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特許7169393半導体試料の検査に使用可能な訓練セットの生成
発明の名称 半導体試料の検査に使用可能な訓練セットの生成
出願人 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド （識別番号 504144253）
特許公開件数ランキング 1647 位（4件）（共同出願を含む）
特許取得件数ランキング 4134 位（2件）（共同出願を含む）
公報番号 特許-7169393
公報発行日 2022年11月10
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7169393
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