特許7176950IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

光透過性及び導電性を有する光透過性導電フィルムの可視化の分析方法に関する。また、本発明は、光透過性及び導電性を有する光透過性導電フィルム

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

例えば、タッチパネルのセンサーの役割を果たす透明導電フィルムは、インデックスマッチングの調整を行うことで、可視化されないように形成される必要がある。タッチパネルに組み込む前に、透明導電フィルムの可視化の可能性を評価するために、従来、分光光度計を用いて、導電層を備える透明導電フィルムの透過光及び反射光、並びに透明導電フィルムの導電層を除くフィルムの透過光及び反射光を測定することで得られるそれぞれのΔE*の値が用いられる場合がある。例えば、図6に示すように、測定対象物121に対して、光源122から光を照射し、受光部123において透過光を受光して、透過スペクトルを得ることができる。また、図7に示すように、測定対象物121に対して、光源122から光を照射し、受光部123において反射光を受光して、反射スペクトルを得ることができる。導電層を備える透明導電フィルム及び透明導電フィルムの導電層を除くフィルムの各測定結果から、反射光及び透過光のΔE*が求められている。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の広い局面によれば、基材フィルムと、前記基材フィルムの一方の表面側に配置された導電層とを備える光透過性導電フィルムを第1の測定対象物とし、前記光透過性導電フィルムの前記導電層を除くフィルム部分を第2の測定対象物として、前記第1の測定対象物及び前記第2の測定対象物のそれぞれについて、分光光度計を用いて、測定対象物に光を照射し、該測定対象物を透過した透過光を測定することで、下記式で表される・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係る光透過性導電フィルムの可視化の分析方法では、基材フィルムと、基材フィルムの一方の表面側に配置された導電層とを備える光透過性導電フィルムを第1の測定対象物とし、光透過性導電フィルムの導電層を除くフィルム部分を第2の測定対象物とする。本発明に係る光透過性導電フィルムの可視化の分析方法では、第1の測定対象物及び第2の測定対象物のそれぞれについて、分光光度計を用いて、測定対象物に光を照射し、該測定対象物を透過した透過光を測定することで、式で表されるΔE*をΔE*tとして得る。本発明に係る光透過性導電フィルムの可視化の分析方法では、第1の測定対象物及び第2の測定対象物のそれぞれについて、測定対象物の光源側とは反対側に白色板が配置された状態で、分光光度計を用いて、測定対象物に光を照射する。本発明に係る光透過性導電フィルムの可視化の分析方法では、該測定対象物及び該白色板により反射された反射光を測定することで、式で表されるΔE*をΔE*rwとして得る。本発明に係る光透過性導電フィルムの可視化の分析方法では、ΔE*tの値とΔE*rwの値とから、光透過性導電フィルムの可視化を判別する。本発明に係る光透過性導電フィルムの可視化の分析方法では、の構成が備えられているので、光透過性導電フィルムの可視化をより正確に判別することができる。

本発明に係る光透過性導電フィルムは、基材フィルムと、基材フィルムの一方の表面側に配置された導電層とを備える光透過性導電フィルムであり、基材フィルムが、ポリカーボネート基材フィルム、又は、シクロオレフィンポリマー基材フィルムである。本発明に係る光透過性導電フィルムでは、基材フィルムが、ポリカーボネート基材フィルムである場合に、の測定により求められるΔE*rw/ΔE*tが0.5以上であり、基材フィルムが、シクロオレフィンポリマー基材フィルムである場合に、の測定により求められるΔE*rw/ΔE*tが1.0以上である。本発明に係る光透過性導電フィルムでは、の構成が備えられているので、光透過性導電フィルムの可視化を効果的に抑えることができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図1は、本発明の第1の光透過性導電フィルムを示す断面図である。
【図2】 図2は、本発明の第2の光透過性導電フィルムを示す断面図である。
【図3】 図3は、本発明の第1の光透過性導電フィルムの導電層をパターン状にする前の状態を示す断面図である。
【図4】 図4は、本発明における透過スペクトルの測定方法を説明するための模式図である。
【図5】 図5は、本発明における反射スペクトルの測定方法を説明するための模式図である。
【図6】 図6は、従来の透過スペクトルの測定方法を説明するための模式図である。
【図7】 図7は、従来の反射スペクトルの測定方法を説明するための模式図である。

代表図 図1本件の代表的な図

1,1A,1X…光透過性導電フィルム 2,2A…基材 2a…第1の表面 2b…第2の表面 3…パターン状の導電層 3X…導電層 4…保護フィルム 11…基材フィルム 12…第1のハードコート層 13…第2のハードコート層 14…アンダーコート層 21…測定対象物 22…光源 23…受光部 24…白色板

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