(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2022-11-17
(45)【発行日】2022-11-28
(54)【発明の名称】記録再生装置
(51)【国際特許分類】
G11B 7/135 20120101AFI20221118BHJP
G11B 7/131 20120101ALI20221118BHJP
G11B 7/1381 20120101ALI20221118BHJP
G11B 7/09 20060101ALI20221118BHJP
G11B 7/004 20060101ALI20221118BHJP
G11B 7/005 20060101ALI20221118BHJP
【FI】
G11B7/135
G11B7/131
G11B7/1381
G11B7/09 A
G11B7/004 C
G11B7/005 B
(21)【出願番号】P 2020510355
(86)(22)【出願日】2019-02-06
(86)【国際出願番号】 JP2019004246
(87)【国際公開番号】W WO2019187667
(87)【国際公開日】2019-10-03
【審査請求日】2021-12-27
(31)【優先権主張番号】P 2018067546
(32)【優先日】2018-03-30
(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP
(73)【特許権者】
【識別番号】316005926
【氏名又は名称】ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100082762
【氏名又は名称】杉浦 正知
(74)【代理人】
【識別番号】100123973
【氏名又は名称】杉浦 拓真
(72)【発明者】
【氏名】黒川 光太郎
【審査官】中野 和彦
(56)【参考文献】
【文献】特開2012-014813(JP,A)
【文献】特開2011-210293(JP,A)
【文献】特開平09-212896(JP,A)
【文献】特開2003-132581(JP,A)
【文献】特開平04-123318(JP,A)
【文献】特開2007-242081(JP,A)
【文献】特開2014-026708(JP,A)
【文献】特開2011-165285(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G11B 7/135
G11B 7/131
G11B 7/1381
G11B 7/09
G11B 7/004
G11B 7/005
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
レーザー光源から出射されたレーザー光を信号光と参照光に分岐させ、光記録媒体で反射された前記信号光及びミラーにより反射された前記参照光を合波する偏光ビームスプリッタと、
前記偏光ビームスプリッタにより合波された光が与えられるホモダイン検出光学系と、 前記信号光及び前記参照光の配分を記録と再生で切り換える切り換え機構を備え、
前記切り換え機構によってパワー配分を変更する時に、光ディスク再生動作で稼働しているフォーカスサーボやトラッキングサーボを有効にしたまま配分変更を行うことを特徴とする記録再生装置。
【請求項2】
前記切り換え機構は、前記レーザー光源から出射した直線偏光のレーザー光の偏光方向を記録と再生で切り換える偏光方向切り換え機構である請求項1に記載の記録再生装置。
【請求項3】
前記偏光方向切り換え機構は、複数の波長板を機械的に光路中に抜き差しして偏光方向を切り換えるようにした請求項2に記載の記録再生装置。
【請求項4】
前記偏光方向切り換え機構は、液晶の偏光特性を用いて電気的にレーザー光の偏光状態を切り換えるようにした請求項2に記載の記録再生装置。
【請求項5】
前記偏光方向切り換え機構は、電気光学素子の偏光特性を用いて電気的にレーザー光の偏光状態を切り換えるようにした請求項2に記載の記録再生装置。
【請求項6】
前記切り換え機構による切り換え時に、前記光記録媒体に届けるレーザーパワーを的確に制御するように、前記偏光ビームスプリッタより前段に光検出部を配置するようにした請求項1に記載の記録再生装置。
【請求項7】
前記切り換え機構による切り換え時に、前記光記録媒体に届けるレーザーパワーを的確に制御するように、前記偏光ビームスプリッタより後段に光検出部を配置するようにした請求項1に記載の記録再生装置。
【請求項8】
前記切り換え機構による切り換え時に、前記光記録媒体に届けるレーザーパワーを的確に制御するように、前記偏光ビームスプリッタより前段及び後段の両方に光検出部を配置するようにした請求項1に記載の記録再生装置。
【請求項9】
前記切り換え機構による切り換え時に、前記光記録媒体に届けるレーザーパワーを的確に制御するように、前記偏光ビームスプリッタより前記ミラー側に光検出部を配置するようにした請求項1に記載の記録再生装置。
【請求項10】
前記光検出部を前記ミラー部に設けるようにした請求項9に記載の記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本技術は、光ディスク等の光媒体にデータを記録し、また、光媒体からデータを再生するのに適用される記録再生装置に関する。
【背景技術】
【0002】
光ディスク再生光学系として、干渉光学系を搭載しホモダイン検出を行う光学系の提案がなされている(例えば特許文献1参照)。ホモダイン方式は、信号光と参照光とを干渉させた光を検波する方式であり、ホモダイン方式の一例では、それぞれその位相差が90度ずつ異なるようにされた4つの信号光・参照光の組について検波を行うようにされている。具体的には、位相差がそれぞれ0度、90度、180度、270度とされた信号光・参照光の組について、それぞれ検波を行うものである。これらの各検波は、信号光と参照光とを干渉させた光についての光強度をそれぞれ検出することで行われる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、ホモダイン方式では光ディスクへの情報記録については考慮がなされておらず、記録時のレーザー出射光量の多くが記録エネルギーとして用いられることなく消費される構成となっている。したがって、実用化されている光ディスク記録再生装置例えばBlu-ray Disk(登録商標)記録再生装置と比較しておよそ半分のレーザーパワー利用効率になっている。このため従来光学系にて実現できていた高速記録と同様の高速記録を行う場合にレーザーパワーが不足し記録できなくなる。このような事態を解消する技術が求められている。
【0005】
したがって、本技術の目的は、ホモダイン検出方式を採用すると共に、記録時のレーザーパワー利用効率を良好とすることができる記録再生装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本技術は、レーザー光源から出射されたレーザー光を信号光と参照光に分岐させ、光記録媒体で反射された信号光及びミラーにより反射された参照光を合波する偏光ビームスプリッタと、
偏光ビームスプリッタにより合波された光が与えられるホモダイン検出光学系と、
信号光及び参照光の配分を記録と再生で切り換える切り換え機構を備え、
切り換え機構によってパワー配分を変更する時に、光ディスク再生動作で稼働しているフォーカスサーボやトラッキングサーボを有効にしたまま配分変更を行うことを特徴とする記録再生装置である。
【発明の効果】
【0007】
少なくとも一つの実施形態によれば、ホモダイン検出系を用いた光ディスク光学系で光ディスク記録再生を行うにあたり、信号光と参照光の光量比率を切り換えることができる機構を導入することにより、再生時のホモダイン検出性能と、記録時の最大記録パワー双方をベストな状態で扱うことが可能になる。なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本技術中に記載されたいずれかの効果であっても良い。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【
図1】再生対象とする光記録媒体の断面構造についての説明図である。
【
図2】再生対象とする光記録媒体の記録面の構造についての説明図である。
【
図3】記録面上に形成される再生光のビームスポットとランド、グルーブの関係を示す略線図である。
【
図4】光記録媒体の再生状態の説明に用いる略線図である。
【
図5】再生装置で用いる光学系の構成を示す略線図である。
【
図6】従来の位相ダイバーシティ方式を用いる再生装置の信号生成系のブロック図である。
【
図7】光記録媒体の再生状態を説明するための略線図である。
【
図8】位相ダイバーシティ方式を説明するための略線図である。
【
図9】本技術の一実施形態の光学系の構成を示す略線図である。
【
図10】偏光方向切り換え機構の第1の例を示す略線図である。
【
図11】偏光方向切り換え機構の第1の例の説明のための略線図である。
【
図12】偏光方向切り換え機構の第2の例を示す略線図である。
【
図13】偏光方向切り換え機構の第2の例の説明のための略線図である。
【
図14】偏光方向切り換え機構の第3の例を示す略線図である。
【
図15】偏光方向切り換え機構の第3の例の説明のための略線図である。
【
図16】レーザーパワー制御の第1の例を示す略線図である。
【
図17】レーザーパワー制御の第2の例を示す略線図である。
【
図18】レーザーパワー制御の第3の例を示す略線図である。
【
図19】参照光のパワー検出の説明のための略線図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下に説明する実施の形態は、本技術の好適な具体例であり、技術的に好ましい種々の限定が付されている。しかしながら、本技術の範囲は、以下の説明において、特に本技術を限定する旨の記載がない限り、これらの実施の形態に限定されないものとする。
なお、本技術の説明は、下記の順序にしたがってなされる。
<1.従来のホモダイン検出方法について>
<2.一実施形態>
<3.変形例>
【0010】
<1.従来のホモダイン検出方法について>
本技術の一実施の形態の再生方法についての説明に先立ち、従来のホモダイン検出方法、並びに改良されたホモダイン検出方法について説明しておく。以下では一例として、いわゆる位相ダイバーシティ方式によるホモダイン検出方法について説明する。
【0011】
「再生対象の光記録媒体」
図1に、再生対象とする光記録媒体1の断面構造図を示す。回転駆動される光記録媒体1に対するレーザー光照射が行われて記録信号の再生が行われる。光記録媒体1は、例えば記録マークの形成により情報が記録されたいわゆる追記型の光記録媒体とされる。
【0012】
図1に示されるように光記録媒体1には、上層側から順にカバー層2、記録層(反射膜)3、基板4が形成されている。ここで、「上層側」とは、再生装置側からのレーザー光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。つまりこの場合、光記録媒体1に対しては、カバー層2側からレーザー光が入射することになる。
【0013】
光記録媒体1において、基板4は、例えばポリカーボネートなどの樹脂で構成され、その上面側には凹凸の断面形状が与えられている。このような基板4は、例えばスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
【0014】
そして、上記凹凸形状が与えられた基板4の上面側に対して、スパッタ等により記録層3が形成される。ここで、従来のホモダイン検波で再生対象とする光記録媒体1のトラックは、光学的限界値を超えない通常のトラックピッチで形成されている。すなわち、記録層3におけるトラックピッチは、「λ/NA/2」(λは再生波長、NAは対物レンズの開口数)でその理論値が表される光学的限界値よりも大に設定されているものである。
【0015】
記録層3の上層側に形成されるカバー層2は、例えば紫外線硬化樹脂をスピンコート法等により塗布した後、紫外線照射による硬化処理を施すことで形成されたものとなる。カバー層2は、記録層3の保護のために設けられている。
【0016】
図2は、再生対象の光記録媒体1の記録面の構造を示している。
図2Aは記録面の一部を拡大した平面図であり、
図2Bは記録面の一部を拡大した斜視図である。なお、
図2Bは、再生のためのレーザー光が照射される側の面を示す。すなわち、図面の上側より、再生のためのレーザー光が照射される。光記録媒体1には、グルーブGとランドLとが形成されている。ここで本明細書においては、BD(Blu-ray Disc:登録商標)の場合と同様に、再生のためのレーザー光が先に到達する側、すなわち凸部側をグルーブGとし、凹部側をランドLと称するものとする。
【0017】
再生対象とする光記録媒体1には、グルーブGとランドLの双方にマーク列が形成されている。マーク列をトラックとすると、トラックピッチTpは、
図2Bに示されるようにランドLとグルーブGとの形成ピッチと定義できる。トラックピッチTpが光学的限界値を超える狭ピッチに設定されることで、情報記録密度の向上が図られたものとなる。例えば、光記録媒体1におけるグルーブGの形成ピッチが、従来の光記録媒体におけるトラックピッチ(マーク列の形成ピッチ)と同じであるとすると、光記録媒体1は、従来のほぼ2倍に情報記録密度が高められたものとなる。
【0018】
ランドLとグルーブGとの間の段差(深さと適宜称する)をdと表す。例えば光記録媒体1の屈折率をnとすると、深さdが「λ/8/n」とされる。例えば再生波長λ=405nm、n=1.5の条件であれば、約33nmの深さdが形成される。
【0019】
ここで、光記録媒体1では、ランドLとグルーブGとの形成ピッチが光学的限界値を超えているので、記録面上に形成される再生光のビームスポットとランドL、グルーブGとの関係は、例えば
図3に示すようなものとなる。
【0020】
従来と同様に、グルーブG或いはランドLを対象として対物レンズのトラッキングサーボ制御を行ったとする。
図3では、グルーブGを対象として対物レンズのトラッキングサーボ制御を行った場合を例示している。この場合、サーボの対象とされたグルーブGの再生信号に対して、隣接する2本のランドLの記録情報が混在してしまうことが分かる。
【0021】
すなわち、ランド/グルーブ記録方法において、トラックピッチが狭くなると、隣接トラックからクロストークが発生する。
図4に示すように、グルーブを再生する場合、グルーブの再生信号f(t)のみならず、隣接するランドの再生信号g(t)も混入する。グルーブの再生信号の位相φ=0とすると、ランドの位相Ψ=4πnd/λ(λは、波長、nは、光記録媒体1の基板の屈折率である)となる。
【0022】
「位相ダイバーシティ方式によるホモダイン検出方法」
位相ダイバーシティ方式では、互いの位相差が90度ずつ異なるようにされた4つの信号光・参照光の組を用いる。具体的に位相ダイバーシティ方式では、位相差がそれぞれほぼ0度、ほぼ90度、ほぼ180度、ほぼ270度となるように調整された信号光・参照光の組について、それぞれ検波を行うようにされる。これらの各検波は、信号光と参照光とを干渉させた光についての光強度をそれぞれ検出することで行われる。
【0023】
図5は、位相ダイバーシティ方式で用いる光学系の構成を主に示す。光記録媒体1は、再生装置に装填されると、スピンドルモータによって回転駆動される。光学系には、再生のためのレーザー光源となるレーザーダイオード10が設けられている。レーザーダイオード10より出射されたレーザー光は、コリメーションレンズ11を介して平行光となるようにされた後、1/2波長板12を介して偏光ビームスプリッタ13に入射する。レーザーダイオード10を出射したレーザー光は直線偏光状態にある。
【0024】
このとき、偏光ビームスプリッタ13は、例えばP偏光を透過しS偏光を反射するように構成されているとする。1/2波長板12の取り付け角度(レーザー光の入射面内において光軸を中心した回転角度)は、偏光ビームスプリッタ13を透過して出力される光(P偏光成分)と反射して出力される光(S偏光成分)との比率(すなわち偏光ビームスプリッタ13による分光比)が例えばほぼ1:1となるように調整されているとする。
【0025】
偏光ビームスプリッタ13にて反射されたレーザー光は、1/4波長板14を介した後、2軸アクチュエータ16により保持された対物レンズ15を介して光記録媒体1の記録層に集光するようにして照射される。
【0026】
2軸アクチュエータ16は、対物レンズ15をフォーカス方向(光記録媒体1に対して接離する方向)及びトラッキング方向(光記録媒体1の半径方向:上記フォーカス方向とは直交する方向)に変位可能に保持する。2軸アクチュエータ16には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられており、これらフォーカスコイル、トラッキングコイルにそれぞれ後述するフォーカスドライブ信号FD、トラッキングドライブ信号TDが供給される。対物レンズ15は、フォーカスドライブ信号FD、トラッキングドライブ信号TDにしたがってフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位する。
【0027】
光記録媒体1の記録層からの反射光は、対物レンズ15及び1/4波長板14を介して偏光ビームスプリッタ13に入射される。偏光ビームスプリッタ13に入射した反射光(復路光)は、1/4波長板14による作用と記録層における反射時の作用とにより、その偏光方向が、レーザーダイオード10側から入射し該偏光ビームスプリッタ13にて反射された光(往路光とする)の偏光方向に対して90度異なったものとなっている。すなわち、反射光は、P偏光で偏光ビームスプリッタ13に入射する。このため、反射光は、偏光ビームスプリッタ13を透過する。なお、以下、このように偏光ビームスプリッタ13を透過することになる光記録媒体1の記録信号を反映した反射光のことを、信号光と称する。
【0028】
図5において、レーザーダイオード10より出射され偏光ビームスプリッタ13を透過したレーザー光(P偏光)は、ホモダイン検出方式における参照光として機能する。偏光ビームスプリッタ13を透過した参照光は、図中の1/4波長板17を介した後、ミラー18にて反射されて、再び1/4波長板17を通過して偏光ビームスプリッタ13に入射する。
【0029】
ここで、このように偏光ビームスプリッタ13に入射する参照光(復路光)は、1/4波長板17による作用とミラー18での反射時の作用とにより、その偏光方向が往路光としての参照光とは90度異なるものとされる(つまりS偏光となる)。従って、復路光としての参照光は、偏光ビームスプリッタ13にて反射されることになる。
【0030】
図5中では、このように偏光ビームスプリッタ13にて反射された参照光を破線矢印により示している。
図5中では、偏光ビームスプリッタ13を透過した信号光を実線矢印により示している。偏光ビームスプリッタ13によって、これら信号光と参照光とが重ね合わされた状態で同方向に出射される。具体的にこの場合、信号光と参照光とはそれらの光軸が一致するように重ね合わされた状態で同方向に出射される。ここで、参照光は、いわゆるコヒーレント光である。
【0031】
偏光ビームスプリッタ13から出力された信号光と参照光の重ね合わせ光は、ハーフビームスプリッタ19に入射する。ハーフビームスプリッタ19は、入射光をほぼ1:1の割合で反射光と透過光とに分割する。
【0032】
ハーフビームスプリッタ19を透過した信号光と参照光の重ね合わせ光は、1/2波長板20を介して偏光ビームスプリッタ21に入射される。一方、ハーフビームスプリッタ19で反射した信号光と参照光の重ね合わせ光は、1/4波長板22を介して偏光ビームスプリッタ23に入射される。
【0033】
1/2波長板20及び1/4波長板22は、偏光面を回転させることが可能とされている。したがって、1/2波長板20と偏光ビームスプリッタ21とを組み合わせることによって、偏光ビームスプリッタ21によって分岐される光量の比を調整することができる。同様に、1/4波長板22によって、偏光ビームスプリッタ23によって分岐される光量の比を調整することができる。
【0034】
偏光ビームスプリッタ21及び23のそれぞれによって分岐される光の光量がほぼ1:1となるようにされる。偏光ビームスプリッタ21によって反射された光が光検出部24に入射され、偏光ビームスプリッタ21を透過した光が光検出部25に入射される。偏光ビームスプリッタ23によって反射された光が光検出部26に入射され、偏光ビームスプリッタ23を透過した光が光検出部27に入射される。
【0035】
光検出部24から出力される受光信号をIと表記し、光検出部25から出力される受光信号をJと表記し、光検出部26から出力される受光信号をLと表記し、光検出部27から出力される受光信号をKと表記する。
【0036】
これらの受光信号I~Lは、減算回路31a及び31bに対して供給される。減算回路31aに対して、受光信号I及びJが供給され、減算回路31aが(a=I-J)の差分信号aを発生し、減算回路31bが(b=K-L)の差分信号bを発生する。
【0037】
図6に示すように、上述した差分信号a及びbが演算回路32に供給される。演算回路32は、遅延回路33a及び33b、乗算回路34a及び34b、ローパスフィルタ35a及び35b、オフセット(φ)設定回路36a及び36b、並びに加算回路37を有する。遅延回路33aは、ローパスフィルタ35a及びオフセット(φ)設定回路36aにおいて生じる遅延量に等しい遅延時間を有する。遅延回路33bは、ローパスフィルタ35b及びオフセット(φ)設定回路36bにおいて生じる遅延量に等しい遅延時間を有する。乗算回路34aの出力及び乗算回路34bの出力が加算回路37に供給される。加算回路37の出力に再生信号が取り出される。
【0038】
上述した再生装置は、以下に説明するように、光記録媒体1の面ブレ等による参照光の位相ズレ(θ(t))の成分の影響を受けない再生信号を得ることができる。
【0039】
受光信号I~Lは、下記の数式で示すものとなる。式中の各項の意味を下記に示す。
R:参照光成分
A:光記録媒体の記録面に形成されるミラー面(ランド部分)の反射成分
f:記録マークの有/無に応じた変調成分(正負値をとる)
t:サンプリング時間
φ:読みたいマークと信号光の平均位相の位相差である。使用者が推定してセットする若しくは自動判定し再生信号品質に最適な状態に収束させて用いる値である。
θ:信号光と参照光の光路長差(主に光記録媒体1の面ブレに起因して生じる)
【0040】
図7に示すように、対物レンズ15と光記録媒体1の信号面とが面ブレによって変化すると、信号光の光路長が変化する。一方、参照光は、ミラー18において反射するので、光路長が変化しない。その結果、信号光及び参照光の間の位相差が設定した値とずれた値となる。この位相ずれの成分がθ(t)である。
【0041】
【0042】
減算回路31aの差分信号a(=I-J)及び減算回路31bの差分信号b(=K-L)は、以下の式に示すものとなる。
【0043】
【0044】
図8Aに示すように、ホモダイン検出を行わない通常の検出においても、再生信号のDC成分が背景のミラー部分に対応して現れている。ホモダイン検出の場合、
図8Bに示すように、ミラー部分に対応するDC成分が上述した参照光光路長差に対応する位相θによってうねることになる。
【0045】
この位相θを求めるために、
図8Bに示す差分信号a及びbをローパスフィルタ35a及び35bにそれぞれ供給する。ローパスフィルタ35a及び35bによって、
図8Cに示すように、cosθ(t)及びsinθ(t)を求めることができる。すなわち、数式(5)及び数式(6)において、fは、記録マークの有/無に応じた変調成分(正負値をとる)としているので、関数fが乗算されている項が消えて、sinθ及びcosθの項が残ると考えられる。
【0046】
(tanθ=sinθ/cosθ)であるので、(arctanθ=θ)によってθを求め、φ(オフセット)を設定して、乗算回路34aにおいて、(cos(φ-θ(t))をaに乗算し、乗算回路34bにおいて、(sin(φ-θ(t))をbに乗算する。そして、加算回路37によって、これらの乗算出力を加算する。加算回路37から得られる再生信号は、以下の式に示すものとなる。
【0047】
【0048】
この数式から分かるように、再生信号では、θ(t)の成分が消えて、安定した信号となる。なお、ホモダイン検出方式としては、ミラー18の位置制御を行って、面ブレに伴い生じる信号光と参照光との位相差をキャンセルする方法もあるが、位相ダイバーシティ方式によれば、このようなミラー18の位置制御のための構成を省略することができる。さらに、信号光の成分が参照光の成分で増幅された再生結果が得られることが分かる。すなわち、光記録媒体1の記録信号が増幅されて検出されるものであり、この点でSNRの改善が図られる。なお、位相ダイバーシティ方式の用語は、差分信号a及びbの二乗和(a2+b2)又は二乗和の平方根を計算することによって、再生信号を求める方式を意味している。本明細書では、上述したように、(cos(φ-θ(t))をaに乗算し、乗算回路34bにおいて、(sin(φ-θ(t))をbに乗算する演算に対しても位相ダイバーシティ方式の用語を使用している。
【0049】
<2.一実施形態>
上述したようなホモダイン検出方式では、レーザーダイオード10より出射されたレーザー光は、コリメーションレンズ11を介して平行光となるようにされた後、1/2波長板12を介して偏光ビームスプリッタ13に入射する。偏光ビームスプリッタ13を透過して出力される光(P偏光成分)と反射して出力される光(S偏光成分)との比率(すなわち偏光ビームスプリッタ13による分光比)が例えばほぼ1:1となるように調整されているとする。偏光ビームスプリッタ13にて反射されたレーザー光は、1/4波長板14を介した後、2軸アクチュエータ16により保持された対物レンズ15を介して光記録媒体1の記録層に集光するようにして照射される。一方、レーザーダイオード10より出射され偏光ビームスプリッタ13を透過したレーザー光(P偏光)は、ホモダイン検出方式における参照光として機能する。
【0050】
かかる光学系を記録時に使用すると、記録時には必要がない参照光を発生させる結果、レーザーパワーの使用効率が例えば半分に低下する。現在の記録系光ディスク開発は1度のみ記録可能な光ディスクの開発が主流であり、その性能として高速記録が重要な要素である。1度のみ記録可能な光ディスクの場合その最大記録スピードを決める主要因はレーザーパワーである。このため、記録速度が低下する問題が生じる。本技術は、かかる問題を回避するものである。
【0051】
通常、上述の1/2波長板12は、固定して用いるが、ここにレーザー光偏光方向の回転を可変できる機構を導入することによって、信号光と参照光の光量比を調整することができる。特に記録時には光学素子の性能が理想的であれば参照光光量を0にし記録光側に最大限レーザー光量を振り分けることができる。
【0052】
図9に示すように、1/2波長板12に代えて信号記録、信号再生に応じてレーザーの偏光方向を変えることが可能な偏光方向切り換え機構41を設ける。また、記録と再生で偏光方向切り換え機構41を稼働させるにあたり、記録に用いるレーザーパワーと再生に用いるレーザーパワーそれぞれを適切に制御する。また、偏光方向切り換え量の調整を電気的に行う場合には、信号再生時に用いる参照光光量が、偏光方向切り換え機構41を稼働させても適切に得られるように、参照光光量を調整する機構を設ける。また、偏光方向切り換え機構41を稼働させるにあたり、光ディスクへのフォーカスサーボやトラッキングサーボへの影響を考慮した制御シーケンスを導入する。
【0053】
偏光方向切り換え機構41の第1の例を
図10に示す。複数例えば2個の1/2波長板42a及び42bを切り替えて光路中に挿入するようにした構成である。1/2波長板42aは、例えば信号再生に適した特性を有し、1/2波長板42bは、記録に適した特性を有する。記録再生に応じて機械的に1/2波長板42a及び42bを切り換えて用いる。なお、
図10においては、ホモダイン検出系と光記録媒体1を省略する。
【0054】
1/2波長板42a及び42bとしての1/2波長板43は、
図11に示すように、光学軸の方向に対し、入射する直線偏光の偏光方向をθ傾けて入射すると、出射光は偏光方向が光学軸を挟んで2θ回転した方向に直線偏光状態で透過する。この関係を用いて、記録時には、偏光ビームスプリッタ13に入射するレーザー光がP偏光として入射するように、1/2波長板42bに入射するレーザー光の偏光方向を考慮して1/2波長板42bを選ぶ。再生時には、この時に用いられる1/2波長板42aの光軸方向θが、偏光ビームスプリッタ13に入射したレーザー光が1/4波長板14及び1/4波長板17に所定の光量比で分岐されるようθを選び配置する。例えば再生時の偏光ビームスプリッタ13での光量分岐比率が1:1になるようθを選ぶ場合には、偏光ビームスプリッタ13へのP偏光入射に対して45°回転した直線偏光が偏光ビームスプリッタ13に入射するようにθを選ぶ。
【0055】
特に、レーザーダイオード10の出射直後の光の偏光方向が偏光ビームスプリッタ13へのP偏光入射になり、この状態を記録時の状態として用いる場合には、1/2波長板42bは無くてもよい。さらに再生時の偏光ビームスプリッタ13での光分岐比率を1:1にする場合にはθ=22.5°となる1/2波長板42aを設置すればよい。なお、再生時の偏光ビームスプリッタ13における光量分岐比率は1:1である必要はなく、θも22.5°である必要はない。光量分岐比率に応じてθを決めればよい。また、波長板の移動による切り換え動作は電磁気的に行うことができる。
【0056】
偏光方向切り換え機構41の第2の例を
図12に示す。第2の例は、偏光方向切り換え機構41として、電気光学素子44を用いた偏光方向切り換え器を導入した光学系である。電気光学素子44は、用途に適した使用方法を用いることにより入射したレーザー光の偏光状態を直線偏光、楕円偏光及び円偏光と電気的に切り換えることが可能である。したがって、電気光学素子44によって、次段の偏光ビームスプリッタ13によって信号光と参照光の光量分岐比を自在に制御することが可能である。この機能を用いて再生に適した信号光-参照光の光量配分と、記録に適した参照光最小の状態を必要に応じて選択する。
【0057】
より具体的な説明をするために電気光学素子44の説明図を
図13に示す。電気光学素子44は、例えば単軸結晶として知られるリン酸二水素カリウムKDP(KH
2PO
4)を用いると、直交する2つの光学軸(○で囲んだ1)、(○で囲んだ2)や結晶への電極を
図13のように配置し、直線偏光の入射光を光学軸に対し45°の偏光角度で入射する。入射した光は2つの光学軸への射影成分がそれぞれ(○で囲んだ1)では屈折率:n+Δn(V)、(○で囲んだ2)では屈折率:n-Δn(V)として影響を受け、(○で囲んだ1)-(○で囲んだ2)間で光の位相差を生じる。ここで、Δn(V)はΔnが印可電圧Vにより決まることを意味する。すなわち、位相差量は印可する電圧Vに応じて調整され、出射光の偏光状態を
図13に示すように変えることができる。このように印可電圧で調整した電気光学素子44を出射した光を次段の偏光ビームスプリッタ13に投入することで、偏光ビームスプリッタ13での光量分岐配分を自在にコントロールすることができる。
【0058】
偏光方向切り換え機構41の第3の例を
図14に示す。第3の例は、偏光方向切り換え機構41として、液晶を用いた偏光方向切り換え器(液晶リターダー45)を導入した光学系である。液晶部を液晶リターダー45として構成することによりレーザー光の偏光状態を直線偏光、楕円偏光、円偏光と電気的に切り換えることが可能である。したがって、次段の偏光ビームスプリッタ13にて信号光-参照光の光量分岐比を自在に制御することが可能である。この機能を用いて再生に適した信号光-参照光の光量配分と、記録に適した参照光最小の状態を必要に応じて選択し用いる。
【0059】
また、液晶リターダー45は
図15に示すように液晶たとえばネマティック液晶を透明電極(例えばITO(Indium tin Oxide))で挟み込んだ構造をし、光は透明電極に垂直な方向に入出射する。透明電極間に電圧がかかっていない場合には、
図15Aに示すように、液晶分子が電極に平行な方向に揃って並び、入射光の偏光方向に対し強い光学異方性を生み出す。透明電極に電圧が印可されると、
図15Bに示すように、液晶分子が光の進行方向側に向くことにより光学異方性が低減する。ここでいう光学異方性は第2の例に記した電気光学素子44の光学軸(○で囲んだ1)、(○で囲んだ2)の役割を担うので、液晶リターダー45に印可する電圧を制御することにより電気光学素子44と同様に直線偏光の入射光の偏光状態を変化させることができる。したがって、偏光ビームスプリッタ13での光量分配比率を調整することができる。
【0060】
「可変波長板の状態切り換え時のレーザーパワー制御の第1の例」
偏光方向切り換え機構41によって偏光ビームスプリッタ13に入射するレーザー光の偏光方向を切り換え、偏光ビームスプリッタ13を透過する光と、偏光ビームスプリッタ13で反射する光の光量バランスを切り換えると、レーザーダイオード10の出射光量に対してディスクに到達するレーザー光量の比率、いわゆるカップリング効率が切り換え毎に変化する。切り換えを行ってもディスクへのレーザー光量を適切に届けるために、偏光方向切り換え機構41を動作させるときのレーザーパワー管理が必要である。
【0061】
管理方法の一つの手法として、
図16に示すように、レーザーダイオード10の出射後の位置でレーザーパワーをビームスプリッタ51、レンズ53及び光検出部54によってモニターし、偏光方向切り換え中のレーザーパワー管理を行う。ビームスプリッタ51を通ったレーザー光が偏光方向切り換え機構41を介して偏光ビームスプリッタ13に入射される。偏光方向切り換え前後のカップリング効率をそれぞれ予め把握しておき、対物レンズ15を出射後のレーザーパワーが所望の値になるように偏光方向切り換え中のパワーを切り替え動作に合わせてレーザーパワーを制御する。この場合は偏光方向切り換え動作がレーザーパワー制御に及ぼす外乱がないことが特徴となる。
【0062】
「可変波長板の状態切り換え時のレーザーパワー制御の第2の例」
レーザーパワー管理方法の第2の手法として、
図17に示すように、偏光ビームスプリッタ13と対物レンズ15の間の位置で、ビームスプリッタ55、レンズ56及び光検出部57によってレーザーパワーをモニターし、レーザーパワー管理を行う。第2の方式にて光検出部57で検出されるレーザー光量は対物レンズ出射レーザーパワーを正確に反映するため、ディスクに届けるレーザーパワーの制御性が高い。なお、変更切り換え機構動作過程でレーザーパワーコントロールを行うサーボループが乱され、制御性を失うリスクがある。このリスクを回避するために後述する例に記載のシーケンスを導入することが好ましい。
【0063】
「可変波長板の状態切り換え時のレーザーパワー制御の第3の例」
レーザーパワー管理方法の第3の手法として、
図18に示すように、レーザーダイオード10の出射後の位置で、ビームスプリッタ51、レンズ53及び光検出部54によってレーザーパワーをモニターし、且つ偏光ビームスプリッタ13と対物レンズ15の間の位置で、ビームスプリッタ55、レンズ56及び光検出部57によってレーザーパワーをモニターすることでレーザーパワー管理を行う。
【0064】
偏光方向切り換え動作中は第1の例のように、光検出部54でレーザー出力パワーを制御し、偏光方向切り換え完了後に第2の例のように、ディスクに届けるパワーが所望のパワーになるように正確に制御する。この方法では偏光方向切り換え過程におけるレーザーパワー制御を安定に行い且つ偏光方向切り換え前後の対物レンズ出射後のパワーを正確に制御するメリットがある。
【0065】
「参照光光量制御の例」
偏光方向切り換え機構41はレーザーダイオード10からのレーザーパワーを信号光と参照光に振り分けるにあたり、ディスクの信号再生時にはホモダイン検出系にて必要な信号光と参照光の光量比が得られ、信号記録時には記録パワーを優先するため最大限信号光側にパワーを振り分けるために導入する。ここで、電気光学素子44を用いた偏光方向切り換え器又は液晶を用いた偏光方向切り換え器(液晶リターダー45)を使用する上述した方法を使用する場合、偏光方向変化量を電気的に制御するため、光量を安定化させるためのパワー制御が必要になる。
図19に示すように参照光光量をミラー19の裏側の光検出部61によって検出し、参照光光量制御に用いる。ここでミラー19はパワー制御に必要最小限の光透過率を有することを前提とする。
【0066】
「フォーカスサーボ、トラッキングサーボ制御シーケンス」
フォーカスサーボ、トラッキングサーボはディスクからの戻り光である信号光を用いてフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を生成し、制御を行っている。偏光方向切り換え過程においては信号光光量が大幅に変動するため、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号が影響を受け、サーボの制御性が崩れ、対物レンズが暴れ、ディスク損傷やアクチュエータ損傷を起こすおそれがある。特に、第1の例のようにメカニカルな切り換えを行う場合には注意が必要である。
【0067】
かかる問題を回避するために、偏光方向切り換え過程ではフォーカスサーボ、トラッキングサーボをオフするシーケンスを採用する。例えば信号再生モードから信号記録モードに切り替える場合のシーケンスでは、下記の処理を順次行うことで、メカニカルサーボ系の暴れを回避することができる。
【0068】
ステップ1:フォーカスサーボ及びトラッキングサーボをOFFする。
ステップ2:偏光方向を記録モードに切り替える。
ステップ3:サーボゲインを記録モードに変更する。ただし再生パワーでもフォーカスサーボ及びトラッキングサーボがONできる設定にしておく。
ステップ4:フォーカスサーボをONし、次にトラッキングサーボをONし、そして、アドレスを検知し記録エリアへ移動する。
ステップ5:記録エリアの先頭から記録開始。半径位置調整、トラッキングサーボON 、記録再生位置への移動等の動作を行うこと。
【0069】
<3.変形例>
以上、本技術の実施の形態について具体的に説明したが、上述の各実施の形態に限定されるものではなく、本技術の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。例えば、再生光学系は、
図5又は
図9に示す構成に限らず、例えば4種類の受光信号I~Lを得るために、ホモダイン検波光学系を使用しても良い。ホモダイン検波光学系は、ウォラストンプリズムを有しており、0度、90度、180度、270度の各位相差を有する光を生成することができるものである。また、偏光方向切り換え機構によってパワー配分を変更する時に、光ディスク再生動作で稼働しているフォーカスサーボやトラッキングサーボを有効にしたまま配分変更を行うようにしてもよい。
【0070】
また、上述の実施の形態の構成、方法、工程、形状、材料及び数値などは、本技術の主旨を逸脱しない限り、互いに組み合わせることが可能である。
【符号の説明】
【0072】
1・・・光記録媒体、10・・・レーザーダイオード、13・・・偏光ビームスプリッタ、15・・・対物レンズ、41・・・偏光方向切り換え機構、44・・・電気光学素子、45・・・液晶リターダー