技術分野
一般に、電気的パラメータ測定装置、より具体的には、電気的パラメータ測定装置のためのセンサプローブ
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
絶縁導体とのガルバニック接触を必要とせずに絶縁導体における電気的パラメータを検出するように動作可能な電気的パラメータセンサプローブは、本体と本体に結合された可撓性アーム及び固定アームであって、可撓性アームが閉鎖位置と開放位置との間で変形可能あり、閉鎖位置において、可撓性アームの端部が、固定アームの端部に当接して絶縁導体を受容する測定領域を画定する閉鎖した測定ループを形成し、開放位置において、・・・ 続きを
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
図面では、同一の参照番号により類似の要素又は作用が識別される。図面における要素の寸法及び相対位置は、必ずしも縮尺どおりに描かれていない。例えば、種々の要素及び角度の形状は必ずしも縮尺どおりに描かれているわけではなく、これらの要素の一部は、図面の明瞭性を向上させるために任意に拡大されかつ位置付けられていてもよい。なお、図示されるような要素の特定の形状は、必ずしも特定の要素の実際の形状に関する任意の情報を伝えることが意図されているわけではなく、単に図面において認識しやすいように選択されていてもよい。
【図1】
図1は、非限定的な例示的一実施形態による、可撓性アームが、閉鎖した測定ループを形成するように移動可能である、可撓性アームと非接触センサとを含む電気的パラメータセンサプローブを含む電気的パラメータ測定装置の絵図であり、測定ループが開放されて、絶縁導体が測定のために測定領域内に受容され得る状態を示す。
【図2】
図2は、非限定的な例示的一実施形態による、図1の電気的パラメータ測定装置の絵図であり、測定ループが被試験絶縁導体の周りで閉じられて、導体が非接触センサに近接して位置付けられた状態を示す。
【図3】
図3は、非限定的な例示的一実施形態による、閉鎖位置と開放位置との間で移動する可撓性アームを含む電気的パラメータ測定装置の絵図であり、可撓性アームが閉鎖位置にあり、被試験絶縁導体が測定領域の外側に位置付けられた状態を示す。
【図4】
図4は、非限定的な例示的一実施形態による、図3の電気的パラメータ測定装置の絵図であり、可撓性アームが開放位置にあって、被試験導体を電気的パラメータ測定装置の測定領域内に移動することが可能な状態を示す。
【図5】
図5は、非限定的な例示的一実施形態による、図3の電気的パラメータ測定装置の絵図であり、可撓性アームが閉鎖位置にあって、絶縁導体が、測定領域内で非接触センサに近接して位置付けられた状態を示す。
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