F1/32
H03F3/24
【請求項の数】 3
(21)【出願番号】P 2021009593
(22)【出願日】2021-01-25
(65)【公開番号】P2022113379
(43)【公開日】2022-08-04
【審査請求日】2021-01-25
(73)【特許権者】
【識別番号】000221155
【氏名又は名称】東芝電波プロダクツ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100108855
【弁理士】
【氏名又は名称】蔵田 昌俊
(74)【代理人】
【識別番号】100103034
【弁理士】
【氏名又は名称】野河 信久
(74)【代理人】
【識別番号】100179062
【弁理士】
【氏名又は名称】井上 正
(74)【代理人】
【識別番号】100075672
【弁理士】
【氏名又は名称】峰 隆司
(74)【代理人】
【識別番号】100153051
【弁理士】
【氏名又は名称】河野 直樹
(74)【代理人】
【識別番号】100162570
【弁理士】
【氏名又は名称】金子 早苗
(72)【発明者】
【氏名】青山 哲
(72)【発明者】
【氏名】藤木 直也
【審査官】▲高▼橋 徳浩
(56)【参考文献】
【文献】米国特許出願公開第2017/0133987(US,A1)
【文献】米国特許出願公開第2020/0014336(US,A1)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H03F1/00-H03F3/72
H03G1/00-H03G3/34
H03K3/00-H03K3/86
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1ドレイン端を備え、定電圧が前記第1ドレイン端に供給される第1トランジスタと、
前記第1ドレイン端と共通接続される第2ドレイン端を備え、前記定電圧が前記第2ドレイン端に供給される第2トランジスタと、
前記定電圧が出力される端子と前記第2ドレイン端との間に設けられ、交流電圧を通過させるキャパシタと、
前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタのそれぞれのゲートに信号を分配し、前記信号により前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタの動作を同期させるカプラと、
を備えるドループ除去回路。
【請求項2】
前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタを同時にオンさせて、過渡電流を、前記キャパシタを介して前記第2ドレイン端に印加し、前記定電圧から過渡電流に相当する電圧だけ低い直流電圧を、前記第1ドレイン端に印加する、
請求項1に記載のドループ除去回路。
【請求項3】
前記第1トランジスタは、GaN-HEMTデバイスで構成される、請求項1または請求項2に記載のドループ除去回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、パルス信号におけるドループ現象の除去回路に関する。
【背景技術】
【0002】
レーダー装置などに使用されるパルス信号やバースト信号を増幅する増幅器(以下、「アンプ」と呼ぶ)として、GaAsデバイスを用いたA級のアンプが使用されている。
【0003】
しかし、近年のレーダー装置では、増幅度の高い高効率のアンプや、AB級のアンプを用いてパルス信号やバースト信号を増幅することが多い。
【0004】
特に、GaN-HEMTデバイスを用いた増幅度の高い高効率のアンプは、高周波数のパルス信号を出力可能とし、小型にも拘わらず従来に比べて単位面積当たりで大きなパワーを出力可能とし、さらに駆動可能温度も250[℃]という特性を有する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【文献】特開平1-256008号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
GaN-HEMTデバイスを用いた高効率のアンプは、これまで使用してきたA級のアンプに比して高効率且つ高周波数のパルス信号を出力するため、当該A級のアンプでは問題とならなかったパルス信号に関する2つのドループ現象が顕著に現れる。
【0007】
まず、第1のドループ現象では、アンプを常時駆動させるとGaN-HEMTデバイスが発熱するため、当該アンプの利得が減少し、パルス信号における出力電力のピーク値が時間経過と共に低下する。つまり、常時アンプを駆動し続けることで当該アンプが出力するパルス信号の波形が崩れてしまう。
【0008】
第1のドループ現象は、当該アンプの前段に信号発生器が配置され、この信号発生器により利得の減少が回避されている。
【0009】
具体的には、アンプが出力するパルス信号の利得が、この信号発生器を用いて制御される。これにより時間経過と共に生じるアンプの出力電力のピーク値の低下が回避される。
【0010】
ただし、アンプが出力する尖頭電力が最大値付近に達し、3次歪みが増大する場合には、更にデジタルプリディストータを用いて発熱および時間経過によるパルス信号の劣化を補正することで第1のドループ現象は解決される。
【0011】
第2のドループ現象では、アンプ起動時における急激な利得の上昇により、瞬間的に当該アンプの出力電圧が上昇する。これは、アンプを起動した直後では当該アンプが発熱していないため、パルス信号における立ち上がり時の瞬間的(例えば、50[nsec])な利得の上昇が顕著に現れてしまうことに起因する。
【0012】
特に、GaN-HEMTデバイスを用いた高効率のアンプは、高周波数のパルス信号を出力するため、広いパルス幅を有するパルス信号を出力するA級のアンプに比べて、瞬間的な利得の上昇が顕著に表れてしまう。
【0013】
そこで従来、前段に配置される信号発生器を用いて、アンプに出力するパルス信号の利得を調整している。
【0014】
具体的には、信号発生器によるパルス信号の信号レベルを徐々に上昇させ、この複数のパルス信号から構成される包絡線をなだらかな立ち上がりの形状とすることで瞬間的な利得の上昇が回避されている。
【0015】
しかし、これについては瞬間的に発生する現象であるため、第2のドループ現象についてはデジタルプリディストータでは対処することができない。
【0016】
本発明が解決しようとする課題は、パルス信号の立ち上がり時の瞬間的な利得の上昇を防止することができるドループ除去回路を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0017】
実施形態のドループ除去回路は、第1ドレイン端を備え、定電圧が前記第1ドレイン端に供給される第1トランジスタと、前記第1ドレイン端と共通接続される第2ドレイン端を備え、前記定電圧が前記第2ドレイン端に供給される第2トランジスタと、前記定電圧が出力される端子と前記第2ドレイン端との間に設けられ、交流電圧を通過させるキャパシタと、前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタのそれぞれのゲートに信号を分配し、前記信号により前記第1トランジスタおよび前記第2トランジスタの動作を同期させるカプラと、を備える。
【図面の簡単な説明】
【0018】
図1】ドループ現象を除去するためのトランジスタ15を組み込んだドループ除去回路10を示す図である。
図2】ドループ除去回路10を起動させるためのタイムチャートを示す図である。
図3】前記ドループ除去回路10の変形例を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【0019】
以下、本発明の実施形態のドループ除去回路について図面を参照して説明する。
【0020】
図1は、ドループ現象を除去するためのトランジスタ15を組み込んだドループ除去回路10を示す図である。このドループ除去回路10は、主にレーダー装置などに搭載される。
【0021】
図2は、ドループ除去回路10を起動させるためのタイムチャートを示す図である。
【0022】
ドループ除去回路10は、カプラ11、キャパシタ12~14、トランジスタ15、16、ドレイン定電圧源17、ゲートバイアス定電圧源18、および抵抗R1~R5を備える。
【0023】
カプラ11は、前段に配置された(図示せぬ)信号発生器から出力されるアナログ高周波信号(交流電圧Vac)を分割し、キャパシタ12およびキャパシタ13のそれぞれに当該アナログ高周波信号を出力する機能を有する。
【0024】
このとき、カプラ11によって分割されたアナログ高周波信号は、コヒーレント、すなわち同じタイミングでキャパシタ12およびキャパシタ13に出力される。
【0025】
キャパシタ13は、カプラ11と、トランジスタ16との間に設置される。このキャパシタ13は、ドレイン定電圧源17からの直流電圧Vdcをカットし、交流電圧Vacのみを通過させることで、当該交流電圧Vacを後段のトランジスタ15のゲート端に印加する機能の他、後述するゲートバイアス定電流源18からの定電流Icに起因した電圧をトランジスタ16のゲート端で保持する機能を有する。
【0026】
トランジスタ16は、GaN-HEMTデバイスを用いて構成され、ゲート端(Gate)、ドレイン端(Drain)、およびソース端(Source)を備える。ドレイン端にはドレイン定電圧源17からの直流電圧Vdcが供給され、ソース端は抵抗R5を介して接地される。
【0027】
そして、アナログ高周波信号としての電圧と、後述するゲートバイアス定電流源18からの直流電圧Vdcとが重畳してトランジスタ16のゲートに印加されると、トランジスタ16はオン状態となり、このタイミングでドレイン定電圧源17から供給される直流電圧Vdcによってドレイン電流Idがソース端に向かって流れる。
【0028】
ここで、このドループ除去回路10を搭載したレーザー装置を起動させて、パルス信号を出力する際、仮にトランジスタ15とトランジスタ16とが同時にオン状態とならないと、ドレイン定電圧源17からの直流電圧Vdc全体がトランジスタ16のドレイン端に印加されてしまう。
【0029】
この結果、図2(h)に示すように、50[nsec]程度の山なり形状のドレイン電流Id(これを「ひげ」と呼ぶ)がトランジスタ16に流れる。
【0030】
ここで図2(h)に示すドレイン電流Idの内、この山なり形状の部分を交流電流Iacと見なすことができ、それ以外を直流電流Idcと見なすことができる。
【0031】
このようにレーダーを起動させた直後のパルス信号に、トランジスタ16からこの山なり形状のドレイン電流Idが発生することが、前述した第2のドループ現象に対応し、ドレイン端から出力されるパルス信号幅が短いほど顕著に現れる。
【0032】
そこで、本実施形態では、以下に説明を続けるように、トランジスタ16に流れる山なり形状のドレイン電流Idを、トランジスタ15にて吸収させる構成を採用する。
【0033】
キャパシタ12は、カプラ11とトランジスタ15との間に配置される。このキャパシタ12は、キャパシタ13と同様の機能を有する。
【0034】
すなわち、キャパシタ12は、直流電圧Vdcをカットし、交流電圧Vacのみ通過させることで、当該交流電圧Vacを後段のトランジスタ15のゲート端に印加する機能の他、ゲートバイアス定電流源18からの定電流Icに起因した電圧をトランジスタ15のゲート端で保持する機能を有する。
【0035】
キャパシタ14は、ドレイン定電圧源17の出力端と、トランジスタ15のドレイン端との間に設けられる。このキャパシタ14は、キャパシタ12と同様に、直流電圧Vdcをカットし、交流電圧Vacのみ通過させることで、当該交流電圧Vacをトランジスタ15のドレイン端に印加する機能を有する。
【0036】
また、このキャパシタ14の電気容量Cは、上述した山なり形状の部分の交流電流Iacに相当する電荷を蓄積する機能を有する。
【0037】
すなわち、このキャパシタ14に蓄積された電荷を放電しつつ、交流電流Iacに相当する電圧をドレイン定電圧源17から吸収し、当該ドレイン定電圧源17によるトランジスタ16へ供給される電圧を一時的に低下させる機能を有する。
【0038】
トランジスタ15は、ゲート端、ドレイン端、およびソース端を備える。ドレイン端はキャパシタ14および抵抗R4にそれぞれ接続され、ソース端は抵抗R3を介して接地される。
【0039】
ドレイン定電圧源17は、キャパシタ14およびトランジスタ16のドレイン端に対して直流電圧Vdcを印加する。
【0040】
ゲートバイアス定電流源18は、常時定電流Icを出力する。この定電流源Icが抵抗R1および抵抗R2を流れることで発生するゲート電圧Vg(“H”レベル)がトランジスタ15、16のゲートに印加されることとなる。
【0041】
ただし、“H”レベルのゲート電圧Vgはトランジスタ15、トランジスタ16の閾値よりも低いことから、当該“H”レベルのゲート電圧Vgが印加された場合であっても、トランジスタ15、16はオン状態とならず、カプラ11からのアナログ高周波信号が重畳されることで、トランジスタ15およびトランジスタ16がオン状態とされる。
【0042】
つまり、カプラ11から供給されたアナログ高周波信号およびゲバイアス定電流源18から供給された電圧が重畳してトランジスタ15のゲート端に印加され、当該トランジスタ15がトランジスタ16と同時にオン状態となると、キャパシタ14において過渡現象が発生する。すなわち、トランジスタ15がオンする以前からキャパシタ14には、ドレイン定電圧源17から供給された直流電圧Vdcにより電荷が蓄積されており、トランジスタ15のオンと同時に当該キャパシタ14に蓄積されていた電荷が当該トランジスタ15のドレイン端を介してソース端に流れ出す。
【0043】
この結果、当該キャパシタ14が蓄積していた電荷が減少するため、この減少分を埋めようとドレイン定電圧源17から過渡電流Itがキャパシタ14に流れ、山なり形状の交流電流Iacに相当する電圧によってキャパシタ14に電荷が蓄積される。
【0044】
その後、キャパシタ14が充電され、定常状態に遷移すると、当該キャパシタ14はドレイン定電圧源17からの直流電圧Vdcをカットする。これは、たとえトランジスタ15がオンしても、その後キャパシタ14は過渡電流Itを流さないからである。
【0045】
このように、本来であれば、トランジスタ16のドレイン端に印加される、山なり形状の交流電流Iacに相当する電圧をキャパシタ14で吸収することから、当該トランジスタ16における50[nsec]程度の山なり形状のドレイン電流Idの発生を防止することができる。
【0046】
ドループ除去回路10の動作について図2を用いて説明する。
【0047】
ここで図2(a)は、ドレイン定電圧源17が出力する直流電圧Vdcを示し、同図(b)は、図示せぬ信号発生回路が出力するアナログ高周波信号(交流電流Iac)を示し、同図(c)は、ゲートバイアス定電流源18が出力する定電流Icを示し、同図(d)はトランジスタ15のオン、オフの様子を示し、同図(e)は、キャパシタ14で発生する過渡現象による電荷の放電とチャージの様子を示し、同図(f)は、トランジスタ16のオン、オフの様子を示し、同図(g)は、トランジスタ16に流れるドレイン電流Idを示し、同図(h)は、トランジスタ16に流れるドレイン電流Id(従来)を示す。
【0048】
時刻t0にて、図2(b)に示すように信号発生回路からのアナログ高周波信号がカプラ11にてコヒーレントに分割され、その後、当該アナログ高周波信号がキャパシタ13およびキャパシタ14を介してトランジスタ15およびトランジスタ16のゲート端にそれぞれ供給される。
【0049】
更に、図2(c)に示すようにゲートバイアス定電流源18が定電流Icを出力しているため、図2(d)および図2(f)に示すように、定電流Icに起因したゲート電圧Vgと、アナログ高周波信号の電圧と、が重畳して、時刻t0にてトランジスタ15、および16がそれぞれ同時にオンする。
【0050】
また、図2(a)に示すようにドレイン定電圧源17は、時刻t0以前から直流電圧Vdcを出力していることから、時刻t0以前からキャパシタ14には電荷が蓄積されている。
【0051】
つまり、トランジスタ15が時刻t0にてオン状態となることで、図2(e)に示すようにキャパシタ14にて電荷を放電する過渡現象が発生し、過渡電流Itが流れる(過渡現象(放電))。
【0052】
また同時にこの放電された電荷を蓄積しようとドレイン定電圧源17からの直流電圧Vdcがキャパシタ14に供給され、当該キャパシタ14に過渡電流Itが流れる(過渡現象(チャージ))。
【0053】
このように、トランジスタ15がトランジスタ16と同時にオンすることで、キャパシタ14にてドレイン定電圧源17からの直流電圧Vdcを一時的に引き込むことができる。
【0054】
このため、トランジスタ16のドレイン端には山なり形状の交流電流Iacを含むドレイン電流Idが発生せず、本来のドレイン定電圧源17が出力する直流電圧Vdcよりも、キャパシタ14にて蓄積された電荷に相当する電圧だけ低い電圧が当該トランジスタ16のドレイン端に印加される。
【0055】
この結果、図2(g)のように、トランジスタ16にて山なり形状の交流電流Iacを含むドレイン電流Idの発生を防止することができる。
【0056】
その後、50[nsec]経過後においてもキャパシタ14には直流電圧Vdcが印加されるが、当該直流電圧Vdcをカットするためトランジスタ15にはドレイン電流Idが発生せず、その値は0[A]となる。
【0057】
これに対して、ドレイン定電圧源17からの直流電圧Vdcがトランジスタ16のドレイン端に印加されることから、当該トランジスタ16にて50[nsec]以降もドレイン電流Idが流れることとなる。
【0058】
その後、時刻t1になると、信号発生回路からのアナログ高周波信号が反転することから、トランジスタ15、トランジスタ16はオフ状態となる。
【0059】
そして、時刻t2となると再度信号発生回路からのアナログ高周波信号により、トランジスタ16がオン状態となって、ドレイン電流Idが流れ、これがパルス信号として出力される。
【0060】
したがって、実施形態のドループ除去回路10によれば、GaN-HEMTデバイスから構成されたトランジスタ16の他に、トランジスタ15を設け、当該トランジスタ15およびトランジスタ16の動作が同期するように、カプラ11を用いてアナログ高周波信号を同時にこれらトランジスタ15、16のゲートに印加する。また、トランジスタ15およびトランジスタ16のドレイン端のそれぞれにドレイン定電圧源17からの直流電圧Vdcを供給し、さらに交流電圧Vacのみ通過させるキャパシタ14を当該ドレイン定電圧源17の出力端とトランジスタ15のドレイン端との間に配置する。
【0061】
これにより、アンプの温度の低さに起因した、トランジスタ16の利得の急激な上昇によって発生する山なり形状のドレイン電流Idを、キャパシタ14を介してトランジスタ15のドレイン端に流すことで、それまでトランジスタ16に流れていた山なり形状のドレイン電流Idを当該トランジスタ15に引き込むことができる。
【0062】
これにより、トランジスタ16のドレイン端から出力されるパルス信号として、ドループ現象が抑制され、整形された矩形波を得ることができる。
【0063】
この結果、これまでのような信号発生器に依存して、アナログ高周波信号を低い信号レベルから徐々に上げ、なだらかな包絡線を形成する必要性もなくなり、常時最大のピーク値である信号レベルを出力すればよくなる。
【0064】
したがって、信号レベルの低いアナログ高周波信号を発生させずに済むため、当該低い信号レベルを含んだ入力信号と対比するとデューティー比を下げることができ、消費電力を低減することができる。
【0065】
さらに、図2(g)に示すように山なり形状のドレイン電流Idがトランジスタ16では発生しないことから、当該ドレイン電流Idの発生によるトランジスタ16の発熱を低減できる。
【0066】
仮に、トランジスタ16が発熱すると、当該トランジスタ16の出力を決定する、出力電力の飽和レベルと、3次高調波とのインターセプトポイント(交点)の位置が低下していき、これによってパルス信号の3次歪みが顕著に発生するところ、たとえ50[nsec]といえども、トランジスタ16の発熱を低減することができることから、インターセプトポイントの位置が低下することによる3次歪みの発生を抑えることが出来る。
【0067】
さらに、周波数が高くなり、パルス幅が数10[msec]~数100[msec]から更に狭くなると、ドループ現象が発生する時間幅が、パルス信号のパルス幅と同等の長さになってくる。そうすると、ドループ現象によって生じた山なり形状の部分に起因してパルス信号の形状が崩れ、どこがパルス信号の電圧レベルのピーク値なのか分からないといった問題が生じるところ、構成のドループ除去回路10によれば、ドループ現象を抑制することができることから、このような問題も抑制することができる。
【0068】
なお、本実施形態のドループ除去回路10では、トランジスタ15をトランジスタ16と同時にオンさせ、キャパシタ14に交流電流Iacを流す構成を採用したが、これに限られない。すなわち、図3に示すように、ドループ除去回路10は、カプラ11とキャパシタ12との間に検波器(ダイオード)17を設け、キャパシタ14を廃した構成であってもよい。
【0069】
図3は、前記ドループ除去回路10の変形例を示した図である。
【0070】
この場合、カプラ11からのアナログ高周波信号が検波器17によって検波された結果、当該アナログ高周波信号のうちの正の電圧レベルの信号部分がキャパシタ12を介してトランジスタ15のゲート端に印加されることになり、この正の電圧レベルの信号部分によってトランジスタ15がオン状態となる。
【0071】
この検波器17を介すため、カプラ11からのアナログ高周波信号がトランジスタ15、およびトランジスタ16に印加されるタイミングにずれはあるものの、山なり形状のドレイン電流Idの全てがトランジスタ16に流れる前に、トランジスタ15にてその一部でも引き込むことが出来れば、トランジスタ16のドレイン端から出力されるパルス信号における山なり形状の抑制ができる。
【0072】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【0073】
10…ドループ除去回路、11…カプラ、12、13、14…キャパシタ、
15、16…トランジスタ、17…ドレイン定電圧源、
18…ゲートバイアス定電流源、R1、R2、R3、R4、R5…抵抗。
図1
図2
図3