発明の名称 走査型電子顕微鏡のサンプルの処理方法
出願人 ツィンファ ユニバーシティ (識別番号 598098331)
特許公開件数ランキング 11770 位(1件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 9051 位(1件)(共同出願を含む)
出願人 鴻海精密工業股▲ふん▼有限公司 (識別番号 500080546)
特許公開件数ランキング 6922 位(5件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 5520 位(5件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-7186985
公報発行日 2022年12月12
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7186985
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