発明の名称 温度測定装置、温度測定方法及び温度減衰測定方法
出願人 SEMITEC株式会社 (識別番号 390024729)
特許公開件数ランキング 14225 位(0件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 12103 位(0件)(共同出願を含む)
出願人 独立行政法人国立高等専門学校機構 (識別番号 504237050)
特許公開件数ランキング 1362 位(11件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 4007 位(2件)(共同出願を含む)
出願人 国立大学法人弘前大学 (識別番号 504229284)
特許公開件数ランキング 4913 位(2件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 2392 位(10件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-7157103
公報発行日 2022年10月19
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7157103
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