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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2022-12-16
(45)【発行日】2022-12-26
(54)【発明の名称】基板処理装置
(51)【国際特許分類】
   H01L 21/677 20060101AFI20221219BHJP
   H01L 21/027 20060101ALI20221219BHJP
【FI】
H01L21/68 A
H01L21/30 564
H01L21/30 566
H01L21/30 569
【請求項の数】 29
(21)【出願番号】P 2018178010
(22)【出願日】2018-09-21
(65)【公開番号】P2020053426
(43)【公開日】2020-04-02
【審査請求日】2021-06-18
(73)【特許権者】
【識別番号】000207551
【氏名又は名称】株式会社SCREENホールディングス
(74)【代理人】
【識別番号】100093056
【弁理士】
【氏名又は名称】杉谷 勉
(74)【代理人】
【識別番号】100142930
【弁理士】
【氏名又は名称】戸高 弘幸
(74)【代理人】
【識別番号】100175020
【弁理士】
【氏名又は名称】杉谷 知彦
(74)【代理人】
【識別番号】100180596
【弁理士】
【氏名又は名称】栗原 要
(74)【代理人】
【識別番号】100195349
【弁理士】
【氏名又は名称】青野 信喜
(72)【発明者】
【氏名】前田 正史
(72)【発明者】
【氏名】西田 正樹
【審査官】湯川 洋介
(56)【参考文献】
【文献】特開2006-310698(JP,A)
【文献】特開2017-163103(JP,A)
【文献】特開2017-041513(JP,A)
【文献】特開2006-310731(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H01L 21/677
H01L 21/027
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
基板処理装置であって、
キャリアから基板を搬出するインデクサ部と、
基板に処理を行う第1処理部と、
前記第1処理部に基板を搬送する第1搬送機構と、
前記第1処理部とは異なる処理を基板に行う第2処理部と、
前記第2処理部に基板を搬送する第2搬送機構と、
前記インデクサ部と前記第1搬送機構との間で搬送される基板を載置する第1載置部と、
前記第1搬送機構と前記第2搬送機構との間で搬送される基板を載置する第2載置部と、
前記インデクサ部と前記第1処理部と前記第1搬送機構と前記第2処理部と前記第2搬送機構とを制御する制御部と、
を備え、
前記制御部の制御に従って、前記第1搬送機構は3つのアクセス動作からなる第1サイクル動作を繰り返し、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第1載置部にアクセスする第1アクセス動作であり、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第1処理部にアクセスする第2アクセス動作であり、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の残りの1つは、前記第2載置部にアクセスする第3アクセス動作であり、
前記制御部の制御に従って、前記第2搬送機構は2つまたは3つのアクセス動作からなる第2サイクル動作を繰り返し、
前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第2載置部にアクセスする第4アクセス動作であり、
前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第2処理部にアクセスする第5アクセス動作であり、
前記第1処理部および前記第2処理部の一方は、基板の周縁部を露光するエッジ露光処理部であり、
前記第1処理部および前記第2処理部の他方は、基板に熱処理を行う熱処理部である
基板処理装置。
【請求項2】
請求項1に記載の基板処理装置において、
前記第1アクセス動作は、前記第1載置部上の基板を取り、かつ、前記第1載置部に基板を載置する前記第1搬送機構の動作を含み、
前記第2アクセス動作は、前記第1処理部に基板を搬入し、かつ、前記第1処理部から基板を搬出する前記第1搬送機構の動作を含み、
前記第3アクセス動作では、前記第2載置部上の基板を取り、かつ、前記第2載置部に基板を載置する前記第1搬送機構の動作を含み、
前記第4アクセス動作では、前記第2載置部上の基板を取り、かつ、前記第2載置部に基板を載置する前記第2搬送機構の動作を含み、
前記第5アクセス動作では、前記第2処理部に基板を搬入し、かつ、前記第2処理部から基板を搬出する前記第2搬送機構の動作を含む
基板処理装置。
【請求項3】
請求項1または2に記載の基板処理装置において、
前記第1処理部は、前記第2搬送機構が基板を搬送可能な第2領域の外に配置され、
前記第2処理部は、前記第1搬送機構が基板を搬送可能な第1領域の外に配置される
基板処理装置。
【請求項4】
請求項3に記載の基板処理装置において、
前記第1搬送機構の前記第1領域は、平面視において、略円形であり、
前記第2搬送機構の前記第2領域は、平面視において、略円形である
基板処理装置。
【請求項5】
請求項1から4のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記第1搬送機構は、前記インデクサ部の後方に配置され、
前記第2搬送機構は、前記第1搬送機構の後方に配置され、
前記第1載置部は、前記インデクサ部と前記第1搬送機構との間に配置され、
前記第2載置部は、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構との間に配置され、
前記第1処理部は、前記第1搬送機構の側方に配置され、
前記第2処理部は、前記第2搬送機構の側方に配置される
基板処理装置。
【請求項6】
請求項5に記載の基板処理装置において、
前記第2載置部は、前記第1搬送機構の側方かつ後方に配置され、かつ、前記第2搬送機構の側方かつ前方に配置される
基板処理装置。
【請求項7】
請求項5または6に記載の基板処理装置において、
前記第1搬送機構は、
固定的に設けられ、上下方向に延びる第1支柱と、
前記第1支柱に支持され、上下方向に移動可能な第1昇降部と、
前記第1昇降部に支持され、上下方向と平行な第1軸線回りに回転可能な第1回転部と、
前記第1回転部に支持され、基板を保持する第1保持部と、
を備え、
前記第1回転部は、水平方向に移動不能に設けられ、
前記第1処理部は、基板を1枚ずつ処理する複数の第1処理ユニットを備え、
前記第1処理ユニットのそれぞれは、側面視において、前記第1軸線と重なる位置に配置され、
前記第2搬送機構は、
固定的に設けられ、上下方向に延びる第2支柱と、
前記第2支柱に支持され、上下方向に移動可能な第2昇降部と、
前記第2昇降部に支持され、上下方向と平行な第2軸線回りに回転可能な第2回転部と、
前記第2回転部に支持され、基板を保持する第2保持部と、
を備え、
前記第2回転部は、水平方向に移動不能に設けられ、
前記第2処理部は、基板を1枚ずつ処理する複数の第2処理ユニットを備え、
前記第2処理ユニットのそれぞれは、側面視において、前記第2軸線と重なる位置に配置される
基板処理装置。
【請求項8】
請求項7に記載の基板処理装置において、
前記第1処理ユニットおよび前記第2処理ユニットの一方は、基板に熱処理を行う熱処理ユニットであり、
前記熱処理ユニットは、前記第1搬送機構および前記第2搬送機構のいずれか1つの右方の位置および左方の位置において、上下方向に1列に並ぶように配置される
基板処理装置。
【請求項9】
請求項7または8に記載の基板処理装置において、
平面視において、前記第1軸線と前記第2軸線との間の距離は、基板の半径の5倍以下である基板処理装置。
【請求項10】
請求項7から9のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記第2載置部は、平面視において、前記第1軸線と前記第2軸線を結ぶ仮想直線と重ならない位置に配置される基板処理装置。
【請求項11】
請求項10に記載の基板処理装置において、
平面視において、前記第1軸線と前記第2載置部との間の距離は、前記第2軸線と前記第2載置部との間の距離と略等しい基板処理装置。
【請求項12】
請求項1から11のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記第2載置部は、
平面視において、前記第1処理部と重なる第1部分と、
平面視において、前記第2処理部と重なる第2部分と、
を有する基板処理装置。
【請求項13】
請求項12に記載の基板処理装置において、
前記第2載置部は、さらに、平面視において、前記第1処理部および前記第2処理部と重ならない第3部分を有する基板処理装置。
【請求項14】
請求項13に記載の基板処理装置において、
前記第2載置部の前記第3部分は、平面視において、前記第1搬送機構および前記第2搬送機構が設置される搬送スペースと重なる基板処理装置。
【請求項15】
請求項1から14のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記基板処理装置は、
前記第1搬送機構の側方に配置され、上下方向に1列に並ぶ複数の第1スロットと、
前記第2搬送機構の側方、かつ、前記第1スロットの後方に配置され、上下方向に1列に並ぶ複数の第2スロットと、
を備え、
前記第1スロットの少なくとも1つは、前記第1処理部を設置するための処理用第1スロットであり、
前記第1スロットの他の1つは、前記第2載置部を設置するための載置用第1スロットであり、
前記第2スロットの少なくとも1つは、前記第2処理部を設置するための処理用第2スロットであり、
前記第2スロットの他の1つは、前記第2載置部を設置するための載置用第2スロットであり、
前記載置用第2スロットは、前記載置用第1スロットと同じ高さ位置に配置され、
前記第2載置部は、前記載置用第1スロットと前記載置用第2スロットとにわたって、設置される基板処理装置。
【請求項16】
請求項1から15のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記基板処理装置は、
前記第1処理部および前記第2処理部とは異なる処理を基板に行う第3処理部と、
前記第3処理部に基板を搬送する第3搬送機構と、
前記第2搬送機構と前記第3搬送機構との間で搬送される基板を載置する第3載置部と、
を備え、
前記制御部は、さらに、前記第3処理部と前記第3搬送機構とを制御し、
前記第2サイクル動作は3つの前記アクセス動作からなり、
前記第4アクセス動作および前記第5アクセス動作以外の、前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の残りの1つは、前記第3載置部にアクセスする第6アクセス動作であり、
前記制御部の制御に従って、前記第3搬送機構は2つまたは3つのアクセス動作からなる第3サイクル動作を繰り返し、
前記第3サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第3載置部にアクセスする第7アクセス動作であり、
前記第3サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第3処理部にアクセスする第8アクセス動作である
基板処理装置。
【請求項17】
請求項16に記載の基板処理装置において、
前記第6アクセス動作は、前記第3載置部上の基板を取り、かつ、前記第3載置部に基板を載置する前記第2搬送機構の動作を含み、
前記第7アクセス動作は、前記第3載置部上の基板を取り、かつ、前記第3載置部に基板を載置する前記第3搬送機構の動作を含み、
前記第8アクセス動作では、前記第3処理部に基板を搬入し、かつ、前記第3処理部から基板を搬出する前記第3搬送機構の動作を含む
基板処理装置。
【請求項18】
請求項16または17に記載の基板処理装置において、
前記第3処理部は、基板に液処理を行う液処理部である
基板処理装置。
【請求項19】
請求項18に記載の基板処理装置において、
前記制御部による制御にしたがって、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構と前記第3搬送機構は、前記インデクサ部から供給された基板を、前記エッジ露光処理部と前記液処理部と前記熱処理部に、この順番で搬送し、
前記制御部による制御にしたがって、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構は、前記熱処理部から搬出した基板を、前記第3搬送機構に渡すことなく、前記インデクサ部に戻す
基板処理装置。
【請求項20】
請求項18または19に記載の基板処理装置において、
前記第3処理部を前記第2処理部から隔てる遮熱空間を備える基板処理装置。
【請求項21】
請求項16から19のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記第3処理部は、
前記第3搬送機構の右方の位置および左方の位置の一方に配置される第3長処理部と、
前記第3搬送機構の右方の位置および左方の位置の他方に配置される第3短処理部と、
を備え、
前後方向における前記第3短処理部の長さは、前後方向における第3長処理部の長さよりも小さく、
前記基板処理装置は、前記第3短処理部の前方の位置、および、前記第3短処理部の後方の位置の少なくともいずれかに形成されるメンテナンス空間を備える
基板処理装置。
【請求項22】
請求項16から21のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記基板処理装置は、
前記第1処理部と前記第1搬送機構と前記第2処理部と前記第2搬送機構と前記第2載置部を収容する第1ブロックと、
前記第1ブロックに接続され、前記第3処理部と前記第3搬送機構とを収容する第2ブロックと、
を備え、
前記第1ブロックは、正面視、平面視および側面視において略矩形であり、
前記第2ブロックは、正面視、平面視および側面視において略矩形である基板処理装置。
【請求項23】
請求項22に記載の基板処理装置において、
前記基板処理装置は、
前記第1ブロックの骨組みとして設けられ、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構と前記第1処理部と前記第2処理部と前記第2載置部を支持する第1フレームと、
前記第2ブロックの骨組みとして設けられ、前記第3搬送機構と前記第3処理部を支持する第2フレームと、
を備え、
前記第2フレームは、前記第1フレームに連結される基板処理装置。
【請求項24】
基板処理装置であって、
基板に処理を行う第1処理部と、
前記第1処理部の後方に配置され、基板に処理を行う第2処理部と、
前記第1処理部および前記第2処理部の側方に形成される搬送スペースと、
前記搬送スペースに設置され、前記第1処理部に基板を搬送する第1搬送機構と、
前記搬送スペースに設置され、前記第1搬送機構の後方に配置され、前記第2処理部に基板を搬送する第2搬送機構と、
前記第1搬送機構と前記第2搬送機構との間で搬送される基板を載置する載置部と、
を備え、
前記載置部は、平面視において、
前記第1処理部と重なる第1部分と、
前記第2処理部と重なる第2部分と、
を有する基板処理装置。
【請求項25】
請求項24に記載の基板処理装置において、
前記載置部は、平面視において、前記搬送スペースと重なる第3部分を有する基板処理装置。
【請求項26】
基板処理装置であって、
キャリアから基板を搬出するインデクサ部と、
基板に処理を行う第1処理部と、
前記第1処理部に基板を搬送する第1搬送機構と、
前記第1処理部とは異なる処理を基板に行う第2処理部と、
前記第2処理部に基板を搬送する第2搬送機構と、
前記インデクサ部と前記第1搬送機構との間で搬送される基板を載置する第1載置部と、
前記第1搬送機構と前記第2搬送機構との間で搬送される基板を載置する第2載置部と、
前記インデクサ部と前記第1処理部と前記第1搬送機構と前記第2処理部と前記第2搬送機構とを制御する制御部と、
を備え、
前記制御部の制御に従って、前記第1搬送機構は3つのアクセス動作からなる第1サイクル動作を繰り返し、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第1載置部にアクセスする第1アクセス動作であり、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第1処理部にアクセスする第2アクセス動作であり、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の残りの1つは、前記第2載置部にアクセスする第3アクセス動作であり、
前記制御部の制御に従って、前記第2搬送機構は2つまたは3つのアクセス動作からなる第2サイクル動作を繰り返し、
前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第2載置部にアクセスする第4アクセス動作であり、
前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第2処理部にアクセスする第5アクセス動作であり、
前記第2載置部は、
平面視において、前記第1処理部と重なる第1部分と、
平面視において、前記第2処理部と重なる第2部分と、
を有する
基板処理装置。
【請求項27】
基板処理装置であって、
キャリアから基板を搬出するインデクサ部と、
基板に処理を行う第1処理部と、
前記第1処理部に基板を搬送する第1搬送機構と、
前記第1処理部とは異なる処理を基板に行う第2処理部と、
前記第2処理部に基板を搬送する第2搬送機構と、
前記インデクサ部と前記第1搬送機構との間で搬送される基板を載置する第1載置部と、
前記第1搬送機構と前記第2搬送機構との間で搬送される基板を載置する第2載置部と、
前記インデクサ部と前記第1処理部と前記第1搬送機構と前記第2処理部と前記第2搬送機構とを制御する制御部と、
を備え、
前記制御部の制御に従って、前記第1搬送機構は3つのアクセス動作からなる第1サイクル動作を繰り返し、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第1載置部にアクセスする第1アクセス動作であり、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第1処理部にアクセスする第2アクセス動作であり、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の残りの1つは、前記第2載置部にアクセスする第3アクセス動作であり、
前記制御部の制御に従って、前記第2搬送機構は2つまたは3つのアクセス動作からなる第2サイクル動作を繰り返し、
前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第2載置部にアクセスする第4アクセス動作であり、
前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第2処理部にアクセスする第5アクセス動作であり
前記基板処理装置は、
前記第1搬送機構の側方に配置され、上下方向に1列に並ぶ複数の第1スロットと、
前記第2搬送機構の側方、かつ、前記第1スロットの後方に配置され、上下方向に1列に並ぶ複数の第2スロットと、
を備え、
前記第1スロットの少なくとも1つは、前記第1処理部を設置するための処理用第1スロットであり、
前記第1スロットの他の1つは、前記第2載置部を設置するための載置用第1スロットであり、
前記第2スロットの少なくとも1つは、前記第2処理部を設置するための処理用第2スロットであり、
前記第2スロットの他の1つは、前記第2載置部を設置するための載置用第2スロットであり、
前記載置用第2スロットは、前記載置用第1スロットと同じ高さ位置に配置され、
前記第2載置部は、前記載置用第1スロットと前記載置用第2スロットとにわたって、設置される
基板処理装置。
【請求項28】
基板処理装置であって、
キャリアから基板を搬出するインデクサ部と、
基板に処理を行う第1処理部と、
前記第1処理部に基板を搬送する第1搬送機構と、
前記第1処理部とは異なる処理を基板に行う第2処理部と、
前記第2処理部に基板を搬送する第2搬送機構と、
前記インデクサ部と前記第1搬送機構との間で搬送される基板を載置する第1載置部と、
前記第1搬送機構と前記第2搬送機構との間で搬送される基板を載置する第2載置部と、
前記インデクサ部と前記第1処理部と前記第1搬送機構と前記第2処理部と前記第2搬送機構とを制御する制御部と、
を備え、
前記制御部の制御に従って、前記第1搬送機構は3つのアクセス動作からなる第1サイクル動作を繰り返し、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第1載置部にアクセスする第1アクセス動作であり、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第1処理部にアクセスする第2アクセス動作であり、
前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の残りの1つは、前記第2載置部にアクセスする第3アクセス動作であり、
前記制御部の制御に従って、前記第2搬送機構は2つまたは3つのアクセス動作からなる第2サイクル動作を繰り返し、
前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第2載置部にアクセスする第4アクセス動作であり、
前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第2処理部にアクセスする第5アクセス動作であり、
前記基板処理装置は、
前記第1処理部および前記第2処理部とは異なる処理を基板に行う第3処理部と、
前記第3処理部に基板を搬送する第3搬送機構と、
前記第2搬送機構と前記第3搬送機構との間で搬送される基板を載置する第3載置部と、
を備え、
前記制御部は、さらに、前記第3処理部と前記第3搬送機構とを制御し、
前記第2サイクル動作は3つの前記アクセス動作からなり、
前記第4アクセス動作および前記第5アクセス動作以外の、前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の残りの1つは、前記第3載置部にアクセスする第6アクセス動作であり、
前記制御部の制御に従って、前記第3搬送機構は2つまたは3つのアクセス動作からなる第3サイクル動作を繰り返し、
前記第3サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第3載置部にアクセスする第7アクセス動作であり、
前記第3サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第3処理部にアクセスする第8アクセス動作であり、
前記第3処理部は、
前記第3搬送機構の右方の位置および左方の位置の一方に配置される第3長処理部と、
前記第3搬送機構の右方の位置および左方の位置の他方に配置される第3短処理部と、
を備え、
前後方向における前記第3短処理部の長さは、前後方向における第3長処理部の長さよりも小さく、
前記基板処理装置は、前記第3短処理部の前方の位置、および、前記第3短処理部の後方の位置の少なくともいずれかに形成されるメンテナンス空間を備える
基板処理装置。
【請求項29】
請求項28に記載の基板処理装置において、
前記第3処理部は、基板に液処理を行う第3処理ユニットを含み、
前記第3長処理部において前後方向に並ぶ第3処理ユニットの数は、前記第3短処理部において前後方向に並ぶ第3処理ユニットの数よりも、多い
基板処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
この発明は、基板に処理を行う基板処理装置に関する。基板は、例えば、半導体ウエハ、液晶ディスプレイ用基板、有機EL(Electroluminescence)用基板、FPD(Flat Panel Display)用基板、光ディスプレイ用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、太陽電池用基板である。
【背景技術】
【0002】
特許文献1は、基板処理装置(1)を開示する。基板処理装置(1)は、搬送機構(TID)と搬送機構(T1)と搬送機構(T2)と搬送機構(TIFA)を備える。搬送機構(TID、T1、T2、TIFA)はそれぞれ、基板を搬送する。
【0003】
基板処理装置(1)は、載置部(PASS1)と載置部(PASS2)と載置部(PASS5)を備える。載置部(PASS1、PASS2、PASS5)はそれぞれ、基板を載置する。搬送機構(TID)と搬送機構(T1)は、載置部(PASS1)を介して、基板を受け渡す。搬送機構(T1)と搬送機構(T2)は、載置部(PASS2)を介して、基板を受け渡す。搬送機構(T2)と搬送機構(TIFA)は、載置部(PASS5)を介して基板を受け渡す。
【0004】
基板処理装置(1)は、塗布処理ユニット(31)と熱処理ユニット(41)とエッジ露光ユニット(EEW)と現像処理ユニット(DEV)と熱処理ユニット(42)を備える。塗布処理ユニット(31)と熱処理ユニット(41)とエッジ露光ユニット(EEW)と現像処理ユニット(DEV)と熱処理ユニット(42)はそれぞれ、基板を処理する。搬送機構(T1)は、塗布処理ユニット(31)と熱処理ユニット(41)に基板を搬送する。搬送機構(T2)は、エッジ露光ユニット(EEW)と現像処理ユニット(DEV)と熱処理ユニット(42)に基板を搬送する。
【0005】
搬送機構(T1)は、一連の動作(以下、「サイクル動作」と呼ぶ)を繰り返す。搬送機構(T1)のサイクル動作は、少なくとも以下の4つのアクセス動作を含む。
・第1アクセス動作:載置部(PASS1)へのアクセス
・第2アクセス動作:載置部(PASS2)へのアクセス
・第3アクセス動作:塗布処理ユニット(31)へのアクセス
・第4アクセス動作:熱処理ユニット(41)へのアクセス
【0006】
搬送機構(T2)は、一連の動作(以下、「サイクル動作」と呼ぶ)を繰り返す。搬送機構(T2)のサイクル動作は、少なくとも以下の5つのアクセス動作を含む。
・第5アクセス動作:載置部(PASS2)へのアクセス
・第6アクセス動作:載置部(PASS5)へのアクセス
・第7アクセス動作:エッジ露光ユニット(EEW)へのアクセス
・第8アクセス動作:現像処理ユニット(DEV)へのアクセス
・第9アクセス動作:熱処理ユニット(42)へのアクセス
【0007】
基板処理装置(1)は、搬送スペース(A1)と搬送スペース(A2)を備える。搬送スペース(A1)は、塗布処理ユニット(31)および熱処理ユニット(41)の側方に配置される。搬送機構(T1)は搬送スペース(A1)に設置される。搬送スペース(A2)は、エッジ露光ユニット(EEW)、現像処理ユニット(DEV)および熱処理ユニット(42)の側方に配置される。搬送機構(T2)は搬送スペース(A2)に設置される。載置部(PASS2)は、搬送スペース(A1)および搬送スペース(A2)にまたがって配置される。載置部(PASS2)は、搬送スペース(A1)および搬送スペース(A2)にまたがって設置される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0008】
【文献】特開2009-010291号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0009】
基板処理装置のスループット(単位時間当たりに処理可能な基板の数)をさらに向上させることが求められている。しかしながら、特許文献1に示される基板処理装置(1)の構成では、スループットをさらに向上させることが困難である。
【0010】
また、基板処理装置のフットプリント(設置面積)をさらに低減することが求められている。しかしながら、特許文献1に示される基板処理装置(1)の構成では、基板処理装置(1)のフットプリントをさらに低減することが困難である。
【0011】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、スループットを向上させることができる基板処理装置を提供することを第1の目的とする。さらに、基板処理装置のフットプリントを低減できる基板処理装置を提供することを第2の目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0012】
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、本発明は、基板処理装置であって、キャリアから基板を搬出するインデクサ部と、基板に処理を行う第1処理部と、前記第1処理部に基板を搬送する第1搬送機構と、前記第1処理部とは異なる処理を基板に行う第2処理部と、前記第2処理部に基板を搬送する第2搬送機構と、前記インデクサ部と前記第1搬送機構との間で搬送される基板を載置する第1載置部と、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構との間で搬送される基板を載置する第2載置部と、前記インデクサ部と前記第1処理部と前記第1搬送機構と前記第2処理部と前記第2搬送機構とを制御する制御部と、を備え、前記制御部の制御に従って、前記第1搬送機構は3つのアクセス動作からなる第1サイクル動作を繰り返し、前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第1載置部にアクセスする第1アクセス動作であり、前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第1処理部にアクセスする第2アクセス動作であり、前記第1サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の残りの1つは、前記第2載置部にアクセスする第3アクセス動作であり、前記制御部の制御に従って、前記第2搬送機構は2つまたは3つのアクセス動作からなる第2サイクル動作を繰り返し、前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第2載置部にアクセスする第4アクセス動作であり、前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第2処理部にアクセスする第5アクセス動作である基板処理装置
である。
【0013】
第1載置部を介して、インデクサ部と第1搬送機構との間で基板を搬送する。第2載置部を介して、第1搬送機構と第2搬送機構との間で基板を搬送する。第1搬送機構と第2搬送機構はそれぞれ、第1処理部と第2処理部に基板を搬送する。第1処理部と第2処理部はそれぞれ、基板に処理を行う。第2処理部が基板に行う処理は、第1処理部が基板に行う処理と異なる。
【0014】
ここで、第1搬送機構は、制御部の制御に従って、第1サイクル動作を繰り返す。第1サイクル動作は、3つのアクセス動作のみからなる。第1サイクル動作に含まれる3つのアクセス動作は、具体的には、第1アクセス動作と第2アクセス動作と第3アクセス動作である。このように、第1サイクル動作に含まれるアクセス動作の数は、比較的に少ない。このため、第1搬送機構が単位時間当たりに実行可能な第1サイクル動作の回数は、比較的に多い。言い換えれば、第1搬送機構が単位時間当たりに搬送可能な基板の枚数は、比較的に多い。要するに、第1搬送機構が基板を搬送する効率(以下、適宜に、「搬送効率」という)は、比較的に高い。
【0015】
第2搬送機構は、制御部の制御に従って、第2サイクル動作を繰り返す。第2サイクル動作は、2つまたは3つのアクセス動作のみからなる。第2サイクル動作に含まれる2つのアクセス動作は、具体的には、第4アクセス動作と第5アクセス動作である。このように、第2サイクル動作に含まれるアクセス動作の数は、比較的に少ない。したがって、第2搬送機構の搬送効率は、比較的に高い。
【0016】
以上のとおり、第1搬送機および第2搬送機構の各搬送効率は比較的に高いので、基板処理装置が単位時間当たりに処理可能な基板の枚数は比較的に多い。このように、基板処理装置はスループットを好適に向上できる。
【0017】
上述した基板処理装置において、前記第1アクセス動作は、前記第1載置部上の基板を取り、かつ、前記第1載置部に基板を載置する前記第1搬送機構の動作を含み、前記第2アクセス動作は、前記第1処理部に基板を搬入し、かつ、前記第1処理部から基板を搬出する前記第1搬送機構の動作を含み、前記第3アクセス動作では、前記第2載置部上の基板を取り、かつ、前記第2載置部に基板を載置する前記第1搬送機構の動作を含み、前記第4アクセス動作では、前記第2載置部上の基板を取り、かつ、前記第2載置部に基板を載置する前記第2搬送機構の動作を含み、前記第5アクセス動作では、前記第2処理部に基板を搬入し、かつ、前記第2処理部から基板を搬出する前記第2搬送機構の動作を含むことが好ましい。これによれば、第1搬送機構および第2搬送機構は、インデクサ部から供給された基板を第1処理部および第2処理部に搬送できる。さらに、第1搬送機構および第2搬送機構は、第1処理部および第2処理部において処理された基板をインデクサ部に戻すことができる。
【0018】
上述した基板処理装置において、前記第1処理部は、前記第2搬送機構が基板を搬送可能な第2領域の外に配置され、前記第2処理部は、前記第1搬送機構が基板を搬送可能な第1領域の外に配置されることが好ましい。第1処理部は、第2搬送機構の第2領域の外に配置される。このため、第1搬送機構は、第2搬送機構と干渉することなく、第1処理部にアクセスできる。同様に、第2処理部は、第1搬送機構の第1領域の外に配置される。このため、第2搬送機構は、第1搬送機構と干渉することなく、第2処理部にアクセスできる。
【0019】
上述した基板処理装置において、前記第1搬送機構の前記第1領域は、平面視において、略円形であり、前記第2搬送機構の前記第2領域は、平面視において、略円形であることが好ましい。第1搬送機構の第1領域は平面視において略円形であるので、第1搬送機構は第1サイクル動作に含まれる3つのアクセス動作を効率良く行うことができる。よって、第1搬送機構の搬送効率は一層高い。同様に、第2搬送機構の第2領域は平面視において略円形であるので、第2搬送機構は第2サイクル動作に含まれる3つのアクセス動作を効率良く行うことができる。よって、第2搬送機構の搬送効率は一層高い。
【0020】
上述した基板処理装置において、前記第1搬送機構は、前記インデクサ部の後方に配置され、前記第2搬送機構は、前記第1搬送機構の後方に配置され、前記第1載置部は、前記インデクサ部と前記第1搬送機構との間に配置され、前記第2載置部は、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構との間に配置され、前記第1処理部は、前記第1搬送機構の側方に配置され、前記第2処理部は、前記第2搬送機構の側方に配置されることが好ましい。第1搬送機構はインデクサ部の後方に配置される。このため、インデクサ部と第1搬送機構との間で基板を好適に搬送できる。第2搬送機構は第1搬送機構の後方に配置される。このため、第1搬送機構と第2搬送機構との間で基板を好適に搬送できる。第1載置部は、インデクサ部と第1搬送機構との間に配置される。第2載置部は、第1搬送機構と第2搬送機構との間に配置される。このため、第1搬送機構は、第1載置部および第2載置部に容易にアクセスできる。さらに、第2搬送機構は、第2載置部に容易にアクセスできる。第1処理部は、第1搬送機構の側方に配置される。このため、第1搬送機構は、第1処理部に容易にアクセスできる。第2処理部は、第2搬送機構の側方に配置される。このため、第2搬送機構は、第2処理部に容易にアクセスできる。
【0021】
上述した基板処理装置において、前記第2載置部は、前記第1搬送機構の側方かつ後方に配置され、かつ、前記第2搬送機構の側方かつ前方に配置されることが好ましい。これによれば、前後方向における第1搬送機構と第2搬送機構の間隔距離を小さくできる。よって、基板処理装置の設置面積(フットプリント)を小さくできる。
【0022】
上述した基板処理装置において、前記第1搬送機構は、固定的に設けられ、上下方向に延びる第1支柱と、前記第1支柱に支持され、上下方向に移動可能な第1昇降部と、前記第1昇降部に支持され、上下方向と平行な第1軸線回りに回転可能な第1回転部と、前記第1回転部に支持され、基板を保持する第1保持部と、を備え、前記第1回転部は、水平方向に移動不能に設けられ、前記第1処理部は、基板を1枚ずつ処理する複数の第1処理ユニットを備え、前記第1処理ユニットのそれぞれは、側面視において、前記第1軸線と重なる位置に配置され、前記第2搬送機構は、固定的に設けられ、上下方向に延びる第2支柱と、前記第2支柱に支持され、上下方向に移動可能な第2昇降部と、前記第2昇降部に支持され、上下方向と平行な第2軸線回りに回転可能な第2回転部と、前記第2回転部に支持され、基板を保持する第2保持部と、を備え、前記第2回転部は、水平方向に移動不能に設けられ、前記第2処理部は、基板を1枚ずつ処理する複数の第2処理ユニットを備え、前記第2処理ユニットのそれぞれは、側面視において、前記第2軸線と重なる位置に配置されることが好ましい。第1支柱は、固定的に設けられる。第1回転部は、水平方向に移動不能に設けられる。このため、第1搬送機構は、第1-第3アクセス動作をそれぞれ短時間に行うことができる。さらに、各第1処理ユニットは、側面視において、第1軸線と重なる位置に配置される。このため、第1搬送機構は、各第1処理ユニットに容易にアクセスできる。同様に、第2支柱は、固定的に設けられる。第2回転部は、水平方向に移動不能に設けられる。このため、第2搬送機構は、第4、第5アクセス動作をそれぞれ短時間に行うことができる。さらに、各第2処理ユニットは、側面視において、第2軸線と重なる位置に配置される。このため、第2搬送機構は、各第2処理ユニットに容易にアクセスできる。
【0023】
上述した基板処理装置において、前記第1処理ユニットおよび前記第2処理ユニットの一方は、基板に熱処理を行う熱処理ユニットであり、前記熱処理ユニットは、前記第1搬送機構および前記第2搬送機構のいずれか1つの右方の位置および左方の位置において、上下方向に1列に並ぶように配置されることが好ましい。熱処理ユニットは、第1搬送機構および第2搬送機構のいずれか1つの両側において、上下方向に1列に並ぶように配置される。例えば、熱処理ユニットが第1搬送機構の両側において上下方向に1列に並ぶように配置される場合、第1搬送機構は、各熱処理ユニットに容易にアクセスできる。例えば、熱処理ユニットが第2搬送機構の両側において上下方向に1列に並ぶように配置される場合、第2搬送機構は、各熱処理ユニットに容易にアクセスできる。
【0024】
上述した基板処理装置において、平面視において、前記第1軸線と前記第2軸線との間の距離は、基板の半径の5倍以下であることが好ましい。これによれば、第1搬送機構と第2搬送機構の間隔距離を小さくできる。よって、基板処理装置の設置面積(フットプリント)を小さくできる。
【0025】
上述した基板処理装置において、前記第2載置部は、平面視において、前記第1軸線と前記第2軸線を結ぶ仮想直線と重ならない位置に配置されることが好ましい。これによれば、第1搬送機構と第2搬送機構の間隔距離を好適に小さくできる。
【0026】
上述した基板処理装置において、平面視において、前記第1軸線と前記第2載置部との間の距離は、前記第2軸線と前記第2載置部との間の距離と略等しいことが好ましい。これによれば、第1搬送機構および第2搬送機構はそれぞれ、第2載置部に容易にアクセスできる。
【0027】
上述した基板処理装置において、前記第2載置部は、平面視において、前記第1処理部と重なる第1部分と、平面視において、前記第2処理部と重なる第2部分と、を有することが好ましい。すなわち、第2載置部は、第1処理部と第2処理部の両方と重なる位置に配置される。その結果、第1搬送機構と第2搬送機構の間隔距離を小さくすることと、第1搬送機構および第2搬送機構が第2載置部に容易にアクセスできることを、好適に両立できる。
【0028】
上述した基板処理装置において、前記第2載置部は、さらに、平面視において、前記第1処理部および前記第2処理部と重ならない第3部分を有することが好ましい。
第1搬送機構および第2搬送機構はそれぞれ、第2載置部に一層容易にアクセスできる。
【0029】
上述した基板処理装置において、前記第2載置部の前記第3部分は、平面視において、前記第1搬送機構および前記第2搬送機構が設置される搬送スペースと重なることが好ましい。第1搬送機構および第2搬送機構はそれぞれ、第2載置部に一層容易にアクセスできる。
【0030】
上述した基板処理装置において、前記基板処理装置は、前記第1搬送機構の側方に配置され、上下方向に1列に並ぶ複数の第1スロットと、前記第2搬送機構の側方、かつ、前記第1スロットの後方に配置され、上下方向に1列に並ぶ複数の第2スロットと、を備え、前記第1スロットの少なくとも1つは、前記第1処理部を設置するための処理用第1スロットであり、前記第1スロットの他の1つは、前記第2載置部を設置するための載置用第1スロットであり、前記第2スロットの少なくとも1つは、前記第2処理部を設置するための処理用第2スロットであり、前記第2スロットの他の1つは、前記第2載置部を設置するための載置用第2スロットであり、前記載置用第2スロットは、前記載置用第1スロットと同じ高さ位置に配置され、前記第2載置部は、前記載置用第1スロットと前記載置用第2スロットとにわたって、設置されることが好ましい。第1スロットの一部と第2スロットの一部を活用して、第2載置部を好適に設置できる。
【0031】
上述した基板処理装置において、前記基板処理装置は、前記第1処理部および前記第2処理部とは異なる処理を基板に行う第3処理部と、前記第3処理部に基板を搬送する第3搬送機構と、前記第2搬送機構と前記第3搬送機構との間で搬送される基板を載置する第3載置部と、を備え、前記制御部は、さらに、前記第3処理部と前記第3搬送機構とを制御し、前記第2サイクル動作は3つの前記アクセス動作からなり、前記第4アクセス動作および前記第5アクセス動作以外の、前記第2サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の残りの1つは、前記第3載置部にアクセスする第6アクセス動作であり、前記制御部の制御に従って、前記第3搬送機構は2つまたは3つのアクセス動作からなる第3サイクル動作を繰り返し、前記第3サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の1つは、前記第3載置部にアクセスする第7アクセス動作であり、前記第3サイクル動作に含まれる前記アクセス動作の他の1つは、前記第3処理部にアクセスする第8アクセス動作であることが好ましい。
【0032】
第3載置部を介して、第2搬送機構と第3搬送機構との間で基板を搬送する。第3搬送機構は、基板を第3処理部に搬送する。第3処理部は、基板に処理を行う。第3処理部が基板に行う処理は、第1処理部が基板に行う処理と異なり、かつ、第2処理部が基板に行う処理と異なる。
【0033】
ここで、第2搬送機構の第2サイクル動作は、3つのアクセス動作のみからなる。第2サイクル動作に含まれる3つのアクセス動作は、具体的には、第4アクセス動作と第5アクセス動作と第6アクセス動作である。このように、第2サイクル動作に含まれるアクセス動作の数は、比較的に少ない。したがって、第2搬送機構の搬送効率は、比較的に高い。
【0034】
制御部の制御に従って、第3搬送機構は、第3サイクル動作を繰り返す。第3サイクル動作は、2つまたは3つのアクセス動作のみからなる。第3サイクル動作に含まれる2つのアクセス動作は、第7アクセス動作と第8アクセス動作である。このように、第3サイクル動作に含まれるアクセス動作の数は、比較的に少ない。したがって、第3搬送機構の搬送効率は、比較的に高い。
【0035】
以上のとおり、第1搬送機、第2搬送機構および第3搬送機構の各搬送効率は高いので、基板処理装置はスループットを好適に向上できる。
【0036】
上述した基板処理装置において、前記第6アクセス動作は、前記第3載置部上の基板を取り、かつ、前記第3載置部に基板を載置する前記第2搬送機構の動作を含み、前記第7アクセス動作は、前記第3載置部上の基板を取り、かつ、前記第3載置部に基板を載置する前記第3搬送機構の動作を含み、前記第8アクセス動作では、前記第3処理部に基板を搬入し、かつ、前記第3処理部から基板を搬出する前記第3搬送機構の動作を含むことが好ましい。これによれば、第1搬送機構、第2搬送機構および第3搬送機構は、インデクサ部から供給された基板を第1処理部、第2処理部および第3処理部に搬送できる。さらに、第1搬送機構、第2搬送機構および第3搬送機構は、第1処理部、第2処理部および第3処理部において処理された基板をインデクサ部に戻すことができる。
【0037】
上述した基板処理装置において、前記第1処理部および前記第2処理部の一方は、基板の周縁部を露光するエッジ露光処理部であり、前記第1処理部および前記第2処理部の他方は、基板に熱処理を行う熱処理部であり、前記第3処理部は、基板に液処理を行う液処理部であることが好ましい。第1処理部および2処理部は、第3処理部に比べて、インデクサ部に近い位置に配置される。したがって、インデクサ部に比較的に近い位置に、エッジ露光処理部と熱処理部を配置できる。言い換えれば、第3処理部は、第1処理部および第2処理部に比べて、インデクサ部から遠い位置に配置される。したがって、インデクサ部から比較的に遠い位置に、液処理部を配置できる。
【0038】
上述した基板処理装置において、前記制御部による制御にしたがって、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構と前記第3搬送機構は、前記インデクサ部から供給された基板を、前記エッジ露光処理部と前記液処理部と前記熱処理部に、この順番で搬送し、前記制御部による制御にしたがって、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構は、前記熱処理部から搬出した基板を、前記第3搬送機構に渡すことなく、前記インデクサ部に戻すことが好ましい。第3搬送機構は、熱処理部から搬出した基板を搬送しない。すなわち、第3搬送機構は、熱処理後の基板と接触しない。第3搬送機構は、熱処理前の基板のみを液処理部に搬送する。このため、第3搬送機構は、熱処理後の基板から、熱的な影響を受けない。よって、液処理部に搬送される基板は、第3搬送機構から熱的な影響を受けない。その結果、液処理部における液処理の品質が損なわれることを、好適に防止できる。
【0039】
上述した基板処理装置において、前記第3処理部を前記第2処理部から隔てる遮熱空間を備えることが好ましい。第3処理部が第2処理部から受ける熱的な影響を効果的に低減できる。
【0040】
上述した基板処理装置において、前記第3処理部は、前記第3搬送機構の右方の位置および左方の位置の一方に配置される第3長処理部と、前記第3搬送機構の右方の位置および左方の位置の他方に配置される第3短処理部と、を備え、前後方向における前記第3短処理部の長さは、前後方向における第3長処理部の長さよりも小さく、前記基板処理装置は、前記第3短処理部の前方の位置、および、前記第3短処理部の後方の位置の少なくともいずれかに形成されるメンテナンス空間を備えることが好ましい。基板処理装置はメンテナンス空間を備えるので、基板処理装置を好適にメンテナンスできる。
【0041】
上述した基板処理装置において、前記基板処理装置は、前記第1処理部と前記第1搬送機構と前記第2処理部と前記第2搬送機構と前記第2載置部を収容する第1ブロックと、前記第1ブロックに接続され、前記第3処理部と前記第3搬送機構とを収容する第2ブロックと、を備え、前記第1ブロックは、正面視、平面視および側面視において略矩形であり、前記第2ブロックは、正面視、平面視および側面視において略矩形であることが好ましい。第1処理部および第2処理部は第1ブロックに設置される。第3処理部は第2ブロックに設置される。これにより、第1処理部および第2処理部を、第3処理部から好適に隔てることができる。
【0042】
上述した基板処理装置において、前記基板処理装置は、前記第1ブロックの骨組みとして設けられ、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構と前記第1処理部と前記第2処理部と前記第2載置部を支持する第1フレームと、前記第2ブロックの骨組みとして設けられ、前記第3搬送機構と前記第3処理部を支持する第2フレームと、を備え、前記第2フレームは、前記第1フレームに連結されることが好ましい。第1フレームおよび第2フレームによって第1ブロックおよび第2ブロックを好適に構成できる。
【0043】
また、本発明は、基板処理装置であって、基板に処理を行う第1処理部と、前記第1処理部の後方に配置され、基板に処理を行う第2処理部と、前記第1処理部および前記第2処理部の側方に形成される搬送スペースと、前記搬送スペースに設置され、前記第1処理部に基板を搬送する第1搬送機構と、前記搬送スペースに設置され、前記第1搬送機構の後方に配置され、前記第2処理部に基板を搬送する第2搬送機構と、前記第1搬送機構と前記第2搬送機構との間で搬送される基板を載置する載置部と、を備え、前記載置部は、平面視において、前記第1処理部と重なる第1部分と、前記第2処理部と重なる第2部分と、を有する基板処理装置である。
【0044】
載置部を介して、第1搬送機構と第2搬送機構との間で基板を搬送する。第1搬送機構と第2搬送機構はそれぞれ、第1処理部と第2処理部に基板を搬送する。第1処理部と第2処理部はそれぞれ、基板に処理を行う。
【0045】
載置部は、第1処理部と第2処理部の両方と重なる位置に配置される。このため、第1搬送機構と第2搬送機構の間隔距離を小さくできる。その結果、基板処理装置のフットプリントを低減できる。
【0046】
上述した基板処理装置において、前記載置部は、平面視において、前記搬送スペースと重なる第3部分を有することが好ましい。第1搬送機構および第2搬送機構はそれぞれ、載置部に容易にアクセスできる。
【発明の効果】
【0047】
本発明によれば、基板処理装置はスループットを好適に向上できる。本発明によれば、基板処理装置のフットプリントを低減できる。
【図面の簡単な説明】
【0048】
図1】第1実施形態の基板処理装置の概念図である。
図2】第1-第3サイクル動作を模式的に示す図である。
図3】基板の搬送経路を模式的に示す図である。
図4】第1実施形態の基板処理装置の平面図である。
図5】基板処理装置の左部の構成を示す左側面図である。
図6】幅方向における基板処理装置の中央部の構成を示す左側面図である。
図7】基板処理装置の右部の構成を示す右側面図である。
図8】第1ブロックの構成を示す正面図である。
図9】第1ブロックの平面図である。
図10】第2ブロックの構成を示す背面図である。
図11図11(a)、(b)はそれぞれ、第2実施形態の基板処理装置の平面図である。
図12】基板処理装置の左部の構成を示す左側面図である。
図13】幅方向における基板処理装置の中央部の構成を示す左側面図である。
図14】基板処理装置の右部の構成を示す右側面図である。
図15】第1ブロックの構成を示す正面図である。
図16】第2ブロックの構成を示す背面図である。
図17】搬送機構のサイクル動作を模式的に示す図である。
図18】基板の搬送経路を模式的に示す図である。
図19】変形実施形態の基板処理装置の平面図である。
【発明を実施するための形態】
【0049】
以下、図面を参照して本発明の基板処理装置を説明する。
【0050】
[第1実施形態]
<基板処理装置の概要>
図1は、第1実施形態の基板処理装置の概念図である。第1実施形態の基板処理装置1は、一連の処理を基板(例えば、半導体ウエハ)Wに行う。
【0051】
基板Wは、例えば、半導体ウエハ、液晶ディスプレイ用基板、有機EL(Electroluminescence)用基板、FPD(Flat Panel Display)用基板、光ディスプレイ用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板、太陽電池用基板である。基板Wは、平面視で略円形状を有する。
【0052】
基板処理装置1は、インデクサ部11を備える。インデクサ部11は、キャリアCから基板Wを搬出する。さらに、インデクサ部11は、キャリアCに基板Wを搬入する。キャリアCは、複数枚の基板Wを収容する。キャリアCは、例えば、FOUP(front opening unified pod)である。
【0053】
基板処理装置1は、第1処理部34と第2処理部37と第3処理部64を備える。第1処理部34と第2処理部37と第3処理部64はそれぞれ、基板Wに処理を行う。第1処理部34が基板Wに行う処理は、第2処理部37が基板Wに行う処理および第3処理部64が基板Wに行う処理と異なる。第2処理部37が基板Wに行う処理は、第3処理部64が基板Wに行う処理と異なる。
【0054】
第1処理部34は、例えば、基板Wの周縁部を露光するエッジ露光処理部である。第1処理部34が基板Wに行う処理は、例えば、基板Wの周縁部を露光するエッジ露光処理である。
【0055】
第2処理部37は、例えば、基板Wに熱処理を行う熱処理部である。第2処理部37が基板Wに行う処理は、例えば、熱処理である。第2処理部37によって行われる熱処理は、基板Wを加熱する加熱処理を含む。
【0056】
第3処理部64は、例えば、基板Wに液処理を行う液処理部である。第3処理部64が基板Wに行う処理は、例えば、液処理である。第3処理部64によって行われる液処理は、例えば、基板Wに現像液を供給し、基板Wを現像する現像処理である。
【0057】
基板処理装置1は、第1搬送機構46と第2搬送機構48と第3搬送機構68を備える。第1搬送機構46と第2搬送機構48と第3搬送機構68はそれぞれ、基板Wを搬送する。第1搬送機構46は、第1処理部34に基板Wを搬送する。第1搬送機構46は、第2処理部37および第3処理部64に基板Wを搬送しない。第2搬送機構48は、第2処理部37に基板Wを搬送する。第2搬送機構48は、第1処理部34および第3処理部64に基板Wを搬送しない。第3搬送機構68は、第3処理部64に基板Wを搬送する。第3搬送機構68は、第1処理部34および第2処理部37に基板Wを搬送しない。
【0058】
基板処理装置1は、第1載置部21と第2載置部41と第3載置部51を備える。第1載置部21と第2載置部41と第3載置部51はそれぞれ、基板Wを載置する。第1載置部21は、インデクサ部11と第1搬送機構46との間で搬送される基板Wを載置する。第2載置部41は、第1搬送機構46と第2搬送機構48との間で搬送される基板Wを載置する。第3載置部51は、第2搬送機構48と第3搬送機構68との間で搬送される基板Wを載置する。
【0059】
基板処理装置1は、制御部81を備える。制御部81は、例えば、インデクサ部11に設置されている。制御部81は、基板処理装置1を制御する。具体的には、制御部81は、インデクサ部11と第1処理部34と第2処理部37と第3処理部64と第1搬送機構46と第2搬送機構48と第3搬送機構68とを制御する。
【0060】
制御部81は、各種処理を実行する中央演算処理装置(CPU)、演算処理の作業領域となるRAM(Random-Access Memory)、固定ディスク等の記憶媒体等によって実現されている。記憶媒体には、基板Wを処理するための処理レシピ(処理プログラム)や、各基板Wを識別するための情報など各種情報を記憶されている。
【0061】
図2は、第1-第3サイクル動作を模式的に示す図である。制御部81の制御に従って、第1搬送機構46は、第1サイクル動作を繰り返す。制御部81の制御に従って、第2搬送機構48は、第2サイクル動作を繰り返す。制御部81の制御に従って、第3搬送機構68は、第3サイクル動作を繰り返す。
【0062】
第1搬送機構46の第1サイクル動作は、3つのアクセス動作からなる。第1サイクル動作に含まれる3つのアクセス動作は、以下の通りである。
・第1載置部21にアクセスする第1アクセス動作
・第1処理部34にアクセスする第2アクセス動作
・第2載置部41にアクセスする第3アクセス動作
【0063】
ここで、第1アクセス動作は、第1搬送機構46が第1載置部21上の基板Wを取る動作と、第1搬送機構46が第1載置部21に基板Wを載置する動作を含む。第2アクセス動作は、第1搬送機構46が第1処理部34に基板Wを搬入する動作と、第1搬送機構46が第1処理部34から基板Wを搬出する動作を含む。第3アクセス動作は、第1搬送機構46が第2載置部41上の基板Wを取る動作と、第1搬送機構46が第2載置部41に基板Wを載置する動作を含む。
【0064】
第2搬送機構48の第2サイクル動作は、3つのアクセス動作からなる。第2サイクル動作に含まれる3つのアクセス動作は、以下の通りである。
・第2載置部41にアクセスする第4アクセス動作
・第2処理部37にアクセスする第5アクセス動作
・第3載置部51にアクセスする第6アクセス動作
【0065】
ここで、第4アクセス動作は、第2搬送機構48が第2載置部41上の基板Wを取る動作と、第2搬送機構48が第2載置部41に基板Wを載置する動作を含む。第5アクセス動作は、第2搬送機構48が第2処理部37に基板Wを搬入する動作と、第2搬送機構48が第2処理部37から基板Wを搬出する動作を含む。第6アクセス動作は、第2搬送機構48が第3載置部51上の基板Wを取る動作と、第2搬送機構48が第3載置部51に基板Wを載置する動作を含む。
【0066】
第3搬送機構68の第3サイクル動作は、2つのアクセス動作からなる。第3サイクル動作に含まれる2つのアクセス動作は、以下の通りである。
・第3載置部51にアクセスする第7アクセス動作
・第3処理部64にアクセスする第8アクセス動作
【0067】
ここで、第7アクセス動作は、第3搬送機構68が第3載置部51上の基板Wを取る動作と、第3搬送機構68が第3載置部51に基板Wを載置する動作を含む。第8アクセス動作は、第3搬送機構68が第3処理部64に基板Wを搬入する動作と、第3搬送機構68が第3処理部64から基板Wを搬出する動作を含む。
【0068】
基板処理装置1は、例えば、次のように動作する。制御部81による制御にしたがって、第1搬送機構46と第2搬送機構48と第3搬送機構68は、インデクサ部11から供給された基板Wを、第1処理部(エッジ露光処理部)34と第3処理部(液処理部)64と第2処理部(熱処理部)37に、この順番で搬送する。ここで、第1搬送機構46と第2搬送機構48は、第2処理部(熱処理部)37から搬出した基板Wを、第3搬送機構68に渡すことなく、インデクサ部11に戻す。以下、基板処理装置1の動作例を、より詳しく説明する。
【0069】
図2、3を参照する。図3は、基板の搬送経路を模式的に示す図である。
【0070】
インデクサ部11は、キャリアCから基板Wを搬出する。インデクサ部11は、基板Wを第1載置部21に載置する。
【0071】
第1搬送機構46は、第1載置部21上の基板Wを取る(第1アクセス動作)。第1搬送機構46は、基板Wを第1処理部34に搬入する(第2アクセス動作)。第1処理部34は、基板Wに処理(エッジ露光処理)を行う。第1搬送機構46は、第1処理部34から基板Wを搬出する(第2アクセス動作)。第1搬送機構46は、基板Wを第2載置部41に置く(第3アクセス動作)。
【0072】
第2搬送機構48は、第2載置部41上の基板Wを取る(第4アクセス動作)。第2搬送機構48は、基板Wを第3載置部51に載置する(第6アクセス動作)。
【0073】
第3搬送機構68は、第3載置部51上の基板Wを取る(第7アクセス動作)。第3搬送機構68は、基板Wを第3処理部64に搬入する(第8アクセス動作)。第3処理部64は基板Wに処理(液処理)を行う。第3搬送機構68は第3処理部64から基板Wを搬出する(第8アクセス動作)。第3搬送機構68は第3載置部51に基板Wを載置する(第7アクセス動作)。
【0074】
第2搬送機構48は、第3載置部51上の基板Wを取る(第6アクセス動作)。第2搬送機構48は、基板Wを第2処理部37に搬入する(第5アクセス動作)。第2処理部37は基板Wに処理(熱処理)を行う。第2搬送機構48は第2処理部37から基板Wを搬出する(第5アクセス動作)。第2搬送機構48は第2載置部41に基板Wを載置する(第4アクセス動作)。
【0075】
第1搬送機構46は、第2載置部41上の基板Wを取る(第3アクセス動作)。第1搬送機構46は、基板Wを第1載置部21に載置する(第1アクセス動作)。
【0076】
インデクサ部11は、第1載置部21上の基板Wを取る。インデクサ部11は、キャリアCに基板Wを搬入する。
【0077】
ここで、基板処理装置1は、複数の基板Wを並行して処理できる。基板処理装置1が複数の基板Wを並行して処理する場合、1回の第1アクセス動作において、第1搬送機構46は、第1載置部21上の基板Wを取る動作と、第1搬送機構46が第1載置部21に基板Wを載置する動作を行う。第2-第8アクセス動作においても、同様である。
【0078】
<第1実施形態の主たる効果>
上述の基板処理装置1によれば、以下の効果を奏する。
【0079】
基板処理装置1は、3つの処理部(34、37、64)を備える。基板処理装置1は、各処理部(34、37、64)に対して、搬送機構(46、48、68)を個別に備える。第1処理部34に対応して第1搬送機構46が設けられ、第2処理部37に対応して第2搬送機構48が設けられ、第3処理部64に対応して第3搬送機構68が設けられる。したがって、第1搬送機構46が基板Wを搬送する処理部の数は、1つである。このため、第1搬送機構46の第1サイクル動作に含まれるアクセス動作の数が、4つ以上になることを好適に防止できる。同様に、第2搬送機構48が基板Wを搬送する処理部の数は、1つである。このため、第2搬送機構48の第2サイクル動作に含まれるアクセス動作の数が、4つ以上になることを好適に防止できる。第3搬送機構68が基板Wを搬送する処理部の数は、1つである。このため、第3搬送機構68の第1サイクル動作に含まれるアクセス動作の数が、4つ以上になることを好適に防止できる。
【0080】
具体的には、第1サイクル動作に含まれるアクセス動作の数は3つであるので、第1サイクル動作に含まれるアクセス動作の数は比較的に少ない。このため、第1搬送機構46が単位時間当たりに実行可能な第1サイクル動作の回数は、比較的に多い。言い換えれば、第1搬送機構46が単位時間当たりに搬送可能な基板Wの枚数は、比較的に多い。要するに、第1搬送機構46が基板Wを搬送する効率(以下、適宜に、「搬送効率」という)は、比較的に高い。
【0081】
第2サイクル動作に含まれるアクセス動作の数は3つであるので、第2サイクル動作に含まれるアクセス動作の数は比較的に少ない。したがって、第2搬送機構48の搬送効率は、比較的に高い。
【0082】
第3サイクル動作に含まれるアクセス動作の数は2つであるので、第3サイクル動作に含まれるアクセス動作の数は比較的に少ない。したがって、第3搬送機構68の搬送効率は、比較的に高い。
【0083】
以上のとおり、第1搬送機構46と第2搬送機構48と第3搬送機構68の各搬送効率は比較的に高いので、基板処理装置1が単位時間当たりに処理可能な基板Wの枚数は比較的に多い。よって、基板処理装置1のスループットを好適に向上できる。
【0084】
第1アクセス動作は、第1載置部21上の基板Wを取る動作と、第1載置部21に基板Wを載置する動作を含む。第2アクセス動作は、第1処理部34に基板Wを搬入する動作と、第1処理部34から基板Wを搬出する動作を含む。第3アクセス動作は、第2載置部41上の基板Wを取る動作と、第2載置部41に基板Wを載置する動作を含む。第4アクセス動作は、第2載置部41上の基板Wを取る動作と、第2載置部41に基板Wを載置する動作を含む。第5アクセス動作は、第2処理部37に基板Wを搬入する動作と、第2処理部37から基板Wを搬出する動作を含む。第6アクセス動作は、第3載置部51上の基板Wを取る動作と、第3載置部51に基板Wを載置する動作を含む。第7アクセス動作は、第3載置部51上の基板Wを取る動作と、第3載置部51に基板Wを載置する動作を含む。第8アクセス動作は、第3処理部64に基板Wを搬入する動作と、第3処理部64から基板Wを搬出する動作を含む。このため、第1、第2、第3搬送機構46、48、68は、インデクサ部11から供給された基板Wを、第1、第2、第3処理部34、37、64に搬送できる。さらに、第1、第2、第3搬送機構46、48、68は、第1、第2、第3処理部34、37、64において処理された基板Wをインデクサ部11に戻すことができる。
【0085】
第1搬送機構46と第2搬送機構48と第3搬送機構68は、インデクサ部11から供給された基板Wを、第1処理部(エッジ露光処理部)34と第3処理部(液処理部)64と第2処理部(熱処理部)37に、この順番で搬送する。さらに、第1搬送機構46と第2搬送機構48は、第2処理部(熱処理部)37から搬出した基板Wを、第3搬送機構68に渡すことなく、インデクサ部11に戻す。このため、第3搬送機構68は、第2処理部(熱処理部)37から搬出した基板Wを搬送しない。すなわち、第3搬送機構68は、熱処理後の基板Wと接触しない。第3搬送機構68は、熱処理前の基板Wのみを搬送する。このため、第3搬送機構68は、熱処理後の基板Wから、熱的な影響を受けない。よって、第3搬送機構68は、基板Wに熱的な影響を与えることなく、第3処理部(液処理部)64に基板Wを搬送できる。例えば、第3搬送機構68は、基板Wの温度を変化させることなく、第3処理部(液処理部)64に基板Wを搬送できる。よって、第3処理部(液処理部)64における処理の品質が損なわれることを、好適に防止できる。
【0086】
以下では、基板処理装置1の構造について、さらに詳しく説明する。
【0087】
<基板処理装置1の全体構造>
図4は、第1実施形態の基板処理装置1の平面図である。基板処理装置1は、インデクサ部11と第1ブロック31と第2ブロック61を備える。第1ブロック31は、インデクサ部11に接続される。第2ブロック61は、第1ブロック31に接続される。第1ブロック31は、第1処理部34と第2処理部37と第2載置部41と第1搬送機構46と第2搬送機構48を収容する。第2ブロック61は、第3処理部64と第3搬送機構68を収容する。第1載置部21は、インデクサ部11と第1ブロック31にまたがって設置される。第3載置部51は、第1ブロック31と第2ブロック61にまたがって設置される。
【0088】
インデクサ部11と第1ブロック31と第2ブロック61は、水平方向に一列に並ぶように配置される。
【0089】
ここで、インデクサ部11と第1ブロック31と第2ブロック51が並ぶ方向を、「前後方向X」と呼ぶ。前後方向Xのうち、第2ブロック51からインデクサ部11に向かう方向を「前方」と呼ぶ。前方と反対の方向を「後方」と呼ぶ。前後方向Xと直交する水平な方向を、「幅方向Y」または「側方」と呼ぶ。「幅方向Y」の一方向を適宜に「右方」と呼ぶ。右方とは反対の方向を「左方」と呼ぶ。垂直な方向を「上下方向Z」と呼ぶ。上下方向Zは、前後方向Xと直交し、かつ、幅方向Yと直交する。各図では、参考として、前、後、右、左、上、下を適宜に示す。
【0090】
以下、基板処理装置1の各部について説明する。
【0091】
<インデクサ部11>
図4-7を参照する。図5は、基板処理装置1の左部の構成を示す左側面図である。図6は、幅方向Yにおける基板処理装置1の中央部の構成を示す左側面図である。図7は、基板処理装置1の右部の構成を示す右側面図である。
【0092】
インデクサ部11は、キャリア載置部12A、12Bを備える。キャリア載置部12A、12Bは、幅方向Yに並ぶように配置される。キャリア載置部12Aは、キャリア載置部12Bの右方に配置される。キャリア載置部12A、12Bはそれぞれ、1つのキャリアCを載置する。
【0093】
キャリア載置部12A上のキャリアCとキャリア載置部12B上のキャリアCを区別する場合、キャリア載置部12A上のキャリアCを「キャリアCA」と記載し、キャリア載置部12B上のキャリアCを「キャリアCB」と記載する。
【0094】
インデクサ部11は、搬送スペース13を備える。搬送スペース13は、キャリア載置部12A、12Bの後方に配置される。
【0095】
インデクサ部11は、インデクサ用搬送機構14A、14Bを備える。インデクサ用搬送機構14A、14Bは、搬送スペース13に設置される。
インデクサ用搬送機構14A、14Bは、幅方向Yに並ぶように配置される。インデクサ用搬送機構14Bは、インデクサ用搬送機構14Aの左方に配置される。インデクサ用搬送機構14Aは、キャリア載置部12Aの後方に配置される。インデクサ用搬送機構14Bは、キャリア載置部12Bの後方に配置される。
【0096】
インデクサ用搬送機構14Aは、支柱15aと昇降部15bと回転部15cと保持部15d、15eとを備える。保持部15eは図7に示される。支柱15aは、上下方向Zに延びる。支柱15aは、固定的に設けられる。すなわち、支柱15aは、移動不能である。昇降部15bは、支柱15aに支持される。昇降部15bは、支柱15aに対して上下方向Zに移動可能である。昇降部15bは、水平方向に移動不能である。回転部15cは、昇降部15bに支持される。回転部15cは、昇降部15bに対して、回転可能である。回転部15cの回転軸線は、上下方向Zと平行である。回転部15cは、水平方向に移動不能である。保持部15d、15eは、回転部15cに支持される。保持部15d、15eは、回転部15cに対して、水平方向に進退移動可能である。保持部15d、15eは、互いに独立して、進退移動可能である。保持部15d、15eはそれぞれ、基板Wと接触する。保持部15d、15eはそれぞれ、1枚の基板Wを水平姿勢で保持する。
【0097】
インデクサ用搬送機構14Bは、インデクサ用搬送機構14Aと略同じ構造を有する。すなわち、インデクサ用搬送機構14Bは、支柱15aと昇降部15bと回転部15cと保持部15d、15eとを備える。
【0098】
このように、本明細書では、異なる要素が同じ構造を有する場合には、その構造に共通の符号を付すことで詳細な説明を省略する。
【0099】
インデクサ用搬送機構14Aは、キャリアCAと第1載置部21にアクセス可能である。
インデクサ用搬送機構14Aは、キャリアCAから基板Wを搬出可能であり、キャリアCAに基板Wを搬入可能である。インデクサ用搬送機構14Aは、第1載置部21に基板Wを載置可能であり、第1載置部21上の基板Wを取ることができる。インデクサ用搬送機構14Aは、キャリアCBにアクセス不能である。
【0100】
インデクサ用搬送機構14Bは、キャリアCBと第1載置部21にアクセス可能である。
インデクサ用搬送機構14Bは、キャリアCBから基板Wを搬出可能であり、キャリアCBに基板Wを搬入可能である。インデクサ用搬送機構14Bは、第1載置部21に基板Wを載置可能であり、第1載置部21上の基板Wを取ることができる。インデクサ用搬送機構14Bは、キャリアCAにアクセス不能である。
【0101】
インデクサ用搬送機構14A、14Bは、制御部81によって制御される。制御部81による制御にしたがって、インデクサ用搬送機構14Aは、キャリアCAへのアクセス動作と第1載置部21へのアクセス動作を交互に行う。制御部81による制御にしたがって、インデクサ用搬送機構14Bは、キャリアCBへのアクセス動作と第1載置部21へのアクセス動作を交互に行う。これにより、インデクサ部11は、キャリアCから基板Wを搬出し、キャリアCから搬出した基板Wを第1搬送機構46に渡す。さらに、インデクサ部11は、第1搬送機構46から基板Wを受け、第1搬送機構46から受けた基板WをキャリアCに搬入する。
【0102】
<第1ブロック31>
図4-8を参照する。図8は、第1ブロック31の構成(具体的には、第2処理部37と第2搬送機構48)を示す正面図である。第1ブロック31は、略箱形状を有する。第1ブロック31は、平面視、側面視および正面視において、略矩形である。
【0103】
第1ブロック31は、第1フレーム32を有する。第1フレーム32は、第1ブロック31の骨組み(骨格)として、設けられる。第1フレーム32は、第1ブロック31の形状を画定する。第1フレーム32は、例えば、金属製である。
【0104】
第1フレーム32は、第1処理部34と第2処理部37と第2載置部41と第1搬送機構46と第2搬送機構48を支持する。
【0105】
基板処理装置1は、搬送スペース45を備える。搬送スペース45は、第1ブロック31に形成される。搬送スペース45は、第1処理部34および第2処理部37の側方に形成される。より具体的には、搬送スペース45は、幅方向Yにおける第1ブロック31の中央部に形成される。搬送スペース45は、第1ブロック31の前部から第1ブロック31の後部まで前後方向Xに延びる。搬送スペース45は、インデクサ部11の搬送スペース13と接する。
【0106】
第1搬送機構46と第2搬送機構48は、搬送スペース45に設置される。第1搬送機構46は、インデクサ部11の後方に配置される。第2搬送機構48は、第1搬送機構46の後方に配置される。第1搬送機構46と第2搬送機構48は、前後方向Xに並ぶように配置される。
【0107】
第1処理部34は、搬送スペース45の側方に配置される。第1処理部34は、第1搬送機構46の側方に配置される。より詳しくは、第1処理部34は、第1搬送機構46の右方の位置および第1搬送機構46の左方の位置に配置される。第1搬送機構46の右方の位置に配置される第1処理部34を、「第1右処理部34R」と呼ぶ。第1搬送機構46の左方の位置に配置される第1処理部34を、「第1左処理部34L」と呼ぶ。第1右処理部34Rと第1搬送機構46と第1左処理部34Lは、幅方向Yに1列に並ぶ。
【0108】
第2処理部37は、第1処理部34の後方に配置される。第2処理部37は、搬送スペース45の側方に配置される。第2処理部37は、第2搬送機構48の側方に配置される。より詳しくは、第2処理部37は、第2搬送機構48の右方の位置および第2搬送機構48の左方の位置に配置される。第2搬送機構48の右方の位置に配置される第2処理部37を、「第2右処理部37R」と呼ぶ。第2搬送機構48の左方の位置に配置される第2処理部37を、「第2左処理部37L」と呼ぶ。第2右処理部37Rと第2搬送機構48と第2左処理部37Lは、幅方向Yに1列に並ぶ。第2右処理部37Rは、第1右処理部34Rの後方に配置される。第1右処理部34Rと第2右処理部37Rは、搬送スペース45に沿って、前後方向Xに並ぶ。第2左処理部37Lは、第1左処理部34Lの後方に配置される。第1左処理部34Lと第2左処理部37Lは、搬送スペース45に沿って、前後方向Xに並ぶ。
【0109】
第2載置部41は、第1搬送機構46と第2搬送機構48との間に配置される。第2載置部41は、第1搬送機構46に対して、左方かつ後方に配置される。第2載置部41は、第2搬送機構48に対して、左方かつ前方に配置される。
【0110】
第2載置部41は、平面視において、第1処理部34および第2処理部37と重なる位置に配置される。具体的には、第2載置部41は、平面視において第1処理部34と重なる第1部分41aと、平面視において第2処理部37と重なる第2部分41bを有する。より詳しくは、第2載置部41の第1部分41aは、第1左処理部34Lと重なる。第2載置部41の第2部分41bは、第2左処理部37Lと重なる。
【0111】
さらに、第2載置部41は、搬送スペース45に張り出している。具体的には、第2載置部41は、平面視において搬送スペース45と重なる第3部分41cを有する。第2載置部41の第3部分41cは、平面視において、第1処理部34および第2処理部37と重ならない。第2載置部41の第3部分41cは、第1左処理部34Lおよび第2左処理部37Lよりも搬送スペース45に向かって突き出ている。
【0112】
第2載置部41は、第1搬送機構46および第2搬送機構48から略等距離の位置に配置される。具体的には、平面視において、第1搬送機構46と第2載置部41との間の距離は、第2搬送機構48と第2載置部41との間の距離と等しい。
【0113】
第1処理部34は、基板Wを1枚ずつ処理する複数(例えば2つ)の第1処理ユニット35を備える。第1処理ユニット35は、エッジ露光処理ユニットである。各第1処理ユニット35は、1枚の基板Wにエッジ露光処理を行う。1つの第1処理ユニット35は、第1搬送機構46の右方に配置される。第1搬送機構46の右方に配置される第1処理ユニット35は、第1右処理部34Rに属する。残りの1つの第1処理ユニット35は、第1搬送機構46の左方に配置される。第1搬送機構46の左方に配置される第1処理ユニット35は、第1左処理部34Lに属する。
【0114】
各第1処理ユニット35は、回転保持部36aと光照射部36bを備える。回転保持部36aは、1枚の基板Wを水平姿勢で保持する。回転保持部36aは、保持した基板Wを回転可能である。基板Wの回転軸線は、上下方向Zと略平行である。光照射部36bは、回転保持部36aに保持された基板Wの周縁部に光を照射する。光照射部36bが照射する光によって、基板Wの周縁部は露光される。
【0115】
第2処理部37は、基板Wを1枚ずつ処理する複数(例えば9つ)の第2処理ユニット38を備える。第2処理ユニット38は、熱処理ユニットである。各第2処理ユニット38は、1枚の基板Wに熱処理を行う。
【0116】
図7、8を参照する。5つの第2処理ユニット38は、第2搬送機構48の右方に配置される。第2搬送機構48の右方に配置される全ての第2処理ユニット38は、第2右処理部37Rに属する。第2右処理部37Rに属する全ての第2処理ユニット38は、上下方向Zに1列に並ぶように配置される。
【0117】
図5、8を参照する。残りの4つの第2処理ユニット38は、第2搬送機構48の左方に配置される。第2搬送機構48の左方に配置される全ての第2処理ユニット38は、第2左処理部37Lに属する。第2左処理部37Lに属する全ての第2処理ユニット38は、上下方向Zに1列に並ぶように配置される。
【0118】
図4、8を参照する。各第2処理ユニット38は、第1プレート39aと第2プレート39bを備える。第1プレート39aは、1枚の基板Wを水平姿勢で載置する。第2プレート39bは、1枚の基板Wを水平姿勢で載置する。第1プレート39aと第2プレート39bは、幅方向Yに並ぶように配置される。第1プレート39aは、第2プレート39bよりも、搬送スペース45に近い位置に配置される。各第2処理ユニット38は、不図示のローカル搬送機構を備える。ローカル搬送機構は、第1プレート39aと第2プレート39bとの間で、基板Wを搬送する。各第2処理ユニット38は、さらに、不図示の温調機器を備える。温調機器は、第2プレート39bに取り付けられる。温調機器は、第2プレート39bの温度を調節する。温調機器は、例えば、ヒータである。このため、第2プレート39bは、第2プレート39b上に載置された基板Wを所定の温度に加熱できる。
【0119】
図5、8を参照する。第2載置部41は、複数(例えば2つ)のプレート42a、42bを有する。各プレート42a、42bは、1枚の基板Wを水平姿勢で載置する。プレート42a、42bは、上下方向Zに並ぶように配置される。プレート42bは、プレート42aの下方に配置される。プレート42bは、平面視で、プレート42aと重なる。
【0120】
図5、7、8を参照する。基板処理装置1は、複数の第1スロット43a-43jと複数の第2スロット44a-44jを備える。第1スロット43a-43jは、第1処理ユニット35および第2載置部41を設置するための棚またはステーとして機能する。第2スロット44a-44jは、第2処理ユニット38および第2載置部41を設置するための棚またはステーとして機能する。
【0121】
第1スロット43a-43jは、第1搬送機構46の側方に配置される。第2スロット44a-44jは、第2搬送機構48の側方に配置される。第2スロット44a-44jは、第1スロット43a-43jの後方に配置される。
【0122】
図7、8を参照する。第1スロット43a-43eは、第1搬送機構46の右方の位置に配置される。第1スロット43a-43eは、上下方向Zに1列に並ぶ。第1スロット43a、43b、43c、43d、43eは、この順番で上から下に配置される。第1スロット43aは、第1スロット43a-43eの中で最も高い位置に配置される。第1スロット43eは、第1スロット43a-43eの中で最も低い位置に配置される。
【0123】
図5、8を参照する。第1スロット43f-43jは、第1搬送機構46の左方の位置に配置される。第1スロット43f-43jは、上下方向Zに1列に並ぶ。第1スロット43f、43g、43h、43i、43jは、この順番で上から下に配置される。第1スロット43fは、第1スロット43f-43jの中で最も高い位置に配置される。第1スロット43jは、第1スロット43f-43jの中で最も低い位置に配置される。
【0124】
図7、8を参照する。第2スロット44a-44eは、第2搬送機構48の右方の位置に配置される。第2スロット44a-44eは、第1スロット43a-43eの後方の位置に配置される。第2スロット44a-44eは、上下方向Zに1列に並ぶ。第2スロット44a、44b、44c、44d、44eは、この順番で上から下に配置される。第2スロット44aは、第2スロット44a-44eの中で最も高い位置に配置される。第2スロット44eは、第2スロット44a-44eの中で最も低い位置に配置される。第2スロット44a-44eはそれぞれ、第1スロット43a-43eと同じ高さ位置に配置される。
【0125】
図5、8を参照する。第2スロット44f-44jは、第2搬送機構48の左方の位置に配置される。第2スロット44f-44jは、第1スロット43f-43jの後方の位置に配置される。第2スロット44f-44jは、上下方向Zに1列に並ぶ。第2スロット44f、44g、44h、44i、44jは、この順番で上から下に配置される。第2スロット44fは、第2スロット44f-44jの中で最も高い位置に配置される。第2スロット44jは、第2スロット44f-44jの中で最も低い位置に配置される。第2スロット44f-44jはそれぞれ、第1スロット43f-43jと同じ高さ位置に配置される。
【0126】
第1スロット43a-43jを区別しない場合には、「第1スロット43」と呼ぶ。第2スロット44a-44jを区別しない場合には、「第2スロット44」と呼ぶ。
【0127】
図5、7を参照する。1つの第1処理ユニット35は、上下方向Zに連続する第1スロット43、3つ分に相当する大きさを有する。第1右処理部34Rに属する第1処理ユニット35は、第1スロット43a-43cにわたって設置される。第1スロット43a、43bを隔てる水平な壁部、および、第1スロット43b、43cを隔てる水平な壁部は、省略されている。
第1左処理部34Lに属する第1処理ユニット35は、第1スロット43f-43hにわたって設置される。第1スロット43f、43gを隔てる水平な壁部、および、第1スロット43g、43hを隔てる水平な壁部は、省略されている。
【0128】
第1スロット43d、43e、43jは、空いている。第1処理ユニット35および第2載置部41のいずれも、第1スロット43d、43e、43jに設置されていない。
【0129】
図5、7、8を参照する。1つの第2処理ユニット38は、第2スロット44、1つ分に相当する大きさを有する。第2処理ユニット38はそれぞれ、第2スロット44a-44h、44jに設置される。
【0130】
第2載置部41は、第1スロット43iと第2スロット44iにわたって設置される。第2載置部41は、第1スロット43iと第2スロット44iにまたがって設置される。第1スロット43iと第2スロット44iを隔てる垂直な壁部は、省略されている。第2載置部41の第1部分41aは、第1スロット43i内に収まっている。第2載置部41の第2部分41bは、第2スロット44i内に収まっている。第2載置部41の第3部分41cは、第1スロット43iおよび第2スロット44iから、飛び出ている。
【0131】
第1スロット43a-43c、43f-43hは、本発明における、処理用第1スロットの例である。第1スロット43iは、本発明における載置用第1スロットの例である。第2スロット44a-44h、44jは、本発明における、処理用第2スロットの例である。第2スロット44iは、本発明における載置用第2スロットの例である。
【0132】
図6、9を参照する。図9は、第1ブロック31の平面図である。第1搬送機構46は、第1支柱47a、47bと第1昇降部47cと第1回転部47dと第1保持部47e、47fとを備える。第1支柱47a、47bは、上下方向Zに延びる。第1支柱47a、47bは、幅方向Yに並ぶように配置される。第1支柱47a、47bは、固定的に設けられる。具体的には、第1支柱47a、47bは、第1フレーム32に固定される。このため、第1支柱47a、47bは、移動不能である。より具体的には、第1支柱47a、47bは、第1フレーム32に対して移動不能である。第1昇降部47cは、第1支柱47a、47bに支持される。第1昇降部47cは、第1支柱47a、47bに対して移動可能である。第1昇降部47cは、上下方向Zに移動可能である。第1昇降部47cは、水平方向に移動不能である。第1回転部47dは、第1昇降部47cに支持される。第1回転部47dは、第1昇降部47cに対して、回転可能である。第1回転部47dは、第1軸線A1回りに回転可能である。第1軸線A1は、上下方向Zと平行である。第1回転部47dは、水平方向に移動不能である。第1軸線A1は、水平方向に移動不能である。第1保持部47e、47fは、第1回転部47dに支持される。第1保持部47e、47fは、第1回転部47dに対して、水平方向に進退移動可能である。第1保持部47e、47fは、互いに独立して、進退移動可能である。第1保持部47e、47fはそれぞれ、基板Wと接触する。第1保持部47e、47fはそれぞれ、1枚の基板Wを水平姿勢で保持する。
【0133】
図6、8、9を参照する。第2搬送機構48は、第2支柱49a、49bと第2昇降部49cと第2回転部49dと第2保持部49e、49fとを備える。第2支柱49a、49bは、上下方向Zに延びる。第2支柱49a、49bは、幅方向Yに並ぶように配置される。第2支柱49a、49bは、固定的に設けられる。具体的には、第2支柱49a、49bは、第1フレーム32に固定される。このため、第2支柱49a、49bは、移動不能である。より具体的には、第2支柱49a、49bは、第1フレーム32に対して移動不能である。第2昇降部49cは、第2支柱49a、49bに支持される。第2昇降部49cは、第2支柱49a、49bに対して移動可能である。第2昇降部49cは、上下方向Zに移動可能である。第2昇降部49cは、水平方向に移動不能である。第2回転部49dは、第2昇降部49cに支持される。第2回転部49dは、第2昇降部49cに対して、回転可能である。第2回転部49dは、第2軸線A2回りに回転可能である。第2軸線A2は、上下方向Zと平行である。第2軸線A2は、水平方向に移動不能である。第2回転部49dは、水平方向に移動不能である。第2保持部49e、49fは、第2回転部49dに支持される。第2保持部49e、49fは、第2回転部49dに対して、水平方向に進退移動可能である。第2保持部49e、49fは、互いに独立して、進退移動可能である。第2保持部49e、49fはそれぞれ、基板Wと接触する。第2保持部49e、49fはそれぞれ、1枚の基板Wを水平姿勢で保持する。
【0134】
図5、7を参照する。各第1処理ユニット35は、側面視において、第1軸線A1と重なる位置に配置される。すなわち、全ての第1処理ユニット35は、側面視において、第1軸線A1と重なる。各第2処理ユニット38は、側面視において、第2軸線A2と重なる位置に配置される。すなわち、全ての第2処理ユニット38は、側面視において、第2
軸線A2と重なる。
【0135】
図9を参照する。図9は、第1軸線A1と第2軸線A2を結ぶ仮想直線Lを示す。仮想直線Lは、平面視において、前後方向Xと平行である。第2載置部41は、平面視において、仮想直線Lと重ならない位置に配置される。第2載置部41は、平面視において、仮想直線Lの左方に配置される。
【0136】
平面視において、第1軸線A1と第2軸線A2との間の距離D1は、基板の半径rの5倍以下である。平面視において、第1軸線A1と第2軸線A2との間の距離D1は、基板の半径rの4倍以上である。
【0137】
平面視において、第2載置部41は、第1軸線A1および第2軸線A2から略等距離の位置に配置される。具体的には、平面視において、第1軸線A1と第2載置部41との距離は、第2軸線A2と第2載置部41との距離と略等しい。
【0138】
第2載置部41に載置される基板Wの中心点を、「点P1」と呼ぶ。平面視において、第1軸線A1と点P1との間の距離D2は、第2軸線A2と点P1との間の距離D3と略等しい。
【0139】
平面視において、第1軸線A1は、第2載置部41および第1処理部34から略等距離の位置に配置される。具体的には、平面視において、第1軸線A1と第2載置部41との距離は、第1軸線A1と第1処理部34との距離と略等しい。
【0140】
回転保持部36aに載置される基板Wの中心点を、「点P2」と呼ぶ。平面視において、第1軸線A1と点P1との距離D2は、第1軸線A1と点P2との距離D4と略等しい。
【0141】
平面視において、第2軸線A2は、第2載置部41および第2処理部37から略等距離の位置に配置される。具体的には、平面視において、第2軸線A2と第2載置部41との距離は、第2軸線A2と第2処理部37との距離と略等しい。
【0142】
第1プレート39aに載置される基板Wの中心点を、「点P3」と呼ぶ。平面視において、第2軸線A2と点P1との距離D3は、第2軸線A2と点P3との距離D5と略等しい。
【0143】
図4、9を参照する。基板処理装置1は、さらに、空間Eを備える。空間Eは、第1ブロック31に形成される。空間Eは、第2処理部37の後方に形成される。空間Eは、搬送スペース45の側方に形成される。
【0144】
空間Eは、空間E1、E2を含む。空間E1は、第2右処理部37Rの後方、かつ、搬送スペース45の右方に形成される。空間E2は、第2左処理部37Lの後方、かつ、搬送スペース45の左方に形成される。
【0145】
<第2ブロック61>
図4-7、10を参照する。図10は、第2ブロック61の構成を示す背面図である。第2ブロック61は、略箱形状を有する。第2ブロック61は、平面視、側面視および正面視において、略矩形である。
【0146】
第2ブロック61は、第2フレーム62を有する。第2フレーム62は、第2ブロック61の骨組み(骨格)として、設けられる。第2フレーム62は、第2ブロック61の形状を画定する。第2フレーム62は、例えば、金属製である。
【0147】
第2フレーム62は、第1フレーム32に連結される。第2フレーム62は、第3処理部64と第3搬送機構68を支持する。
【0148】
基板処理装置1は、搬送スペース67を備える。搬送スペース67は、第2ブロック61に形成される。搬送スペース67は、第3処理部64の側方に形成される。より具体的には、搬送スペース67は、幅方向Yにおける第2ブロック61の中央部に形成される。搬送スペース67は、第2ブロック61の前部から第2ブロック61の後部まで前後方向Xに延びる。搬送スペース67は、搬送スペース45と接する。
【0149】
第3搬送機構68は、搬送スペース67に設置される。第3搬送機構68は、第2搬送機構48の後方に配置される。第1搬送機構46と第2搬送機構48と第3搬送機構68は、前後方向Xに1列に並ぶように配置される。
【0150】
第3処理部64は、搬送スペース67の側方に配置される。第3処理部64は、第3搬送機構68の側方に配置される。より詳しくは、第3処理部64は、第3搬送機構68の右方の位置および第3搬送機構68の左方の位置に配置される。第3搬送機構68の右方の位置に配置される第3処理部64を、「第3右処理部64R」と呼ぶ。第3搬送機構68の左方の位置に配置される第3処理部64を、「第3左処理部64L」と呼ぶ。
【0151】
前後方向Xにおける第3右処理部64Rの長さG1は、前後方向Xにおける第3左処理部64Lの長さG2よりも小さい。前後方向Xにおける第3右処理部64Rの長さG1は、前後方向Xにおける第3左処理部64Lの長さG2よりも500[mm]以上、小さいことが好ましい。前後方向Xにおける第3左処理部64Lの長さG2は、前後方向Xにおける第3右処理部64Rの長さG1の約1.5倍である。
【0152】
第3右処理部64Rは、本発明における第3短処理部の例である。第3左処理部64Lは、本発明における第3長処理部の例である。
【0153】
基板処理装置1は、空間Fを備える。空間Fは、第2ブロック61に形成される。空間Fは、第3右処理部64Rの前方に形成される。空間Fは、搬送スペース67の右方に形成される。空間Fは、第3搬送機構68の右方に形成される。空間Fは、搬送スペース67を挟んで、第3左処理部64Lと向かい合っている。空間Fは、人(例えば、基板処理装置1のオペレータ)が入ることができる程度の大きさを有することが好ましい。
【0154】
空間Fは、本発明におけるメンテナンス空間の例である。
【0155】
第3処理部64は、第2処理部37の後方に配置される。第3右処理部64Rは、第2右処理部37Rの後方に配置される。第1右処理部34Rと第2右処理部37Rと第3右処理部64Rは、前後方向Xに1列に並ぶ。第3左処理部64Lは、第2左処理部37Lの後方に配置される。第1左処理部34Lと第2左処理部37Lと第3左処理部64Lは、前後方向Xに1列に並ぶ。
【0156】
空間Eと空間Fは、第2処理部37と第3処理部64との間に配置される。空間E1と空間Fは、第2右処理部37Rと第3右処理部64Rとの間に配置される。第2右処理部37Rと空間E1と空間Fと第3右処理部64Rは、この順番で一列に並ぶ。空間E2は、第2左処理部37Lと第3左処理部64Lとの間に配置される。第2左処理部37Lと空間E2と第3左処理部64Lは、この順番で一列に並ぶ。
【0157】
空間Eと空間Fは、本発明における遮熱空間の例である。空間Fは、本発明におけるメンテナンス空間および遮熱空間を兼ねる。
【0158】
基板処理装置1は、点検口71と蓋部72を有する。点検口71は、第2ブロック61に形成される。点検口71は、第2ブロック61の右壁部に形成される開口である。点検口71は、作業者が通過できる程度に大きいことが好ましい。蓋部72は、第2ブロック61に取り付けられている。蓋部72は、第2ブロック61の右壁部に取り付けられている。蓋部72は、第2ブロック61に対して回動可能である。蓋部72は、点検口71を開閉可能である。
【0159】
第3処理部64は、基板Wを1枚ずつ処理する複数(例えば10個)の第3処理ユニット65を備える。各第3処理ユニット65は、1枚の基板Wに液処理を行う。より詳しくは、各第3処理ユニット65は、1枚の基板Wに現像処理を行う。
【0160】
図7を参照する。4つの第3処理ユニット65は、第3搬送機構68の右方に配置される。第3搬送機構68の右方に配置される全ての第3処理ユニット65は、第3右処理部64Rに属する。
【0161】
第3右処理部64Rに属する第3処理ユニット65は、前後方向Xおよび上下方向Zに行列状に配置される。2つの第3処理ユニット65が、第3右処理部64Rの上段に配置される。残りの2つの第3処理ユニット65が、第3右処理部64Rの下段に配置される。第3右処理部64Rの上段に配置される2つの第3処理ユニット65は、前後方向Xに並ぶように配置される。第3右処理部64Rの下段に配置される2つの第3処理ユニット65は、前後方向Xに並ぶように配置される。第3右処理部64Rの下段に配置される2つの第3処理ユニット65は、平面視において、第3右処理部64Rの上段に配置される2つの第3処理ユニット65と重なる。
【0162】
図5を参照する。残りの6つの第3処理ユニット65は、第3搬送機構68の左方に配置される。第3搬送機構68の左方に配置される全ての第3処理ユニット65は、第3左処理部64Lに属する。
【0163】
第3左処理部64Lに属する第3処理ユニット65は、前後方向Xおよび上下方向Zに行列状に配置される。3つの第3処理ユニット65が、第3左処理部64Lの上段に配置される。残りの3つの第3処理ユニット65が、第3左処理部64Lの下段に配置される。第3左処理部64Lの上段に配置される3つの第3処理ユニット65は、前後方向Xに並ぶように配置される。第3左処理部64Lの下段に配置される3つの第3処理ユニット65は、前後方向Xに並ぶように配置される。第3左処理部64Lの下段に配置される3つの第3処理ユニット65は、平面視において、第3左処理部64Lの上段に配置される3つの第3処理ユニット65と重なる。
【0164】
各第3処理ユニット65は、回転保持部66aとノズル66bとカップ66cを備える。回転保持部66aは、1枚の基板Wを水平姿勢で保持する。回転保持部66aは、保持した基板Wを回転可能である。基板Wの回転軸線は、上下方向Zと略平行である。ノズル66bは、処理液を基板Wに吐出する。処理液は、例えば、現像液である。ノズル66bは、処理液を処理位置と退避位置に移動可能に設けられる。処理位置は、回転保持部66aに保持された基板Wの上方の位置である。処理位置は、平面視において、回転保持部66aに保持された基板Wと重なる位置である。退避位置は、平面視において、回転保持部66aに保持された基板Wと重ならない位置である。カップ66cは、回転保持部66aの周囲に配置される。カップ66cは、処理液を回収する。
【0165】
基板処理装置1は、複数のチャンバ(筐体)72a-72dを備える。チャンバ72a-72dは、搬送スペース67の側方に配置される。
【0166】
図7、10を参照する。チャンバ72a、72bは、搬送スペース67の右方の位置に配置される。チャンバ72a、72bは、上下方向Zに並ぶように配置される。チャンバ72bは、チャンバ72aの下方に配置される。チャンバ72aは、第3右処理部64Rの上段に配置される2つの第3処理ユニット65を収容する。チャンバ72bは、第3右処理部64Rの下段に配置される2つの第3処理ユニット65を収容する。
【0167】
図5、10を参照する。チャンバ72c、72dは、搬送スペース67の左方の位置に配置される。チャンバ72c、72dは、上下方向Zに並ぶように配置される。チャンバ72dは、チャンバ72cの下方に配置される。チャンバ72cは、第3左処理部64Lの上段に配置される3つの第3処理ユニット65を収容する。チャンバ72dは、第3左処理部64Lの下段に配置される3つの第3処理ユニット65を収容する。
【0168】
図4、6、10を参照する。第3搬送機構68は、第3支柱69a、69bと、第3昇降部69cと、第3前後動部69dと、第3回転部69eと、第3保持部69f、69gとを備える。第3支柱69a、69bは、上下方向Zに延びる。第3支柱69a、69bは、前後方向Xに並ぶように配置される。第3支柱69a、69bは、第3右処理部64Rよりも第3左処理部64Lに近い位置に配置される。第3支柱69aは、搬送スペース67の左前部に配置される。第3支柱69bは、搬送スペース67の左後部に配置される。第3支柱69a、69bは、固定的に設けられる。具体的には、第3支柱69a、69bは、第2フレーム62に固定される。このため、第3支柱69a、69bは、移動不能である。より具体的には、第3支柱69a、69bは、第2フレーム62に対して移動不能である。第3昇降部69cは、前後方向Xに延びる。第3昇降部69cは、第3支柱69a、69bに支持される。第3昇降部69cは、第3支柱69a、69bに対して移動可能である。第3昇降部69cは、上下方向Zに移動可能である。第3昇降部69cは、水平方向に移動不能である。前後動部69dは、第3昇降部69cに支持される。前後動部69dは、第3昇降部69cに対して移動可能である。前後動部69dは、前後方向Xに移動可能である。第3回転部69eは、前後動部69dに支持される。このため、第3回転部69eは、前後方向Xに移動可能である。第3回転部69eは、前後動部69dに対して、回転可能である。第3回転部69eの回転軸線は、上下方向Zと平行である。第3回転部69eの回転軸線は、前後方向Xに移動可能である。第3保持部69f、69gは、第3回転部69eに支持される。第3保持部69f、69gは、第3回転部69eに対して、水平方向に進退移動可能である。第3保持部69f、69gは、互いに独立して、進退移動可能である。第3保持部69f、69gはそれぞれ、基板Wと接触する。第3保持部69f、69gはそれぞれ、1枚の基板Wを水平姿勢で保持する。
【0169】
<第1載置部21と第3載置部51>
第1載置部21は、インデクサ部11と第1ブロック31にわたって配置される。第1載置部21は、インデクサ部11の搬送スペース13と第1ブロック31の搬送スペース45にまたがって配置される。第1載置部21の一部は、インデクサ部11の搬送スペース13に配置される。第1載置部21の残りの部分は、第1ブロック31の搬送スペース45に配置される。
【0170】
第1載置部21は、インデクサ用搬送機構14Aの後方かつ左方に配置される。第1載置部21は、インデクサ用搬送機構14Bの後方かつ右方に配置される。第1載置部21は、インデクサ用搬送機構14A、14Bから略等距離の位置に配置される。具体的には、平面視において、インデクサ用搬送機構14Aと第1載置部21との間の距離は、インデクサ用搬送機構14Bと第1載置部21との間の距離と等しい。
【0171】
第1載置部21は、第1搬送機構46の前方に配置される。第1載置部21と第1搬送機構46と第2搬送機構48は、前後方向Xに1列に並ぶ。
【0172】
第3載置部51は、第1ブロック31と第2ブロック61にわたって配置される。第3載置部51は、第1ブロック31の搬送スペース45と第2ブロック61の搬送スペース67にまたがって配置される。第3載置部51の一部は、第1ブロック31の搬送スペース45に配置される。第3載置部51の残りの部分は、第2ブロック61の搬送スペース67に配置される。
【0173】
第3載置部51は、第2搬送機構48の後方に配置される。第1搬送機構46と第2搬送機構48と第3載置部51は、前後方向Xに一列に並ぶ。
【0174】
第3載置部51は、第3搬送機構68の前方に配置される。第2搬送機構48と第3載置部51と第3搬送機構68は、前後方向Xに一列に並ぶ。
【0175】
図6を参照する。第1載置部21は、複数のプレート22a、22bを有する。各プレート22a、22bは、1枚の基板Wを水平姿勢で載置する。プレート22a、22bは、上下方向Zに並ぶように配置される。プレート22bは、プレート22aの下方に配置される。プレート22bは、平面視で、プレート22aと重なる。
【0176】
第3載置部51は、複数のプレート52a、52bを有する。各プレート52a、52bは、1枚の基板Wを水平姿勢で載置する。プレート52a、52bは、上下方向Zに並ぶように配置される。プレート52bは、プレート52aの下方に配置される。プレート52bは、平面視で、プレート52aと重なる。
【0177】
<搬送機構>
図4を参照する。第1、第2、第3搬送機構46、48、68がアクセス可能な載置部および処理部を以下にまとめる。さらに、各第1、第2、第3搬送機構46、48、68がアクセス不能な載置部および処理部を以下にまとめる。
【0178】
第1搬送機構46は、第1載置部21にアクセス可能である。第1搬送機構46は、第1載置部21のプレート22a、22bにアクセス可能である。第1搬送機構46は、各第1処理ユニット35にアクセス可能である。第1搬送機構46は、各第1処理ユニット35の回転保持部36aにアクセス可能である。第1搬送機構46は、第2載置部41にアクセス可能である。第1搬送機構46は、第2載置部41のプレート42a、42bにアクセス可能である。
【0179】
第2搬送機構48は、第2載置部41にアクセス可能である。第2搬送機構48は、第2載置部41のプレート42a、42bにアクセス可能である。第2搬送機構48は、各第2処理ユニット38にアクセス可能である。第2搬送機構48は、各第2処理ユニット38の第1プレート39aにアクセス可能である。第2搬送機構48は、第3載置部51にアクセス可能である。第2搬送機構48は、第3載置部51のプレート52a、52bにアクセス可能である。
【0180】
第3搬送機構68は、第3載置部51にアクセス可能である。第3搬送機構68は、第3載置部51のプレート52a、52bにアクセス可能である。第3搬送機構68は、各第3処理ユニット65にアクセス可能である。第3搬送機構68は、各第3処理ユニット65の回転保持部66aにアクセス可能である。
【0181】
図4は、第1搬送機構46が基板Wを搬送可能な第1領域B1を一点鎖線で示す。第1搬送機構46の第1領域B1は、平面視において、略円形である。第1領域B1の中心は、平面視において、第1軸線A1と略一致する。第2処理部37の第1プレート39aの少なくとも一部は、第1搬送機構46の第1領域B1の外に配置される。このように、第2処理部37は、実質的に、第1搬送機構46の第1領域B1の外に配置される。すなわち、第1搬送機構46は、第2処理部37にアクセス不能である。第3処理部64は、平面視において、第1搬送機構46の第1領域B1の外に配置される。すなわち、第1搬送機構46は、第3処理部64にアクセス不能である。
【0182】
図4は、第2搬送機構48が基板Wを搬送可能な第2領域B2を一点鎖線で示す。第2搬送機構48の第2領域B2は、平面視において、略円形である。第2領域B2の中心は、平面視において、第2軸線A2と略一致する。第1処理部34の回転保持部36aは、第2搬送機構48の第2領域B2の外に配置される。すなわち、第2搬送機構48は、第1処理部34にアクセス不能である。第3処理部64は、平面視において、第2搬送機構48の第2領域B2の外に配置される。すなわち、第2搬送機構48は、第3処理部64にアクセス不能である。
【0183】
図4は、第3搬送機構68が基板Wを搬送可能な第3領域B3を一点鎖線で示す。第3搬送機構68の第3領域B3は、平面視において、前後方向Xに長い。平面視において、前後方向Xにおける第3領域B3の長さは、幅方向Yにおける第3領域B3の長さよりも大きい。第1処理部34および第2処理部37は、第3搬送機構68の第3領域B3の外に配置される。すなわち、第3搬送機構68は、第1処理部34および第2処理部37にアクセス不能である。
【0184】
<第1実施形態の他の効果>
第1実施形態の主たる効果は、上述した通りである。以下、第1実施形態のその他の効果を説明する。
【0185】
第1処理部34は、第2搬送機構48の第2領域B2の外に配置される。このため、第1搬送機構46は、第2搬送機構48と干渉することなく、第1処理部34にアクセスできる。
【0186】
第1処理部34は、第3搬送機構68の第3領域B3の外に配置される。このため、第1搬送機構46は、第3搬送機構68と干渉することなく、第1処理部34にアクセスできる。
【0187】
第2処理部37は、第1搬送機構46の第1領域B1の外に配置される。よって、第2搬送機構48は、第1搬送機構46と干渉することなく、第2処理部37にアクセスできる。
【0188】
第2処理部37は、第3搬送機構68の第3領域B3の外に配置される。よって、第2搬送機構48は、第3搬送機構68と干渉することなく、第2処理部37にアクセスできる。
【0189】
第3処理部64は、第1搬送機構46の第1領域B1の外に配置される。よって、第3搬送機構68は、第1搬送機構46と干渉することなく、第3処理部64にアクセスできる。
【0190】
第3処理部64は、第2搬送機構48の第2領域B2の外に配置される。よって、第3搬送機構68は、第2搬送機構48と干渉することなく、第3処理部64にアクセスできる。
【0191】
第1搬送機構46の第1領域B1は、平面視において、略円形である。このため、第1搬送機構46は第1アクセス動作と第2アクセス動作と第3アクセス動作を効率良く行うことができる。よって、第1搬送機構46は、第1サイクル動作を効率良く行うことができる。すなわち、第1搬送機構46の搬送効率は一層高い。
【0192】
第2搬送機構48の第2領域B2は、平面視において、略円形である。このため、第2搬送機構48は第4アクセス動作と第5アクセス動作と第6アクセス動作を効率良く行うことができる。よって、第2搬送機構48は、第2サイクル動作を効率良く行うことができる。すなわち、第2搬送機構48の搬送効率は一層高い。
【0193】
第1搬送機構46はインデクサ部11の後方に配置される。このため、インデクサ部11と第1搬送機構46との間で基板Wを好適に搬送できる。第2搬送機構48は、第1搬送機構46の後方に配置される。このため、第1搬送機構46と第2搬送機構48との間で基板Wを好適に搬送できる。第3搬送機構68は、第2搬送機構48の後方に配置される。このため、第2搬送機構48と第3搬送機構68との間で基板Wを好適に搬送できる。
【0194】
第1載置部21は、インデクサ部11と第1搬送機構46との間に配置される。第2載置部41は、第1搬送機構46と第2搬送機構48との間に配置される。第3載置部51は、第2搬送機構48と第3搬送機構68との間に配置される。このため、第1搬送機構46は第1載置部21と第2載置部41に容易にアクセスできる。第2搬送機構48は、第2載置部41と第3載置部51に容易にアクセスできる。第3搬送機構68は、第3載置部51に容易にアクセスできる。
【0195】
第1処理部34は、第1搬送機構46の側方に配置される。このため、第1搬送機構46は、第1処理部34に容易にアクセスできる。第2処理部37は、第2搬送機構48の側方に配置される。このため、第2搬送機構48は、第2処理部37に容易にアクセスできる。第3処理部64は、第3搬送機構68の側方に配置される。このため、第3搬送機構68は、第3処理部64に容易にアクセスできる。
【0196】
第2載置部41は、第1搬送機構46の側方かつ後方の位置に配置される。第2載置部41は、第2搬送機構48の側方かつ前方の位置に配置される。これによれば、前後方向Xにおける第1搬送機構46と第2搬送機構48の間隔距離を小さくできる。よって、基板処理装置1の設置面積(フットプリント)を小さくできる。
【0197】
第1回転部47dは、水平方向に移動不能に設けられる。このため、第1搬送機構46は第1アクセス動作と第2アクセス動作と第3アクセス動作を効率良く行うことができる。よって、第1搬送機構46は、第1サイクル動作を効率良く行うことができる。
【0198】
各第1処理ユニット35は、側面視において、第1搬送機構46の第1軸線A1と重なる位置に配置される。このため、第1搬送機構46は、第1処理部34に容易にアクセスできる。
【0199】
第2回転部49dは、水平方向に移動不能に設けられる。このため、第2搬送機構48は第4アクセス動作と第5アクセス動作と第6アクセス動作を効率良く行うことができる。よって、第2搬送機構48は、第2サイクル動作を効率良く行うことができる。
【0200】
各第2処理ユニット38は、側面視において、第2搬送機構48の第2軸線A2と重なる位置に配置される。このため、第2搬送機構48は、第2処理部37に容易にアクセスできる。
【0201】
5つの第2処理ユニット38は、第2搬送機構48の右方の位置において、上下方向Zに1列に並ぶように配置される。よって、第2搬送機構48は、第2搬送機構48の右方に配置される各第2処理ユニット38に容易にアクセスできる。ここで、第2処理ユニット38は熱処理ユニットである。よって、第2搬送機構48は、第2搬送機構48の右方に配置される各熱処理ユニットに容易にアクセスできる。
【0202】
4つの第2処理ユニット38は、第2搬送機構48の左方の位置において、上下方向Zに1列に並ぶように配置される。よって、第2搬送機構48は、第2搬送機構48の左方に配置される各熱処理ユニットに容易にアクセスできる。
【0203】
平面視において、第1搬送機構46の第1軸線A1と第2搬送機構48の第2軸線A2との間の距離D1は、基板Wの半径rの5倍以下である。このため、第1搬送機構46と第2搬送機構48の間隔距離を小さくできる。よって、基板処理装置1の設置面積を小さくできる。
【0204】
第2載置部41は、平面視において、第1搬送機構46の第1軸線A1と第2搬送機構48の第2軸線A2を結ぶ仮想直線Lと重ならない位置に配置される。このため、第1搬送機構46と第2搬送機構48の間隔距離を好適に小さくできる。
【0205】
平面視において、第1搬送機構46の第1軸線A1と第2載置部41との間の距離は、第2搬送機構48の第2軸線A2と第2載置部41との間の距離と略等しい。このため、第1搬送機構46および第2搬送機構48はそれぞれ、第2載置部41に容易にアクセスできる。
【0206】
第2載置部41は、平面視において、第1処理部34と重なる第1部分41aと、平面視において、第2処理部37と重なる第2部分41bを有する。このため、第1搬送機構46と第2搬送機構48との間隔距離を小さくできる。さらに、第1搬送機構46および第2搬送機構48はそれぞれ、第2載置部41に容易にアクセスできる。
【0207】
第2載置部41は、平面視において、第1処理部34および第2処理部37と重ならない第3部分41cを有する。このため、第1搬送機構46および第2搬送機構48はそれぞれ、第2載置部41に一層容易にアクセスできる。
【0208】
第2載置部41の第3部分41cは、平面視において、第1搬送機構46および第2搬送機構48が設置される搬送スペース45と重なる。このため、第1搬送機構46および第2搬送機構48はそれぞれ、第2載置部41に一層容易にアクセスできる。
【0209】
基板処理装置1は、第1スロット43a-43c、43f-43hを備えているので、第1処理部34(具体的には第1処理ユニット35)を好適に設置できる。
【0210】
基板処理装置1は、第2スロット44a-44h、44jを備えているので、第2処理部37(具体的には第2処理ユニット38)を好適に設置できる。
【0211】
基板処理装置1は、第1スロット43iと第2スロット44iを備えているので、第2載置部41を好適に設置できる。
【0212】
このように、第1スロット43a-43jの一部(すなわち、第1スロット43i)と、第2スロット44a-44jの一部(すなわち、第2スロット44i)を活用して、第2載置部41を好適に設置できる。
【0213】
第1スロット43f-43jは、上下方向Zに1列に並ぶ。第1スロット43iは、第1スロット43f-43jの中で最も高い位置に配置されるものではなく、かつ、最も低い位置に配置されるものではない。第2スロット44f-44jは、上下方向Zに1列に並ぶ。第2スロット44iは、第2スロット44f-44jの中で最も低い位置に配置されるものではなく、かつ、最も低い位置に配置されるものではない。したがって、第1搬送機構46は、第2載置部41に一層容易にアクセスできる。具体的には、第2載置部41にアクセスするときの第1搬送機構46の昇降量を小さくできる。同様に、第2搬送機構48は、第2載置部41に一層容易にアクセスできる。
【0214】
第1処理部34は、エッジ露光処理部である。第2処理部37は、熱処理部である。第3処理部64は、液処理部である。したがって、インデクサ部11に比較的に近い位置に、エッジ露光処理部と熱処理部を設置できる。インデクサ部11から比較的に遠い位置に、液処理部を設置できる。
【0215】
基板処理装置1は、第2処理部37から第3処理部64を隔てる空間E、Fを備える。このため、第3処理部64が第2処理部37から受ける熱的な影響を効果的に低減できる。
【0216】
基板処理装置1は、空間Fを備える。このため、基板処理装置1を好適にメンテナンスできる。
【0217】
前後方向Xにおける第3右処理部64Rの長さG1は、前後方向Xにおける第3左処理部64Lの長さG2よりも小さい。よって、空間Fを容易に形成できる。
【0218】
第1ブロック31は、第1処理部34および第2処理部37を収容する。第2ブロック61は第3処理部64を収容する。すなわち、熱処理部(第2処理部37)と液処理部(第3処理部64)は、同じブロックに収容されない。よって、熱処理部(第2処理部37)と液処理部(第3処理部64)をそれぞれ好適に配置できる。
【0219】
基板処理装置1は、第1フレーム32を備える。このため、第1フレーム32によって、第1ブロック31を好適に構成できる。
【0220】
基板処理装置1は、第2フレーム62を備える。このため、第2フレーム62によって、第2ブロック61を好適に構成できる。
【0221】
[第2実施形態]
図面を参照して、第2実施形態の基板処理装置1を説明する。なお、第1実施形態と同じ構成については同符号を付すことで詳細な説明を省略する。
【0222】
<基板処理装置の概要>
図11(a)、(b)はそれぞれ、第2実施形態の基板処理装置1の平面図である。第2実施形態の基板処理装置1は、階層構造を有する。基板処理装置1は、上階層90Tと下階層90Bを備える。下階層90Bは上階層90Tの下方に配置される。下階層90Bは、平面視において上階層90Tと重なる。
【0223】
上階層90Tおよび下階層90Bはそれぞれ、第1搬送機構46と第2搬送機構48と第3搬送機構68と第1処理部34と第2処理部37と第3処理部64と第1載置部21と第2載置部41と第3載置部51を備える。上階層90Tと下階層90Bはそれぞれ、基板Wの搬送、および、基板Wに対する処理を並行して実行する。
【0224】
<インデクサ部11>
図11(a)、11(b)、12、13、14を参照する。図12は、基板処理装置1の左部の構成を示す左側面図である。図13は、幅方向Yにおける基板処理装置1の中央部の構成を示す左側面図である。図14は、基板処理装置1の右部の構成を示す右側面図である。インデクサ部11は、キャリア載置部12A、12Bに加えて、キャリア載置部12C、12Dを備える。キャリア載置部12Cは、キャリア載置部12Aの上方に配置される。キャリア載置部12Dは、キャリア載置部12Bの上方に配置される。キャリア載置部12C、12Dはそれぞれ、1つのキャリアCを載置する。
【0225】
キャリア載置部12C上のキャリアCを、適宜に「キャリアCC」と記載する。キャリア載置部12D上のキャリアCを、適宜に「キャリアCD」と記載する。
【0226】
インデクサ用搬送機構14Aは、キャリア載置部12A、12Cに載置されるキャリアCA、CCにアクセスする。インデクサ用搬送機構14Bは、キャリア載置部12B、12Dに載置されるキャリアCB、CDにアクセスする。
【0227】
図11(a)に示されるインデクサ用搬送機構14Aは、図11(b)に示されるインデクサ用搬送機構14Aと同一物である。図11(a)に示されるインデクサ用搬送機構14Bは、図11(b)に示されるインデクサ用搬送機構14Bと同一物である。
【0228】
<第1ブロック31>
図11(a)、11(b)、12、13、14、15を参照する。図15は、第1ブロック31の構成(具体的には、第2処理部37と第2搬送機構48)を示す正面図である。基板処理装置1は、2基の第1搬送機構46を備える。2基の第1搬送機構46は、上下方向Zに並ぶように配置される。上方の第1搬送機構46を、「第1上搬送機構46T」と記載し、下方の第1搬送機構46を、「第1下搬送機構46B」と記載する。
【0229】
基板処理装置1は、2基の第2搬送機構48を備える。2基の第2搬送機構48は、上下方向Zに並ぶように配置される。上方の第2搬送機構48を、「第2上搬送機構48T」と記載し、下方の第2搬送機構48を、「第2下搬送機構48B」と記載する。
【0230】
図13、15を参照する。基板処理装置1は、隔壁91を備える。隔壁91は、第1ブロック31の搬送スペース45に設置される。隔壁91は、水平な板形状を有する。隔壁91は、搬送スペース45を、上搬送スペース45Tと下搬送スペース45Bに分離する。上搬送スペース45Tは、下搬送スペース45Bの上方に配置される。第1上搬送機構46Tと第2上搬送機構48Tは、上搬送スペース45Tに配置される。第1下搬送機構46Bと第2下搬送機構48Bは、下搬送スペース45Bに配置される。
【0231】
図11(a)、11(b)を参照する。第1処理部34は、第1上搬送機構46Tの側方および第1下搬送機構46Bの側方に配置される。第1上搬送機構46Tの側方に配置される第1処理部34を、「第1上処理部34T」と呼ぶ。第1下搬送機構46Bの側方に配置される第1処理部34を、「第1下処理部34B」と呼ぶ。
【0232】
第2処理部37は、第2上搬送機構48Tの側方および第2下搬送機構48Bの側方に配置される。第2上搬送機構48Tの側方に配置される第2処理部37を、「第2上処理部37T」と呼ぶ。第2下搬送機構48Bの側方に配置される第2処理部37を、「第2下処理部37B」と呼ぶ。
【0233】
図12、14を参照する。第1上処理部34Tは、隔壁91の上方に配置される。第1上搬送機構46Tは、第1上処理部34Tにアクセスする。第1下処理部34Bは、隔壁91の下方に配置される。第1下搬送機構46Bは、第1下処理部34Bにアクセスする。
【0234】
図12、14、15を参照する。第2上処理部37Tは、隔壁91の上方に配置される。第2上搬送機構48Tは、第2上処理部37Tにアクセスする。第2下処理部37Bは、隔壁91の下方に配置される。第2下搬送機構48Bは、第2下処理部37Bにアクセスする。
【0235】
第2載置部41は、第1上搬送機構46Tと第2上搬送機構48Tの間、および、第1下搬送機構46Bと第2下搬送機構48Bの間に配置される。第1上搬送機構46Tと第2上搬送機構48Tの間に配置される第2載置部41を、「第2上載置部41T」と呼ぶ。第1下搬送機構46Bと第2下搬送機構48Bの間に配置される第2載置部41を、「第2下載置部41B」と呼ぶ。
【0236】
第1上搬送機構46Tと第2上搬送機構48Tは、第2上載置部41Tにアクセスする。
第2上載置部41Tは、第1上搬送機構46Tと第2上搬送機構48Tとの間で搬送される基板Wを載置する。第1下搬送機構46Bと第2下搬送機構48Bは、第2下載置部41Bにアクセスする。第2下載置部41Bは、第1下搬送機構46Bと第2下搬送機構48Bとの間で搬送される基板Wを載置する。
【0237】
<第2ブロック61>
図11(a)、11(b)、12、13、14、16を参照する。図16は、第2ブロック61の構成を示す背面図である。基板処理装置1は、2基の第3搬送機構68を備える。2基の第3搬送機構68は、上下方向Zに並ぶように配置される。上方の第3搬送機構68を、「第3上搬送機構68T」と記載し、下方の第3搬送機構68を、「第3下搬送機構68B」と記載する。
【0238】
図13、16を参照する。基板処理装置1は、隔壁92を備える。隔壁92は、搬送スペース67に設置される。隔壁92は、水平な板形状を有する。隔壁92は、搬送スペース67を、上搬送スペース67Tと下搬送スペース67Bに分離する。上搬送スペース67Tは、下搬送スペース67Bの上方に配置される。第3上搬送機構68Tは、上搬送スペース67Tに配置される。第3下搬送機構68Bは、下搬送スペース67Bに配置される。
【0239】
図11(a)、11(b)を参照する。第3処理部64は、第3上搬送機構68Tの側方および第3下搬送機構68Bの側方に配置される。第3上搬送機構68Tの側方に配置される第3処理部64を、「第3上処理部64T」と呼ぶ。第3下搬送機構68Bの側方に配置される第3処理部64を、「第3下処理部64B」と呼ぶ。
【0240】
図12、14、16を参照する。第3上処理部64Tは、隔壁92の上方に配置される。第3上搬送機構68Tは、第3上処理部64Tにアクセスする。第3下処理部64Bは、隔壁92の下方に配置される。第3下搬送機構68Bは、第3下処理部64Bにアクセスする。
【0241】
<第1載置部21>
図11(a)、11(b)を参照する。第1載置部21は、インデクサ部11と第1上搬送機構46Tの間、および、インデクサ部11と第1下搬送機構46Bの間に配置される。インデクサ部11と第1上搬送機構46Tの間に配置される第1載置部21を、「第1上載置部21T」と呼ぶ。インデクサ部11と第1下搬送機構46Bの間に配置される第1載置部21を、「第1下載置部21B」と呼ぶ。
【0242】
第1上載置部21Tは、インデクサ部11の搬送スペース13と第1ブロック31の上搬送スペース45Tにまたがって配置される。第1下載置部21Bは、インデクサ部11の搬送スペース13と第1ブロック31の下搬送スペース45Bにまたがって配置される。インデクサ用搬送機構14Aは、第1上載置部21Tおよび第1下載置部21Bにアクセスする。インデクサ用搬送機構14Bは、第1上載置部21Tおよび第1下載置部21Bにアクセスする。第1上搬送機構46Tは、第1上載置部21Tにアクセスする。第1下搬送機構46Bは、第1下載置部21Bにアクセスする。第1上載置部21Tは、インデクサ部11(すなわち、インデクサ用搬送機構14A、14B)と第1上搬送機構46Tとの間で搬送される基板Wを載置する。第1下載置部21Bは、インデクサ部11(すなわち、インデクサ用搬送機構14A、14B)と第1下搬送機構46Bとの間で搬送される基板Wを載置する。
【0243】
<第3載置部51>
第3載置部51は、第2上搬送機構48Tと第3上搬送機構68Tの間、および、第2下搬送機構48Bと第3下搬送機構68Bの間に配置される。第2上搬送機構48Tと第3上搬送機構68Tの間に配置される第3載置部51を、「第3上載置部51T」と呼ぶ。第2下搬送機構48Bと第3下搬送機構68Bの間に配置される第3載置部51を、「第3下載置部51B」と呼ぶ。第3上載置部51Tは、第1ブロック31の上搬送スペース45Tと第2ブロック61の上搬送スペース67Tにまたがって配置される。第3下載置部51Bは、第1ブロック31の下搬送スペース45Bと第2ブロック61の下搬送スペース67Bにまたがって配置される。第2上搬送機構48Tと第3上搬送機構68Tは、第3上載置部51Tにアクセスする。第2下搬送機構48Bと第3下搬送機構68Bは、第3下載置部51Bにアクセスする。第3上載置部51Tは、第2上搬送機構48Tと第3上搬送機構68Tとの間で搬送される基板Wを載置する。第3下載置部51Bは、第2下搬送機構48Bと第3下搬送機構68Bとの間で搬送される基板Wを載置する。
【0244】
上階層90Tは、第1上搬送機構46Tと第2上搬送機構48Tと第3上搬送機構68Tと第1上載置部21Tと第2上載置部41Tと第3上載置部51Tと第1上処理部34Tと第2上処理部37Tと第3上処理部64Tを含む。下階層90Bは、第1下搬送機構46Bと第2下搬送機構48Bと第3下搬送機構68Bと第1下載置部21Bと第2下載置部41Bと第3下載置部51Bと第1下処理部34Tと第2下処理部37Bと第3下処理部64Bを含む。
【0245】
<制御部81>
制御部81(例えば図1参照)は、インデクサ部11と第1処理部34と第1搬送機構46と第2処理部37と第2搬送機構48と第3処理部64と第3搬送機構68を制御する。
【0246】
<各搬送機構のサイクル動作>
図17は、搬送機構のサイクル動作を模式的に示す図である。
【0247】
インデクサ用搬送機構14Aは、下記の2つのアクセス動作からなるサイクル動作を繰り返す。
・キャリアCA、CCへのアクセス動作
・第1載置部21(第1上載置部21Tおよび第1下載置部21B)へのアクセス動作
【0248】
インデクサ用搬送機構14Bは、下記の2つのアクセス動作からなるサイクル動作を繰り返す。
・キャリアCB、CDへのアクセス動作
・第1載置部21(第1上載置部21Tおよび第1下載置部21B)へのアクセス動作
【0249】
第1上搬送機構46Tは、下記の3つのアクセス動作からなる第1サイクル動作を繰り返す。
・第1上載置部21Tにアクセスする第1アクセス動作
・第1上処理部34Tにアクセスする第2アクセス動作
・第2上載置部41Tにアクセスする第3アクセス動作
【0250】
第1下搬送機構46Bは、下記の3つのアクセス動作からなる第1サイクル動作を繰り返す。
・第1下載置部21Bにアクセスする第1アクセス動作
・第1下処理部34Bにアクセスする第2アクセス動作
・第2下載置部41Bにアクセスする第3アクセス動作
【0251】
第2上搬送機構48Tは、下記の3つのアクセス動作からなる第2サイクル動作を繰り返す。
・第2上載置部41Tにアクセスする第4アクセス動作
・第2上処理部37Tにアクセスする第5アクセス動作
・第3上載置部51Tにアクセスする第6アクセス動作
【0252】
第2下搬送機構48Bは、下記の3つのアクセス動作からなる第2サイクル動作を繰り返す。
・第2下載置部41Bにアクセスする第4アクセス動作
・第2下処理部37Bにアクセスする第5アクセス動作
・第3下載置部51Bにアクセスする第6アクセス動作
【0253】
第3上搬送機構68Tは、下記の2つのアクセス動作からなる第3サイクル動作を繰り返す。
・第3上載置部51Tにアクセスする第7アクセス動作
・第3上処理部64Tにアクセスする第8アクセス動作
【0254】
第3下搬送機構68Bは、下記の2つのアクセス動作からなる第3サイクル動作を繰り返す。
・第3下載置部51Bにアクセスする第7アクセス動作
・第3下処理部64Bにアクセスする第8アクセス動作
【0255】
<動作例>
図18は、基板の搬送経路を模式的に示す図である。
基板処理装置1は、例えば、次のように動作する。
【0256】
<インデクサ部11の動作(1)>
インデクサ部11は、第1上載置部21Tと第1下載置部21Bに交互に基板Wを搬送する。
【0257】
具体的には、インデクサ用搬送機構14Aの1つのサイクル動作では、インデクサ用搬送機構14Aは、キャリアCA、CCのいずれかから基板Wを搬出し、基板Wを第1上載置部21Tに載置する。インデクサ用搬送機構14Aの次のサイクル動作では、インデクサ用搬送機構14Aは、キャリアCA、CCのいずれかから基板Wを搬出し、基板Wを第1下載置部21Bに載置する。
【0258】
<第1ブロック31および第2ブロック61の動作>
上階層90Tにおける動作は、下階層90Bにおける動作と類似する。このため、上階層90Tにおける動作を以下に説明し、下階層90Bにおける動作の説明を省略する。下階層90Bにおける動作は、以下の説明において、第1、第2、第3上搬送機構46T、48T、68Tをそれぞれ、第1、第2、第3下搬送機構46B、48B、68Bに読み替え、第1、第2、第3上載置部21T、41T、51Tをそれぞれ、第1、第2、第3下載置部21B、41B、51Bに読み替え、第1、第2、第3上処理部34T、37T、64Tをそれぞれ、第1、第2、第3下処理部34B、37B、64Bに読み替えたものに相当する。
【0259】
第1上搬送機構46Tは、第1上載置部21T上の基板Wを取る(第1アクセス動作)。第1上搬送機構46Tは、基板Wを第1上処理部34Tに搬入する(第2アクセス動作)。第1上処理部34Tは、基板Wに処理(エッジ露光処理)を行う。第1上搬送機構46Tは、第1上処理部34Tから基板Wを搬出する(第2アクセス動作)。第1上搬送機構46Tは、基板Wを第2上載置部41に載置する(第3アクセス動作)。
【0260】
第2上搬送機構48Tは、第2上載置部41T上の基板Wを取る(第4アクセス動作)。第2上搬送機構48Tは、基板Wを第3上載置部51Tに載置する(第6アクセス動作)。
【0261】
第3上搬送機構68Tは、第3上載置部51T上の基板Wを取る(第7アクセス動作)。第3上搬送機構68Tは、基板Wを第3上処理部64Tに搬入する(第8アクセス動作)。第3上処理部64Tは基板Wに処理(液処理)を行う。第3上搬送機構68Tは第3上処理部64Tから基板Wを搬出する(第8アクセス動作)。第3上搬送機構68Tは第3上載置部51Tに基板Wを載置する(第7アクセス動作)。
【0262】
第2上搬送機構48Tは、第3上載置部51T上の基板Wを取る(第6アクセス動作)。第2上搬送機構48Tは、基板Wを第2上処理部37Tに搬入する(第5アクセス動作)。第2上処理部37Tは基板Wに処理(熱処理)を行う。第2上搬送機構48Tは第2上処理部37Tから基板Wを搬出する(第5アクセス動作)。第2上搬送機構48Tは第2上載置部41Tに基板Wを載置する(第4アクセス動作)。
【0263】
第1上搬送機構46Tは、第2上載置部41T上の基板Wを取る(第3アクセス動作)。第1上搬送機構46Tは、基板Wを第1上載置部21Tに載置する(第1アクセス動作)。
【0264】
<インデクサ部11の動作(2)>
インデクサ部11は、第1上載置部21Tと第1下載置部21Bから交互に基板Wを取る。
【0265】
具体的には、インデクサ用搬送機構14Bの1つのサイクル動作では、インデクサ用搬送機構14Bは、第1上載置部21T上の基板Wを取り、基板WをキャリアCB、CDの一方に搬入する。インデクサ用搬送機構14Bの次のサイクル動作では、インデクサ用搬送機構14Bは、第1下載置部21B上の基板Wを取り、基板WをキャリアCB、CDの一方に搬入する。
【0266】
<第2実施形態の効果>
第2実施形態によっても、第1実施形態と同様の効果を奏する。例えば、第1搬送機構46(46T、46B)の各第1サイクル動作は3つのアクセス動作からなる。第2搬送機構48(48T、48B)の各第2サイクル動作は3つのアクセス動作からなる。第3搬送機構68(68T、68B)の各第3サイクル動作は2つのアクセス動作からなる。このため、基板処理装置1のスループットを好適に向上できる。
【0267】
例えば、第2載置部41(41T、41B)は、平面視において、第1処理部34(34T、34B)と重なる第1部分41aと、平面視において、第2処理部37(37T、37B)と重なる第2部分41bを有する。このため、第1搬送機構46と第2搬送機構48との間隔距離を小さくできる。さらに、第1搬送機構46および第2搬送機構48はそれぞれ、第2載置部41に容易にアクセスできる。
【0268】
さらに、第2実施形態によれば、以下の効果を奏する。第1処理部34に対応して2つの第1搬送機構46(46T、46B)が設けられる。第2処理部37に対応して2つの第2搬送機構48(48T、48B)が設けられる。第3処理部64に対応して2つの第3搬送機構68(68T、68B)が設けられる。このため、基板処理装置1のスループットを倍増できる。
【0269】
第1上搬送機構46Tと第1下搬送機構46Bは上下方向Zに並ぶように配置される。このため、基板処理装置1の設置面積(フットプリント)が増大することを好適に抑制できる。
【0270】
第2上搬送機構48Tと第2下搬送機構48Bは上下方向Zに並ぶように配置される。このため、基板処理装置1の設置面積(フットプリント)が増大することを好適に抑制できる。
【0271】
第3上搬送機構68Tと第3下搬送機構68Bは上下方向Zに並ぶように配置される。このため、基板処理装置1の設置面積(フットプリント)が増大することを好適に抑制できる。
【0272】
上階層90Tと下階層90Bは上下方向Zに並ぶように配置される。このため、基板処理装置1の設置面積(フットプリント)が増大することを好適に抑制できる。
【0273】
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
【0274】
(1)上述した第1実施形態および第2実施形態では、第2載置部41は、平面視において、第1軸線A1と第2軸線A2を結ぶ仮想直線Lと重ならない位置に配置される。ただし、これに限られない。平面視において、第1軸線A1と第2軸線A2を結ぶ仮想直線Lと重なる位置に第2載置部41を配置してもよい。
【0275】
図19は、変形実施形態の基板処理装置1の平面図である。なお、第1実施形態と同じ構成については同符号を付すことで詳細な説明を省略する。第2載置部41は、第1処理部34と重ならない位置に配置される。第2載置部41は、第2処理部37と重ならない位置に配置される。第2載置部41の全部は、搬送スペース45に配置される。第2載置部41は、第1軸線A1と第2軸線A2を結ぶ仮想直線Lと重なる位置に配置される。第1搬送機構46と第2載置部41と第2搬送機構48は、前後方向Xに1列に並ぶ。
【0276】
(2)上述した第1実施形態および第2実施形態では、処理部の数は、3つ(具体的には、第1-第3処理部34、37、64)であった。ただし、これに限られない。例えば、処理部の数は、2つでもよい。例えば、処理部の数は、4つ以上でもよい。
【0277】
例えば、第3処理部64が省略される場合、第3載置部51を省略できる。その結果、第2搬送機構48の第2サイクル動作は、2つのアクセス動作からなる。第2サイクル動作に含まれる2つのアクセス動作は、以下の通りである。
・第2載置部41にアクセスする第4アクセス動作
・第2処理部37にアクセスする第5アクセス動作
【0278】
(3)上述した第1実施形態および第2実施形態では、基板処理装置1は、基板Wを露光する露光機に接続されていない。ただし、これに限られない。例えば、基板処理装置1に、露光機を接続してもよい。
【0279】
例えば、第2ブロック61の後部に露光機を接続してもよい。この場合、基板処理装置1は、第3搬送機構68と露光機との間で搬送される基板Wを載置する第4載置部を備えてもよい。本変形実施形態では、第3搬送機構68は、下記の3つのアクセス動作からなる第3サイクル動作を繰り返す。
・第3載置部51にアクセスする第7アクセス動作
・第3処理部64にアクセスする第8アクセス動作
・第4載置部にアクセスする第9アクセス動作
したがって、第3搬送機構68の搬送効率は、依然として、高い。よって、基板処理装置1のスループットを向上できる。
【0280】
あるいは、第3搬送機構68は、露光機に直接的に基板Wを搬送してもよい。本変形実施形態では、第3搬送機構68は、下記の3つのアクセス動作からなる第3サイクル動作を繰り返す。
・第3載置部51にアクセスする第7アクセス動作
・第3処理部64にアクセスする第8アクセス動作
・露光機にアクセスする第9アクセス動作
したがって、第3搬送機構68の搬送効率は、依然として、高い。よって、基板処理装置1のスループットを向上できる。
【0281】
(4)上述した第1実施形態および第2実施形態では、基板処理装置1は、基板Wを露光機に搬送するためのインターフェイス部を備えていない。ただし、これに限られない。例えば、基板処理装置1は、インターフェイス部を備えてもよい。
【0282】
例えば、インターフェイス部は、第2ブロック61の後部に接続される。この場合、基板処理装置1は、第3搬送機構68とインターフェイス部との間で搬送される基板Wを載置する第4載置部を備えてもよい。本変形実施形態では、第3搬送機構68は、下記の3つのアクセス動作からなる第3サイクル動作を繰り返す。
・第3載置部51にアクセスする第7アクセス動作
・第3処理部64にアクセスする第8アクセス動作
・第4載置部にアクセスする第9アクセス動作
したがって、第3搬送機構68の搬送効率は、依然として、高い。よって、基板処理装置1のスループットを向上できる。
【0283】
(5)上述した第1実施形態および第2実施形態では、第1処理部34はエッジ露光処理部であり、第2処理部37は熱処理部であった。ただし、これに限られない。第1処理部34を熱処理部とし、第2処理部をエッジ露光処理部としてもよい。
【0284】
(6)上述した第1実施形態および第2実施形態では、第3処理部64が行う液処理は、現像処理であった。ただし、これに限られない。第3処理部64が行う液処理は、例えば、塗布処理であってもよい。塗布処理は、基板Wに塗膜材料を塗布し、基板Wに塗膜を形成する処理である。塗膜は、例えば、レジスト膜または反射防止膜である。第3処理部64が行う液処理は、例えば、洗浄処理であってもよい。洗浄処理は、基板Wに洗浄液を供給する処理である。
【0285】
(7)上述した第1実施形態では、第1搬送機構46は、2つの第1支柱47a、47bを備えた。但し、これに限られない。例えば、第1支柱47a、47bの一方を省略してもよい。同様に、上述した第1実施形態では、第2搬送機構48は、2つの第2支柱49a、49bを備えた。但し、これに限られない。例えば、第2支柱49a、49bの一方を省略してもよい。
【0286】
(8)上述した第1実施形態および第2実施形態では、第1処理部34は搬送スペース45の右方の位置および搬送スペース45の左方の位置に配置された。但し、これに限られない。例えば、第1処理部34は、搬送スペース45の右方の位置および搬送スペース45の左方の位置のいずれか1つのみに第1処理部34を配置してもよい。第2処理部37と第3処理部64についても、同様に変更してもよい。
【0287】
(9)上述した第1実施形態および第2実施形態において、第2処理ユニット38は、さらに、温調機器を備え、温調機器は、第1プレート39aに取り付けられ、第1プレート39aの温度を調節してもよい。例えば、第1プレート39aは、基板Wの温度を調整してもよい。例えば、第1プレート39aは、第2プレート39bによって加熱された基板Wを、冷却してもよい。
【0288】
あるいは、第2処理ユニット38は、さらに、ローカル搬送機構に取り付けられ、ローカル搬送機構の温度を調節する温調機器を備えてもよい。例えば、ローカル搬送機構は、基板Wの温度を調整してもよい。例えば、ローカル搬送機構は、第2プレート39bによって加熱された基板Wを、冷却してもよい。
【0289】
(10)上述した第1実施形態において、インデクサ部11は、キャリア載置部12A上のキャリアCAから基板Wを搬出し、キャリア載置部12B上のキャリアCBから基板Wを搬出しなくてもよい。インデクサ部11は、キャリア載置部12B上のキャリアCBに基板Wを搬入し、キャリア載置部12A上のキャリアCAに基板Wを搬入しなくてもよい。例えば、インデクサ部11がキャリア載置部12A上のキャリアCA内の全ての基板Wを搬出した後、-キャリアCAをキャリア載置部12Aからキャリア載置部12Bに搬送してもよい。
【0290】
(11)上述した実施例および上記(1)から(10)で説明した各変形実施例の各構成を適宜に組み合わせるように変更してもよい。
【符号の説明】
【0291】
1 … 基板処理装置
11 … インデクサ部
12A、12B、12C、12D… キャリア載置部
13 … 搬送スペース
14A、14B … インデクサ用搬送機構
21 … 第1載置部
22a、22b … プレート
21T … 第1上載置部
21B … 第1下載置部
31 … 第1ブロック
32 … 第1フレーム
34R … 第1右処理部
34L … 第1左処理部
34T … 第1上処理部
34B … 第1下処理部
35 … 第1処理ユニット
36a … 回転保持部
36b … 光照射部
37R … 第2右処理部
37L … 第2左処理部
37T … 第2上処理部
37B … 第2下処理部
38 … 第2処理ユニット
39a … 第1プレート
39b … 第2プレート
41 … 第2載置部
41T … 第2上載置部
41B … 第2下載置部
41a … 第1部分
41b … 第2部分
41c … 第3部分
42a、42b … プレート
43、43a-43j … 第1スロット
43a-43c、43f-43h …処理用第1スロット
43i … 載置用第1スロット
44、44a-44j … 第2スロット
44a-44h、44j … 処理用第2スロット
44i … 載置用第2スロット
45 … 搬送スペース
45T … 上搬送スペース
45B … 下搬送スペース
46 … 第1搬送機構
46T … 第1上搬送機構
46B … 第1下搬送機構
47a、47b … 第1支柱
47c … 第1昇降部
47d … 第1回転部
47e、47f … 第1保持部
48 … 第2搬送機構
48T … 第2上搬送機構
48B … 第2下搬送機構
49a、49b … 第2支柱
49c … 第2昇降部
49d … 第2回転部
49e、49f … 第2保持部
51 … 第3載置部
51T … 第3上載置部
51B … 第3下載置部
52a、52b … プレート
61 … 第2ブロック
62 … 第2フレーム
64R … 第3右処理部(第3短処理部)
64L … 第3左処理部(第3長処理部)
64T … 第3上処理部
64B … 第3下処理部
65 … 第3処理ユニット
66a … 回転保持部
66b … ノズル
66c … カップ
67 … 搬送スペース
67T … 上搬送スペース
67B … 下搬送スペース
68 … 第3搬送機構
68T … 第3上搬送機構
68B … 第3下搬送機構
69a、69b … 第3支柱
69c … 第3昇降部
69d … 第3前後動部
69e … 第3回転部
69f、69g … 第3保持部
71 … 点検口
72 … 蓋部
81 … 制御部
90T … 上階層
90B … 下階層
91 … 隔壁
92 … 隔壁
A1 … 第1軸線
A2 … 第2軸線
B1 … 第1領域
B2 … 第2領域
B3 … 第3領域
C、CA、CB、CC、CD … キャリア
D1 … 第1軸線A1と第2軸線A2との間の距離
D2 … 平面視における第1軸線A1と点P1との間の距離
D3 … 平面視における第2軸線A2と点P1との間の距離
D4 … 平面視における第1軸線A1と点P2との間の距離
D5 … 平面視における第2軸線A2と点P3との距離
E、E1、E2 … 空間(遮熱空間)
F … 空間(遮熱空間、メンテナンス空間)
G1 … 前後方向における第3右処理部の長さ
G2 … 前後方向における第3左処理部の長さ
L … 仮想直線
P1 … 第2載置部に載置される基板の中心点
P2 … 回転保持部36aに載置される基板の中心点
P3 … 第1プレート39aに載置される基板の中心点
r … 基板の半径
W … 基板
X … 前後方向
Y … 幅方向
Z … 上下方向
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8
図9
図10
図11
図12
図13
図14
図15
図16
図17
図18
図19