(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2023-01-31
(45)【発行日】2023-02-08
(54)【発明の名称】擬似不良品を用いて動作確認される検査装置
(51)【国際特許分類】
G01N 23/18 20180101AFI20230201BHJP
G01N 23/04 20180101ALI20230201BHJP
B07C 5/346 20060101ALI20230201BHJP
【ＦＩ】
G01N23/18
G01N23/04
B07C5/346
【請求項の数】
2
(21)【出願番号】P 2021106631
(22)【出願日】2021-06-28
(62)【分割の表示】P 2016183101の分割
【原出願日】2016-09-20
(65)【公開番号】P2021167825
(43)【公開日】2021-10-21
【審査請求日】2021-06-28
(73)【特許権者】
【識別番号】000147833
【氏名又は名称】株式会社イシダ
(74)【代理人】
【識別番号】110000202
【氏名又は名称】新樹グローバル・アイピー特許業務法人
(72)【発明者】
【氏名】杉本 一幸
(72)【発明者】
【氏名】栖原 一浩
【審査官】小野寺 麻美子
(56)【参考文献】
【文献】特開２００５－００３４８１（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１３－１５６１９８（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開平９－８９８０５（ＪＰ，Ａ）
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｇ０１Ｎ ２３／００ － Ｇ０１Ｎ ２３／２２７６
Ｇ０１Ｎ ２１／８４ － Ｇ０１Ｎ ２１／９５８
Ｂ０７Ｃ １／００ － Ｂ０７Ｃ ９９／００
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
物品を検査する検査システムであって、検査対象の前記物品が良品および不良品のいずれであるかを判定する検査を行う検査機構と、
前記物品を受け取り、前記検査機構を通過させ、排出する搬送機構と、
ユーザからの入力を受け付ける入力部と、
前記物品の前記検査のみを行う通常モード、および前記物品の前記検査とともに前記検査機構の動作確認を行うテストモードのいずれかを設定するモード設定部と、
前記モード設定部が前記テストモードを設定しており、かつ、前記検査機構が前記検査対象に関して前記良品であると判定をした場合には、前記検査対象を前記良品として取り扱うように制御し、
前記モード設定部が前記テストモードを設定しており、前記検査機構が前記検査対象に関して前記不良品であると判定し、かつ、前記検査対象が、正常に動作する前記検査機構によって前記不良品であると判定されるように構成されている疑似不良品である旨の前記入力を前記入力部が受け取った場合には、前記疑似不良品である旨の前記入力により選択された検査対象を前記不良品として取り扱わないように制御する、制御部と、
を備える、検査システム。
【請求項2】
制御部と、
ユーザからの入力を受け付ける入力部と、
によって物品を検査する検査方法であって、
前記物品の検査とともに検査機構の動作確認を行うテストモードにおいて、検査対象に関して良品であると判定する場合には、前記制御部は前記検査対象を前記良品として取り扱い、
前記テストモードにおいて、前記検査対象に関して不良品であると判定し、かつ、前記検査対象が、正常に動作する前記検査機構によって前記不良品であると判定されるように構成されている疑似不良品である旨の入力を前記入力部がユーザから受け取る場合には、前記制御部は前記疑似不良品である旨の前記入力により選択された検査対象を前記不良品として取り扱わない、
検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、擬似不良品を用いて動作確認される検査装置に関する。
【背景技術】
【0002】
製品の製造設備には、製品が良品か不良品かを判定する検査装置が含まれることがある。検査装置の一例は、Ｘ線検査装置である。Ｘ線検査装置は、例えば、Ｘ線を製品に照射するＸ線照射器と、製品の画像を取得する撮像装置を有する。良品か不良品かの判定は、多くの場合には自動的に実行される。判定の手順には、例えば、画像から抽出した指標を所定の閾値と比較する処理が含まれる。
【0003】
検査装置の使用に際しては、良品か不良品かの自動的な判定が正常に実行されているか否かを確認するために、定期的な動作確認が必要である。特許文献１（特許第４７２４４６２号公報）に開示される検査装置の動作確認においては、擬似不良品が用いられる。擬似不良品は、検査装置によって不良品であると判定されるように構成された物体であり、例えば意図的に異物を付加された製品である。擬似不良品は、動作確認の実施中に、検査装置に逐次供給されてくる製品の搬送経路上に人為的に混入される。このような動作確認の間にも、製品の検査は実施される。動作確認の実施中に検査装置が良品であると判定した製品は後段の工程へ渡されて出荷されるので、動作確認は製造効率に大きな悪影響を与えない。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかし、不良品であると判定された検査対象が、本来の製品のうちの不良品であるのか、擬似不良品であるのかの判別は一般的には難しいので、出荷される製品の検査と、検査装置の動作確認との両立は困難である。検査対象が擬似不良品であるか否かという判別を検査装置自身が自動的に実行するような構成においては、そもそも検査装置の動作確認の信憑性それ自体が疑問視される。
【0005】
本発明の課題は、検査装置において、製品の製造を行いながら実行される動作確認を容易にすることである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の第１観点に係る検査装置は、物品を検査する。検査装置は、検査機構と、搬送機構と、記憶部と、検査結果出力部と、入力部と、モード設定部と、を備える。検査機構は、物品に付加された異物を検出することによって、物品が良品および不良品のいずれであるかを判定する検査を行う。搬送機構は、物品を受け取り、検査機構を通過させ、排出する。記憶部は、検査において判定された、良品の数である良品数および不良品の数である不良品数を記憶する。検査結果出力部は、良品数および不良品数を出力する。入力部は、ユーザから入力を受け付ける。モード設定部は、物品の検査のみを行う通常モード、および物品の検査とともに検査機構の動作確認を行うテストモードのいずれかを入力によって設定する。モード設定部がテストモードを設定しており、かつ、検査機構が物品に関して良品であると判定をした場合には、記憶部は、物品を良品数に計上する。モード設定部が前記テストモードを設定しており、かつ、前記検査機構が、正常に動作する前記検査機構によって前記不良品であると判定されるように構成された擬似不良品に関して前記不良品であると判定した場合には、記憶部は、擬似不良品を前記不良品数に計上しない。
【0007】
この構成によれば、テストモードにおいて、擬似不良品は不良品数に計上されない。検査レポートに記載された不良品数は、物品の製造工程で発生した不良品の数である。したがって、検査装置の動作確認の実行中においても、ユーザは検査レポートから正確な不良品率を知ることができる。
【0008】
本発明の第２観点に係る検査装置は、第１観点に係る検査装置において、モード設定部がテストモードを設定している場合には、記憶部は、検査機構によって不良品であると判定をされた擬似不良品の数である擬似不良品数をさらに記憶する。
【0009】
この構成によれば、テストモードにおいて、擬似不良品は擬似不良品数に計上される。したがって、ユーザは、検査レポートに記載された擬似不良品数が、テストモードの実行中に実際に擬似不良品を投入した回数と一致しているかを確認することによって、検査装置の動作確認をすることができる。
【0010】
本発明の第３観点に係る検査装置は、第２観点に係る検査装置において、ユーザに情報を提供する表示部、をさらに備える。モード設定部が前記テストモードを設定しており、かつ、前記不良品の判定をした場合には、表示部は、検査対象の表示を行う。同じ場合に、入力部は、表示が物品に関するものであるか、または擬似不良品に関するものであるかについての指定を、ユーザから受け付ける。同じ場合に、記憶部は、指定が物品である場合には、不良品の判定を不良品数に計上する一方、指定が擬似不良品である場合には、不良品の判定を擬似不良品数に計上する。
【0011】
この構成によれば、テストモードにおいて、検査対象の表示を見ることにより、不良品判定が物品の製造上の不具合に起因するか、または擬似不良品に起因するかをユーザが確認することができる。それによって、検査装置１０の動作確認ができる。
【0012】
本発明の第４観点に係る検査装置は、第３観点に係る検査装置において、検査機構が、電磁波を発する電磁波源を有する。検査対象の表示は、電磁波を照射された物品に関するものである。
【0013】
この構成によれば、検査機構は電磁波を用いて検査をする。したがって、検査対象の物品が破壊されにくい。
【0014】
本発明の第５観点に係る検査装置は、第４観点に係る検査装置において、電磁波がＸ線である。検査対象の表示は、Ｘ線を照射された物品の画像である。
【0015】
この構成によれば、検査機構はＸ線を用いて検査を行う。したがって、物品への異物の混入が簡単に検出できる。
【0016】
本発明の第６観点に係る検査装置は、第４観点に係る検査装置において、表示は、物品を透過した電磁波によって誘導された磁界に関する量である。
【0017】
この構成によれば、検査機構は誘導磁界によって検査を行う。したがって、物品への金属片の混入が検出しやすい。
【0018】
本発明の第７観点に係る検査装置は、第３観点に係る検査装置において、検査機構が、物品の重量を測定する重量測定部を有する。表示は、物品の重量に関する量である。
【0019】
この構成によれば、検査機構は重量によって検査を行う。したがって、検査装置を比較的安価に構成できる。
別の観点に係る検査装置は、物品を検査する。検査装置は、検査機構と、搬送機構と、記憶部と、入力部と、モード設定部と、制御部と、を備える。検査機構は、検査対象の異物を検出することによって、物品が良品および不良品のいずれであるかを判定する検査を行う。搬送機構は、物品を受け取り、検査機構を通過させ、排出する。記憶部は、検査において判定された結果を記憶する。入力部は、ユーザから入力を受け付ける。モード設定部は、物品の検査のみを行う通常モード、および物品の検査とともに検査機構の動作確認を行うテストモードのいずれかを設定する。制御部は、モード設定部がテストモードを設定しており、かつ、検査機構が検査対象に関して良品であると判定をした場合には、記憶部に、検査対象を良品として記憶させる。制御部は、モード設定部がテストモードを設定しており、検査機構が検査対象に関して不良品であると判定し、かつ、検査機構が、正常に動作する検査機構によって不良品であると判定されるように構成されている擬似不良品である旨の入力を入力部が受け取った場合には、記憶部に、擬似不良品である旨の入力により選択された検査対象を不良品として記憶させない。
別の観点に係る検査方法は、物品を検査するために用いられる。検査方法においては、記物品の検査とともに検査機構の動作確認を行うテストモードにおいて、検査対象に関して良品であると判定する場合には、検査対象を良品として記憶する。検査方法においては、テストモードにおいて、検査対象に関して不良品であると判定し、かつ、検査対象が、正常に動作する検査機構によって疑似不良品であると判定されるように構成されている疑似良品である旨の入力をユーザから受け取る場合には、疑似不良品である旨の入力により選択された検査対象を不良品として記憶しない。
別の観点に係る検査システムは、物品を検査する。検査システムは、記憶ユニットと、制御ユニットと、を備える。 制御ユニットは、物品の検査とともに検査機構の動作確認を行うテストモードにおいて、検査対象に関して良品であると判定する場合には、検査対象を良品として記憶ユニットに記憶する。制御ユニットは、テストモードにおいて、検査対象に関して不良品であると判定し、かつ、検査対象が、正常に動作する検査対象によって不用品であると判定されるように構成されている疑似不用品である旨の入力をユーザから受け取る場合には、疑似不良品である旨の入力により選択された検査対象を不良品として記憶ユニットに記憶しない。
別の観点に係る検査装置は、物品を検査する。検査装置は、検査機構と、搬送機構と、記憶部と、入力部と、モード設定部と、制御部と、を備える。検査機構は、検査対象の異物を検出することによって、物品が良品および不良品のいずれであるかを判定する検査を行う。搬送機構は、物品を受け取り、検査機構を通過させ、排出する。記憶部は、検査において判定された結果を記憶する。入力部は、ユーザから入力を受け付ける。モード設定部は、物品の検査のみを行う通常モード、および物品の検査とともに検査機構の動作確認を行うテストモードのいずれかを設定する。制御部は、モード設定部がテストモードを設定しており、かつ、検査機構が検査対象に関して良品であると判定をした場合には、記憶部に、検査対象を良品として記憶させる。制御部は、モード設定部がテストモードを設定しており、検査機構が検査対象に関して不良品であると判定し、かつ、検査機構が、正常に動作する検査機構によって不良品であると判定されるように構成されている擬似不良品である旨の入力を入力部が受け取った場合には、記憶部に、擬似不良品である旨の入力により選択された検査対象を不良品として記憶させない。
別の観点に係る検査方法は、物品を検査するために用いられる。検査方法においては、記物品の検査とともに検査機構の動作確認を行うテストモードにおいて、検査対象に関して良品であると判定する場合には、検査対象を良品として記憶する。検査方法においては、テストモードにおいて、検査対象に関して不良品であると判定し、かつ、検査対象が、正常に動作する検査機構によって疑似不良品であると判定されるように構成されている疑似良品である旨の入力をユーザから受け取る場合には、疑似不良品である旨の入力により選択された検査対象を不良品として記憶しない。
別の観点に係る検査システムは、物品を検査する。検査システムは、記憶ユニットと、制御ユニットと、を備える。 制御ユニットは、物品の検査とともに検査機構の動作確認を行うテストモードにおいて、検査対象に関して良品であると判定する場合には、検査対象を良品として記憶ユニットに記憶する。制御ユニットは、テストモードにおいて、検査対象に関して不良品であると判定し、かつ、検査対象が、正常に動作する検査対象によって不用品であると判定されるように構成されている疑似不用品である旨の入力をユーザから受け取る場合には、疑似不良品である旨の入力により選択された検査対象を不良品として記憶ユニットに記憶しない。
【発明の効果】
【0020】
本発明に係る検査装置によれば、製品の製造を行いながら実行される動作確認が容易である。
【図面の簡単な説明】
【0021】
【図1】本発明の一実施形態に係る検査装置１０の外観図である。
【図2】検査装置１０を利用した検査システム９０の概略図である。
【図3】検査装置１０の検査機構５０の模式図である。
【図4】検査装置１０の制御部６０のブロック図である。
【図5】擬似不良品Ｑの外観図である。
【図6】不良判定画面Ｚを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0022】
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。なお、以下の実施形態は、本発明の具体例であって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
【0023】
（１）全体構成
図１は、本発明の一実施形態に係る検査装置１０を示す。検査装置１０は、例えば袋詰めされた食品などの物品の搬送ラインに設置され、金属片などの異物が物品に混入しているかを検査するものである。検査装置１０は、シールドボックス２０、搬送機構３０、タッチパネル４０、検査結果出力部４５、検査機構５０、および図示されていない制御部６０を有する。検査装置１０は、その前段および後段に配置されるコンベアと高さを整合させるために、台Ｓの上に載置されている。
図１は、本発明の一実施形態に係る検査装置１０を示す。検査装置１０は、例えば袋詰めされた食品などの物品の搬送ラインに設置され、金属片などの異物が物品に混入しているかを検査するものである。検査装置１０は、シールドボックス２０、搬送機構３０、タッチパネル４０、検査結果出力部４５、検査機構５０、および図示されていない制御部６０を有する。検査装置１０は、その前段および後段に配置されるコンベアと高さを整合させるために、台Ｓの上に載置されている。
【0024】
図２は、検査装置１０を利用した検査システム９０を示す。前段のコンベアＢ１から搬送方向Ｃに搬送される物品Ａを、検査装置１０は受け取る。検査装置１０は、物品Ａが異物を含んでいない良品であるか、異物を含んだ不良品であるかを判定する検査を行う。検査装置１０から排出された物品Ａは、振り分け装置８０に送られる。振り分け装置８０は、物品Ａに関する判定結果を検査装置１０から受信する。振り分け装置８０は、良品を後段のコンベアＢ２へ渡し、不良品を排出方向Ｅ１または排出方向Ｅ２へ排出する。
【0025】
（２）詳細構成
図１に戻り、検査装置１０の詳細を説明する。検査装置１０は、Ｘ線を用いて物品Ａを検査する。
図１に戻り、検査装置１０の詳細を説明する。検査装置１０は、Ｘ線を用いて物品Ａを検査する。
【0026】
（２－１）シールドボックス２０
シールドボックス２０は、検査装置１０のケーシングである。シールドボックス２０は、Ｘ線を透過しない材質で構成されている。シールドボックス２０には、物品Ａを受け取る物品受取口２１と、物品Ａを排出する物品排出口２２が形成されている。物品受取口２１と物品排出口２２にはいずれも遮蔽カーテン２３が取り付けられている。遮蔽カーテン２３は、Ｘ線がシールドボックス２０の外部へ漏洩することを抑制する。
シールドボックス２０は、検査装置１０のケーシングである。シールドボックス２０は、Ｘ線を透過しない材質で構成されている。シールドボックス２０には、物品Ａを受け取る物品受取口２１と、物品Ａを排出する物品排出口２２が形成されている。物品受取口２１と物品排出口２２にはいずれも遮蔽カーテン２３が取り付けられている。遮蔽カーテン２３は、Ｘ線がシールドボックス２０の外部へ漏洩することを抑制する。
【0027】
（２－２）搬送機構３０
搬送機構３０は、物品Ａを物品受取口２１から物品排出口２２まで搬送する。図３に示すように、搬送機構３０は、無端ベルト３１、駆動ローラ３２、従動ローラ３３、駆動モータ３４有する。無端ベルト３１は、駆動ローラ３２から従動ローラ３３わたって掛けられている。無端ベルト３１は、Ｘ線を透過する材料により構成されている。駆動モータ３４は駆動ローラ３２を回転させる。無端ベルト３１の上面３１ａは、従動ローラ３３から駆動ローラ３２に向かって物品Ａとともに搬送方向Ｃへ移動し、これによって物品Ａに検査機構５０を通過させる。無端ベルト３１の下面３１ｂは、駆動ローラ３２から従動ローラ３３に向かって移動する。
搬送機構３０は、物品Ａを物品受取口２１から物品排出口２２まで搬送する。図３に示すように、搬送機構３０は、無端ベルト３１、駆動ローラ３２、従動ローラ３３、駆動モータ３４有する。無端ベルト３１は、駆動ローラ３２から従動ローラ３３わたって掛けられている。無端ベルト３１は、Ｘ線を透過する材料により構成されている。駆動モータ３４は駆動ローラ３２を回転させる。無端ベルト３１の上面３１ａは、従動ローラ３３から駆動ローラ３２に向かって物品Ａとともに搬送方向Ｃへ移動し、これによって物品Ａに検査機構５０を通過させる。無端ベルト３１の下面３１ｂは、駆動ローラ３２から従動ローラ３３に向かって移動する。
【0028】
（２－３）タッチパネル４０
図１に示すタッチパネル４０は、ユーザからの入力を受け付けるキーおよび、ユーザに情報を提供するティスプレイとして機能する。
図１に示すタッチパネル４０は、ユーザからの入力を受け付けるキーおよび、ユーザに情報を提供するティスプレイとして機能する。
【0029】
（２－４）検査結果出力部４５
検査結果出力部４５は、複数の物品Ａについて実施された検査ルーティーンに関する検査レポートを出力する。検査結果出力部４５は、プリンタとして構成されている。これに代えて、検査結果出力部４５はディスプレイやその他の出力装置として構成されてもよい。
検査結果出力部４５は、複数の物品Ａについて実施された検査ルーティーンに関する検査レポートを出力する。検査結果出力部４５は、プリンタとして構成されている。これに代えて、検査結果出力部４５はディスプレイやその他の出力装置として構成されてもよい。
【0030】
（２－５）検査機構５０
図３に示す検査機構５０は、Ｘ線照射器５１と、Ｘ線ラインセンサ５２とを有する。Ｘ線照射器５１は、搬送機構３０の無端ベルト３１によって搬送される物品Ａに、Ｘ線５３を照射する。物品Ａは、例えば、Ｘ線５３を透過する包装材Ｗによって包装された、食品などの商品Ｇである。Ｘ線５３は、物品Ａおよび無端ベルト３１の上面３１ａを透過して、無端ベルト３１の上面３１ａと下面３１ｂの間に設置されているＸ線ラインセンサ５２に到達する。Ｘ線ラインセンサ５２は、搬送方向Ｃに直交する方向に一列に並んだ複数のＸ線検出素子５２ａを有している。Ｘ線ラインセンサ５２は、それぞれのＸ線検出素子５２ａが検出したＸ線５３の強度に応じて信号を出力する。
図３に示す検査機構５０は、Ｘ線照射器５１と、Ｘ線ラインセンサ５２とを有する。Ｘ線照射器５１は、搬送機構３０の無端ベルト３１によって搬送される物品Ａに、Ｘ線５３を照射する。物品Ａは、例えば、Ｘ線５３を透過する包装材Ｗによって包装された、食品などの商品Ｇである。Ｘ線５３は、物品Ａおよび無端ベルト３１の上面３１ａを透過して、無端ベルト３１の上面３１ａと下面３１ｂの間に設置されているＸ線ラインセンサ５２に到達する。Ｘ線ラインセンサ５２は、搬送方向Ｃに直交する方向に一列に並んだ複数のＸ線検出素子５２ａを有している。Ｘ線ラインセンサ５２は、それぞれのＸ線検出素子５２ａが検出したＸ線５３の強度に応じて信号を出力する。
【0031】
（２－６）制御部６０
図４に示す制御部６０は、検査装置１０の各部を制御する。制御部６０は、中央処理部６１、記憶部６２、モード設定部６３を有する。中央処理部６１は、検査装置１０の全体の動作を統括する。記憶部６２は、データ、プログラム、変数、フラグ、画像、その他の情報を記憶する。モード設定部６３には、検査装置１０の動作モードが、ユーザによる入力部４１を介した入力により設定される。制御部６０は、さらに、以下に述べる各種インターフェイスを有する。キー入力インターフェイス６５ａは、タッチパネル４０のキーとして構成された入力部４１からの入力を処理する。ディスプレイインターフェイス６５ｂは、タッチパネル４０のディスプレイ４２の画面制御を行う。検査結果出力部インターフェイス６５ｃは、検査結果出力部４５を制御する。照射器インターフェイス６５ｄは、Ｘ線照射器５１を制御する。ラインセンサインターフェイス６５ｅは、Ｘ線ラインセンサ５２の出力信号を増幅およびＡＤ変換する。モータインターフェイス６５ｆは、駆動モータ３４を制御する。振り分け装置インターフェイス６５ｇは、振り分け装置８０に対して、検査対象の物品Ａに関する判定の結果を送信する。
図４に示す制御部６０は、検査装置１０の各部を制御する。制御部６０は、中央処理部６１、記憶部６２、モード設定部６３を有する。中央処理部６１は、検査装置１０の全体の動作を統括する。記憶部６２は、データ、プログラム、変数、フラグ、画像、その他の情報を記憶する。モード設定部６３には、検査装置１０の動作モードが、ユーザによる入力部４１を介した入力により設定される。制御部６０は、さらに、以下に述べる各種インターフェイスを有する。キー入力インターフェイス６５ａは、タッチパネル４０のキーとして構成された入力部４１からの入力を処理する。ディスプレイインターフェイス６５ｂは、タッチパネル４０のディスプレイ４２の画面制御を行う。検査結果出力部インターフェイス６５ｃは、検査結果出力部４５を制御する。照射器インターフェイス６５ｄは、Ｘ線照射器５１を制御する。ラインセンサインターフェイス６５ｅは、Ｘ線ラインセンサ５２の出力信号を増幅およびＡＤ変換する。モータインターフェイス６５ｆは、駆動モータ３４を制御する。振り分け装置インターフェイス６５ｇは、振り分け装置８０に対して、検査対象の物品Ａに関する判定の結果を送信する。
【0032】
（３）動作モード
動作モードには、通常モードＭＮおよびテストモードＭＴがある。
動作モードには、通常モードＭＮおよびテストモードＭＴがある。
【0033】
（３－１）通常モードＭＮ
通常モードＭＮは、物品Ａの通常の検査ルーティーンを行うモードである。検査ルーティーンが開始されると、図３に示す検査機構５０には、搬送機構３０によって複数の物品Ａが連続的に搬送される。物品Ａを透過したＸ線５３の強度は、Ｘ線ラインセンサ５２によって検出される。図４の制御部６０において、Ｘ線ラインセンサ５２の出力信号は、ラインセンサインターフェイス６５ｅで増幅およびＡＤ変換をされた後、中央処理部６１に取得される。中央処理部６１は、Ｘ線ラインセンサ５２の複数回分の出力信号を画像の形式に統合して、記憶部６２に保存する。中央処理部６１は、所定の処理手順によって、物品Ａが良品であるか不良品であるかを判定する。ここでいう所定の処理手順は、例えば、記憶部６２に保存された画像の画像処理、画像からの所定の指標の抽出、指標と所定の閾値との比較、などを含む。判定の結果は、振り分け装置８０へ送信される。判定の結果は、さらに、タッチパネル４０のディスプレイ４２に逐次表示されてもよい。判定の結果は、記憶部６２に格納されている良品数ＮＰと不良品数ＮＦのデータに計上される。
通常モードＭＮは、物品Ａの通常の検査ルーティーンを行うモードである。検査ルーティーンが開始されると、図３に示す検査機構５０には、搬送機構３０によって複数の物品Ａが連続的に搬送される。物品Ａを透過したＸ線５３の強度は、Ｘ線ラインセンサ５２によって検出される。図４の制御部６０において、Ｘ線ラインセンサ５２の出力信号は、ラインセンサインターフェイス６５ｅで増幅およびＡＤ変換をされた後、中央処理部６１に取得される。中央処理部６１は、Ｘ線ラインセンサ５２の複数回分の出力信号を画像の形式に統合して、記憶部６２に保存する。中央処理部６１は、所定の処理手順によって、物品Ａが良品であるか不良品であるかを判定する。ここでいう所定の処理手順は、例えば、記憶部６２に保存された画像の画像処理、画像からの所定の指標の抽出、指標と所定の閾値との比較、などを含む。判定の結果は、振り分け装置８０へ送信される。判定の結果は、さらに、タッチパネル４０のディスプレイ４２に逐次表示されてもよい。判定の結果は、記憶部６２に格納されている良品数ＮＰと不良品数ＮＦのデータに計上される。
【0034】
所定時間の経過、または所定数量の物品Ａの判定の終了、などの終了条件が満たされると、検査装置１０は検査ルーティーンを終了する。最後に、複数の物品Ａについての判定の結果を集計した検査レポートが、検査結果出力部４５から出力される。検査レポートには、良品数ＮＰと不良品数ＮＦが記載される。
【0035】
振り分け装置８０は、良品と判定された物品Ａを後段のコンベアＢ２へ渡す一方、不良品と判定された物品Ａを排出方向Ｅ１または排出方向Ｅ２へ排出する。
【0036】
（３－２）テストモードＭＴ
テストモードＭＴは、物品Ａが良品であるか不良品かであるかを判定する検査が正常に実行されているか否かを確認するために、検査装置１０自身の動作確認を行うモードである。さらに、テストモードＭＴの実行中にも物品Ａの検査は実施され、通常モードＭＮと同様に、良品は後段のコンベアＢ２へ渡される。
テストモードＭＴは、物品Ａが良品であるか不良品かであるかを判定する検査が正常に実行されているか否かを確認するために、検査装置１０自身の動作確認を行うモードである。さらに、テストモードＭＴの実行中にも物品Ａの検査は実施され、通常モードＭＮと同様に、良品は後段のコンベアＢ２へ渡される。
【0037】
テストモードＭＴでは、動作確認に立ち会うユーザが、前段のコンベアＢ１によって搬送される複数の物品Ａの中に、擬似不良品Ｑを混入する。擬似不良品Ｑは、例えば図５に示すように、商品Ｇを包装する包装材Ｗの上に、粘着テープＴで複数の金属異物Ｆを付加したものである。複数の金属異物Ｆは、規則的に変化する大きさを有し、かつ規則的な位置に配置されている。
【0038】
テストモードＭＴにおいて、検査ルーティーンが開始されると、検査機構５０は通常モードＭＮと同様のやり方で物品Ａの検査を行う。検査対象が良品であると判定された場合には、検査対象は良品数ＮＰに計上され、良品であると判定された物品Ａは後段のコンベアＢ２へ渡される。一方、検査対象が不良品であると判定された場合には、タッチパネル４０には、図６に示す不良判定画面Ｚが表示され、検査装置１０はユーザからの入力を待つ。
【0039】
不良判定画面Ｚは、不良品の判定がなされたことを示す不良表示４２ａ、および不良品の判定がなされた物品ＡのＸ線画像４２ｂを含んでいる。ユーザは、Ｘ線画像４２ｂを見ることにより、表示されている検査対象が物品Ａの製造上の不具合によって生じた不良品であるか、人為的に混入された擬似不良品Ｑであるかを判断する。不良判定画面Ｚは、さらに、ユーザの判断を指定するための不良品キー４１ａおよび擬似不良品キー４１ｂを含んでいる。図６においては、Ｘ線画像４２ｂには規則的に配置された金属異物Ｆが映っており、検査対象が擬似不良品Ｑである可能性が高いので、ユーザは擬似不良品キー４１ｂに触れることになる。不良品キー４１ａが触れられた場合には、検査対象は不良品数ＮＦに計上される。一方、擬似不良品キー４１ｂが触れられた場合には、検査対象は擬似不良品数ＮＱに計上される。不良品キー４１ａおよび擬似不良品キー４１ｂのいずれが触れられた場合も、検査装置１０は、振り分け装置８０に対して排出の指示を発する。この場合、例えば物品Ａの不良品を排出方向Ｅ１に、擬似不良品Ｑを排出方向Ｅ２に、それぞれ排出させてもよい。
【0040】
不良判定画面Ｚは、ユーザからの入力を待つ間表示され続ける。この時、搬送機構３０は動作を停止してもよい。あるいは、引き続き検査装置１０に搬送される物品Ａが良品と判断され続け、先に不良品であると判定された検査対象が振り分け装置８０に到達するまでに時間的な余裕がある場合に限り、搬送機構３０と検査機構５０は動作を継続してもよい。あるいは、物品Ａの不良品および擬似不良品Ｑをともに同一の排出方向Ｅ１に排出させるように検査システム９０が構成されている場合には、搬送機構３０は動作を停止しなくともよい。この場合、記憶部６２には、不良品と判定された全ての検査対象の画像を保存される。次いで、検査ルーティーンが終了した後に、ユーザは保存された一連の画像を見て、それぞれの画像についての判断の指定を不良品キー４１ａまたは擬似不良品キー４１ｂによって行う。
【0041】
テストモード終了キー４１ｃが触れられるなど、所定の終了条件が満たされると、検査装置１０は検査ルーティーンを終了する。最後に、複数の物品Ａについての判定の結果を集計した検査レポートが、検査結果出力部４５から出力される。検査レポートには、良品数ＮＰ、不良品数ＮＦ、に加えて、擬似不良品数ＮＱが記載される。
【0042】
テストモードＭＴは、例えば、下記の点でユーザにとって有意義である。
－ Ｘ線画像４２ｂを見ることにより、擬似不良品Ｑについて不良品の判定がなされていることをユーザは確認することができる。それによって、検査装置１０の動作確認ができる。
－ 検査レポートに記載された擬似不良品数ＮＱが、テストモードＭＴの実行中に実際に擬似不良品Ｑを投入した回数と一致しているかを、ユーザは確認することができる。擬似不良品数ＮＱと投入回数とが一致している場合には、検査装置１０が正常に動作していることを確認ができる。
－ 擬似不良品数ＮＱと投入回数とが食い違っている場合には、例えば、擬似不良品Ｑについて良品であると判定された可能性が想定される。この場合には、テストモードＭＴの検査ルーティーンの実行中に製造された物品Ａをすべて廃棄するという措置をユーザが採ることにより、擬似不良品Ｑが物品Ａの良品として出荷されてしまうことを防止できる。
－ 検査レポートから、出荷可能な良品数ＮＰを知ることができる。
－ 検査レポートから、不良品率ＮＦ／ＮＰを知ることができる。
－ Ｘ線画像４２ｂを見ることにより、擬似不良品Ｑについて不良品の判定がなされていることをユーザは確認することができる。それによって、検査装置１０の動作確認ができる。
－ 検査レポートに記載された擬似不良品数ＮＱが、テストモードＭＴの実行中に実際に擬似不良品Ｑを投入した回数と一致しているかを、ユーザは確認することができる。擬似不良品数ＮＱと投入回数とが一致している場合には、検査装置１０が正常に動作していることを確認ができる。
－ 擬似不良品数ＮＱと投入回数とが食い違っている場合には、例えば、擬似不良品Ｑについて良品であると判定された可能性が想定される。この場合には、テストモードＭＴの検査ルーティーンの実行中に製造された物品Ａをすべて廃棄するという措置をユーザが採ることにより、擬似不良品Ｑが物品Ａの良品として出荷されてしまうことを防止できる。
－ 検査レポートから、出荷可能な良品数ＮＰを知ることができる。
－ 検査レポートから、不良品率ＮＦ／ＮＰを知ることができる。
【0043】
（４）特徴
（４－１）
テストモードＭＴにおいて、擬似不良品Ｑは不良品数ＮＦに計上されない。検査レポートに記載された不良品数ＮＦは、物品Ａの製造工程で発生した不良品の数である。したがって、検査装置１０の動作確認の実行中においても、ユーザは検査レポートから正確な不良品率ＮＦ／ＮＰを知ることができる。
（４－１）
テストモードＭＴにおいて、擬似不良品Ｑは不良品数ＮＦに計上されない。検査レポートに記載された不良品数ＮＦは、物品Ａの製造工程で発生した不良品の数である。したがって、検査装置１０の動作確認の実行中においても、ユーザは検査レポートから正確な不良品率ＮＦ／ＮＰを知ることができる。
【0044】
（４－２）
テストモードＭＴにおいて、擬似不良品Ｑは擬似不良品数ＮＱに計上される。したがって、ユーザは、検査レポートに記載された擬似不良品数ＮＱが、テストモードＭＴの実行中に実際に擬似不良品Ｑを投入した回数と一致しているかを確認することによって、検査装置１０の動作確認をすることができる。
テストモードＭＴにおいて、擬似不良品Ｑは擬似不良品数ＮＱに計上される。したがって、ユーザは、検査レポートに記載された擬似不良品数ＮＱが、テストモードＭＴの実行中に実際に擬似不良品Ｑを投入した回数と一致しているかを確認することによって、検査装置１０の動作確認をすることができる。
【0045】
（４－３）
テストモードＭＴにおいて、Ｘ線画像４２ｂを見ることにより、不良品判定が物品Ａの製造上の不具合に起因するか、または擬似不良品Ｑに起因するかをユーザが確認することができる。それによって、検査装置１０の動作確認ができる。
テストモードＭＴにおいて、Ｘ線画像４２ｂを見ることにより、不良品判定が物品Ａの製造上の不具合に起因するか、または擬似不良品Ｑに起因するかをユーザが確認することができる。それによって、検査装置１０の動作確認ができる。
【0046】
（４－４）
検査機構５０はＸ線を用いて検査を行う。したがって、物品Ａへの金属異物Ｆの混入が簡単に検出できる。
検査機構５０はＸ線を用いて検査を行う。したがって、物品Ａへの金属異物Ｆの混入が簡単に検出できる。
【0047】
（５）変形例
（５－１）変形例Ａ
上述の実施形態に係る検査装置１０では、テストモードＭＴにおいて擬似不良品数ＮＱが計上される。これに代えて、テストモードＭＴにおいて、擬似不良品数ＮＱを数えない仕様としてもよい。
（５－１）変形例Ａ
上述の実施形態に係る検査装置１０では、テストモードＭＴにおいて擬似不良品数ＮＱが計上される。これに代えて、テストモードＭＴにおいて、擬似不良品数ＮＱを数えない仕様としてもよい。
【0048】
テストモードＭＴにおいて、検査対象が不良品であると判定された場合には、タッチパネル４０には、図６に示す不良判定画面Ｚが表示され、検査装置１０はユーザからの入力を待つ。不良品キー４１ａが触れられた場合には、検査対象は不良品数ＮＦに計上される。一方、擬似不良品キー４１ｂが触れられた場合には、その検査対象はどの変数にも計上されない。
【0049】
テストモード終了キー４１ｃが触れられるなど、所定の終了条件が満たされると、検査装置１０は検査ルーティーンを終了する。最後に、複数の物品Ａについての判定の結果を集計した検査レポートが、検査結果出力部４５から出力される。検査レポートには、例えば、良品数ＮＰ、不良品数ＮＦ、および、検査ルーティーン結果が記載される。検査ルーティーン結果は、不良品数ＮＦがゼロである場合に「良」である旨、不良品数ＮＦが１以上である場合に「不良」である旨のメッセージを含む。
【0050】
この構成によれば、擬似不良品Ｑに起因する不良品の判定が検査レポートに含まれない。したがって、ユーザは、物品Ａの製造設備の状態を簡潔に把握できる。
【0051】
（５－２）変形例Ｂ
上述の実施形態に係る検査装置１０には、Ｘ線光学系として構成された検査機構５０が搭載されている。これに代えて、検査機構５０は、その他の光学系または電磁波検出系により構成されてもよい。この場合、Ｘ線照射器５１に代えて、紫外線、可視光線、赤外線、マイクロ波などの電磁波を放出する電磁波源が用いられる。Ｘ線ラインセンサ５２に代えて、それらの電磁波を検出する電磁波センサが用いられる。
上述の実施形態に係る検査装置１０には、Ｘ線光学系として構成された検査機構５０が搭載されている。これに代えて、検査機構５０は、その他の光学系または電磁波検出系により構成されてもよい。この場合、Ｘ線照射器５１に代えて、紫外線、可視光線、赤外線、マイクロ波などの電磁波を放出する電磁波源が用いられる。Ｘ線ラインセンサ５２に代えて、それらの電磁波を検出する電磁波センサが用いられる。
【0052】
この構成によれば、検査機構５０は電磁波を用いて検査をする。したがって、検査対象の物品Ａが破壊されにくい。
【0053】
（５－３）変形例Ｃ
上述の実施形態に係る検査装置１０には、透過Ｘ線強度の検出によって判定を行う検査機構５０が搭載されている。これに代えて、検査機構５０は、物品を透過した電磁波によって誘導された磁界の検出によって判定を行ってもよい。Ｘ線ラインセンサ５２に代えて用いられる磁界センサは、ラインセンサである必要はない。制御部６０は、磁界センサの出力信号を画像として統合する必要はない。不良判定画面Ｚでは、Ｘ線画像４２ｂに代えて、検出された誘導磁界の大きさが表示される。擬似不良品Ｑとしては、通常の製造工程で混入される金属異物Ｆの量の範囲を超えるほど大量の金属異物Ｆが付加されたものを用いる。ユーザは、不良判定画面Ｚに表示された誘導磁界のレベルを見て、検査対象が物品Ａの不良品であるか、擬似不良品Ｑであるかを判断する。その後、ユーザはその判断の指定を不良品キー４１ａまたは擬似不良品キー４１ｂによって行う。
上述の実施形態に係る検査装置１０には、透過Ｘ線強度の検出によって判定を行う検査機構５０が搭載されている。これに代えて、検査機構５０は、物品を透過した電磁波によって誘導された磁界の検出によって判定を行ってもよい。Ｘ線ラインセンサ５２に代えて用いられる磁界センサは、ラインセンサである必要はない。制御部６０は、磁界センサの出力信号を画像として統合する必要はない。不良判定画面Ｚでは、Ｘ線画像４２ｂに代えて、検出された誘導磁界の大きさが表示される。擬似不良品Ｑとしては、通常の製造工程で混入される金属異物Ｆの量の範囲を超えるほど大量の金属異物Ｆが付加されたものを用いる。ユーザは、不良判定画面Ｚに表示された誘導磁界のレベルを見て、検査対象が物品Ａの不良品であるか、擬似不良品Ｑであるかを判断する。その後、ユーザはその判断の指定を不良品キー４１ａまたは擬似不良品キー４１ｂによって行う。
【0054】
この構成によれば、検査機構５０は誘導磁界によって検査を行う。したがって、物品への金属片の混入が検出しやすい。
【0055】
（５－４）変形例Ｄ
上述の実施形態に係る検査装置１０は、物品Ａへの金属異物Ｆの混入の有無を検査するものである。これに代えて、検査装置１０は、物品Ａの重量が所定の出荷許容範囲に収まっているか否かを検査するものであってもよい。この場合透過Ｘ線強度の検出によって判定を行う検査機構５０に代えて、物品Ａの重量の検出によって判定を行う検査機構５０が搭載される。Ｘ線ラインセンサ５２に代えて用いられる重量測定部は、ラインセンサである必要はない。制御部６０は、重量測定部の出力信号を画像として統合する必要はない。不良判定画面Ｚでは、Ｘ線画像４２ｂに代えて、検出された重量の大きさが表示される。擬似不良品Ｑとしては、通常の物品Ａのとりうる重量の範囲を外れる値の重量を有するものを用いる。ユーザは、不良判定画面Ｚに表示された重量のレベルを見て、検査対象が物品Ａの不良品であるか、擬似不良品Ｑであるかを判断する。その後、ユーザはその判断の指定を不良品キー４１ａまたは擬似不良品キー４１ｂによって行う。
上述の実施形態に係る検査装置１０は、物品Ａへの金属異物Ｆの混入の有無を検査するものである。これに代えて、検査装置１０は、物品Ａの重量が所定の出荷許容範囲に収まっているか否かを検査するものであってもよい。この場合透過Ｘ線強度の検出によって判定を行う検査機構５０に代えて、物品Ａの重量の検出によって判定を行う検査機構５０が搭載される。Ｘ線ラインセンサ５２に代えて用いられる重量測定部は、ラインセンサである必要はない。制御部６０は、重量測定部の出力信号を画像として統合する必要はない。不良判定画面Ｚでは、Ｘ線画像４２ｂに代えて、検出された重量の大きさが表示される。擬似不良品Ｑとしては、通常の物品Ａのとりうる重量の範囲を外れる値の重量を有するものを用いる。ユーザは、不良判定画面Ｚに表示された重量のレベルを見て、検査対象が物品Ａの不良品であるか、擬似不良品Ｑであるかを判断する。その後、ユーザはその判断の指定を不良品キー４１ａまたは擬似不良品キー４１ｂによって行う。
【0056】
この構成によれば、検査機構５０は重量によって検査を行う。したがって、検査装置１０を比較的安価に構成できる。
【符号の説明】
【0057】
１０ 検査装置
２０ シールドボックス
３０ 搬送機構
４０ タッチパネル
５０ 検査機構
５１ Ｘ線照射器
５２ Ｘ線ラインセンサ
６０ 制御部
Ａ 物品
Ｆ 金属異物
Ｑ 擬似不良品
Ｚ 不良表示画面
２０ シールドボックス
３０ 搬送機構
４０ タッチパネル
５０ 検査機構
５１ Ｘ線照射器
５２ Ｘ線ラインセンサ
６０ 制御部
Ａ 物品
Ｆ 金属異物
Ｑ 擬似不良品
Ｚ 不良表示画面
【先行技術文献】
【特許文献】
【0058】
【文献】特許第４７２４４６２号公報
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】