特許7196514IP Force 特許公報全文掲載

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高価なＴｂやＤｙの使用量を低減させることが可能で高性能な希土類焼結磁石

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明は、上述した従来の問題点に鑑みなされたもので、従来の粒界拡散技術により作製されたものよりも高性能なＲ－Ｆｅ－Ｂ系焼結磁石（ＲはＳｃおよびＹを含む希土類元素から選ばれる２種以上）を提供することを目的とするものである。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明者らは、目的を達成するため鋭意検討を行った結果、Ｎｄ－Ｆｅ－Ｂ系焼結磁石に代表されるＲ－Ｆｅ－Ｂ系焼結磁石（ＲはＳｃ及びＹを含む希土類元素から選ばれる１種又は２種以上）に対し、種々の粒界拡散パターンと保磁力増大効果ならびに金属組織との関連を精査した結果、下記のように、磁石表面近傍に存在する粒子の独自な形態が保磁力増大量を著しく向上させ、しかも高価なＴｂやＤｙの使用量を低減し得ること・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、高性能で、かつＴｂあるいはＤｙの使用量を削減することが可能なＲ－Ｆｅ－Ｂ系焼結磁石を提供することができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 （Ａ）は実施例１（Ｍ１）、（Ｂ）は比較例２（Ｃ１）の焼結磁石の表面から１００μｍ内部における走査電子顕微鏡写真（反射電子像）である。
【図2】 （Ａ）は実施例１（Ｍ１）の磁石表面から１００μｍ内部における走査電子顕微鏡写真（反射電子像）、（Ｂ）は（Ａ）中に記された線分ＡＢにおけるＴｂの濃度プロファイルを示すグラフである。
【図3】 （Ａ）は実施例１（Ｍ１）の磁石体表面から３００μｍ内部における酸化物粒子を示す透過電子顕微鏡写真、（Ｂ）は（Ａ）中の線分ＤＥにおけるＴｂ濃度プロファイルを示すグラフである。
【図4】 （Ａ）は実施例２（Ｍ２）の磁石体表面から１００μｍ内部における走査電子顕微鏡写真（反射電子像）、（Ｂ）は（Ａ）内に記された線分ＦＧにおけるＴｂの濃度プロファイルを示すグラフである。
【図5】 （Ａ）は実施例３（Ｍ３）の磁石体表面から１００μｍ内部における走査電子顕微鏡写真（反射電子像）、（Ｂ）は（Ａ）内に記された線分ＩＪにおけるＤｙの濃度プロファイルを示すグラフである。

代表図 図1本件の代表的な図

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