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特許 7196593出願番号 特願 2018-240836
記録タイミングの決定方法、及び記録装置
出願人 セイコーエプソン株式会社（識別番号 2369）
2026年 特許公開件数ランキング 7位 1,294件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 17位 730件（※）
公報発行日 2022年12月27
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7196593 ログイン済みの方はこのURLへ
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※ 共同出願を含む
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技術分野
記録タイミングの決定方法、及び記録装置
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
記録装置には、異なる複数のノズルを使用して１つのラスターラインを形成するＰＯＬ記録を行うものがある。しかしながら、Ｂｉ－ｄ調整前の記録装置にて、テストパターンとしての複数のパッチをＰＯＬ記録した場合、ＰＯＬ記録されるオーバーラップ領域の画像が第２軸において広く記録される。このため、最適なパッチを選定するのが困難となり、選択されたパッチに基づいて行うＢｉ－ｄ調整、すなわち記録ヘッドの最適な記録タイミングが求められない虞があった。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
本願の記録タイミングの決定方法は、第１軸に沿って順に並ぶ第１ノズル群と第３ノズル群と第２ノズル群とを有する記録ヘッドによって前記第１軸と交差する第２軸に沿って配置される複数のパッチを媒体に記録する記録工程と、前記媒体に記録された複数のパッチから、選択されたパッチに基づいて前記記録ヘッドの記録タイミングを決定するタイミング決定工程と、を含み、前記複数のパッチは、前記第１ノズル群と前記第２ノズル・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
この特許の権利範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
記録装置の概略構成を示す斜視図。
【図2】
記録装置の概略構成を示す断面図。
【図3】
記録ヘッドの一例を示す平面図。
【図4】
記録ヘッドの内部構成を示す断面図。
【図5】
記録装置の概略構成を示すブロック図。
【図6】
記録動作を説明するためのノズル列の構成を示す図。
【図7】
ノズル列と媒体との相対位置関係、及び記録結果を説明する図。
【図8】
テストパターンの形状を説明する図。
【図9】
記録タイミング決定方法を説明するフローチャート図。
【図10】
１Ｐａｓｓ Ｂｉ－ｄによるテストパターンの記録方法を説明する図。
【図11】
媒体に記録されたテストパターンの一例を説明する図。
【図12】
３Ｐａｓｓ Ｂｉ－ｄによるテストパターンの記録方法を説明する図。
【図13】
従来技術によるテストパターンの一例を説明する図。
【図14】
１Ｐａｓｓ Ｂｉ－ｄによるテストパターンの記録方法を説明する図。
【図15】
媒体に記録されたテストパターンの一例を説明する図。
代表図 図1本件の代表的な図
１…制御部、２…インターフェイス部、３…ＣＰＵ、３ａ…記録タイミング決定部、４…制御回路、４ａ…駆動信号生成部、４ｂ…吐出信号生成部、４ｃ…移動信号生成部、５…メモリー、１４…媒体供給部、１５…媒体巻取部、２１…搬送ローラー対、２２…搬送経路、２３…上流案内部、２４…プラテン、２５…下流案内部、３３…操作部、５１…筐体部、５５…キャリッジ、５８…記録部、５９…ヘッド移動部、６０…記録ヘッド、６３…ノズル、６３ａ…第１ノズル群、６３ｂ…第２ノズル群、６３ｃ…第３ノズル群、６４…ノズル列、７０，１７０…テストパターン、７１～７７，１７１～１７７…パッチ、７１ａ～７７ａ，７１ｂ～７７ｂ，１７１ａ～１７７ａ，１７１ｂ～１７７ｂ…記録パッチ、１００…記録装置、１１０…入力装置、Ｓ…媒体、Ｆｄ…第１領域、Ｓｄ…第２領域、ＯＬ…オーバーラップ領域。
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