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特許7172911試料注入装置、試料注入装置の教示方法および試料注入装置の教示プログラム

書誌要約請求の範囲詳細な説明課題実施例実施するための形態図面の説明

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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2022-11-08

(45)【発行日】2022-11-16

(54)【発明の名称】試料注入装置、試料注入装置の教示方法および試料注入装置の教示プログラム

(51)【国際特許分類】

G01N 1/00 20060101AFI20221109BHJP

G01N 35/10 20060101ALI20221109BHJP

G01N 30/24 20060101ALI20221109BHJP

【ＦＩ】

G01N1/00 101K

G01N35/10 C

G01N30/24 J

G01N30/24 E

【請求項の数】 15

(21)【出願番号】P 2019144804

(22)【出願日】2019-08-06

(65)【公開番号】P2021025907

(43)【公開日】2021-02-22

【審査請求日】2021-12-21

(73)【特許権者】

【識別番号】000001993

【氏名又は名称】株式会社島津製作所

(74)【代理人】

【識別番号】100108523

【弁理士】

【氏名又は名称】中川雅博

(74)【代理人】

【識別番号】100098305

【弁理士】

【氏名又は名称】福島祥人

(74)【代理人】

【識別番号】100125704

【弁理士】

【氏名又は名称】坂根剛

(74)【代理人】

【識別番号】100187931

【弁理士】

【氏名又は名称】澤村英幸

(72)【発明者】

【氏名】福島大貴

【審査官】野田華代

(56)【参考文献】

【文献】特開２００９－３００１５２（ＪＰ，Ａ）

【文献】国際公開第２０１５／１０５０７９（ＷＯ，Ａ１）

【文献】特開平９－１２７１３７（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１５－１７８６３（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１２－１８１１３６（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許出願公開第２０１８／２２４４７６（ＵＳ，Ａ１）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ１／００－１／４４

Ｇ０１Ｎ３５／００－３７／００

Ｇ０１Ｎ３０／２４

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

試料容器の位置が教示される試料注入装置であって、
前記試料容器は、上部開口を有しかつ試料を収容する容器本体と、前記容器本体の前記上部開口に取り付けられるシール部材と、前記シール部材の上面中央部を露出させるように上下方向に貫通する開口部を有しかつ前記容器本体の上部に取り付けられる蓋部とを含み、
前記試料注入装置は、
前記試料容器を支持する支持部と、
前記上下方向に延びかつ前記蓋部の前記開口部内に挿入可能な下端部を有する接触子と、
前記接触子を駆動する接触子駆動部と、
前記支持部の上方において、前記接触子駆動部を制御することにより、前記接触子を下方に移動させる第１の移動制御部と、
前記接触子の前記下端部が前記試料容器の上面に接触したか否かを検出する接触検出部と、
前記接触検出部による検出結果に基づいて、前記接触子の前記下端部が、前記試料容器の前記蓋部の上面の高さに対応する第１の高さと、前記第１の高さよりも低くかつ前記試料容器の前記シール部材の上面の高さに対応する第２の高さと、前記第２の高さよりも低い第３の高さとのいずれにあるかを判定する高さ判定部と、
前記高さ判定部により前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、前記接触子駆動部を制御することにより、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触した状態で、前記接触子を移動させる第２の移動制御部と、
前記高さ判定部により前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、前記接触子駆動部を制御することにより、前記試料容器よりも上方でかつ前記接触子が前記試料容器に接触しない状態で、前記上下方向に交差する面内で前記接触子を移動させる第３の移動制御部と、
前記第１、第２または第３の移動制御部による制御と前記高さ判定部による判定結果との組み合わせおよび前記面上における前記接触子の位置に基づいて前記試料容器の位置を特定する特定部とを備える、試料注入装置。

【請求項2】

前記高さ判定部は、前記第１の移動制御部により前記接触子が下方に移動されたときに、第１回目の高さ判定を行い、
前記第１回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第２の高さにあると判定された場合、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定する、請求項１記載の試料注入装置。

【請求項3】

前記第１回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、
前記第２の移動制御部は、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触しなくなるまで前記接触子を第１の方向に移動させ、
前記第１の移動制御部は、前記第２の移動制御部による制御の終了後、前記接触子を下方に移動させ、
前記高さ判定部は、第２回目の高さ判定を行い、
前記第２回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第２の高さにあると判定された場合、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定する、請求項２記載の試料注入装置。

【請求項4】

前記第２回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、
前記第３の移動制御部は、前記接触子を前記第１の方向とは反対の方向に前記蓋部の直径よりも短い距離だけ移動させ、
前記第１の移動制御部は、前記第３の移動制御部による制御の終了後、前記接触子を下方に移動させ、
前記高さ判定部は、第３回目の高さ判定を行い、
前記第３回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第２の高さにあると判定された場合、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定する、請求項３記載の試料注入装置。

【請求項5】

前記第３回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、
前記第２の移動制御部は、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触しなくなるまで、前記接触子が前記蓋部の前記開口部に近づくように前記接触子を前記第１の方向または前記第１の方向とは反対の方向に移動させ、
前記第２の移動制御部による制御の終了後、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定する、請求項４記載の試料注入装置。

【請求項6】

前記第１回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、
前記第３の移動制御部は、前記蓋部の直径よりも短い距離だけ前記接触子を第２の方向に移動させ、
前記第１の移動制御部は、前記第３の移動制御部による制御の終了後、前記接触子を下方に移動させ、
前記高さ判定部は、第２回目の高さ判定を行い、
前記第２回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第２の高さにあると判定された場合、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定する、請求項２～５のいずれか一項に記載の試料注入装置。

【請求項7】

前記第２回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、
前記第２の移動制御部は、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触しなくなるまで、前記接触子が前記蓋部の前記開口部に近づくように前記接触子を前記第２の方向または前記第２の方向とは反対の方向に移動させ、
前記第２の移動制御部による制御の終了後、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定する、請求項６記載の試料注入装置。

【請求項8】

前記第２回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、
前記第３の移動制御部は、前記第１回目の高さ判定における前記接触子の位置から前記蓋部の直径よりも短い距離だけ前記接触子を前記第２の方向とは反対の方向に移動させ、
前記高さ判定部は、第３回目の高さ判定を行い、
前記第３回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第２の高さにあると判定された場合、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定する、請求項６または７記載の試料注入装置。

【請求項9】

前記第３回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、
前記第２の移動制御部は、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触しなくなるまで、前記接触子が前記蓋部の前記開口部に近づくように前記接触子を前記第２の方向または前記第２の方向とは反対の方向に移動させ、
前記第２の移動制御部による制御の終了後、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定する、請求項８記載の試料注入装置。

【請求項10】

前記接触子の前記下端部は、斜め下方を向くテーパ面を有する、請求項１～９のいずれか一項に記載の試料注入装置。

【請求項11】

前記試料容器の前記蓋部の上面の高さを示す容器情報を取得する容器情報取得部をさらに備え、
前記高さ判定部は、前記容器情報取得部により取得された容器情報と前記接触検出部による検出結果とに基づいて、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さと、前記第２の高さとのいずれにあるかを判定する、請求項１～１０のいずれか一項に記載の試料注入装置。

【請求項12】

前記高さ判定部は、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の上面に接触しないときに、前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定する、請求項１～１１のいずれか一項に記載の試料注入装置。

【請求項13】

前記特定部により特定された前記試料容器の位置の周囲の部分と前記接触子の前記下端部との接触が前記接触検出部により検出されるように前記接触子駆動部を制御する中心探索部と、
前記周囲の部分の位置に基づいて前記特定部により特定された位置が前記試料容器の前記開口部の中心に近づくように前記特定部により特定された位置を補正する補正部とをさらに備える、請求項１～１２のいずれか一項に記載の試料注入装置。

【請求項14】

試料注入装置に試料容器の位置を教示する試料注入装置の教示方法であって、
前記試料容器は、上部開口を有しかつ試料を収容する容器本体と、前記容器本体の前記上部開口に取り付けられるシール部材と、前記シール部材の上面中央部を露出させるように上下方向に貫通する開口部を有しかつ前記容器本体の上部に取り付けられる蓋部とを含み、
前記試料注入装置の教示方法は、
前記試料容器を支持する支持部の上方において、前記上下方向に延びかつ前記蓋部の前記開口部内に挿入可能な下端部を有する接触子を下方に移動させるステップと、
前記接触子の前記下端部が前記試料容器の上面に接触したか否かを接触検出部により検出するステップと、
前記接触検出部による検出結果に基づいて、前記接触子の前記下端部が、前記試料容器の前記蓋部の上面の高さに対応する第１の高さと、前記第１の高さよりも低くかつ前記試料容器の前記シール部材の上面の高さに対応する第２の高さと、前記第２の高さよりも低い第３の高さとのいずれにあるかを判定するステップと、
前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触した状態で、前記接触子を移動させるステップと、
前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、前記試料容器よりも上方でかつ前記接触子が前記試料容器に接触しない状態で、前記上下方向に交差する面内で前記接触子を移動させるステップと、
前記接触子の移動と前記接触子の前記下端部の高さの判定結果との組み合わせおよび前記面上における前記接触子の位置に基づいて前記試料容器の位置を特定するステップとを含む、試料注入装置の教示方法。

【請求項15】

処理装置により実行可能な試料注入装置に試料容器の位置を教示する試料注入装置の教示プログラムであって、
前記試料容器は、上部開口を有しかつ試料を収容する容器本体と、前記容器本体の前記上部開口に取り付けられるシール部材と、前記シール部材の上面中央部を露出させるように上下方向に貫通する開口部を有しかつ前記容器本体の上部に取り付けられる蓋部とを含み、
前記試料注入装置の教示プログラムは、
前記試料容器を支持する支持部の上方において、前記上下方向に延びかつ前記蓋部の前記開口部内に挿入可能な下端部を有する接触子を下方に移動させる処理と、
前記接触子の前記下端部が前記試料容器の上面に接触したか否かを接触検出部により検出する処理と、
前記接触検出部による検出結果に基づいて、前記接触子の前記下端部が、前記試料容器の前記蓋部の上面の高さに対応する第１の高さと、前記第１の高さよりも低くかつ前記試料容器の前記シール部材の上面の高さに対応する第２の高さと、前記第２の高さよりも低い第３の高さとのいずれにあるかを判定する処理と、
前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触した状態で、前記接触子を移動させる処理と、
前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、前記試料容器よりも上方でかつ前記接触子が前記試料容器に接触しない状態で、前記上下方向に交差する面内で前記接触子を移動させる処理と、
前記接触子の移動と前記接触子の前記下端部の高さの判定結果との組み合わせおよび前記面上における前記接触子の位置に基づいて前記試料容器の位置を特定する処理とを、
前記処理装置に実行させる、試料注入装置の教示プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、試料注入装置、試料注入装置の教示方法および試料注入装置の教示プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

液体試料をガスクロマトグラフに注入する装置として試料注入装置が知られている。例えば、特許文献１に記載された自動試料注入装置においては、シリンジの下方に試料容器がある状態で、シリンジが下降されることにより、シリンジの針が試料容器内に導かれる。次に、シリンジのプランジャが引き上げられることにより、試料容器内の試料が所定量だけシリンジのバレル内に吸引される。

【0003】

その後、シリンジの下方にガスクロマトグラフの試料気化室がある状態で、シリンジが下降されることにより、シリンジの針が試料気化室内に導かれる。次に、シリンジのプランジャが押し下げられることにより、シリンジのバレル内に吸引された試料が試料気化室内に注入される。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【文献】特許第３３６７３１９号

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

試料注入装置において、シリンジを試料容器にアクセスさせる場合、試料容器の位置を試料注入装置に教示（ティーチング）することがある。この教示においては、円柱状の接触子が試料容器の上方付近に移動される。この状態で、円柱状の接触子の水平方向における位置が少しずつ変更されつつ、当該接触子の上昇および下降が繰り返される。水平方向における各位置で接触子が試料容器と接触したか否かが検出されることにより、試料容器の位置の範囲が特定される。

【0006】

しかしながら、上記の方法においては、接触子の上昇および下降が多数回繰り返されるため、試料容器の位置の特定に長時間を要する。直径が比較的大きい接触子を用いることにより試料容器の位置の特定に要する時間を短縮化することは可能であるが、この場合、試料容器を位置を高精度で検出することができない。試料容器が小型である場合、この問題はより顕著になる。

【0007】

本発明の目的は、試料容器の位置を効率よくかつ高精度で特定することが可能な試料注入装置、試料注入装置の教示方法および試料注入装置の教示プログラムを提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0008】

本発明の一局面に従う態様は、試料容器の位置が教示される試料注入装置であって、前記試料容器は、上部開口を有しかつ試料を収容する容器本体と、前記容器本体の前記上部開口に取り付けられるシール部材と、前記シール部材の上面中央部を露出させるように上下方向に貫通する開口部を有しかつ前記容器本体の上部に取り付けられる蓋部とを含み、前記試料注入装置は、前記試料容器を支持する支持部と、前記上下方向に延びかつ前記蓋部の前記開口部内に挿入可能な下端部を有する接触子と、前記接触子を駆動する接触子駆動部と、前記支持部の上方において、前記接触子駆動部を制御することにより、前記接触子を下方に移動させる第１の移動制御部と、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の上面に接触したか否かを検出する接触検出部と、前記接触検出部による検出結果に基づいて、前記接触子の前記下端部が、前記試料容器の前記蓋部の上面の高さに対応する第１の高さと、前記第１の高さよりも低くかつ前記試料容器の前記シール部材の上面の高さに対応する第２の高さと、前記第２の高さよりも低い第３の高さとのいずれにあるかを判定する高さ判定部と、前記高さ判定部により前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、前記接触子駆動部を制御することにより、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触した状態で、前記接触子を移動させる第２の移動制御部と、前記高さ判定部により前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、前記接触子駆動部を制御することにより、前記試料容器よりも上方でかつ前記接触子が前記試料容器に接触しない状態で、前記上下方向に交差する面内で前記接触子を移動させる第３の移動制御部と、前記第１、第２または第３の移動制御部による制御と前記高さ判定部による判定結果との組み合わせおよび前記面上における前記接触子の位置に基づいて前記試料容器の位置を特定する特定部とを備える、試料注入装置に関する。

【0009】

本発明の他の局面に従う態様は、試料注入装置に試料容器の位置を教示する試料注入装置の教示方法であって、前記試料容器は、上部開口を有しかつ試料を収容する容器本体と、前記容器本体の前記上部開口に取り付けられるシール部材と、前記シール部材の上面中央部を露出させるように上下方向に貫通する開口部を有しかつ前記容器本体の上部に取り付けられる蓋部とを含み、前記試料注入装置の教示方法は、前記試料容器を支持する支持部の上方において、前記上下方向に延びかつ前記蓋部の前記開口部内に挿入可能な下端部を有する接触子を下方に移動させるステップと、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の上面に接触したか否かを接触検出部により検出するステップと、前記接触検出部による検出結果に基づいて、前記接触子の前記下端部が、前記試料容器の前記蓋部の上面の高さに対応する第１の高さと、前記第１の高さよりも低くかつ前記試料容器の前記シール部材の上面の高さに対応する第２の高さと、前記第２の高さよりも低い第３の高さとのいずれにあるかを判定するステップと、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触した状態で、前記接触子を移動させるステップと、前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、前記試料容器よりも上方でかつ前記接触子が前記試料容器に接触しない状態で、前記上下方向に交差する面内で前記接触子を移動させるステップと、前記接触子の移動と前記接触子の前記下端部の高さの判定結果との組み合わせおよび前記面上における前記接触子の位置に基づいて前記試料容器の位置を特定するステップとを含む、試料注入装置の教示方法に関する。

【0010】

本発明のさらに他の局面に従う態様は、処理装置により実行可能な試料注入装置に試料容器の位置を教示する試料注入装置の教示プログラムであって、前記試料容器は、上部開口を有しかつ試料を収容する容器本体と、前記容器本体の前記上部開口に取り付けられるシール部材と、前記シール部材の上面中央部を露出させるように上下方向に貫通する開口部を有しかつ前記容器本体の上部に取り付けられる蓋部とを含み、前記試料注入装置の教示プログラムは、前記試料容器を支持する支持部の上方において、前記上下方向に延びかつ前記蓋部の前記開口部内に挿入可能な下端部を有する接触子を下方に移動させる処理と、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の上面に接触したか否かを接触検出部により検出する処理と、前記接触検出部による検出結果に基づいて、前記接触子の前記下端部が、前記試料容器の前記蓋部の上面の高さに対応する第１の高さと、前記第１の高さよりも低くかつ前記試料容器の前記シール部材の上面の高さに対応する第２の高さと、前記第２の高さよりも低い第３の高さとのいずれにあるかを判定する処理と、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触した状態で、前記接触子を移動させる処理と、前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、前記試料容器よりも上方でかつ前記接触子が前記試料容器に接触しない状態で、前記上下方向に交差する面内で前記接触子を移動させる処理と、前記接触子の移動と前記接触子の前記下端部の高さの判定結果との組み合わせおよび前記面上における前記接触子の位置に基づいて前記試料容器の位置を特定する処理とを、前記処理装置に実行させる、試料注入装置の教示プログラムに関する。

【発明の効果】

【0011】

本発明によれば、試料容器の位置を効率よくかつ高精度で特定することができる。

【図面の簡単な説明】

【0012】

【図1】本発明の一実施の形態に係る試料注入装置の構成を示す図である。

【図2】試料容器の構成を示す部分断面図である。

【図3】接触子の高さを説明するための図である。

【図4】接触子の高さを説明するための図である。

【図5】接触子の高さを説明するための図である。

【図6】接触子の第１の駆動例を説明するための図である。

【図7】接触子の第１の駆動例を説明するための図である。

【図8】接触子の第２の駆動例を説明するための図である。

【図9】接触子の第２の駆動例を説明するための図である。

【図10】接触子の第２の駆動例を説明するための図である。

【図11】接触子の第２の駆動例を説明するための図である。

【図12】接触子の第３の駆動例を説明するための図である。

【図13】接触子の第４の駆動例を説明するための図である。

【図14】接触子の第５の駆動例を説明するための図である。

【図15】接触子の第５の駆動例を説明するための図である。

【図16】接触子の第５の駆動例を説明するための図である。

【図17】開口部の中心探索の一例を説明するための図である。

【図18】中心探索の一例を説明するための図である。

【図19】中心探索の一例を説明するための図である。

【図20】中心探索の一例を説明するための図である。

【図21】図１の制御部の構成を示す図である。

【図22】図２１の制御部により実行される教示処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。

【図23】図２１の制御部により実行される教示処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。

【図24】図２１の制御部により実行される中心探索処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。

【図25】接触子の形状の他の例を示す図である。

【図26】接触子の形状の他の例を示す図である。

【図27】接触子の形状の他の例を示す図である。

【図28】接触子の形状の他の例を示す図である。

【図29】中心探索の他の例を説明するための図である。

【図30】中心探索の他の例を説明するための図である。

【図31】中心探索の他の例を説明するための図である。

【図32】中心探索の他の例を説明するための図である。

【発明を実施するための形態】

【0013】

（１）試料注入装置の構成
以下、本発明の実施の形態に係る試料注入装置、試料注入装置の教示方法および試料注入装置の教示プログラムについて図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の一実施の形態に係る試料注入装置の構成を示す図である。図１に示すように、試料注入装置１００は、支持部１０、シリンジ２０、接触子３０、接触子駆動部４０、接触検出部５０、プランジャ駆動部６０、記憶部７０および制御部８０を備える。

【0014】

支持部１０は、トレイ１１０を支持する。トレイ１１０には、試料が収容された１または複数（図１の例では５個）の試料容器１２０が保持される。また、トレイ１１０には、保持された試料容器１２０の寸法に関する容器情報を示す情報表示部１１１が取り付けられる。容器情報は、試料容器１２０の蓋部の直径および蓋部の上面の高さ等を含む。

【0015】

情報表示部１１１は、ｎ個（ｎは１以上の整数）のマグネットであり、２進コードにより容器情報を示してもよい。この場合、情報表示部１１１は、２^ｎ通りの容器情報を示すことが可能である。あるいは、情報表示部１１１は、ＲＦＩＤ（Radio Frequency Identifier）タグ、バーコードまたはＱＲコード（登録商標）等であってもよい。

【0016】

支持部１０には、支持されたトレイ１１０の情報表示部１１１から容器情報を読み取る読取部１１が設けられる。なお、情報表示部１１１がマグネットである場合には、読取部１１はマグネットセンサである。情報表示部１１１がＲＦＩＤタグ、バーコードまたはＱＲコードである場合には、読取部１１はＲＦＩＤリーダ、バーコードリーダまたはＱＲコードリーダである。

【0017】

シリンジ２０および接触子３０は、支持部１０の上方に配置される。シリンジ２０は、針２１、バレル２２およびプランジャ２３を含む。試料容器１２０内の試料に針２１が刺された状態で、プランジャ２３が引き上げられることにより、試料容器１２０内の試料が針２１を通してバレル２２内に吸引される。また、図示しない試料注入部（例えばガスクロマトグラフの試料気化室）に針２１が刺された状態で、プランジャ２３が押し下げられることにより、バレル２２内の試料が針２１を通して試料注入部に注入される。

【0018】

接触子３０は、上下方向に延びる棒状の部材であり、下端部３１にテーパ面３２を含む。本例では、接触子３０は、下端部３１を除いて円柱形状を有する。また、接触子３０の下端部３１は、上方から下方に向かって径が漸次減少する円錐形状を有する。これにより、斜め下方を向くテーパ面３２が接触子３０の下端部３１に形成される。さらに、本例では、上下方向における接触子３０の略中央部に、外方に突出する平板形状の遮光部３３が形成される。

【0019】

接触子駆動部４０は、１または複数のアクチュエータを含む。アクチュエータは、例えばステッピングモータである。接触子駆動部４０は、接触子３０をシリンジ２０および接触検出部５０とともに上下方向に移動させる。また、接触子駆動部４０は、接触子３０をシリンジ２０および接触検出部５０とともに水平方向に移動させる。以下の説明では、シリンジ２０および接触検出部５０の移動についての言及は省略される。

【0020】

接触子３０の下方にいずれかの試料容器１２０が位置する場合には、接触子３０が下降されることにより、接触子３０の下端部３１が試料容器１２０の上面と接触する。以下の説明では、接触子３０の下端部３１と試料容器１２０の上面とが接触することを、単に接触子３０と試料容器１２０との接触と呼ぶ。また、接触子３０の下端部３１の高さを単に接触子３０の高さと呼ぶ。

【0021】

接触検出部５０は、接触子３０が試料容器１２０に接触したか否かを検出する。本例では、接触検出部５０は、フォトインタラプタであり、投光部５１および受光部５２を含む。投光部５１と受光部５２とは、接触子３０が試料容器１２０に接触していない状態における遮光部３３を挟んで対向するように配置される。投光部５１により出射された受光部５２により光が受光されるか否かに基づいて、接触子３０が試料容器１２０に接触したか否かが検出される。

【0022】

具体的には、接触子３０が試料容器１２０に接触していない場合には、投光部５１により出射された光は、遮光部３３により遮光されるため、受光部５２により受光されない。一方、接触子３０が試料容器１２０に接触した場合には、接触子３０が接触検出部５０に対して上方に移動するので、投光部５１と受光部５２とは、遮光部３３を挟むことなく直接対向する。そのため、投光部５１により出射された光は、受光部５２により受光される。

【0023】

プランジャ駆動部６０は、ステッピングモータ等のアクチュエータを含み、シリンジ２０のプランジャ２３を駆動する。記憶部７０は、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、ＲＯＭ（リードオンリメモリ）、ハードディスクまたは半導体メモリ等を含み、教示プログラムを記憶する。教示プログラムは、記憶部７０とは異なる記憶媒体に記憶されていてもよい。

【0024】

制御部８０は、例えばＣＰＵ（中央演算処理装置）を含み、教示プログラムを記憶部７０上で実行することにより、後述する教示処理を行う。また、制御部８０は、読取部１１から容器情報を取得するとともに、接触検出部５０から検出結果を取得し、接触子駆動部４０およびプランジャ駆動部６０の動作を制御する。

【0025】

（２）試料容器の位置の特定
図２は、試料容器１２０の構成を示す部分断面図である。図２に示すように、試料容器１２０は、容器本体１２１、シール部材１２２および蓋部１２３を含む。容器本体１２１は、上部開口１２４を有し、試料を収容する。シール部材１２２、樹脂部材またはゴム部材等により形成されたセプタムであり、容器本体１２１を密封するように容器本体１２１の上部開口１２４に取り付けられる。

【0026】

蓋部１２３は、容器本体１２１の上部に取り付けられる。蓋部１２３の上面中央部には、シール部材１２２の上面中央部を露出させるように上下方向に貫通する円形の開口部１２５が形成される。試料の分析時には、図１のシリンジ２０の針２１は、蓋部１２３の開口部１２５から露出するシール部材１２２を貫通して、容器本体１２１内の試料に刺し込まれる。そのため、試料容器１２０の水平面内における開口部１２５の位置を特定し、特定された位置を試料容器１２０の位置として試料注入装置１００に教示することが必要となる。

【0027】

図１の制御部８０は、いずれかの試料容器１２０の上方付近に接触子３０を搬送するとともに、接触子３０を下降させた場合において、接触子３０の下端部３１について、３段階の高さを検出することができる。図３～図５は、接触子３０の高さを説明するための図である。図３に示すように、接触子３０が蓋部１２３に接触した場合、接触子３０の高さとして第１の高さＨ１が検出される。第１の高さＨ１は、容器情報に含まれる蓋部１２３の上面の高さと等しい。

【0028】

図４に示すように、接触子３０がシール部材１２２に接触した場合、接触子３０の高さとして第２の高さＨ２が検出される。第２の高さＨ２は、第１の高さＨ１よりも下方に位置する。図５に示すように、接触子３０が試料容器１２０に接触することなく下限位置まで下降した場合、接触子３０の高さとして第３の高さＨ３が検出される。第３の高さＨ３は、第２の高さＨ２よりも下方に位置する。

【0029】

接触子３０の高さとして第２の高さＨ２が検出された場合、接触子３０の水平面内における位置が水平面内における開口部１２５の位置として特定される。一方、接触子３０の高さとして第１の高さＨ１または第３の高さＨ３が検出された場合、水平面内における開口部１２５の位置を特定するために、接触子３０のさらなる駆動が行われる。以下、接触子３０の駆動について説明する。

【0030】

（３）接触子の駆動
（ａ）第１の駆動例
以下の説明では、接触子３０が試料容器１２０と接触しない状態で接触子３０を水平方向に移動させることを水平移動と呼ぶ。一方、接触子３０が試料容器１２０と接触した状態で接触子３０を水平方向に移動させることを走査と呼ぶ。また、水平面内において直交する２方向をそれぞれＸ方向およびＹ方向と呼ぶ。Ｘ方向に平行な一方向を＋Ｘ方向と呼び、その反対方向を－Ｘ方向と呼ぶ。同様に、Ｙ方向に平行な一方向を＋Ｙ方向と呼び、その反対方向を－Ｙ方向と呼ぶ。

【0031】

図６および図７は、接触子３０の第１の駆動例を説明するための図である。第１の駆動例においては、図３と同様に、接触子３０が蓋部１２３に接触することにより、図１の受光部５２が受光状態になるとともに、第１の高さＨ１が検出される。

【0032】

この場合、図６に矢印で示すように、接触子３０が－Ｘ方向に走査される。図６に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３の縁部（本例では内縁部）を越えると、接触子３０がテーパ面３２に沿ってわずかに下降するとともに、接触子３０が試料容器１２０と接触しなくなる。したがって、受光部５２が遮光状態になる。この状態においては、接触子３０が蓋部１２３の開口部１２５の上方にあるのか、蓋部１２３の外方にあるのかが特定されていない。

【0033】

そこで、図７に矢印で示すように、接触子３０が下降される。図７に点線で示すように、接触子３０がシール部材１２２に接触した場合には、受光部５２が受光状態になるとともに、第２の高さＨ２が検出される。このときの接触子３０の水平面内における位置が、水平面内における開口部１２５の位置として特定される。

【0034】

（ｂ）第２の駆動例
図８～図１１は、接触子３０の第２の駆動例を説明するための図である。第２の駆動例においては、第１の駆動例と同様に、接触子３０が蓋部１２３に接触することにより、受光部５２が受光状態になるとともに、第１の高さＨ１が検出される。

【0035】

この場合、図８に矢印で示すように、接触子３０が－Ｘ方向に走査される。図８に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３の縁部（本例では外縁部）を越えると、接触子３０がテーパ面３２に沿ってわずかに下降するとともに、接触子３０が試料容器１２０と接触しなくなる。したがって、受光部５２が遮光状態になる。この状態においては、第１の駆動例と同様に、接触子３０が蓋部１２３の開口部１２５の上方にあるのか、蓋部１２３の外方にあるのかが特定されていない。

【0036】

そこで、図９に矢印で示すように、接触子３０が下降される。図９に点線で示すように、接触子３０がシール部材１２２に接触することなく下限位置まで下降した場合には、受光部５２が遮光状態のまま、第３の高さＨ３が検出される。これにより、接触子３０が蓋部１２３の外方にあることが特定される。

【0037】

この場合、図１０に矢印で示すように、接触子３０が上昇された後、例えば容器情報に含まれる蓋部１２３の直径分だけ＋Ｘ方向に水平移動される。その後、接触子３０が下降される。これにより、図１０に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３に再度接触することにより、受光部５２が受光状態になるとともに、第１の高さＨ１が検出される。

【0038】

次に、図１１に矢印で示すように、接触子３０が－Ｘ方向に走査される。図１１に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３の縁部（本例では内縁部）を越えると、接触子３０がテーパ面３２に沿ってわずかに下降するとともに、接触子３０が試料容器１２０と接触しなくなる。したがって、受光部５２が遮光状態になる。

【0039】

この状態においては、接触子３０が蓋部１２３の外方ではなく、蓋部１２３の開口部１２５の上方にある。そのため、このときの接触子３０の水平面内における位置が、水平面内における開口部１２５の位置として特定される。図１１の例においては、図６から図７の例のように接触子３０を下降させる必要がない。

【0040】

なお、図１０の例においては、接触子３０が上昇、水平移動および下降されることにより、接触子３０が蓋部１２３に接触する。しかしながら、移動前の接触子３０の位置によっては、接触子３０が上昇、水平移動および下降されることにより、接触子３０が蓋部１２３ではなく、シール部材１２２に接触することもある。この場合、受光部５２が受光状態になるとともに、第２の高さＨ２が検出される。そのため、このときの接触子３０の水平面内における位置が、水平面内における開口部１２５の位置として特定され、図１１に対応する接触子３０の駆動は行われない。

【0041】

（ｃ）第３の駆動例
図１２は、接触子３０の第３の駆動例を説明するための図である。第３の駆動例においては、図５と同様に、接触子３０が試料容器１２０に接触することなく下限位置まで下降することにより、受光部５２が遮光状態のまま、第３の高さＨ３が検出される。

【0042】

この場合、図１２に矢印で示すように、接触子３０が上昇された後、例えば容器情報に含まれる蓋部１２３の直径の半分（半径分）だけ－Ｘ方向に水平移動される。その後、接触子３０が下降される。これにより、図１２に点線で示すように、接触子３０がシール部材１２２に接触することにより、受光部５２が受光状態になるとともに、第２の高さＨ２が検出される。このときの接触子３０の水平面内における位置が、水平面内における開口部１２５の位置として特定される。

【0043】

（ｄ）第４の駆動例
図１３は、接触子３０の第４の駆動例を説明するための図である。第４の駆動例においては、第３の駆動例と同様に、接触子３０が試料容器１２０に接触することなく下限位置まで下降することにより、受光部５２が遮光状態のまま、第３の高さＨ３が検出される。

【0044】

この場合、図１３に矢印で示すように、接触子３０が上昇された後、例えば蓋部１２３の半径分だけ－Ｘ方向に水平移動される。その後、接触子３０が下降される。これにより、図１３に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３に接触することにより、受光部５２が受光状態になるとともに、第１の高さＨ１が検出される。

【0045】

次に、図１１の例と同様に、接触子３０が－Ｘ方向に走査される。接触子３０が蓋部１２３の縁部（本例では内縁部）を越えると、接触子３０がテーパ面３２に沿ってわずかに下降するとともに、接触子３０が試料容器１２０と接触しなくなる。したがって、受光部５２が遮光状態になる。

【0046】

この状態においては、接触子３０が蓋部１２３の外方ではなく、蓋部１２３の開口部１２５の上方にある。そのため、このときの接触子３０の水平面内における位置が、水平面内における開口部１２５の位置として特定される。この例においては、図１１の例と同様に、接触子３０を下降させる必要がない。

【0047】

（ｅ）第５の駆動例
図１４～図１６は、接触子３０の第５の駆動例を説明するための図である。第５の駆動例においては、第３または第４の駆動例と同様に、接触子３０が試料容器１２０に接触することなく下限位置まで下降することにより、受光部５２が遮光状態のまま、第３の高さＨ３が検出される。

【0048】

この場合、図１４に矢印で示すように、接触子３０が上昇された後、例えば蓋部１２３の半径分だけ－Ｘ方向に水平移動される。その後、接触子３０が下降される。この場合でも、図１４に点線で示すように、接触子３０が試料容器１２０に接触することなく下限位置まで下降することにより、受光部５２が遮光状態のまま、第３の高さＨ３が検出される。

【0049】

そこで、図１５に矢印で示すように、接触子３０が上昇された後、例えば蓋部１２３の直径分だけ＋Ｘ方向に水平移動される。その後、接触子３０が下降される。これにより、図１５に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３に接触することにより、受光部５２が受光状態になるとともに、第１の高さＨ１が検出される。

【0050】

次に、図１６に矢印で示すように、接触子３０が＋Ｘ方向に走査される。図１６に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３の縁部（本例では内縁部）を越えると、接触子３０がテーパ面３２に沿ってわずかに下降するとともに、接触子３０が試料容器１２０と接触しなくなる。したがって、受光部５２が遮光状態になる。

【0051】

この状態においては、接触子３０が蓋部１２３の外方ではなく、蓋部１２３の開口部１２５の上方にある。そのため、このときの接触子３０の水平面内における位置が、水平面内における開口部１２５の位置として特定される。図１６の例においては、図１１の例のように接触子３０を下降させる必要がない。

【0052】

なお、図１５の例においては、接触子３０が上昇、水平移動および下降されることにより、接触子３０が蓋部１２３に接触する。しかしながら、移動前の接触子３０の位置によっては、接触子３０が上昇、水平移動および下降されることにより、接触子３０が蓋部１２３ではなく、シール部材１２２に接触することもある。この場合、受光部５２が受光状態になるとともに、第２の高さＨ２が検出される。そのため、このときの接触子３０の水平面内における位置が、水平面内における開口部１２５の位置として特定され、図１６に対応する接触子３０の駆動は行われない。

【0053】

（４）中心探索
上記の接触子３０の駆動により、水平面内における開口部１２５の位置が特定される。このときに特定された位置を特定位置と呼ぶ。特定位置が試料注入装置１００に教示されてもよい。この場合、短時間で教示を終了することができる。一方で、特定位置の周囲の位置の高さに基づいて特定位置よりも開口部１２５の中心に近い位置がさらに探索され、探索された位置が試料注入装置１００に教示されてもよい。これにより、開口部１２５よりも小径のインサートが容器本体１２１に取り付けられている場合でも、シリンジ２０の針２１をインサート内の試料に容易に刺し込むことができる。

【0054】

以下の説明では、特定位置よりも開口部１２５の中心に近い位置を探索することを中心探索と呼ぶ。図１７～図２０は、中心探索の一例を説明するための図である。接触子３０の下端部３１が特定位置にある状態から、図１７に矢印で示すように、接触子３０が上昇された後、例えば蓋部１２３の半径の半分だけ－Ｘ方向に水平移動される。その後、接触子３０が下降される。この場合、図１７に点線で示すように、接触子３０がシール部材１２２に接触することにより、受光部５２が受光状態になるとともに、第２の高さＨ２が検出される。

【0055】

また、接触子３０の下端部３１が特定位置にある状態から、図１８に矢印で示すように、接触子３０が上昇された後、例えば蓋部１２３の半径の半分だけ＋Ｘ方向に水平移動される。その後、接触子３０が下降される。この場合、図１８に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３に接触することにより、受光部５２が受光状態になるとともに、第１の高さＨ１が検出される。

【0056】

同様に、接触子３０の下端部３１が特定位置にある状態から、図１９に矢印で示すように、接触子３０が上昇された後、例えば蓋部１２３の半径の半分だけ－Ｙ方向に水平移動される。その後、接触子３０が下降される。この場合、図１９に点線で示すように、接触子３０がシール部材１２２に接触することにより、受光部５２が受光状態になるとともに、第２の高さＨ２が検出される。

【0057】

また、接触子３０の下端部３１が特定位置にある状態から、図２０に矢印で示すように、接触子３０が上昇された後、例えば蓋部１２３の半径の半分だけ＋Ｙ方向に水平移動される。その後、接触子３０が下降される。この場合、図２０に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３に接触することにより、受光部５２が受光状態になるとともに、第１の高さＨ１が検出される。

【0058】

図１７～図２０の例においては、接触子３０は、特定位置から－Ｘ方向に蓋部１２３の半径の半分だけ水平移動しかつ－Ｙ方向に蓋部１２３の半径の半分だけ水平移動しても、開口部１２５の上方にある。すなわち、開口部１２５の中心は、特定位置よりも－Ｘ方向側にかつ－Ｙ方向側にあることになる。そこで、教示される開口部１２５の位置が、特定位置から－Ｘ方向に所定距離だけシフトされかつ－Ｙ方向に所定距離だけシフトされた位置に補正される。

【0059】

一方、接触子３０が特定位置から－Ｘ方向、＋Ｘ方向、－Ｙ方向および＋Ｙ方向のいずれの方向に蓋部１２３の半径の半分だけ水平移動しても、開口部１２５の上方にあることがある。あるいは、接触子３０が特定位置から－Ｘ方向、＋Ｘ方向、－Ｙ方向および＋Ｙ方向のいずれの方向に蓋部１２３の半径の半分だけ水平移動しても、蓋部１２３の上方にあることがある。これらの場合、特定位置は、開口部１２５の中心の十分近傍にあるため、教示される開口部１２５の位置は補正されず、特定位置のままとなる。

【0060】

なお、中心探索においては、開口部１２５よりも小径のインサートが容器本体１２１に取り付けられている場合でも、シリンジ２０の針２１をインサート内の試料に刺し込むことができる程度に特定位置が補正されればよい。したがって、補正後の位置は、開口部１２５の真の中心と完全に一致していなくてもよい。

【0061】

（５）制御部
図２１は、図１の制御部８０の構成を示す図である。図２１に示すように、制御部８０は、機能部として、容器情報取得部８１、搬送部８２、探索部８３、検出結果取得部８４、高さ判定部８５、走査部８６、移動部８７、特定部８８、中心探索部８９および補正部９０を含む。制御部８０が記憶部７０または他の記憶媒体に記憶された教示プログラムを実行することにより、制御部８０の機能部が実現される。制御部８０の機能部の一部または全部が電子回路等のハードウエアにより実現されてもよい。

【0062】

容器情報取得部８１は、図１のトレイ１１０の情報表示部１１１が示す試料容器１２０の容器情報を読取部１１から取得する。搬送部８２は、任意の試料容器１２０の上方付近における予め定められた位置（以下、デフォルト位置と呼ぶ。）に接触子３０を搬送するように接触子駆動部４０を制御する。探索部８３は、接触子３０を下降させることにより試料容器１２０を探索するように接触子駆動部４０を制御する。探索部８３が第１の移動制御部の例である。

【0063】

検出結果取得部８４は、接触子３０が試料容器１２０に接触したか否かの検出結果を接触検出部５０から取得する。高さ判定部８５は、容器情報取得部８１により取得された容器情報と、検出結果取得部８４により取得された検出結果とに基づいて、接触子３０の高さが第１～第３の高さＨ１～Ｈ３のいずれであるかを判定する。

【0064】

具体的には、接触子３０が試料容器１２０に接触したときの接触子３０の高さが容器情報に含まれる蓋部１２３の上面の高さと等しい場合、接触子３０の高さは第１の高さＨ１であると判定される。接触子３０が試料容器１２０に接触したときの接触子３０の高さが蓋部１２３の上面の高さよりも低い場合、接触子３０の高さは第２の高さＨ２であると判定される。接触子３０が試料容器１２０に接触しない場合、接触子３０の高さは第３の高さＨ３であると判定される。

【0065】

走査部８６は、接触子３０が試料容器１２０と接触した状態で接触子３０を水平方向に移動（走査）させるように接触子駆動部４０を制御する。走査部８６が第２の移動制御部の例である。移動部８７は、容器情報取得部８１により取得された容器情報に含まれる蓋部１２３の直径に基づいて、接触子３０が試料容器１２０と接触しない状態で接触子３０を水平方向に移動（水平移動）させるように接触子駆動部４０を制御する。移動部８７が第３の移動制御部の例である。

【0066】

特定部８８は、高さ判定部８５による判定結果または検出結果取得部８４による検出結果に基づいて、試料容器１２０の水平面内における開口部１２５の位置を特定する。中心探索部８９は、特定部８８により特定された位置（特定位置）に基づいて中心探索が行われるように接触子駆動部４０を制御する。具体的には、接触子３０が特定位置の周囲の位置に順次接触するように接触子駆動部４０が制御される。

【0067】

補正部９０は、中心探索部８９により中心探索が行われたときに高さ判定部８５により判定される接触子３０の高さに基づいて、特定部８８により特定された位置を補正する。補正部９０により補正された位置が記憶部７０に記憶されることにより、試料容器１２０の位置が試料注入装置１００に教示される。

【0068】

なお、試料容器１２０にインサートが取り付けられない場合には、中心探索が行われなくてもよい。したがって、制御部８０は、中心探索部８９および補正部９０を含まなくてもよい。この場合、特定部８８により特定された位置が記憶部７０に記憶されることにより、試料容器１２０の位置が試料注入装置１００に教示される。

【0069】

（６）教示処理
図２２および図２３は、図２１の制御部８０により実行される教示処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。まず、容器情報取得部８１は、読取部１１から容器情報を取得する（ステップＳ１）。また、搬送部８２は、デフォルト位置に接触子３０を搬送させる（ステップＳ２）。ステップＳ１，Ｓ２は、いずれが先に実行されてもよいし、同時に実行されてもよい。

【0070】

次に、探索部８３は、接触子３０により試料容器１２０を探索する（ステップＳ３）。続いて、検出結果取得部８４は、接触検出部５０から検出結果を取得する（ステップＳ４）。その後、高さ判定部８５は、接触子３０の高さを判定することにより、接触子３０がシール部材１２２に接触しているか否かを判定する（ステップＳ５）。接触子３０がシール部材１２２に接触している場合、高さ判定部８５はステップＳ３１に進む。

【0071】

接触子３０がシール部材１２２に接触していない場合、高さ判定部８５は、接触子３０が蓋部１２３に接触しているか否かを判定する（ステップＳ６）。接触子３０が蓋部１２３に接触している場合、走査部８６は、接触子３０を－Ｘ方向に走査する（ステップＳ７）。次に、検出結果取得部８４は、接触子３０が蓋部１２３に接触しなくなったか否か、すなわち接触検出部５０の受光部５２が遮光状態になったか否かを判定する（ステップＳ８）。

【0072】

受光部５２が遮光状態になっていない場合、検出結果取得部８４はステップＳ７に戻る。受光部５２が遮光状態になるまでステップＳ７，Ｓ８が繰り返される。受光部５２が遮光状態になった場合、探索部８３は、接触子３０により試料容器１２０を探索する（ステップＳ９）。続いて、検出結果取得部８４は、接触検出部５０から検出結果を取得する（ステップＳ１０）。その後、高さ判定部８５は、接触子３０がシール部材１２２に接触しているか否かを判定する（ステップＳ１１）。接触子３０がシール部材１２２に接触している場合（図６および図７における接触子３０の第１の駆動例を参照）、高さ判定部８５はステップＳ３１に進む。

【0073】

ステップＳ１１で接触子３０がシール部材１２２に接触していない場合、接触子３０は蓋部１２３の外方にあることとなる。この場合、移動部８７は、ステップＳ１で取得された容器情報に基づいて、接触子３０を蓋部１２３の直径分だけ＋Ｘ方向に水平移動させる（ステップＳ１２）。

【0074】

次に、探索部８３は、接触子３０により試料容器１２０を探索する（ステップＳ１３）。続いて、検出結果取得部８４は、接触検出部５０から検出結果を取得する（ステップＳ１４）。その後、高さ判定部８５は、接触子３０がシール部材１２２に接触しているか否かを判定する（ステップＳ１５）。接触子３０がシール部材１２２に接触している場合（図８～図１０における第２の駆動例のなお書きを参照）、高さ判定部８５はステップＳ３１に進む。

【0075】

ステップＳ１５で接触子３０がシール部材１２２に接触していない場合、接触子３０は蓋部１２３に接触し、かつ、開口部１２５は接触子３０よりも－Ｘ方向側にあることとなる。この場合、走査部８６は、接触子３０を－Ｘ方向に走査する（ステップＳ１６）。次に、検出結果取得部８４は、受光部５２が遮光状態になったか否かを判定する（ステップＳ１７）。

【0076】

受光部５２が遮光状態になっていない場合、検出結果取得部８４はステップＳ１６に戻る。受光部５２が遮光状態になるまでステップＳ１６，Ｓ１７が繰り返される。受光部５２が遮光状態になった場合、接触子３０は開口部１２５の上方にある（図８～図１１における接触子３０の第２の駆動例を参照）。この場合、検出結果取得部８４はステップＳ３１に進む。

【0077】

ステップＳ６で接触子３０が蓋部１２３に接触していない場合には、接触子３０は蓋部１２３の外方にあることとなり、高さ判定部８５はステップＳ１８に進む。ステップＳ１８において、移動部８７は、ステップＳ１で取得された容器情報に基づいて、接触子３０を蓋部１２３の半径分だけ－Ｘ方向に水平移動させる（ステップＳ１８）。

【0078】

次に、探索部８３は、接触子３０により試料容器１２０を探索する（ステップＳ１９）。続いて、検出結果取得部８４は、接触検出部５０から検出結果を取得する（ステップＳ２０）。その後、高さ判定部８５は、接触子３０がシール部材１２２に接触しているか否かを判定する（ステップＳ２１）。接触子３０がシール部材１２２に接触している場合（図１２における接触子３０の第３の駆動例を参照）、高さ判定部８５はステップＳ３１に進む。

【0079】

接触子３０がシール部材１２２に接触していない場合、高さ判定部８５は、接触子３０が蓋部１２３に接触しているか否かを判定する（ステップＳ２２）。接触子３０が蓋部１２３に接触している場合、開口部１２５は接触子３０よりも－Ｘ方向側にあることとなる（図１３における接触子３０の第４の駆動例を参照）。この場合、走査部８６は、接触子３０を－Ｘ方向に走査する（ステップＳ２３）。

【0080】

次に、検出結果取得部８４は、受光部５２が遮光状態になったか否かを判定する（ステップＳ２４）。受光部５２が遮光状態になっていない場合、検出結果取得部８４はステップＳ２３に戻る。受光部５２が遮光状態になるまでステップＳ２３，Ｓ２４が繰り返される。受光部５２が遮光状態になった場合、接触子３０は開口部１２５の上方にある。この場合、高さ判定部８５はステップＳ３１に進む。

【0081】

ステップＳ２２で接触子３０が蓋部１２３に接触していない場合、接触子３０は依然として蓋部１２３の外方にあり、かつ、試料容器１２０は接触子３０の＋Ｘ方向側にあることとなる。この場合、高さ判定部８５はステップＳ２５に進む。ステップＳ２５において、移動部８７は、ステップＳ１で取得された容器情報に基づいて、接触子３０を蓋部１２３の直径分だけ＋Ｘ方向に水平移動させる（ステップＳ２５）。

【0082】

次に、探索部８３は、接触子３０により試料容器１２０を探索する（ステップＳ２６）。続いて、検出結果取得部８４は、接触検出部５０から検出結果を取得する（ステップＳ２７）。その後、高さ判定部８５は、接触子３０がシール部材１２２に接触しているか否かを判定する（ステップＳ２８）。接触子３０がシール部材１２２に接触している場合（図１４および図１５における接触子３０の第５の駆動例のなお書きを参照）、高さ判定部８５はステップＳ３１に進む。

【0083】

接触子３０がシール部材１２２に接触していない場合、接触子３０は蓋部１２３に接触し、かつ、開口部１２５は接触子３０の下端部３１よりも＋Ｘ方向側にあることとなる。この場合、走査部８６は、接触子３０を＋Ｘ方向に走査する（ステップＳ２９）。次に、検出結果取得部８４は、受光部５２が遮光状態になったか否かを判定する（ステップＳ３０）。

【0084】

受光部５２が遮光状態になっていない場合、検出結果取得部８４はステップＳ２９に戻る。受光部５２が遮光状態になるまでステップＳ２９，Ｓ３０が繰り返される。受光部５２が遮光状態になった場合、接触子３０は開口部１２５の上方にある（図１４～図１６における接触子３０の第５の駆動例を参照）。この場合、検出結果取得部８４はステップＳ３１に進む。

【0085】

ステップＳ３１において、特定部８８は、接触子３０の水平面内における位置を水平面内における開口部１２５の位置として特定し、特定された位置を記憶部７０に記憶させる（ステップＳ３１）。これにより、特定位置が試料容器１２０の位置として試料注入装置１００に教示され、教示処理が終了する。

【0086】

（７）中心探索処理
教示処理のステップＳ３１の後、以下の中心探索処理が実行されてもよい。図２４は、図２１の制御部８０により実行される中心探索処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。まず、中心探索部８９は、教示処理のステップＳ３１で特定された位置の周囲の位置に接触子３０を水平移動および下降させる（ステップＳ４１）。次に、検出結果取得部８４は、接触検出部５０から検出結果を取得する（ステップＳ４２）。

【0087】

続いて、高さ判定部８５は、ステップＳ４２の検出結果に基づいて、特定位置の周囲の位置の高さを取得する（ステップＳ４３）。その後、中心探索部８９は、他の位置の高さを取得するか否かを判定する（ステップＳ４４）。本例では、特定位置の周囲の４か所の位置が取得されていない場合、中心探索部８９は、他の位置の高さを取得すると判定し、ステップＳ４１に戻る。特定位置の周囲の４か所の位置が取得されるまで、ステップＳ４１～Ｓ４４が繰り返される。

【0088】

特定位置の周囲の４か所の位置が取得された場合、中心探索部８９は、他の位置の高さを取得しないと判定する。この場合、補正部９０は、ステップＳ４３で取得された高さに基づいて、ステップＳ４５で特定された位置を補し、補正された位置を記憶部７０に記憶させる（ステップＳ４５）。これにより、補正された位置が試料容器１２０の位置として試料注入装置１００に教示され、中心探索処理が終了する。

【0089】

（８）効果
本実施の形態に係る試料注入装置１００においては、試料容器１２０を支持する支持部１０の上方において、上下方向に延びかつ蓋部１２３の開口部１２５内に挿入可能な下端部３１を有する接触子３０が下方に移動される。また、接触子３０の下端部３１が試料容器１２０の上面に接触したか否かが接触検出部５０により検出される。接触検出部５０による検出結果に基づいて、接触子３０の下端部３１が、試料容器１２０の蓋部１２３の上面の高さに対応する第１の高さＨ１と、第１の高さＨ１よりも低くかつ試料容器１２０のシール部材１２２の上面の高さに対応する第２の高さＨ２と、第２の高さＨ２よりも低い第３の高さＨ３とのいずれにあるかが判定される。

【0090】

接触子３０の下端部３１が第１の高さＨ１にあると判定された場合、接触子３０の下端部３１が試料容器１２０の蓋部１２３の上面に接触した状態で、接触子３０が走査される。また、接触子３０の下端部３１が第３の高さＨ３にあると判定された場合、試料容器１２０よりも上方でかつ接触子３０が試料容器１２０に接触しない状態で、接触子３０が水平移動される。接触子３０の移動と接触子３０の下端部３１の高さの判定結果との組み合わせおよび面上における接触子３０の位置に基づいて試料容器１２０の位置が特定される。

【0091】

この構成によれば、接触子３０の下端部３１がシール部材１２２の上面の高さに対応する第３の高さＨ３にあるか否かを判定することにより、接触子３０が試料容器１２０の蓋部１２３の外方に位置するか否かを判定することが可能である。接触子３０が試料容器１２０の蓋部１２３の外方に位置する場合には、試料容器１２０よりも上方でかつ接触子３０が試料容器１２０に接触しない状態で、接触子３０を水平移動させることにより、接触子３０を試料容器１２０の上方に近づけることが可能である。そのため、接触子３０が試料容器１２０の蓋部１２３の外方に位置していた場合でも、試料容器１２０の位置を特定することができる。

【0092】

また、接触子３０の下端部３１が蓋部１２３の上面の高さに対応する第１の高さＨ１にあるか否かを判定することにより、接触子３０の下端部３１が試料容器１２０の蓋部１２３の上面に接触したか否かを判定することが可能である。接触子３０の下端部３１が蓋部１２３の上面に接触した場合には、接触子３０の下端部３１が蓋部１２３の上面に接触した状態で、接触子３０が走査される。したがって、接触子３０の上昇および下降を繰り返すことなく、高い分解能で蓋部１２３の範囲を特定することが可能になる。これにより、試料容器１２０の位置を効率よくかつ高精度で特定することができる。

【0093】

本実施の形態において、試料容器１２０の探索範囲を小さくすることにより、より短時間で効率よく試料容器１２０の位置を試料注入装置１００に教示することができる。また、接触子３０は下端部３１にテーパ面３２を有するので、接触子３０の走査時に、蓋部１２３の範囲を高い精度で特定することができる。さらに、試料容器１２０の直径が小さい場合でも、開口部１２５を検知することができる。

【0094】

（９）他の実施の形態
（ａ）上記実施の形態において、接触子３０の下端部３１はテーパ面３２を含む円錐形状を有するが、実施の形態はこれに限定されない。接触子３０の下端部３１は、テーパ面３２を含む他の形状を有してもよい。図２５～図２８は、接触子３０の形状の他の例を示す図である。例えば、図２５に示すように、接触子３０の下端部３１は、上方から下方に向かって径が漸次減少する円錐台形状を有してもよい。あるいは、図２６に示すように、テーパ面３２は、平面形状ではなく、曲面形状を有してもよい。

【0095】

また、接触子３０は、下端部３１が試料容器１２０の開口部１２５内に挿入可能である限り、テーパ面３２を含まなくてもよい。例えば、図２７に示すように、接触子３０の下端部３１の直径が開口部１２５の直径よりも小さくてもよい。あるいは、図２８に示すように、接触子３０の全体の直径が開口部１２５の直径よりも小さくてもよい。これらの場合には、接触子３０は、下端部３１にテーパ面３２を含まなくてもよい。

【0096】

（ｂ）上記実施の形態において、接触子３０が上昇、水平移動および下降されることにより中心探索が行われるが、実施の形態はこれに限定されない。接触子３０が下端部３１にテーパ面３２を含む場合、接触子３０が上昇および下降されずに、水平移動されることにより中心探索が行われてもよい。

【0097】

図２９～図３２は、中心探索の他の例を説明するための図である。中心探索の他の例では、特定位置において、接触子３０が上昇された後、シール部材１２２と接触寸前になる高さまで下降される。この場合、接触子３０は、シール部材１２２と接触寸前であるものの、シール部材１２２と接触していないので、受光部５２は遮光状態になる。

【0098】

この状態から、図２９に矢印で示すように、接触子３０が－Ｘ方向に水平移動される。接触子３０が開口部１２５の内壁に接触すると、接触子３０がテーパ面３２に沿ってわずかに上昇することにより、図２９に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３と接触するとともに、受光部５２が受光状態になる。このときの接触子３０の水平面内における位置が取得される。

【0099】

また、図３０に矢印で示すように、接触子３０が＋Ｘ方向に水平移動される。接触子３０が開口部１２５の内壁に接触すると、接触子３０がテーパ面３２に沿ってわずかに上昇することにより、図３０に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３と接触するとともに、受光部５２が受光状態になる。このときの接触子３０の水平面内における位置が取得される。

【0100】

同様に、図３１に矢印で示すように、接触子３０が－Ｙ方向に水平移動される。接触子３０が開口部１２５の内壁に接触すると、接触子３０がテーパ面３２に沿ってわずかに上昇することにより、図３１に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３と接触するとともに、受光部５２が受光状態になる。このときの接触子３０の水平面内における位置が取得される。

【0101】

また、図３２に矢印で示すように、接触子３０が＋Ｙ方向に水平移動される。接触子３０が開口部１２５の内壁に接触すると、接触子３０がテーパ面３２に沿ってわずかに上昇することにより、図３２に点線で示すように、接触子３０が蓋部１２３と接触するとともに、受光部５２が受光状態になる。このときの接触子３０の水平面内における位置が取得される。

【0102】

図２９～図３２の点線で示された４か所の接触子３０の位置に基づいて、開口部１２５の範囲を特定することが可能である。そこで、特定位置が開口部１２５の中心の位置に補正され、補正された位置が試料容器１２０の位置として試料注入装置１００に教示される。

【0103】

（ｃ）上記実施の形態において、接触子３０がＸ方向に水平移動または走査されることにより開口部１２５の位置が特定されるが、実施の形態はこれに限定されない。接触子３０がＹ方向に水平移動または走査されることにより開口部１２５の位置が特定されてもよい。

【0104】

また、教示処理において、接触子３０の移動方向および移動量は図２２および図２３の例に限定されない。例えばステップＳ７において、接触子３０は－Ｘ方向ではなく＋Ｘ方向に走査されてもよい。この場合、ステップＳ１２において、接触子３０は＋Ｘ方向ではなく－Ｘ方向に水平移動される。

【0105】

あるいは、ステップＳ１２において、接触子３０は蓋部１２３の直径分ではなく、半径分だけ＋Ｘ方向に水平移動されてもよい。この場合、ステップＳ１６において、接触子３０は－Ｘ方向ではなく＋Ｘ方向に走査される。

【0106】

（１０）態様
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

【0107】

（第１項）一態様に係る試料注入装置は、
試料容器の位置が教示される試料注入装置であって、
前記試料容器は、上部開口を有しかつ試料を収容する容器本体と、前記容器本体の前記上部開口に取り付けられるシール部材と、前記シール部材の上面中央部を露出させるように上下方向に貫通する開口部を有しかつ前記容器本体の上部に取り付けられる蓋部とを含み、
前記試料注入装置は、
前記試料容器を支持する支持部と、
前記上下方向に延びかつ前記蓋部の前記開口部内に挿入可能な下端部を有する接触子と、
前記接触子を駆動する接触子駆動部と、
前記支持部の上方において、前記接触子駆動部を制御することにより、前記接触子を下方に移動させる第１の移動制御部と、
前記接触子の前記下端部が前記試料容器の上面に接触したか否かを検出する接触検出部と、
前記接触検出部による検出結果に基づいて、前記接触子の前記下端部が、前記試料容器の前記蓋部の上面の高さに対応する第１の高さと、前記第１の高さよりも低くかつ前記試料容器の前記シール部材の上面の高さに対応する第２の高さと、前記第２の高さよりも低い第３の高さとのいずれにあるかを判定する高さ判定部と、
前記高さ判定部により前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、前記接触子駆動部を制御することにより、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触した状態で、前記接触子を移動させる第２の移動制御部と、
前記高さ判定部により前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、前記接触子駆動部を制御することにより、前記試料容器よりも上方でかつ前記接触子が前記試料容器に接触しない状態で、前記上下方向に交差する面内で前記接触子を移動させる第３の移動制御部と、
前記第１、第２または第３の移動制御部による制御と前記高さ判定部による判定結果との組み合わせおよび前記面上における前記接触子の位置に基づいて前記試料容器の位置を特定する特定部とを備えてもよい。

【0108】

この試料注入装置においては、試料容器を支持する支持部の上方において、上下方向に延びかつ蓋部の開口部内に挿入可能な下端部を有する接触子が下方に移動される。また、接触子の下端部が試料容器の上面に接触したか否かが接触検出部により検出される。接触検出部による検出結果に基づいて、接触子の下端部が、試料容器の蓋部の上面の高さに対応する第１の高さと、第１の高さよりも低くかつ試料容器のシール部材の上面の高さに対応する第２の高さと、第２の高さよりも低い第３の高さとのいずれにあるかが判定される。

【0109】

接触子の下端部が第１の高さにあると判定された場合、接触子の下端部が試料容器の蓋部の上面に接触した状態で、接触子が移動される。また、接触子の下端部が第３の高さにあると判定された場合、試料容器よりも上方でかつ接触子が試料容器に接触しない状態で、上下方向に交差する面内で接触子が移動される。接触子の移動と接触子の下端部の高さの判定結果との組み合わせおよび面上における接触子の位置に基づいて試料容器の位置が特定される。

【0110】

この構成によれば、接触子の下端部がシール部材の上面の高さに対応する第３の高さにあるか否かを判定することにより、接触子が試料容器の蓋部の外方に位置するか否かを判定することが可能である。また、接触子が試料容器の蓋部の外方に位置する場合には、試料容器よりも上方でかつ接触子が試料容器に接触しない状態で、上下方向に交差する面内で接触子を移動させることにより、接触子を試料容器の上方に近づけることが可能である。そのため、接触子が試料容器の蓋部の外方に位置していた場合でも、試料容器の位置を特定することができる。

【0111】

また、接触子の下端部が蓋部の上面の高さに対応する第１の高さにあるか否かを判定することにより、接触子の下端部が試料容器の蓋部の上面に接触したか否かを判定することが可能である。接触子の下端部が蓋部の上面に接触した場合には、接触子の下端部が蓋部の上面に接触した状態で、接触子が移動される。したがって、接触子の上昇および下降を繰り返すことなく、高い分解能で蓋部の範囲を特定することが可能になる。これにより、試料容器の位置を効率よくかつ高精度で特定することができる。

【0112】

（第２項）第１項に記載の試料注入装置において、
前記高さ判定部は、前記第１の移動制御部により前記接触子が下方に移動されたときに、第１回目の高さ判定を行い、
前記第１回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第２の高さにあると判定された場合、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定してもよい。

【0113】

この場合、第１回目の高さ判定で、試料容器の位置を容易に特定することができる。

【0114】

（第３項）第２項に記載の試料注入装置において、
前記第１回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、
前記第２の移動制御部は、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触しなくなるまで前記接触子を第１の方向に移動させ、
前記第１の移動制御部は、前記第２の移動制御部による制御の終了後、前記接触子を下方に移動させ、
前記高さ判定部は、第２回目の高さ判定を行い、
前記第２回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第２の高さにあると判定された場合、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定してもよい。

【0115】

第１回目の高さ判定で、接触子の下端部が蓋部の上面に接触したと判定された場合、接触子の下端部が蓋部の上面に接触した状態で所定の方向に移動される。ここで、接触子が蓋部の開口部の上方に到達することがある。この場合、第２回目の高さ判定で、接触子が下方に移動され、接触子の下端部が第２の高さにあることが判定されることにより、接触子が蓋部の開口部の上方にあることが特定される。そのため、このときの面上における接触子の位置を特定することにより、接触子の上昇および下降を繰り返すことなく、試料容器の位置を効率よく特定することができる。

【0116】

（第４項）第３項に記載の試料注入装置において、
前記第２回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、
前記第３の移動制御部は、前記接触子を前記第１の方向とは反対の方向に前記蓋部の直径よりも短い距離だけ移動させ、
前記第１の移動制御部は、前記第３の移動制御部による制御の終了後、前記接触子を下方に移動させ、
前記高さ判定部は、第３回目の高さ判定を行い、
前記第３回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第２の高さにあると判定された場合、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定してもよい。

【0117】

接触子の下端部が蓋部の上面に接触した後、接触子の下端部が蓋部の上面に接触した状態で所定の方向に移動された場合には、接触子が蓋部の外方に到達することがある。この場合、第２回目の高さ判定で、接触子が下方に移動され、接触子の下端部が第３の高さにあることが判定されることにより、接触子が蓋部の外方にあることが特定される。

【0118】

したがって、その後、接触子が反対の方向に移動されることにより、接触子を蓋部の上方に移動させることができる。また、第３回目の高さ判定で、接触子が下方に移動され、接触子の下端部が第２の高さにあることが判定された場合には、接触子が蓋部の開口部の上方にあることが特定される。そのため、このときの面上における接触子の位置を特定することにより、接触子の上昇および下降を繰り返すことなく、試料容器の位置を効率よく特定することができる。

【0119】

（第５項）第４項に記載の試料注入装置において、
前記第３回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、
前記第２の移動制御部は、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触しなくなるまで、前記接触子が前記蓋部の前記開口部に近づくように前記接触子を前記第１の方向または前記第１の方向とは反対の方向に移動させ、
前記第２の移動制御部による制御の終了後、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定してもよい。

【0120】

第３回目の高さ判定で、接触子が下方に移動され、接触子の下端部が第１の高さにあることが判定された場合には、接触子が蓋部の開口部の上方にないことが特定される。一方、第２回目の高さ判定後の接触子の移動距離から、開口部の方向を特定することが可能である。

【0121】

したがって、接触子の下端部が蓋部の上面に接触した状態で、接触子が開口部に近づくように移動される。接触子が開口部の上方に到達した場合には、接触子の下端部が蓋部の上面に接触しなくなる。そのため、このときの面上における接触子の位置を特定することにより、接触子の上昇および下降を繰り返すことなく、また、接触子の下端部が第２の高さにあることを判定することなく、試料容器の位置を効率よく特定することができる。

【0122】

（第６項）第２～５のいずれか一項に記載の試料注入装置において、
前記第１回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、
前記第３の移動制御部は、前記蓋部の直径よりも短い距離だけ前記接触子を第２の方向に移動させ、
前記第１の移動制御部は、前記第３の移動制御部による制御の終了後、前記接触子を下方に移動させ、
前記高さ判定部は、第２回目の高さ判定を行い、
前記第２回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第２の高さにあると判定された場合、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定してもよい。

【0123】

第３回目の高さ判定で、接触子が蓋部の外方にあると判定された場合、接触子が試料容器よりも上方でかつ接触子が試料容器に接触しない状態で、所定の方向に移動される。ここで、接触子が蓋部の開口部の上方に到達することがある。この場合、第２回目の高さ判定で、接触子が下方に移動され、接触子の下端部が第２の高さにあることが判定されることにより、接触子が蓋部の開口部の上方にあることが特定される。そのため、このときの面上における接触子の位置を特定することにより、接触子の上昇および下降を繰り返すことなく、試料容器の位置を効率よく特定することができる。

【0124】

（第７項）第６項に記載の試料注入装置において、
前記第２回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、
前記第２の移動制御部は、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触しなくなるまで、前記接触子が前記蓋部の前記開口部に近づくように前記接触子を前記第２の方向または前記第２の方向とは反対の方向に移動させ、
前記第２の移動制御部による制御の終了後、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定してもよい。

【0125】

第２回目の高さ判定で、接触子が下方に移動され、接触子の下端部が第１の高さにあることが判定された場合には、接触子が蓋部の開口部の上方にないことが特定される。一方、第１回目の高さ判定後の接触子の移動距離から、開口部の方向を特定することが可能である。

【0126】

【0127】

（第８項）第６または７項に記載の試料注入装置において、
前記第２回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、
前記第３の移動制御部は、前記第１回目の高さ判定における前記接触子の位置から前記蓋部の直径よりも短い距離だけ前記接触子を前記第２の方向とは反対の方向に移動させ、
前記高さ判定部は、第３回目の高さ判定を行い、
前記第３回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第２の高さにあると判定された場合、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定してもよい。

【0128】

第２回目の高さ判定で、接触子が下方に移動され、接触子の下端部が第３の高さにあることが判定された場合には、接触子が蓋部の上方にないことが特定される。一方、第１回目の高さ判定後の接触子の移動方向とは反対の方向に蓋部があることを特定することが可能である。

【0129】

したがって、接触子が試料容器よりも上方でかつ接触子が試料容器に接触しない状態で、第１回目の高さ判定後の接触子の移動方向とは反対の方向に移動される。ここで、接触子が蓋部の開口部の上方に到達することがある。この場合、第３回目の高さ判定で、接触子が下方に移動され、接触子の下端部が第２の高さにあることが判定されることにより、接触子が蓋部の開口部の上方にあることが特定される。そのため、このときの面上における接触子の位置を特定することにより、接触子の上昇および下降を繰り返すことなく、試料容器の位置を効率よく特定することができる。

【0130】

（第９項）第８項に記載の試料注入装置において、
前記第３回目の高さ判定で、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、
前記第２の移動制御部は、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触しなくなるまで、前記接触子が前記蓋部の前記開口部に近づくように前記接触子を前記第２の方向または前記第２の方向とは反対の方向に移動させ、
前記第２の移動制御部による制御の終了後、前記特定部は、前記面上における前記接触子の位置を前記試料容器の位置として特定してもよい。

【0131】

【0132】

【0133】

（第１０項）第１～９のいずれか一項に記載の試料注入装置において、
前記接触子の前記下端部は、斜め下方を向くテーパ面を有してもよい。

【0134】

この場合、接触子の下端部を蓋部の開口部内に容易に挿入可能にすることができる。

【0135】

（第１１項）第１～１０のいずれか一項に記載の試料注入装置において、
前記試料容器の前記蓋部の上面の高さを示す容器情報を取得する容器情報取得部をさらに備え、
前記高さ判定部は、前記容器情報取得部により取得された容器情報と前記接触検出部による検出結果とに基づいて、前記接触子の前記下端部が前記第１の高さと、前記第２の高さとのいずれにあるかを判定してもよい。

【0136】

この場合、高さ判定部は、接触子の下端部が第１の高さと第２の高さとのいずれにあるかを容易に判定することができる。

【0137】

（第１２項）第１～１１のいずれか一項に記載の試料注入装置において、
前記高さ判定部は、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の上面に接触しないときに、前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定してもよい。

【0138】

この場合、高さ判定部は、接触子の下端部が第３の高さにあるか否かを容易に判定することができる。

【0139】

（第１３項）第１～１２のいずれか一項に記載の試料注入装置において、
前記特定部により特定された前記試料容器の位置の周囲の部分と前記接触子の前記下端部との接触が前記接触検出部により検出されるように前記接触子駆動部を制御する中心探索部と、
前記周囲の部分の位置に基づいて前記特定部により特定された位置が前記試料容器の前記開口部の中心に近づくように前記特定部により特定された位置を補正する補正部とをさらに備えてもよい。

【0140】

この構成によれば、蓋部の開口部よりも小径のインサートが容器本体に取り付けられている場合でも、インサートの位置を特定することが容易になる。

【0141】

（第１４項）他の態様に係る試料注入装置の教示方法は、
試料注入装置に試料容器の位置を教示する試料注入装置の教示方法であって、
前記試料容器は、上部開口を有しかつ試料を収容する容器本体と、前記容器本体の前記上部開口に取り付けられるシール部材と、前記シール部材の上面中央部を露出させるように上下方向に貫通する開口部を有しかつ前記容器本体の上部に取り付けられる蓋部とを含み、
前記試料注入装置の教示方法は、
前記試料容器を支持する支持部の上方において、前記上下方向に延びかつ前記蓋部の前記開口部内に挿入可能な下端部を有する接触子を下方に移動させるステップと、
前記接触子の前記下端部が前記試料容器の上面に接触したか否かを接触検出部により検出するステップと、
前記接触検出部による検出結果に基づいて、前記接触子の前記下端部が、前記試料容器の前記蓋部の上面の高さに対応する第１の高さと、前記第１の高さよりも低くかつ前記試料容器の前記シール部材の上面の高さに対応する第２の高さと、前記第２の高さよりも低い第３の高さとのいずれにあるかを判定するステップと、
前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触した状態で、前記接触子を移動させるステップと、
前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、前記試料容器よりも上方でかつ前記接触子が前記試料容器に接触しない状態で、前記上下方向に交差する面内で前記接触子を移動させるステップと、
前記接触子の移動と前記接触子の前記下端部の高さの判定結果との組み合わせおよび前記面上における前記接触子の位置に基づいて前記試料容器の位置を特定するステップとを含んでもよい。

【0142】

この試料注入装置の教示方法によれば、接触子が試料容器の蓋部の外方に位置していた場合でも、試料容器の位置を特定することができる。また、接触子の下端部が蓋部の上面に接触した場合には、接触子の上昇および下降を繰り返すことなく、高い分解能で蓋部の内縁または外縁を特定することが可能になる。これにより、試料容器の位置を効率よくかつ高精度で特定することができる。

【0143】

（第１５項）さらに他の態様に係る試料注入装置の教示プログラムは、
処理装置により実行可能な試料注入装置に試料容器の位置を教示する試料注入装置の教示プログラムであって、
前記試料容器は、上部開口を有しかつ試料を収容する容器本体と、前記容器本体の前記上部開口に取り付けられるシール部材と、前記シール部材の上面中央部を露出させるように上下方向に貫通する開口部を有しかつ前記容器本体の上部に取り付けられる蓋部とを含み、
前記試料注入装置の教示プログラムは、
前記試料容器を支持する支持部の上方において、前記上下方向に延びかつ前記蓋部の前記開口部内に挿入可能な下端部を有する接触子を下方に移動させる処理と、
前記接触子の前記下端部が前記試料容器の上面に接触したか否かを接触検出部により検出する処理と、
前記接触検出部による検出結果に基づいて、前記接触子の前記下端部が、前記試料容器の前記蓋部の上面の高さに対応する第１の高さと、前記第１の高さよりも低くかつ前記試料容器の前記シール部材の上面の高さに対応する第２の高さと、前記第２の高さよりも低い第３の高さとのいずれにあるかを判定する処理と、
前記接触子の前記下端部が前記第１の高さにあると判定された場合、前記接触子の前記下端部が前記試料容器の前記蓋部の上面に接触した状態で、前記接触子を移動させる処理と、
前記接触子の前記下端部が前記第３の高さにあると判定された場合、前記試料容器よりも上方でかつ前記接触子が前記試料容器に接触しない状態で、前記上下方向に交差する面内で前記接触子を移動させる処理と、
前記接触子の移動と前記接触子の前記下端部の高さの判定結果との組み合わせおよび前記面上における前記接触子の位置に基づいて前記試料容器の位置を特定する処理とを、
前記処理装置に実行させてもよい。

【0144】

この試料注入装置の教示プログラムによれば、接触子が試料容器の蓋部の外方に位置していた場合でも、試料容器の位置を特定することができる。また、接触子の下端部が蓋部の上面に接触した場合には、接触子の上昇および下降を繰り返すことなく、高い分解能で蓋部の内縁または外縁を特定することが可能になる。これにより、試料容器の位置を効率よくかつ高精度で特定することができる。

【符号の説明】

【0145】

１０…支持部，１１…読取部，２０…シリンジ，２１…針，２２…バレル，２３…プランジャ，３０…接触子，３１…下端部，３２…テーパ面，３３…遮光部，４０…接触子駆動部，５０…接触検出部，５１…投光部，５２…受光部，６０…プランジャ駆動部，７０…記憶部，８０…制御部，８１…容器情報取得部，８２…搬送部，８３…探索部，８４…検出結果取得部，８５…高さ判定部，８６…走査部，８７…移動部，８８…特定部，８９…中心探索部，９０…補正部，１００…試料注入装置，１１０…トレイ，１１１…情報表示部，１２０…試料容器，１２１…容器本体，１２２…シール部材，１２３…蓋部，１２４…上部開口，１２５…開口部

【図1】