特許7141487IP Force 特許公報全文掲載

ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立製作所 > 特許7141487

技術分野

製品の生産リードタイムを分析する生産リードタイム分析方法及び生産リードタイム分析システム

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、特許文献１に係る半導体やＩＣメーカーのようなロット生産や生産ライン生産方式及び設備は、生産ラインに適用される技術でしかなく、汎用性に欠ける。また特許文献１は、目標リードタイムを正確に測定することで生産計画の最適化を行って、生産リードタイムの短縮を図っているが、生産リードタイム自体に対する分析は行われていないため、生産リードタイムの内部のどの段階で待機が発生したかを知ることはできず、そのため生産現場をピンポイントで改善して生産リードタイムを短縮させるということはできない。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明は、技術課題を解決するためになされたもので、表示インターフェースを有するコンピュータである生産リードタイム分析システムにより実行される、１又は複数の製品の生産リードタイムを分析する生産リードタイム分析方法を提供しており、前記製品は、１又は複数の半製品により１又は複数の工程を経て加工されてなり、前記半製品は、１又は複数の工程を経て加工形成され、前記生産リードタイム分析方法は、下記ステ・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、製品の生産リードタイムを短縮するために、インテリジェント、視覚的かつ迅速に、生産リードタイムを長引かせる問題点を特定することで、ピンポイントに措置を講じて不要な待機時間を回避し、製品の生産リードタイムの短縮を図ることができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 実施例１の生産リードタイム分析システム１００の構成を示したブロック図である。
【図2】 （ａ）は、作業実績情報収集部１０１で収集された作業実績情報の例を示しており、（ｂ）は、製品ＰＲＤ０１における製品シリアル番号Ｐ００００００１の製品に組付けられる半製品ＳＭ００００１～ＳＭ００００４の、横軸の時間に対するガントチャートを示しており、（ｃ）は、半製品ＳＭ００００２における半製品シリアル番号ＢＤ９ＡＤ０１の半製品の加工形成のための４工程の、時間に対するガントチャートを示している。
【図3】 実施例１における表示部１０５に表示された工程分析部１０３の分析結果を示すグラフである。
【図4】 実施例２の生産リードタイム分析システム２００の構成を示すブロック図である。
【図5】 実施例２における表示部１０５に表示された製品分析部２０１の分析結果を示すグラフである。
【図6】 実施例３の生産リードタイム分析システム３００の構成を示すブロック図である。
【図7】 実施例３の４つの半製品の生産リードタイムの状況を例示したグラフである。
【図8】 実施例３における表示部１０５に表示された半製品分析部３０１の分析結果を示すグラフである。
【図9】 実施例４の生産リードタイム分析方法を示すフロー図である。
【図10】 処理工程が前後する２工程間に停滞時間が発生する原理を説明するためのグラフである。
【図11】 同じ製品に組付けられる各半製品間に停滞時間が発生する原理を説明するためのグラフである。
【図12】 工程の実際の作業時間と工程標準作業時間との比較を説明するためのグラフである。

代表図 図1本件の代表的な図

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

［広告欄］

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります

Copyright © Science Impact Inc. All Rights Reserved.