特許 7196504 音響特性計測システム、音響特性計測方法、およびプログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2022-12-19

(45)【発行日】2022-12-27

(54)【発明の名称】音響特性計測システム、音響特性計測方法、およびプログラム

(51)【国際特許分類】

   G01H 3/00 20060101AFI20221220BHJP

【ＦＩ】

G01H3/00 A

【請求項の数】 7

(21)【出願番号】P 2018181822

(22)【出願日】2018-09-27

(65)【公開番号】P2020051909

(43)【公開日】2020-04-02

【審査請求日】2021-08-16

(73)【特許権者】

【識別番号】000004237

【氏名又は名称】日本電気株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100109313

【弁理士】

【氏名又は名称】机 昌彦

(74)【代理人】

【識別番号】100149618

【弁理士】

【氏名又は名称】北嶋 啓至

(72)【発明者】

【氏名】種橋 正夫

【審査官】森口 正治

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１７－９３１０（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｈ １／００－１７／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

測定対象物に向けて配置され、集音した音波を第１集音信号に変換して出力する無指向性の第１マイクロホンと、
前記測定対象物に向けて配置され、集音した音波を第２集音信号に変換して出力する指向性の第２マイクロホンと、
前記第１マイクロホンおよび前記第２マイクロホンのそれぞれから前記第１集音信号および前記第２集音信号を受信し、受信した前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれをフーリエ変換することによって第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成し、生成した前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを記憶する音響特性計測装置とを備え、
前記第１マイクロホンおよび前記第２マイクロホンは、
前記測定対象物と前記第１マイクロホンと前記第２マイクロホンとの位置関係が一定になるように配置され、
前記音響特性計測装置は、
第１準備段階において、前記測定対象物が発生させた雑音を含まない測定対象音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれから生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを記録し、
第２準備段階において、前記測定対象音を含まない雑音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれから生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを記録し、
検査段階において、前記第１準備段階および前記第２準備段階で記録された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを用いて、前記測定対象音に基づいて生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルに含まれる前記第１マイクロホンおよび前記第２マイクロホンのそれぞれと前記測定対象音との間の音波の伝達特性と、前記雑音に基づいて生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルに含まれる前記第１マイクロホンおよび前記第２マイクロホンのそれぞれと前記雑音の雑音源との間の音波の伝達特性とに基づいて、検査対象の検査対象音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれから生成される前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルから前記測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出し、抽出した前記測定対象音信号を出力する音響特性計測システム。

【請求項2】

前記音響特性計測装置には、
前記検査対象音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号から前記測定対象音信号を抽出するよりも以前の前記第１準備段階において、前記雑音を含まない前記測定対象音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号から生成された、前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルが記憶される請求項１に記載の音響特性計測システム。

【請求項3】

前記音響特性計測装置には、
前記検査対象音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号から前記測定対象音信号を抽出するよりも以前の前記第２準備段階において、前記測定対象音を含まない前記雑音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号から生成された、前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルが記憶される請求項２に記載の音響特性計測システム。

【請求項4】

前記音響特性計測装置は、
前記第１マイクロホンから前記第１集音信号を受信する第１集音信号受信部と、
前記第１集音信号受信部によって受信される前記第１集音信号をフーリエ変換して前記第１周波数スペクトルを生成する第１フーリエ変換部と、
前記第２マイクロホンから前記第２集音信号を受信する第２集音信号受信部と、
前記第２集音信号受信部によって受信される前記第２集音信号をフーリエ変換して前記第２周波数スペクトルを生成する第２フーリエ変換部と、
前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルが記憶される記憶部と、
前記第１フーリエ変換部から前記第１周波数スペクトルを取得するとともに、前記第２フーリエ変換部から前記第２周波数スペクトルを取得し、取得した前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを前記記憶部に記憶させる計測制御部とを有し、
前記計測制御部は、
前記第１準備段階および前記第２準備段階において取得される前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルは前記記憶部に記憶させ、
検査段階において取得される前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルからは、前記第１準備段階および前記第２準備段階において取得された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを用いて前記測定対象音に基づいた前記測定対象音信号を抽出する請求項３に記載の音響特性計測システム。

【請求項5】

前記第１マイクロホンと前記第２マイクロホンとは、
前記第１マイクロホンおよび前記第２マイクロホンと前記雑音の雑音源との距離に対する、前記第１マイクロホンと前記第２マイクロホンとの距離の比率が、所定値以下になる位置に配置される請求項１乃至４のいずれか一項に記載の音響特性計測システム。

【請求項6】

雑音源からの雑音と測定対象物から発生する測定対象音とを含む検査対象音を検査する音響特性計測方法であって、
前記測定対象物に向けて配置された無指向性の第１マイクロホンと、前記測定対象物に向けて配置された指向性の第２マイクロホンと、前記測定対象物とが一定の位置関係で配置された状態で、
前記第１マイクロホンが集音した音波から変換される第１集音信号を受信し、
前記第２マイクロホンが集音した音波から変換される第２集音信号を受信し、
受信した前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれをフーリエ変換することによって第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成し、
第１準備段階において、前記測定対象物が発生させた雑音を含まない測定対象音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれから生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを記録し、
第２準備段階において、前記測定対象音を含まない雑音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれから生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを記憶し、
前記検査対象音を検査する検査段階においては、前記第１準備段階および前記第２準備段階に記憶した前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを用いて、前記測定対象音に基づいて生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルに含まれる前記第１マイクロホンおよび前記第２マイクロホンのそれぞれと前記測定対象音との間の音波の伝達特性と、前記雑音に基づいて生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルに含まれる前記第１マイクロホンおよび前記第２マイクロホンのそれぞれと前記雑音の雑音源との間の音波の伝達特性とに基づいて、検査対象の前記検査対象音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれから生成した前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルから、前記測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出する音響特性計測方法。

【請求項7】

雑音源からの雑音と測定対象物から発生する測定対象音とを含む検査対象音を検査するためのプログラムであって、
前記測定対象物に向けて配置された無指向性の第１マイクロホンと、前記測定対象物に向けて配置された指向性の第２マイクロホンと、前記測定対象物とが一定の位置関係で配置された状態で、
前記第１マイクロホンが集音した音波から変換される第１集音信号を受信する処理と、
前記第２マイクロホンが集音した音波から変換される第２集音信号を受信する処理と、
受信した前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれをフーリエ変換することによって第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成する処理と、
第１準備段階において、前記測定対象物が発生させた雑音を含まない測定対象音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれから生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを記録する処理と、
第２準備段階において、前記測定対象音を含まない雑音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれから生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを記憶する処理と、
前記検査対象音を検査する検査段階においては、前記第１準備段階および前記第２準備段階に記憶した前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルを用いて、前記測定対象音に基づいて生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルに含まれる前記第１マイクロホンおよび前記第２マイクロホンのそれぞれと前記測定対象音との間の音波の伝達特性と、前記雑音に基づいて生成された前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルに含まれる前記第１マイクロホンおよび前記第２マイクロホンのそれぞれと前記雑音の雑音源との間の音波の伝達特性とに基づいて、検査対象の前記検査対象音に基づいた前記第１集音信号および前記第２集音信号のそれぞれから生成した前記第１周波数スペクトルおよび前記第２周波数スペクトルから、前記測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出する処理とをコンピュータに実行させるプログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、測定対象物から発生する測定対象音の音響特性を計測する音響特性計測システム、音響特性計測方法、およびプログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

生産現場において、製品から発生する音によってその製品の良否を判定する技術がある。測定対象物となる製品の周囲では、ベルトコンベアや、ＡＧＶ（Automated Guided Vehicle）、電動ドライバ、設備ファンなどの駆動、作業者の会話などに起因して多数の雑音が発生する。それらの雑音が発生するタイミングや位置は一様ではないため、測定対象物の周囲で発生する騒音を除外して、測定対象物からの測定対象音を正確に測定することが求められる。

【0003】

特許文献１には、単一指向性マイクロホンと無指向性マイクロホンとを用いる騒音測定方法について開示されている。特許文献１の方法では、単一指向性マイクロホンによって測定しようとする騒音音響源において発生する騒音音響信号を第１の測定信号に変換し、無指向性マイクロホンによって上記騒音音響信号を含む音響信号を第２の測定信号に変換する。特許文献１の方法では、第１の測定信号をフーリエ変換して第１の測定フーリエ変換信号を生成し、第２の測定信号をフーリエ変換して第２の測定フーリエ変換信号を生成する。特許文献１の方法では、第１の測定フーリエ変換信号を共役化して第２の測定フーリエ変換信号に乗算するとともに、第１のフーリエ変換信号の２乗演算結果によって除算し、当該除算演算結果を平均化して騒音測定信号を得る。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【文献】特公平０５－０４３９７９号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

特許文献１の方法では、単一指向性マイクロホンには騒音音響信号のみが入力され、雑音音響信号が入力されないことを前提としている。そして、単一指向性マイクロホンに入力された騒音音響信号を用いて、無指向性マイクロホンの音響信号から雑音音響信号を除去して騒音音響信号を抽出する。ところで、生産現場に配置された騒音発生源から発生する雑音音響信号の発生タイミングや、発生位置は一様ではない。そのため、特許文献１の手法には、雑音が騒音発生源からの測定対象音に反射した場合などにおいて、雑音が単一指向性マイクロホンに入力されてしまい、騒音測定信号に雑音音響信号が混入してしまうという問題点があった。

【0006】

本発明の目的は、上述した課題を解決し、雑音が含まれる検査対象音から、測定対象物が発生させた測定対象音を抽出できる音響特性計測システムを提供することにある。

【課題を解決するための手段】

【0007】

本発明の一態様の音響特性計測システムは、測定対象物に向けて配置され、集音した音波を第１集音信号に変換して出力する無指向性の第１マイクロホンと、測定対象物に向けて配置され、集音した音波を第２集音信号に変換して出力する指向性の第２マイクロホンと、第１マイクロホンおよび第２マイクロホンのそれぞれから第１集音信号および第２集音信号を受信し、受信した第１集音信号および第２集音信号のそれぞれをフーリエ変換することによって第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成し、生成した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを記憶する音響特性計測装置とを備え、第１マイクロホンおよび第２マイクロホンは、測定対象物と第１マイクロホンと第２マイクロホンとの位置関係が一定になるように配置され、音響特性計測装置は、測定対象物が発生させる測定対象音に基づいた第１集音信号および第２集音信号のそれぞれから生成された第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルと、測定対象音を含まない雑音に基づいた第１集音信号および第２集音信号のそれぞれから生成された第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルとを用いて、検査対象の測定対象音を含む検査対象音に基づいた第１集音信号および第２集音信号のそれぞれから生成される第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルから測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出し、抽出した測定対象音信号を出力する音響特性計測システム。

【0008】

本発明の一態様の音響特性計測方法は、雑音源からの雑音と測定対象物から発生する測定対象音とを含む検査対象音を検査する音響特性計測方法であって、測定対象物に向けて配置された無指向性の第１マイクロホンと、測定対象物に向けて配置された指向性の第２マイクロホンと、測定対象物とが一定の位置関係で配置された状態で、第１マイクロホンが集音した音波から変換される第１集音信号を受信し、第２マイクロホンが集音した音波から変換される第２集音信号を受信し、受信した第１集音信号および第２集音信号のそれぞれをフーリエ変換することによって第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成し、測定対象音に基づいた周波数スペクトルを記録する第１準備段階と、雑音に基づいた周波数スペクトルを記憶する第２準備段階とにおいては、生成した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを記憶し、検査対象音を検査する検査段階においては、第１準備段階および第２準備段階に記憶した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを用いて、生成した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルから測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出する。

【0009】

本発明の一態様のプログラムは、雑音源からの雑音と測定対象物から発生する測定対象音とを含む検査対象音を検査するためのプログラムであって、測定対象物に向けて配置された無指向性の第１マイクロホンと、測定対象物に向けて配置された指向性の第２マイクロホンと、測定対象物とが一定の位置関係で配置された状態で、第１マイクロホンが集音した音波から変換される第１集音信号を受信する処理と、第２マイクロホンが集音した音波から変換される第２集音信号を受信する処理と、受信した第１集音信号および第２集音信号のそれぞれをフーリエ変換することによって第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成する処理と、測定対象音に基づいた周波数スペクトルを記録する第１準備段階と、雑音に基づいた周波数スペクトルを記憶する第２準備段階とにおいては、生成した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを記憶する処理と、検査対象音を検査する検査段階においては、第１準備段階および第２準備段階に記憶した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを用いて、生成した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルから測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出する処理とをコンピュータに実行させる。

【発明の効果】

【0010】

本発明によれば、雑音が含まれる検査対象音から、測定対象物が発生させた測定対象音を抽出できる音響特性計測システムを提供することが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測システムの構成の一例を示す概念図である。

【図2】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測システムが備える音響特性計測装置の構成の一例を示すブロック図である。

【図3】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測システムによる測定対象音に基づいた測定対象音信号の抽出方法について説明するための概念図である。

【図4】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測システムが測定対象音の周波数スペクトルを測定する例について説明するための概念図である。

【図5】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測システムが雑音の周波数スペクトルを測定する例について説明するための概念図である。

【図6】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測システムが検査対象音を計測する例について説明するための概念図である。

【図7】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測システムの各マイクロホンと雑音源との距離関係について説明するための概念図である。

【図8】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測装置の動作の概要について説明するためのフローチャートである。

【図9】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測装置の第１準備段階における動作について説明するためのフローチャートである。

【図10】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測装置の第２準備段階における動作について説明するためのフローチャートである。

【図11】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測装置の検査段階における動作について説明するためのフローチャートである。

【図12】本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。

【発明を実施するための形態】

【0012】

以下に、本発明を実施するための形態について図面を用いて説明する。ただし、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい限定がされているが、発明の範囲を以下に限定するものではない。なお、以下の実施形態の説明に用いる全図においては、特に理由がない限り、同様箇所には同一符号を付す。また、以下の実施形態において、同様の構成・動作に関しては繰り返しの説明を省略する場合がある。また、図面中の矢印の向きは、一例を示すものであり、ブロック間の信号の向きを限定するものではない。

【0013】

（第１の実施形態）
まず、本発明の第１の実施形態に係る音響特性計測システムについて図面を参照しながら説明する。本実施形態の音響特性計測システムは、生産現場などの雑音下において、測定対象物（計測対象物とも呼ぶ）である製品から発生する測定対象音によって、その製品の良否判定する用途などに用いられる。

【0014】

本実施形態においては、指向性の異なる２つのマイクロホン（無指向性マイクロホンおよび指向性マイクロホン）を用いて、雑音が含まれない測定対象音を事前に集音し、測定対象物から各マイクロホンへの音波の伝達特性を測定しておく。測定対象物を検査する際には、測定対象音を含まない雑音を集音し、雑音源から各マイクロホンへの音波の伝達特性を測定する。そして、測定対象音と雑音とが混在した測定対象音を集音し、その測定対象音の周波数スペクトルに伝達特性を当てはめることによって、雑音を除去した測定対象音を抽出する。

【0015】

図１は、本実施形態の音響特性計測システム１の構成の一例を示す概念図である。音響特性計測システム１は、計測対象物１００から発生する測定対象音を測定する。音響特性計測システム１は、音響特性計測装置１０、第１マイクロホン１１０、および第２マイクロホン１２０を備える。第１マイクロホン１１０と第２マイクロホン１２０とは、計測対象物１００に対する位置関係が一定になるように配置される。図１においては、音響特性計測システム１の設置環境に雑音源があるものとする。なお、図１に図示した雑音源は一例であって、音響特性計測システム１の設置環境に存在する雑音源を一つに限定するものではない。

【0016】

第１マイクロホン１１０（無指向性マイクロホンとも呼ぶ）は、第２マイクロホン１２０と位置関係が固定された状態で配置される。第１マイクロホン１１０は、雑音源からの雑音や、計測対象物１００からの測定対象音を集音する無指向性の集音装置である。第１マイクロホン１１０は、集音した音波を電気信号（以下、第１集音信号と呼ぶ）に変換して音響特性計測装置１０に送信する。

【0017】

第２マイクロホン１２０（指向性マイクロホンとも呼ぶ）は、第１マイクロホン１１０と位置関係が固定された状態で、指向性の向きが計測対象物１００に向かうように配置される。第２マイクロホン１２０は、雑音源からの雑音や、計測対象物１００からの測定対象音を集音する指向性のある集音装置である。第２マイクロホン１２０は、集音した音波を電気信号（以下、第２集音信号と呼ぶ）に変換して音響特性計測装置１０に送信する。

【0018】

音響特性計測装置１０は、第１マイクロホン１１０と第２マイクロホン１２０とに接続される。音響特性計測装置１０は、第１マイクロホン１１０から第１集音信号を受信し、第２マイクロホン１２０から第２集音信号を受信する。音響特性計測装置１０は、受信した第１集音信号をフーリエ変換することによって周波数スペクトル（第１周波数スペクトルとも呼ぶ）を生成する。また、音響特性計測装置１０は、受信した第２集音信号をフーリエ変換することによって周波数スペクトル（第２周波数スペクトルとも呼ぶ）を生成する。

【0019】

測定対象音の計測前（計測準備段階とも呼ぶ）に、音響特性計測装置１０は、第１マイクロホン１１０および第２マイクロホン１２０によって集音される、雑音が含まれない測定対象音に基づいた第１集音信号および第２集音信号を受信する。音響特性計測装置１０は、受信した第１集音信号および第２集音信号をフーリエ変換して周波数スペクトルを生成する。そして、音響特性計測装置１０は、生成した周波数スペクトルに基づいて、第１マイクロホン１１０と計測対象物１００との間の伝達特性と、第２マイクロホン１２０と計測対象物１００との間の伝達特性とを導出する。音響特性計測装置１０は、導出した伝達特性を記憶する。

【0020】

測定対象音の計測時（計測段階とも呼ぶ）に、まず、音響特性計測装置１０は、第１マイクロホン１１０および第２マイクロホン１２０によって集音される、測定対象音を含まない雑音に基づいた第１集音信号および第２集音信号を受信する。音響特性計測装置１０は、受信した第１集音信号および第２集音信号をフーリエ変換して周波数スペクトル（第１周波数スペクトル、第２周波数スペクトル）を生成する。そして、音響特性計測装置１０は、生成した周波数スペクトルに基づいて、第１マイクロホン１１０と雑音源との間の伝達特性と、第２マイクロホン１２０と雑音源との間の伝達特性とを導出する。音響特性計測装置１０は、導出した伝達特性を記憶する。

【0021】

そして、音響特性計測装置１０は、第１マイクロホン１１０および第２マイクロホン１２０によって集音される測定対象音と雑音とを含む音波に基づいた第１集音信号、第２集音信号を受信する。音響特性計測装置１０は、第１集音信号をフーリエ変換することによって第１周波数スペクトルを生成し、第２集音信号をフーリエ変換することによって第２周波数スペクトルを生成する。音響特性計測装置１０は、生成した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルのそれぞれに、測定対象物および雑音源と各マイクロホンとの間の伝達特性を当てはめて測定対象音信号を抽出する。音響特性計測装置１０は、抽出した測定対象音信号を出力する。例えば、音響特性計測装置１０から出力される測定対象音信号は、上位システムや別のシステム、表示装置などに送信される。

【0022】

〔音響特性計測装置〕
次に、音響特性計測装置１０の詳細構成および処理について図面を参照しながら説明する。図２は、音響特性計測装置１０の詳細構成の一例を示すブロック図である。

【0023】

図２のように、音響特性計測装置１０は、第１集音信号受信部１１、第１フーリエ変換処理部１２、第２集音信号受信部１３、第２フーリエ変換処理部１４、計測制御部１５、記憶部１６、および信号送信部１７を備える。

【0024】

第１集音信号受信部１１は、第１マイクロホン１１０から第１集音信号を受信する。第１集音信号受信部１１は、第１マイクロホン１１０から受信した第１集音信号を第１フーリエ変換処理部１２に出力する。

【0025】

第１フーリエ変換処理部１２は、第１集音信号受信部１１から第１集音信号を取得する。第１フーリエ変換処理部１２は、取得した第１集音信号をフーリエ変換することによって第１周波数スペクトルを生成する。第１フーリエ変換処理部１２は、生成した第１周波数スペクトルを計測制御部１５に出力する。例えば、第１フーリエ変換処理部１２は、高速フーリエ変換（ＦＦＴ：Fast Fourier Transform）によって第１集音信号から第１周波数スペクトルを生成する。

【0026】

第２集音信号受信部１３は、第２マイクロホン１２０から第２集音信号を受信する。第２集音信号受信部１３は、第２マイクロホン１２０から受信した第２集音信号を第２フーリエ変換処理部１４に出力する。

【0027】

第２フーリエ変換処理部１４は、第２集音信号受信部１３から第２集音信号を取得する。第２フーリエ変換処理部１４は、取得した第２集音信号をフーリエ変換することによって第２周波数スペクトルを生成する。第２フーリエ変換処理部１４は、生成した第２周波数スペクトルを計測制御部１５に出力する。例えば、第２フーリエ変換処理部１４は、高速フーリエ変換によって第２集音信号から第２周波数スペクトルを生成する。

【0028】

計測制御部１５は、第１フーリエ変換処理部１２から第１周波数スペクトルを取得し、第２フーリエ変換処理部１４から第２周波数スペクトルを取得する。計測制御部１５は、取得した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを用いて、計測準備段階と計測段階とで異なる処理を実行し、測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出する。計測制御部１５は、抽出した測定対象音信号を信号送信部１７に出力する。

【0029】

計測準備段階（第１準備段階とも呼ぶ）において、計測制御部１５は、雑音を含まない測定対象音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを取得する。例えば、雑音を含まない測定対象音は、計測対象物１００、第１マイクロホン１１０、および第２マイクロホン１２０を遮音箱などの中のような雑音の無い環境下に配置することで測定できる。計測制御部１５は、取得した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを記憶部１６に記憶させる。計測準備段階の第１周波数スペクトルには、第１マイクロホン１１０と計測対象物１００との間の伝達特性（第１伝達特性）が含まれる。また、計測準備段階の第２周波数スペクトルには、第２マイクロホン１２０と計測対象物１００との間の伝達特性（第２伝達特性）が含まれる。すなわち、計測準備段階において、記憶部１６に記憶される第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルのそれぞれには、測定対象音に関する第１伝達特性および第２伝達特性が含まれる。

【0030】

計測段階の雑音計測時（第２準備段階とも呼ぶ）において、まず、計測制御部１５は、測定対象音を含まない雑音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを取得する。例えば、測定対象音を含まない雑音は、計測対象物１００から測定対象音を発生させない状況で測定できる。計測制御部１５は、取得した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを記憶部１６に記憶させる。計測段階の雑音計測時の第１周波数スペクトルには、第１マイクロホン１１０と雑音源との間の伝達特性（第１伝達特性）が含まれる。また、計測段階の雑音計測時の第２周波数スペクトルには、第２マイクロホン１２０と雑音源との間の伝達特性（第２伝達特性）が含まれる。すなわち、計測準備段階において、記憶部１６に記憶される第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルのそれぞれには、雑音に関する第１伝達特性および第２伝達特性が含まれる。なお、測定対象音を含まない雑音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルは、計測準備段階において取得しておいてもよい。

【0031】

そして、計測段階の検査時（検査段階とも呼ぶ）において、計測制御部１５は、測定対象音と雑音とが混在する検査対象音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを取得する。計測制御部１５は、測定対象音および雑音に関する第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを記憶部１６から取得する。計測制御部１５は、測定対象音および雑音に関する第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを、検査対象音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルに当てはめて測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出する。

【0032】

信号送信部１７は、計測制御部１５から測定対象音信号を取得する。信号送信部１７は、取得した測定対象音信号を出力する。例えば、信号送信部１７は、測定対象音信号（測定対象音）を用いる上位システムや別のシステム、表示装置などに測定対象音信号を送信する。

【0033】

以上が音響特性計測装置１０の構成についての説明である。なお、図２の音響特性計測装置１０の構成は一例であって、本実施形態の音響特性計測装置１０の構成を限定するものではない。

【0034】

〔測定対象音信号の抽出方法〕
次に、音響特性計測装置１０による測定対象音信号の抽出方法について図面を参照しながら説明する。

【0035】

図３は、測定対象音Ｔ_Mと雑音Ｔ_Nとが混在する検査対象音に基づいた集音信号から測定対象音Ｔ_Mに基づいた周波数スペクトルＳ_M（測定対象音信号）を抽出する方法について説明するための概念図である。

【0036】

第１マイクロホン１１０は、測定対象音Ｔ_Mおよび雑音Ｔ_Nの少なくともいずれかを含む音波を集音し、第１集音信号Ｓ_T1を生成する。第１マイクロホン１１０は、生成した第１集音信号Ｓ_T1を第１フーリエ変換処理部１２に出力する。第１フーリエ変換処理部１２は、第１集音信号Ｓ_T1をフーリエ変換し、第１周波数スペクトルＳ_f1を生成する。第１フーリエ変換処理部１２は、生成した第１周波数スペクトルＳ_f1を計測制御部１５に出力する。

【0037】

第２マイクロホン１２０は、測定対象音Ｔ_Mおよび雑音Ｔ_Nの少なくともいずれかを含む音波を集音し、第２集音信号Ｓ_T2を生成する。第２マイクロホン１２０は、生成した第２集音信号Ｓ_T2を第２フーリエ変換処理部１４に出力する。第２フーリエ変換処理部１４は、第２集音信号Ｓ_T2をフーリエ変換し、第２周波数スペクトルＳ_f2を生成する。第２フーリエ変換処理部１４は、生成した第２周波数スペクトルＳ_f2を計測制御部１５に出力する。

【0038】

計測制御部１５は、取得した第１周波数スペクトルＳ_f1および第２周波数スペクトルＳ_f2に基づいて、測定対象音Ｔ_Mに基づいた周波数スペクトルＳ_M（測定対象音信号）を抽出する。計測制御部１５は、抽出した周波数スペクトルＳ_M（測定対象音信号）を出力する。

【0039】

図４は、第１準備段階において取得される測定対象音Ｔ_Mに基づいて第１周波数スペクトルＸ₀（ｆ）および第２周波数スペクトルＹ₀（ｆ）を生成する例について説明するための概念図である。図４の例では、測定対象音Ｔ_Mに基づいた周波数スペクトルをＳ₀（ｆ）、測定対象音Ｔ_Mに基づいた第１伝達特性をＡ₀（ｆ）、第２伝達特性をＢ₀（ｆ）とする。このとき、第１準備段階における第１周波数スペクトルＸ₀（ｆ）および第２周波数スペクトルＹ₀（ｆ）のそれぞれは、以下の式１および式２で表すことができる。
Ｘ₀（ｆ）＝Ａ₀（ｆ）×Ｓ₀（ｆ）・・・（１）
Ｙ₀（ｆ）＝Ｂ₀（ｆ）×Ｓ₀（ｆ）・・・（２）
図５は、第２準備段階において取得される雑音Ｔ_Nに基づいてから第１周波数スペクトルＸ₁（ｆ）および第２周波数スペクトルＹ₁（ｆ）を生成することについて説明するための概念図である。図５の例では、雑音Ｔ_Nに基づいた周波数スペクトルをＮ₀（ｆ）、雑音Ｔ_Nに基づいた第１伝達特性をＡ₁（ｆ）、第２伝達特性をＢ₁（ｆ）とする。このとき、第２準備段階における第１周波数スペクトルＸ₁（ｆ）および第２周波数スペクトルＹ₁（ｆ）のそれぞれは、以下の式３および式４で表すことができる。
Ｘ₁（ｆ）＝Ａ₁（ｆ）×Ｎ₀（ｆ）・・・（３）
Ｙ₁（ｆ）＝Ｂ₁（ｆ）×Ｎ₀（ｆ）・・・（４）
図６は、検査段階において取得される測定対象音Ｔ_Mの周波数スペクトルＳ（ｆ）および雑音Ｔ_Nの周波数スペクトルＮ（ｆ）から第１周波数スペクトルＸ（ｆ）、第２周波数スペクトルＹ（ｆ）を生成することについて説明するための概念図である。図６の例では、測定対象音Ｔ_Mに基づいた周波数スペクトルをＳ（ｆ）、雑音Ｔ_Nに基づいた周波数スペクトルをＮ（ｆ）、雑音Ｔ_Nに基づいた第１伝達特性をＡ₂（ｆ）、第２伝達特性をＢ₂（ｆ）とする。第１マイクロホン１１０と計測対象物１００との位置関係と、第２マイクロホン１２０と計測対象物１００との位置関係とが固定されていれば、測定対象音に基づいた第１伝達特性および第２伝達特性のそれぞれは、Ａ₀（ｆ）およびＢ₀（ｆ）である。このとき、検査段階における第１周波数スペクトルＸ（ｆ）および第２周波数スペクトルＹ（ｆ）のそれぞれは、以下の式５および式６で表すことができる。
Ｘ（ｆ）＝Ａ₀（ｆ）×Ｓ（ｆ）＋Ａ₂（ｆ）×Ｎ（ｆ）・・・（５）
Ｙ（ｆ）＝Ｂ₀（ｆ）×Ｓ（ｆ）＋Ｂ₂（ｆ）×Ｎ（ｆ）・・・（６）
上述の式１および式２から、以下の式７の関係が成り立つ。
Ｘ₀（ｆ）／Ｙ₀（ｆ）＝Ａ₀（ｆ）／Ｂ₀（ｆ）・・・（７）
生産工程において、雑音Ｔ_Nに基づいた第１伝達特性Ａ₁（ｆ）、第２伝達特性Ｂ₁（ｆ）、第１伝達特性Ａ₂（ｆ）、および第２伝達特性Ｂ₂（ｆ）の主要なパラメータは、第１マイクロホン１１０および第２マイクロホン１２０と雑音源との距離である。雑音Ｔ_Nは、各マイクロホンと雑音源との距離の２乗に比例して減衰する。

【0040】

図７は、第１マイクロホン１１０および第２マイクロホン１２０と、雑音源との距離関係について説明するための概念図である。なお、図７においては、第１マイクロホン１１０および第２マイクロホン１２０と雑音源との距離が等しいとみなせるものとする。第１マイクロホン１１０および第２マイクロホン１２０と雑音源との距離をａとし、第１マイクロホン１１０と第２マイクロホン１２０と距離をｂとする。距離ｂに比べて距離ａを大きくするにつれて、雑音Ｔ_Nに基づいた第２伝達特性に対する第１伝達特性の比率（Ａ₁（ｆ）／Ｂ₁（ｆ）およびＡ₂（ｆ）／Ｂ₂（ｆ））は１に近づいていく。すなわち、第１マイクロホン１１０と第２マイクロホン１２０との距離ｂを、第１マイクロホン１１０および第２マイクロホン１２０と雑音源の距離ａに比べて所定の割合よりも小さく設定すれば、第２伝達特性に対する第２伝達特性の比率を１に近似できる。例えば、所定の割合は、１パーセントに設定できる。所定の割合を小さく設定するほど、測定対象音信号の測定精度が高くなる。

【0041】

例えば、第１マイクロホン１１０と第２マイクロホン１２０との距離を５ミリメートルに設定し、そこから半径１０００ミリメートル以内に雑音源が位置しないように音響特性計測システム１を構成する。このとき、雑音Ｔ_Nに基づいた第１伝達特性と第２伝達特性との比Ａ₁（ｆ）／Ｂ₁（ｆ）およびＡ₂（ｆ）／Ｂ₂（ｆ）は、それぞれ約０．９９になる。すなわち、第１マイクロホン１１０および第２マイクロホン１２０と、雑音源との距離が１０００ミリメートル以遠に設定すれば、検査結果への影響が１％以下になる。このとき、以下の式８の関係が成り立つ。
Ｘ₁（ｆ）／Ｙ₁（ｆ）＝Ａ₁（ｆ）／Ｂ₁（ｆ）≒Ａ₂（ｆ）／Ｂ₂（ｆ）・・・（８）
上記の式５を変形すると、以下の式９の関係が得られる。
Ｎ（ｆ）＝［Ｘ（ｆ）－Ａ₀（ｆ）×Ｓ（ｆ）］／Ａ₁（ｆ）・・・（９）
測定対象音Ｔ_Mに基づいた周波数スペクトルＳ_M（ｆ）は、Ａ₀（ｆ）×Ｓ（ｆ）またはＢ₀（ｆ）×Ｓ（ｆ）である。ここでは、Ａ₀（ｆ）×Ｓ（ｆ）を求める例について説明する。上記の式７、式８、および式９を式６に代入し、第１マイクロホン１１０が集音した測定対象音Ｔ_Mに関するＡ₀（ｆ）×Ｓ（ｆ）について整理すると、以下の式１０の関係が成り立つ。
Ａ₀（ｆ）×Ｓ（ｆ）＝Ｚ₁／Ｚ₂・・・（１０）
ただし、式１０において、Ｚ₁およびＺ₂のそれぞれは、以下の式１１および式１２で表される。
Ｚ₁＝Ｘ₀（ｆ）×Ｘ₁（ｆ）×Ｙ（ｆ）－Ｘ₀（ｆ）×Ｘ（ｆ）×Ｙ₁（ｆ）・・・（１１）
Ｚ₂＝Ｘ_１（ｆ）×Ｙ₀（ｆ）－Ｘ₀（ｆ）×Ｙ_１（ｆ）・・・（１２）
式１０の左辺は、測定対象音Ｔ_Mに基づいた周波数スペクトルＳ_M（測定対象信号）に相当する。式１０の右辺のＺ₁およびＺ₂の各要素は既知の信号であるので、式１０を用いれば、雑音Ｔ_Nを含まない測定対象音Ｔ_Mに基づいた周波数スペクトルＳ_M（測定対象音信号）を算出できる。

【0042】

以上が、音響特性計測システム１による測定対象音信号の抽出方法についての説明である。なお、上記の測定対象音信号の抽出方法は一例であって、本実施形態の音響特性計測システム１による測定対象音信号の抽出方法を限定するものではない。

【0043】

（動作）
次に、音響特性計測装置１０の動作について図面を参照しながら説明する。ここでは、動作の概要、第１準備段階、第２準備段階、および検査段階のそれぞれについて説明する。

【0044】

〔概要〕
図８は、音響特性計測装置１０の動作の概要について説明するためのフローチャートである。以下の図８のフローチャートに沿った説明においては、音響特性計測装置１０を動作の主体として説明する。

【0045】

図８において、まず、第１準備段階において、音響特性計測装置１０は、雑音を含まない測定対象音に基づいた第１集音信号および第２集音信号から、第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成する（ステップＳ１１）。

【0046】

次に、第２準備段階において、音響特性計測装置１０は、測定対象音を含まない雑音に基づいた第１集音信号および第２集音信号から、第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成する（ステップＳ１２）。

【0047】

そして、検査段階において、音響特性計測装置１０は、検査対象音に基づいた第１集音信号および第２集音信号から測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出する（ステップＳ１３）。このとき、音響特性計測装置１０は、測定対象音および雑音に基づいた第１周波数スペクトルと第２周波数スペクトルとを用いて、測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出する。

【0048】

以上が、図８のフローチャートに沿った音響特性計測装置１０の動作の概要についての説明である。なお、図８のフローチャートに沿った音響特性計測装置１０の動作は一例であって、本実施形態の音響特性計測装置１０の動作を限定するものではない。

【0049】

〔第１準備段階〕
図９は、第１準備段階における音響特性計測装置１０の動作（図８のステップＳ１１）について説明するためのフローチャートである。以下の図９のフローチャートに沿った説明においては、音響特性計測装置１０を動作の主体として説明する。

【0050】

図９において、まず、音響特性計測装置１０は、雑音を含まない測定対象音に基づいた第１集音信号および第２集音信号を受信する（ステップＳ１１１）。

【0051】

次に、音響特性計測装置１０は、受信した第１集音信号および第２集音信号をフーリエ変換し、測定対象音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成する（ステップＳ１１２）。

【0052】

そして、音響特性計測装置１０は、測定対象音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを記憶する（ステップＳ１１３）。

【0053】

以上が、図９のフローチャートに沿った第１準備段階における音響特性計測装置１０の動作についての説明である。

【0054】

〔第２準備段階〕
図１０は、第２準備段階における音響特性計測装置１０の動作（図８のステップＳ１２）について説明するためのフローチャートである。以下の図１０のフローチャートに沿った説明においては、音響特性計測装置１０を動作の主体として説明する。

【0055】

図１０において、まず、音響特性計測装置１０は、測定対象音を含まない雑音に基づいた第１集音信号および第２集音信号を受信する（ステップＳ１２１）。

【0056】

次に、音響特性計測装置１０は、受信した第１集音信号および第２集音信号をフーリエ変換し、雑音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成する（ステップＳ１２２）。

【0057】

そして、音響特性計測装置１０は、雑音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを記憶する（ステップＳ１２３）。

【0058】

以上が、図１０のフローチャートに沿った第２準備段階における音響特性計測装置１０の動作についての説明である。

【0059】

〔検査段階〕
図１１は、検査段階における音響特性計測装置１０の動作（図８のステップＳ１３）について説明するためのフローチャートである。以下の図１１のフローチャートに沿った説明においては、音響特性計測装置１０を動作の主体として説明する。

【0060】

図１１において、まず、音響特性計測装置１０は、検査対象音に基づいた第１集音信号および第２集音信号を受信する（ステップＳ１３１）。

【0061】

次に、音響特性計測装置１０は、受信した第１集音信号および第２集音信号をフーリエ変換し、検査対象音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成する（ステップＳ１３２）。

【0062】

そして、音響特性計測装置１０は、検査対象音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルから測定対象音に基づいた周波数スペクトル（測定対象信号）を抽出する（ステップＳ１３３）。このとき、音響特性計測装置１０は、測定対象音および雑音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを用いて、測定対象音に基づいた周波数スペクトル（測定対象信号）を抽出する。

【0063】

以上が、図１１のフローチャートに沿った検査段階における音響特性計測装置１０の動作についての説明である。なお、以上の図９～図１１のフローチャートに沿った音響特性計測装置１０の動作は一例であって、本実施形態の音響特性計測装置１０の動作を限定するものではない。

【0064】

以上のように、本実施形態の音響特性計測システムは、第１マイクロホン、第２マイクロホン、および音響特性計測装置を備える。第１マイクロホンは、測定対象物に向けて配置され、集音した音波を第１集音信号に変換して出力する無指向性のマイクロホンである。第２マイクロホンは、測定対象物に向けて配置され、集音した音波を第２集音信号に変換して出力する指向性の第２マイクロホンである。第１マイクロホンおよび第２マイクロホンは、測定対象物と第１マイクロホンと第２マイクロホンとの位置関係が一定になるように配置される。音響特性計測装置は、第１マイクロホンおよび第２マイクロホンのそれぞれから第１集音信号および第２集音信号を受信する。音響特性計測装置は、受信した第１集音信号および第２集音信号のそれぞれをフーリエ変換することによって第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを生成し、生成した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを記憶する。また、音響特性計測装置は、測定対象音および雑音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを用いて、検査対象音に基づいた第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルから測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出する。音響特性計測装置は、抽出した測定対象音信号を出力する。

【0065】

本実施形態の音響特性計測システムは、製品の生産工程において、対象製品の周囲から到来する雑音の影響を軽減する方法に関するものである。本実施形態の音響特性計測システムは、指向性の異なる２つのマイクを用いて、雑音が含まれない測定対象音のみの場合の周波数スペクトルと、測定対象音が含まれない雑音のみの場合の周波数スペクトルとを事前に生成しておく。本実施形態の音響特性計測システムは、事前に取得しておいた測定対象物および雑音源のそれぞれについて生成された周波数スペクトルには、各マイクロホンへの伝達特性が含まれる。本実施形態の音響特性計測システムは、測定対象物を検査する際に、測定対象音と雑音とが混在した検査対象音の周波数スペクトルに、事前に測定した周波数スペクトルを当てはめることにより、雑音を含まない測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出する。

【0066】

また、音響特性計測装置は、測定対象音および雑音に基づいて生成された第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルに含まれる伝達特性に基づいて、検査対象音に基づいた第１集音信号および第２集音信号から測定対象音信号を抽出する。測定対象音および雑音に基づいて生成された第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルに含まれる伝達特性は、第１マイクロホンおよび第２マイクロホンのそれぞれと測定対象音との間の音波の伝達特性である。

【0067】

また、音響特性計測装置には、第１準備段階において、雑音を含まない測定対象音に基づいた第１集音信号および第２集音信号から生成された、第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルが記憶される。第１準備段階は、検査対象音に基づいた第１集音信号および第２集音信号から測定対象音信号を抽出するよりも以前の段階である。

【0068】

また、音響特性計測装置には、第２準備段階において、測定対象音を含まない雑音に基づいた第１集音信号および第２集音信号から生成された、第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルが記憶される。第２準備段階は、検査対象音に基づいた第１集音信号および第２集音信号から測定対象音信号を抽出するよりも以前の段階である。

【0069】

また、音響特性計測装置は、第１集音信号受信部、第１フーリエ変換部、第２集音信号受信部、第２フーリエ変換部、記憶部、および計測制御部を有する。第１集音信号受信部は、第１マイクロホンから第１集音信号を受信する。第１フーリエ変換部は、第１集音信号受信部によって受信される第１集音信号をフーリエ変換して第１周波数スペクトルを生成する。第２集音信号受信部は、第２マイクロホンから第２集音信号を受信する。第２フーリエ変換部は、第２集音信号受信部によって受信される第２集音信号をフーリエ変換して第２周波数スペクトルを生成する。記憶部には、第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルが記憶される。計測制御部は、第１フーリエ変換部から第１周波数スペクトルを取得するとともに、第２フーリエ変換部から第２周波数スペクトルを取得し、取得した第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを記憶部に記憶させる。計測制御部は、第１準備段階および第２準備段階において取得される第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルは記憶部に記憶させる。計測制御部は、検査段階においては、第１準備段階および第２準備段階において取得された第１周波数スペクトルおよび第２周波数スペクトルを用いて測定対象音に基づいた測定対象音信号を抽出する。

【0070】

また、第１マイクロホンと第２マイクロホンとは、第１マイクロホンおよび第２マイクロホンと雑音源との距離に対する、第１マイクロホンと第２マイクロホンとの距離の比率が、所定値以下になる位置に配置される。

【0071】

以上のように、本実施形態の音響特性計測システムによれば、測定対象物の周囲から雑音が到来する生産工程においても、雑音が含まれない測定対象音を容易に取り出すことができるため、製品の良否判定を高精度化することができる。すなわち、本実施形態の音響特性計測システムによれば、検査対象音から雑音を除去することにより、生産工程における製品の音声検査を高精度化することができる。

【0072】

（ハードウェア）
ここで、本発明の各実施形態に係る音響特性計測装置の処理を実行するハードウェア構成について、図１２の情報処理装置９０を一例として挙げて説明する。なお、図１２の情報処理装置９０は、各実施形態の音響特性計測装置の処理を実行するための構成例であって、本発明の範囲を限定するものではない。

【0073】

図１２のように、情報処理装置９０は、プロセッサ９１、主記憶装置９２、補助記憶装置９３、入出力インターフェース９５および通信インターフェース９６を備える。図１２においては、インターフェースをＩ／Ｆ（Interface）と略して表記する。プロセッサ９１、主記憶装置９２、補助記憶装置９３、入出力インターフェース９５、および通信インターフェース９６は、バス９９を介して互いにデータ通信可能に接続される。また、プロセッサ９１、主記憶装置９２、補助記憶装置９３、および入出力インターフェース９５は、通信インターフェース９６を介して、インターネットやイントラネットなどのネットワークに接続される。

【0074】

プロセッサ９１は、補助記憶装置９３等に格納されたプログラムを主記憶装置９２に展開し、展開されたプログラムを実行する。本実施形態においては、情報処理装置９０にインストールされたソフトウェアプログラムを用いる構成とすればよい。プロセッサ９１は、本実施形態に係る音響特性計測装置による処理を実行する。

【0075】

主記憶装置９２は、プログラムが展開される領域を有する。主記憶装置９２は、例えばＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）などの揮発性メモリとすればよい。また、ＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）などの不揮発性メモリを主記憶装置９２として構成・追加してもよい。

【0076】

補助記憶装置９３は、種々のデータを記憶する。補助記憶装置９３は、ハードディスクやフラッシュメモリなどのローカルディスクによって構成される。なお、種々のデータを主記憶装置９２に記憶させる構成とし、補助記憶装置９３を省略することも可能である。

【0077】

入出力インターフェース９５は、情報処理装置９０と周辺機器とを接続するためのインターフェースである。通信インターフェース９６は、規格や仕様に基づいて、インターネットやイントラネットなどのネットワークを通じて、外部のシステムや装置に接続するためのインターフェースである。入出力インターフェース９５および通信インターフェース９６は、外部機器と接続するインターフェースとして共通化してもよい。

【0078】

情報処理装置９０には、必要に応じて、キーボードやマウス、タッチパネルなどの入力機器を接続するように構成してもよい。それらの入力機器は、情報や設定の入力に使用される。なお、タッチパネルを入力機器として用いる場合は、表示機器の表示画面が入力機器のインターフェースを兼ねる構成とすればよい。プロセッサ９１と入力機器との間のデータ通信は、入出力インターフェース９５に仲介させればよい。

【0079】

また、情報処理装置９０には、情報を表示するための表示機器を備え付けてもよい。表示機器を備え付ける場合、情報処理装置９０には、表示機器の表示を制御するための表示制御装置（図示しない）が備えられていることが好ましい。表示機器は、入出力インターフェース９５を介して情報処理装置９０に接続すればよい。

【0080】

また、情報処理装置９０には、必要に応じて、ディスクドライブを備え付けてもよい。ディスクドライブは、バス９９に接続される。ディスクドライブは、プロセッサ９１と図示しない記録媒体（プログラム記録媒体）との間で、記録媒体からのデータ・プログラムの読み出し、情報処理装置９０の処理結果の記録媒体への書き込みなどを仲介する。記録媒体は、例えば、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）などの光学記録媒体で実現できる。また、記録媒体は、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリやＳＤ（Secure Digital）カードなどの半導体記録媒体や、フレキシブルディスクなどの磁気記録媒体、その他の記録媒体によって実現してもよい。

【0081】

以上が、本発明の各実施形態に係る音響特性計測装置を可能とするためのハードウェア構成の一例である。なお、図１２のハードウェア構成は、各実施形態に係る音響特性計測装置の演算処理を実行するためのハードウェア構成の一例であって、本発明の範囲を限定するものではない。また、各実施形態に係る音響特性計測装置に関する処理をコンピュータに実行させるプログラムも本発明の範囲に含まれる。さらに、各実施形態に係るプログラムを記録したプログラム記録媒体も本発明の範囲に含まれる。

【0082】

各実施形態の音響特性計測装置の構成要素は、任意に組み合わせることができる。また、各実施形態の音響特性計測装置の構成要素は、ソフトウェアによって実現してもよいし、回路によって実現してもよい。

【0083】

以上、実施形態を参照して本発明を説明してきたが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。

【符号の説明】

【0084】

１ 音響特性計測システム
１０ 音響特性計測装置
１１ 第１集音信号受信部
１２ 第１フーリエ変換処理部
１３ 第２集音信号受信部
１４ 第２フーリエ変換処理部
１５ 計測制御部
１６ 記憶部
１７ 信号送信部
１００ 計測対象物
１１０ 第１マイクロホン
１２０ 第２マイクロホン

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】