特許 7166662 温度計の校正方法および温度計の校正装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2022-10-28

(45)【発行日】2022-11-08

(54)【発明の名称】温度計の校正方法および温度計の校正装置

(51)【国際特許分類】

   G01K 15/00 20060101AFI20221031BHJP

   G01N 17/00 20060101ALI20221031BHJP

   G01J 5/90 20220101ALI20221031BHJP

【ＦＩ】

G01K15/00

G01N17/00

G01J5/90

【請求項の数】 11

(21)【出願番号】P 2021010110

(22)【出願日】2021-01-26

(65)【公開番号】P2022114022

(43)【公開日】2022-08-05

【審査請求日】2022-07-05

【早期審査対象出願】

(73)【特許権者】

【識別番号】000107583

【氏名又は名称】スガ試験機株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110001357

【氏名又は名称】弁理士法人つばさ国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】須賀 茂雄

(72)【発明者】

【氏名】喜多 英雄

(72)【発明者】

【氏名】加藤 英嗣

(72)【発明者】

【氏名】山▲崎▼ 翔子

【審査官】平野 真樹

(56)【参考文献】

【文献】特開２００８－２０２９８０（ＪＰ，Ａ）

【文献】登録実用新案第３１８８２４９（ＪＰ，Ｕ）

【文献】特開２０１９－１７４３６３（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００５－４３３７２（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｋ １５／００

Ｇ０１Ｎ １７／００－１７／０４

Ｇ０１Ｊ ５／９０

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

試料に対する環境試験を行う環境試験機において使用される、温度計の校正を行う方法であって、
校正対象の前記温度計と、熱流束センサとに対してそれぞれ、光源からの光を照射している所定の環境条件下において、
前記熱流束センサから出力される熱流束値を利用して、校正対象の前記温度計における校正を行う、
温度計の校正方法。

【請求項2】

前記熱流束値と前記温度計における測定温度との間の、所定の対応関係を利用して、校正対象の前記温度計における校正を行う
請求項１に記載の温度計の校正方法。

【請求項3】

前記所定の対応関係から求められた前記測定温度と、校正対象の前記温度計から出力されている前記測定温度との間で、校正を行う
請求項２に記載の温度計の校正方法。

【請求項4】

前記温度計において、前記光源からの光の被照射面の反対側を、裏面とした場合に、
前記所定の対応関係を規定する関係式では、
前記熱流束値と、前記温度計における前記裏面の温度としての裏面温度と、をそれぞれ変数として、前記測定温度が規定されている
請求項２または請求項３に記載の温度計の校正方法。

【請求項5】

前記熱流束値に基づいて、前記所定の環境条件になっていることを確認すると共に、
基準器となる前記温度計から出力されている測定温度が、前記所定の環境条件における所定の校正対象温度となっていることを確認した後に、
前記基準器となる前記温度計から出力されている前記測定温度と、校正対象の前記温度計から出力されている前記測定温度との間で、校正を行う
請求項１または請求項２に記載の温度計の校正方法。

【請求項6】

前記所定の環境条件が、前記温度計における測定温度を、所定の校正対象温度に設定するための条件である
請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載の温度計の校正方法。

【請求項7】

前記所定の校正対象温度に設定するための所定のパラメータとして、前記光源からの光の照度と、前記温度計および前記熱流束センサの周囲の環境温度とを、少なくとも含んでいる
請求項６に記載の温度計の校正方法。

【請求項8】

前記温度計において、前記光源からの光の被照射面の反対側を、裏面とした場合に、
前記所定のパラメータとして、前記周囲を流れる風の風速と、前記温度計における前記裏面の温度としての裏面温度とを、更に含んでいる
請求項７に記載の温度計の校正方法。

【請求項9】

前記温度計において、前記光源からの光の被照射面である表面が、黒色または白色にコーティングされている
請求項１ないし請求項８のいずれか１項に記載の温度計の校正方法。

【請求項10】

前記環境試験機が、前記環境試験としての耐候性試験を行う、耐候性試験機である
請求項１ないし請求項９のいずれか１項に記載の温度計の校正方法。

【請求項11】

試料に対する環境試験を行う環境試験機において使用される、温度計の校正を行う装置であって、
光を放射する光源と、
熱流束値を出力する熱流束センサと、
校正対象の前記温度計と、前記熱流束センサとに対してそれぞれ、前記光源からの光を照射している所定の環境条件下において、前記熱流束センサから出力される前記熱流束値を利用して、校正対象の前記温度計における校正を行う校正部と
を備えた、温度計の校正装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、環境試験機において使用される温度計の校正を行う、校正方法および校正装置に関する。

【背景技術】

【0002】

各種試料に対する環境試験を行う環境試験機の一例として、その試料（材料）の劣化度合い等を評価する（耐候性試験を行う）、耐候性試験機が挙げられる。具体的には、この耐候性試験機では、温湿度条件や水噴霧に加え、太陽に代わる光源（人工光源）からの光を各種試料に照射することにより、促進的環境条件（加速試験環境）を人工的に再現し、環境試験としての上記のような耐候性試験を行うようになっている。

【0003】

このような耐候性試験機では一般に、温度および湿度等の調節や水噴霧が可能な試験槽の中に、光源として、例えば、キセノンアークランプ、サンシャインカーボンアークランプ、紫外線カーボンアークランプ、メタルハライドランプまたは紫外線蛍光ランプ等が配置されている。また、この光源を中心とする円環状の試料枠が設けられ、この試料枠に各試料が取り付けられている。そして、上記の促進的環境条件の下、数時間から数千時間程度の試験が行われるようになっている。

【0004】

また、このような耐候性試験機等の環境試験機では、試料の表面温度に関する温度情報を得るために、各種方式の温度計が使用されている。そして、例えば特許文献１では、このような温度計の校正（較正）方法について、開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【文献】特許第４２２７５７１号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

ところで、このような温度計の校正方法や校正装置では、校正精度の向上が求められている。校正精度を向上させることが可能な、温度計の校正方法および校正装置を提供することが望ましい。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の一実施の形態に係る温度計の校正方法は、試料に対する環境試験を行う環境試験機において使用される、温度計の校正を行う方法であって、校正対象の温度計と熱流束センサとに対してそれぞれ、光源からの光を照射している所定の環境条件下において、熱流束センサから出力される熱流束値を利用して、校正対象の温度計における校正を行うようにしたものである。

【0008】

本発明の一実施の形態に係る温度計の校正装置は、試料に対する環境試験を行う環境試験機において使用される、温度計の校正を行う装置であって、光を放射する光源と、熱流束値を出力する熱流束センサと、校正対象の温度計と熱流束センサとに対してそれぞれ、光源からの光を照射している所定の環境条件下において、熱流束センサから出力される熱流束値を利用して、校正対象の温度計における校正を行う校正部と、を備えたものである。

【0009】

本発明の一実施の形態に係る温度計の校正方法および校正装置では、上記環境試験機において使用される温度計の校正を行う際に、上記所定の環境条件下において、熱流束センサから出力される熱流束値を利用して、校正対象の温度計における校正が行われる。このような環境試験機において使用される温度計では、輻射熱、対流熱および伝導熱が、測定温度の決定に寄与しているが、熱流束センサから出力される熱流束値は、これらの輻射熱、対流熱および伝導熱の全てを含む、総合的な熱の流れが測定されたものとなる。したがって、このような総合的な熱の流れの測定値（熱流束値）を利用して、校正対象の温度計における校正が行われることで、上記所定の環境条件を一定に維持したうえでの校正が、容易となる。

【0010】

ここで、上記熱流束値と上記温度計における測定温度との間の、所定の対応関係を利用して、校正対象の温度計における校正を行うようにしてもよい。このようにした場合、上記所定の対応関係を利用することで、熱流束センサから出力される熱流束値を基にして、上記測定温度が求められることから、そのようにして得られた上記測定温度を利用して、校正対象の温度計の校正が、実行できるようになる。その結果、温度計の校正精度が更に向上する。

【0011】

この場合において、上記所定の対応関係から求められた測定温度と、校正対象の温度計から出力されている測定温度との間で、校正を行うようにしてもよい。このようにした場合、上記熱流束値を基にして上記所定の対応関係から求められた測定温度を利用して、校正が行われることから、例えば基準器となる温度計を使用せずに、校正対象の温度計の校正が、実行できるようになる。その結果、温度計の校正作業が容易となり、校正を行う際の利便性が向上することになる。なお、上記所定の対応関係を規定する関係式において、上記熱流束値と、上記温度計における裏面（上記光源からの光の被照射面の反対側）の温度（裏面温度）と、をそれぞれ変数として、上記測定温度を規定するようにしてもよい。

【0012】

また、上記熱流束値に基づいて、上記所定の環境条件になっていることを確認すると共に、基準器となる温度計から出力されている測定温度が、上記所定の環境条件における所定の校正対象温度となっていることを確認した後に、上記基準器となる温度計から出力されている測定温度と、校正対象の温度計から出力されている測定温度との間で、校正を行うようにしてもよい。このようにした場合、上記熱流束値を基にして、基準器となる温度計における正確性（上記所定の温度環境において出力される測定温度が、上記所定の校正対象温度となっており、測定温度の経時変化等が生じていないこと）を確認したうえで、この基準器となる温度計を用いて、校正対象の温度計の校正が行われる。つまり、トレーサビリティが確保されている熱流束センサを利用することで、このような校正の際に使用される、基準器となる温度計の管理が、容易となる。その結果、校正を行う際の利便性が向上することになる。

【0013】

ここで、上記所定の環境条件としては、例えば、上記温度計における測定温度を所定の校正対象温度に設定するための条件が、挙げられる。この場合において、上記所定の校正対象温度に設定するための所定のパラメータとしては、例えば、上記光源からの光の照度と、温度計および熱流束センサの周囲の環境温度とを、少なくとも含んでいるようにしてもよい。また、上記所定のパラメータとして、例えば、上記周囲を流れる風の風速と、上記裏面温度とを、更に含んでいるようにしてもよい。

【0014】

なお、上記温度計において、上記光源からの光の被照射面（表面）を、黒色または白色にコーティングするようにしてもよい。また、上記環境試験機としては、例えば、上記環境試験としての耐候性試験を行う、耐候性試験機が挙げられる。

【発明の効果】

【0015】

本発明の一実施の形態に係る温度計の校正方法および校正装置によれば、上記所定の環境条件下において熱流束センサから出力される熱流束値を利用して、校正対象の温度計の校正を行うようにしたので、上記所定の環境条件を一定に維持したうえでの校正が、容易となる。よって、温度計の校正精度を、向上させることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【0016】

【図1】本発明の一実施の形態に係る校正装置の概略構成例を表す模式図である。

【図2】図１に示した恒温槽の中央部付近での側面構成例を表す模式図である。

【図3】実施の形態に係る校正方法の一例（第１の手法）を表す流れ図である。

【図4】実施の形態に係る熱流束値と測定温度との間の対応関係等の一例を表す図である。

【図5】実施の形態に係る校正方法の他の例（第２の手法）を表す流れ図である。

【発明を実施するための形態】

【0017】

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．実施の形態（熱流束センサから出力される熱流束値を利用して温度計を校正する例）
２．変形例

【0018】

＜１．実施の形態＞
［概略構成］
図１は、本発明の一実施の形態に係る校正装置（校正装置１）の概略構成例を、模式的に表したものである。また、図２は、この図１に示した、後述する恒温槽１０の中央部付近での側面構成例（Ｙ－Ｚ側面構成例）を、模式的に表したものである。なお、本発明の一実施の形態に係る校正方法は、本実施の形態に係る校正装置１において具現化されるため、以下併せて説明する。

【0019】

校正装置１は、試料に対する環境試験を行う環境試験機において使用される、温度計の校正を行う装置である。この温度計としては、本実施の形態では、後述するＢＰＴ（ブラックパネル温度計）が使用されている。つまり、この校正装置１では、後述する校正対象のＢＰＴ（校正ＢＰＴ１５１）について、校正を行うようになっている。また、上記した環境試験機の一例としては、上記した環境試験としての耐候性試験を行う、耐候性試験機が挙げられる。この耐候性試験では、試験槽内に配置された各種の材料からなる試料（試験片）について、促進的環境条件下での耐候性試験を行うようになっている。

【0020】

この校正装置１は、図１，図２に示したように、温度および湿度等の調節が可能な恒温槽１０内に、光源１１、温度センサ１２、冷却機能付き台１３、受光器１４、熱流束センサ１６および風力発生源１７を、備えている。この校正装置１はまた、図１に示したように、操作表示部（情報入出力部）１８および校正部（制御部）１９を、備えている。なお、後述する校正の作業の際には、例えば図１に示したように、校正対象としての校正ＢＰＴ１５１や、基準器となる基準ＢＰＴ１５２とともに、上記した熱流束センサ１６も、恒温槽１０内（後述する冷却機能付き台１３上）に、適宜配置されるようになっている。

【0021】

ここで、上記した校正ＢＰＴ１５１および基準ＢＰＴ１５２はそれぞれ、本発明における「温度計」の一具体例に対応している。また、校正ＢＰＴ１５１は、本発明における「校正対象の温度計」の一具体例に対応しており、基準ＢＰＴ１５２は、本発明における「基準器となる温度計」の一具体例に対応している。

【0022】

光源１１は、図１，図２に示したように、恒温槽１０内の上方において、Ｘ軸方向に沿
って延在するように配置されている。この光源１１は、恒温槽１０内において、下方（後述する冷却機能付き台１３上の校正ＢＰＴ１５１、基準ＢＰＴ１５２および熱流束センサ１６）へ向けて、光Ｌoutを放射するものである。このような光源１１は、例えば、キセノンアークランプ、サンシャインカーボンアークランプ、紫外線カーボンアークランプ、メタルハライドランプまたは紫外線蛍光ランプ等のランプ光源により構成されている。

【0023】

温度センサ１２は、恒温槽１０内の温度（槽内温度Ｔ０）を測定するセンサである。なお、このようにして温度センサ１２により得られた槽内温度Ｔ０は、例えば、後述する校正部１９へ向けて、有線または無線にて伝送されるようになっている。

【0024】

ここで、上記した槽内温度Ｔ０は、本発明における「（温度計および熱流束センサの周囲の）環境温度」の一具体例に対応している。

【0025】

冷却機能付き台１３は、図１，図２に示したように、後述する受光器１４、校正ＢＰＴ１５１、基準ＢＰＴ１５２および熱流束センサ１６をそれぞれ、載置する台であり、冷却機能を有している。

【0026】

受光器１４は、光源１１から放射された光Ｌoutの放射照度（照度Ｉ）を測定する機器であり、図１に示したように、冷却機能付き台１３上に配置されている。なお、このようにして受光器１４により得られた受光データ（受光値，光電圧値）も、例えば、後述する校正部１９へ向けて、有線または無線にて伝送されるようになっている。

【0027】

校正ＢＰＴ１５１および基準ＢＰＴ１５２はそれぞれ、図１，図２に示したように、後述する熱流束センサ１６とともに、冷却機能付き台１３上において、Ｘ軸方向に沿って並んで配置されている。これらの校正ＢＰＴ１５１および基準ＢＰＴ１５２はそれぞれ、図１，図２に示したように、表面（光Ｌoutの被照射面）Ｓ１側の温度（表面温度）を示す温度情報を測定するための、温度計（ブラックパネル温度計）である。また、校正ＢＰＴ１５１は、前述した校正の際の対象（校正対象）となる温度計であり、基準ＢＰＴ１５２は、そのような校正の際に、基準器（標準器）として機能する温度計である。

【0028】

ここで、上記した温度情報には、図１，図２に示したように、光Ｌoutの光エネルギーが温度化された成分（輻射熱の成分）と、恒温槽１０内の環境温度成分（槽内温度Ｔ０による成分）と、恒温槽１０内を流れる後述する風Ｗoutによる熱伝達成分（対流熱，伝導熱の成分）と、を含んでいる。なお、このようにして校正ＢＰＴ１５１や基準ＢＰＴ１５２により得られた温度情報（後述する測定温度Ｔｍが示す情報）も、例えば、後述する校正部１９へ向けて、有線または無線にて伝送されるようになっている。

【0029】

また、このような校正ＢＰＴ１５１および基準ＢＰＴ１５２はそれぞれ、図１，図２に示したように、表面Ｓ１側に熱感知部（感熱体）１５０を有している。この熱感知部１５０は、例えば、バイメタル、白金抵抗体、サーミスタまたは熱電対等を用いて構成されている。また、これらの校正ＢＰＴ１５１および基準ＢＰＴ１５２の表面Ｓ１はそれぞれ、黒色にコーティング（塗装）されている。

【0030】

熱流束センサ１６は、図１に示したように、熱流束値ｑ［Ｗ／ｍ²］を測定して出力するセンサであり、前述したように、校正ＢＰＴ１５１および基準ＢＰＴ１５２とともに、冷却機能付き台１３上に並んで配置されている。この熱流束値ｑは、詳細は後述するが、前述した輻射熱、対流熱および伝導熱の全てを含む、総合的な熱の流れが測定されたものとなっている。このようにして熱流束センサ１６により得られた熱流束値ｑも、例えば、後述する校正部１９へ向けて、有線または無線にて伝送されるようになっている。

【0031】

風力発生源１７は、図２に示したように、恒温槽１０内において、冷却機能付き台１３上の校正ＢＰＴ１５１、基準ＢＰＴ１５２および熱流束センサ１６の周囲へ向けて、風Ｗoutを発生させる機器である。なお、このような周囲を流れる風Ｗoutでは、詳細は後述するが、風速Ｖｗに設定されるようになっている。

【0032】

操作表示部１８は、各種情報の入出力が行われる部分であり、例えば、各種方式のタッチパネルを搭載した表示パネルを用いて構成されている。具体的には、例えば、校正装置１の使用者（作業者）による各種操作に応じて、この操作表示部１８から校正部１９（制御部）へ向けて、操作入力信号（各種の指示を行うための制御信号）が入力されるようになっている。また、例えば、校正部１９から出力される表示信号に基づいて、この操作表示部１８において各種情報の表示が行われるようになっている。

【0033】

校正部１９は、校正装置１全体の動作を制御する制御部として機能すると共に、前述した校正ＢＰＴ１５１における校正（自動校正）を行う機能を、有している。校正部１９は、そのような制御動作の１つとして、例えば、光源１１、温度センサ１２、冷却機能付き台１３、受光器１４、熱流束センサ１６、風力発生源１７および操作表示部１８における各動作を、制御するようになっている。

【0034】

また、校正部１９は、上記した校正ＢＰＴ１５１の校正を行う際に、詳細は後述するが、以下のようにして校正を行う。すなわち、校正部１９は、校正ＢＰＴ１５１および熱流束センサ１６に対してそれぞれ、光源１１からの光Ｌoutを照射している所定の環境条件下において、熱流束センサ１６から出力される熱流束値ｑを利用して、校正ＢＰＴ１５１の校正を行うようになっている。なお、このような校正方法（後述する第１および第２の手法）の詳細については、後述する（図３～図５）。

【0035】

なお、ここでいう「校正」とは、校正ＢＰＴ１５１から出力される測定温度Ｔｍ（後述する測定温度Ｔｍ１）について、後述する校正方法（後述する第１または第２の手法）で得られる測定温度Ｔｍ（後述する測定温度Ｔｍ０または測定温度Ｔｍ２）との関係を、確定することを意味している。

【0036】

［動作および作用・効果］
（Ａ．校正動作）
続いて、図１，図２に加えて図３～図５を参照して、本実施の形態の校正装置１において行われる校正動作（校正方法：第１および第２の手法）について、詳細に説明する。ここで、図３は、本実施の形態に係る校正方法の一例（第１の手法）を、流れ図で表したものである。図４は、本実施の形態に係る、熱流束値ｑと測定温度Ｔｍとの間の対応関係Ｒｃ等の一例を、表したものである。また、図５は、本実施の形態に係る校正方法の他の例（第２の手法）を、流れ図で表したものである。

【0037】

（Ａ－１．第１の手法について）
最初に、図３に示した第１の手法では、まず、校正ＢＰＴ１５１および熱流束センサ１６をそれぞれ、図１に示したように、校正装置１の恒温槽１０内において、冷却機能付き台１３上に並べて設定する（ステップＳ１１）。

【0038】

次いで、この校正装置１の電源を入れて、前述した槽内温度Ｔ０および風Ｗoutの風速Ｖｗをそれぞれ、所定値に設定する（ステップＳ１２）。そして、校正の際の対象温度（校正対象温度Ｔｃ）となるように、前述した光Ｌoutの照度Ｉと、校正ＢＰＴ１５１の裏面Ｓ２（光Ｌoutの被照射面である表面Ｓ１の反対側の面：図１，図２参照）の温度である裏面温度Ｔ２とをそれぞれ、所定値に設定する（ステップＳ１３）。なお、このような校正対象温度Ｔｃとしては、一例として、６３［℃］が挙げられる。

【0039】

このようにして、校正ＢＰＴ１５１における測定温度Ｔｍを所定の校正対象温度Ｔｃに設定するための、所定の環境条件が設定されることになる。ここで、このような所定の環境条件（所定の校正対象温度Ｔｃ）に設定するためのパラメータとしては、例えば上記したように、照度Ｉおよび槽内温度Ｔ０（校正ＢＰＴ１５１および熱流束センサ１６の周囲の環境温度）がそれぞれ、少なくとも含まれている。また、本実施の形態では上記したように、このようなパラメータとして、そのような校正ＢＰＴ１５１および熱流束センサ１６の周囲を流れる風Ｗoutの風速Ｖｗと、裏面温度Ｔ２とがそれぞれ、更に含まれている。なお、このような設定を行うためのパラメータとして、他の種類のパラメータが、更に含まれているようにしてもよい。

【0040】

続いて、この第１の手法では、熱流束値ｑとＢＰＴ（校正ＢＰＴ１５１等）での測定温度Ｔｍとの間の対応関係Ｒｃ（図４参照）を利用して、熱流束センサ１６から出力される熱流束値ｑ［Ｗ／ｍ²］から、そのような測定温度Ｔｍ［℃］を求める（ステップＳ１４）。

【0041】

なお、図４に示した対応関係Ｒｃでは、熱流束値ｑおよび測定温度Ｔｍについて、上記した照度Ｉおよび裏面温度Ｔ２との対応関係についても、示されている。具体的には、上記した槽内温度Ｔ０および風速Ｖｗがそれぞれ一定である条件下において、裏面温度Ｔ２が一定であれば、照度Ｉを変化させることで、熱流束値ｑと測定温度Ｔｍとの間の比例関係が、導かれるようになっている。また、一定にさせる裏面温度Ｔ２を変化させても、その比例関係は変わらず、測定温度Ｔｍにおける切片に対応する温度は、裏面温度Ｔ２によって規定されることになる。なお、この図４中に示した、照度Ｉについての例示の値（Ｉａ～Ｉｅ）の大小関係は、Ｉａ＜Ｉｂ＜Ｉｃ＜Ｉｄ＜Ｉｅとなっている。同様に、図４中に示した、裏面温度Ｔ２についての例示の値（Ｔ２ａ～Ｔ２ｅ）の大小関係は、Ｔ２ａ＜Ｔ２ｂ＜Ｔ２ｃ＜Ｔ２ｄ＜Ｔ２ｅとなっている。

【0042】

また、この図４中には、このような対応関係Ｒｃを規定する関係式（熱流束値ｑから測定温度Ｔｍを求める際の関係式）についても、示している。具体的には、この関係式は、所定の定数α，β，γを用いて、以下の（１）式によって規定されている。つまり、この関係式では、熱流束値ｑおよび裏面温度Ｔ２をそれぞれ変数として、測定温度Ｔｍが規定されている。
Ｔｍ＝（α×ｑ＋β×Ｔ２＋γ） ……（１）

【0043】

次に、この第１の手法では、ステップＳ１４において上記した対応関係Ｒｃから求められた測定温度Ｔｍ（Ｔｍ０）と、校正ＢＰＴ１５１から実際に出力されている測定温度Ｔｍ（Ｔｍ１）との間で、校正を行う（ステップＳ１５）。

【0044】

以上により、図３，図４に示した第１の手法による、校正ＢＰＴ１５１における校正が、完了となる。

【0045】

（Ａ－２．第２の手法について）
一方、図５に示した第２の手法では、まず、校正ＢＰＴ１５１、基準ＢＰＴ１５２および熱流束センサ１６をそれぞれ、図１に示したように、校正装置１の恒温槽１０内において、冷却機能付き台１３上に並べて設定する（ステップＳ２１）。

【0046】

次いで、図３に示した第１の手法と同様に、校正装置１の電源を入れて、槽内温度Ｔ０および風速Ｖｗをそれぞれ、所定値に設定する（ステップＳ１２）と共に、所定の校正対象温度Ｔｃとなるように、照度Ｉおよび裏面温度Ｔ２をそれぞれ、所定値に設定する（ステップＳ１３）。このようにして、この第２の手法においても第１の手法と同様に、校正ＢＰＴ１５１および基準ＢＰＴ１５２における測定温度Ｔｍをそれぞれ、所定の校正対象温度Ｔｃに設定するための、所定の環境条件が設定されることになる。

【0047】

次に、この第２の手法では、熱流束センサ１６から出力される熱流束値ｑに基づいて、上記した所定の環境条件（校正対象温度Ｔｃに設定するための、照度Ｉ、槽内温度Ｔ０、風速Ｖｗおよび裏面温度Ｔ２）になっていることを、確認する（ステップＳ２４）。続いて、この第２の手法では、基準ＢＰＴ１５２から出力されている測定温度Ｔｍが、上記した所定の環境条件での校正対象温度Ｔｃとなっていることを、確認する（ステップＳ２５）。

【0048】

そして、この第２の手法では、上記した各確認（ステップＳ２４，Ｓ２５）がなされた後に、基準ＢＰＴ１５２から出力されている測定温度Ｔｍ（Ｔｍ２）と、校正ＢＰＴ１５１から出力されている測定温度Ｔｍ（Ｔｍ１）との間で、校正を行う（ステップＳ２６）。

【0049】

以上により、図５に示した第２の手法による、校正ＢＰＴ１５１における校正が、完了となる。

【0050】

（Ｂ．作用・効果）
ところで、耐候性試験機等の環境試験機にて使用される温度計（ＢＰＴ等）では、物質状態（表面の劣化や、形状の違いなど）によって、出力される測定温度に、影響が出てくる。具体的には、そのような温度計内の熱感知部におけるトレーサビリティが確保されている、基準器となる温度計を用いて、校正対象の温度計との比較測定により、校正が行われるが、以下のようになる。すなわち、このＢＰＴ等の温度計の構造上、塗装面の厚さ、熱感知部と板との密着性の違い、熱容量の違い等により、置かれている環境（輻射熱の変動、裏面の風量の変動等）が変わる。このため、基準器となる温度計の表面が劣化した場合には、同じ環境下でも、基準器となる温度計から出力される測定温度が、変化してしまう可能性がある。これらのことから、従来の校正方法では、校正精度が低下してしまうおそれがある。

【0051】

これに対して本実施の形態では、上記した校正ＢＰＴ１５１の校正を行う際に、前述した所定の環境条件下において、熱流束センサ１６から出力される熱流束値ｑを利用して、校正ＢＰＴ１５１における校正が行われる。ここで、上記した温度計（ＢＰＴ等）では、前述した輻射熱、対流熱および伝導熱が、測定温度Ｔｍの決定に寄与しているが、熱流束センサ１６から出力される熱流束値ｑは、これらの輻射熱、対流熱および伝導熱の全てを含む、総合的な熱の流れが測定されたものとなる。したがって、このような総合的な熱の流れの測定値（熱流束値ｑ）を利用して、校正ＢＰＴ１５１における校正が行われることで、上記した所定の環境条件を一定に維持したうえでの校正が、容易となる。よって、本実施の形態では、校正ＢＰＴ１５１の校正精度を、向上させることが可能となる。

【0052】

また、本実施の形態では、熱流束値ｑとＢＰＴでの測定温度Ｔｍとの間の所定の対応関係Ｒｃを利用して、校正ＢＰＴ１５１の校正を行うようにしたので、以下のようになる。すなわち、このような対応関係Ｒｃを利用することで、熱流束センサ１６から出力される熱流束値ｑを基にして測定温度Ｔｍが求められることから、そのようにして得られた測定温度Ｔｍを利用して、校正ＢＰＴ１５１の校正が、実行できるようになる。その結果、校正ＢＰＴ１５１の校正精度を、更に向上させることが可能となる。

【0053】

更に、本実施の形態（前述した第１の手法）では、上記した対応関係Ｒｃから求められた測定温度Ｔｍ（Ｔｍ０）と、校正ＢＰＴ１５１から出力されている測定温度Ｔｍ（Ｔｍ１）との間で、校正を行うようにしたので、以下のようになる。すなわち、この場合には、熱流束値ｑを基にして対応関係Ｒｃから求められた測定温度Ｔｍを利用して、校正が行われることから、例えば前述した第２の手法とは異なり、基準器となる温度計（基準ＢＰＴ１５２）を使用せずに、校正ＢＰＴ１５１の校正が、実行できるようになる。その結果、校正ＢＰＴ１５１の校正作業が容易となり、校正を行う際の利便性を向上させることが可能となる。

【0054】

加えて、本実施の形態（前述した第２の手法）では、熱流束値ｑに基づいて前述した所定の環境条件になっていることを確認すると共に、基準ＢＰＴ１５２から出力されている測定温度Ｔｍが、その所定の環境条件における所定の校正対象温度Ｔｃとなっていることを確認した後に、基準ＢＰＴ１５２から出力されている測定温度Ｔｍ（Ｔｍ２）と、校正ＢＰＴ１５１から出力されている測定温度Ｔｍ（Ｔｍ１）との間で、校正を行うようにしたので、以下のようになる。すなわち、この場合には、熱流束値ｑを基にして基準ＢＰＴ１５２における正確性（所定の温度環境において出力される測定温度Ｔｍが、所定の校正対象温度Ｔｃとなっており、測定温度Ｔｍの経時変化等が生じていないこと）を確認したうえで、この基準ＢＰＴ１５２を用いて、校正ＢＰＴ１５１の校正が行われる。つまり、トレーサビリティが確保されている熱流束センサ１６を利用することで、このような校正の際に使用される、基準ＢＰＴ１５２の管理が、容易となる。その結果、校正を行う際の利便性を、向上させることが可能となる。

【0055】

＜２．変形例＞
以上、実施の形態を挙げて本発明を説明したが、本発明はこの実施の形態に限定されず、種々の変形が可能である。

【0056】

例えば、上記実施の形態では、校正装置における各機器の構成（形状、配置、個数等）を具体的に挙げて説明したが、これらの構成については、上記実施の形態で説明したものには限られず、他の形状や配置、個数等であってもよい。

【0057】

また、上記実施の形態では、前述したランプ光源を用いて本発明における「光源」を構成する場合の例について説明したが、これには限られず、例えばＬＥＤ（Light Emitting Diode）等の他の光源を用いて、本発明における「光源」を構成するようにしてもよい。更に、上記実施の形態等では、温度計の表面（光源１１からの光Ｌoutの被照射面）が、黒色にコーティングされている場合を例に挙げて説明したが、この例には限られず、例えば、温度計の表面が白色にコーティングされているようにしてもよい。すなわち、温度計の例としては、上記実施の形態で説明したＢＰＴ（ブラックパネル温度計）には限られず、ＷＰＴ（ホワイトパネル温度計）であってもよい。また、これらのＢＰＴやＷＰＴではなく、例えば、ＢＳＴ（ブラックスタンダード温度計）や、ＷＳＴ（ホワイトスタンダード温度計）であってもよい。

【0058】

更に、上記実施の形態では、主に、校正部１９において、校正対象の温度計（校正ＢＰＴ１５１）を自動的に校正する手法について説明したが、この例には限られない。すなわち、例えば、このような校正対象の温度計における校正を、校正装置１の使用者（作業者）によって、手動で行うようにしてもよい。

【0059】

加えて、上記実施の形態では、温度計の校正方法について、具体的な手法を例に挙げて説明したが、上記実施の形態で説明した手法には限られず、他の手法を用いて、温度計の校正を行うようにしてもよい。

【0060】

また、上記実施の形態では、主に、校正対象の温度計が使用される環境試験機の一例として、環境試験としての耐候性試験を行う、耐候性試験機を挙げて説明したが、この例には限られない。すなわち、他の種類の環境試験機（例えば、屋外の太陽光を利用して、曝露台上の試料についての環境試験を行う場合における、環境試験機など）に使用される温度計についても、本発明の校正方法を適用することが可能である。

【0061】

更に、上記実施の形態で説明した一連の制御は、ハードウェア（回路）で行われるようにしてもよいし、ソフトウェア（プログラム）で行われるようにしてもよい。ソフトウェアで行われるようにした場合、そのソフトウェアは、上記した各機能をコンピュータ（マイクロコンピュータ等）により実行させるためのプログラム群で構成される。各プログラムは、例えば、上記コンピュータに予め組み込まれて用いられてもよいし、ネットワークや記録媒体から上記コンピュータにインストールして用いられてもよい。

【符号の説明】

【0062】

１…校正装置、１０…恒温槽、１１…光源、１２…温度センサ、１３…冷却機能付き台、１４…受光器、１５０…熱感知部、１５１…校正ＢＰＴ、１５２…基準ＢＰＴ、１６…熱流束センサ、１７…風力発生源、１８…操作表示部、１９…校正部、Ｌout…光、Ｗout…風、Ｉ，Ｉａ～Ｉｅ…照度、ｑ…熱流束値、Ｖｗ…風速、Ｔ０…槽内温度、Ｔ２，Ｔ２ａ～Ｔ２ｅ…裏面温度、Ｔｃ…校正対象温度、Ｔｍ，Ｔｍ０，Ｔｍ１，Ｔｍ２…測定温度、Ｓ１…表面（被照射面）、Ｓ２…裏面、Ｒｃ…対応関係。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】