特許7186640IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

測定方法及び測定装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

一般的に、背景型シュリーレン法では、物質を通して背景が表される計測画像と、物質を除去して背景が表される基準画像とを比較することで、物質の屈折率の分布が得られる。しかし、物質の除去又は配置作業の時間経過によって、計測画像の取得時と、基準画像の取得時と、における条件が変化し、測定結果の正確性が低下することがある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

一つの測定方法は、背景画像、及び前記背景画像から発せられる光を透過可能な物質、を含む第１の映像を取得することと、前記背景画像及び前記物質を含み、当該背景画像と当該物質との映像内における相対的な位置関係が前記第１の映像と異なる第２の映像を取得することと、前記第１の映像と前記第２の映像の２つの画像の間での前記背景画像の位置の差異である第１の変位量を算出することと、を備える。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１は、第１の測定装置を概略的に示す例示的な斜視図である。
【図2】 図２は、第１の実施形態の制御装置の構成の一例を概略的に示すブロック図である。
【図3】 図３は、第１の実施形態の制御装置の構成を機能的に示す例示的なブロック図である。
【図4】 図４は、第１の実施形態の一方の映像の一例を示す図である。
【図5】 図５は、第１の実施形態の他方の映像の一例を示す図である。
【図6】 図６は、第１の実施形態の一方の映像の一部及び他方の映像の一部を概略的に示す例示的な図である。
【図7】 図７は、第１の実施形態のシフト量の算出結果の一例を示す図である。
【図8】 図８は、第１の実施形態の差分の算出結果の一例を示す図である。
【図9】 図９は、第２の測定装置を概略的に示す例示的な斜視図である。
【図10】 図１０は、第２の実施形態の制御装置の構成を機能的に示す例示的なブロック図である。
【図11】 図１１は、第３の測定装置を概略的に示す例示的な斜視図である。
【図12】 図１２は、第３の実施形態の制御装置の構成を機能的に示す例示的なブロック図である。
【図13】 図１３は、第４の測定装置を概略的に示す例示的な斜視図である。
【図14】 図１４は、第４の実施形態の制御装置の構成を機能的に示す例示的なブロック図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１０…測定装置、１１…撮像装置、１２…背景装置、１５…第１の移動装置、１６…第２の移動装置、１７…第３の移動装置、２３…制御装置、３１…第１のカメラ、３５…背景部材、３９…模様、５４…シフト量算出部、５５…移動量算出部、５６…差分算出部、６１…ビームスプリッタ、６２…第２のカメラ、６６…レンズアレイ、８１…表示装置、Ｓ…被観察物、ＯＡ１…第１の光軸、ＯＡ２…第２の光軸、Ｐ１，Ｐ２…映像、Ｓ１，Ｓ２…部分、Ｄｓ…シフト量、Ｄａ…移動量、ΔＤ…差分。

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