特許7223728IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

形状の異なる検査対象の放射性物質による表面汚染を高精度に測定するための装置に関し、特に、α線による汚染の有無を検査することに適した放射能汚染検査装置に関するものである。

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、従来技術には、以下のような課題がある。 特許文献１では、検査室に入れた検査対象物から放出されるα線により電離生成された電子イオン対を含む空気を、測定室に導き、測定室で高電圧を印加して空気中の電子イオン対を電極に収集して電荷として集め、その電荷を計測することで汚染の有無を判定している。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示に係る放射能汚染検査装置は、放射能汚染量の検査対象物の表面形状を計測する形状計測部と、検査対象物から放出される放射線により電離生成される電子イオン対を収集するための電極と、形状計測部による計測結果に基づいて、表面形状からの距離が許容距離範囲内になるように電極の位置合せを行うとともに、電極により収集した電子イオン対量に基づいて検査対象物の放射能汚染量を算出するコントローラとを備え、検査対・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示によれば、電子イオン対が再結合することに伴う放射能汚染量の算出精度劣化を抑制し、形状の異なる検査対象物の放射線強度を高精度に測定することができる放射能汚染検査装置を得ることができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本開示の実施の形態１に係る放射能汚染検査装置の全体構成を説明するための図である。
【図2】 本開示の実施の形態１において、電極を検査対象物の表面形状に沿って走査させる場合のイメージ図である。
【図3】 本開示の実施の形態１において、形状計測部として３Ｄスキャナーを用いた場合の検査対象物の形状把握を示したイメージ図である。
【図4】 本開示の実施の形態１において、形状計測部として発光素子群と受光素子群を用いた場合の検査対象物の形状把握を示したイメージ図である。
【図5】 本開示の実施の形態１において、電極を検査対象物の表面形状に沿って走査させる状態を示したイメージ図である。
【図6】 本開示の実施の形態１において、電極を検査対象物の表面形状に沿って走査させる状態を示した、図５とは異なるイメージ図である。
【図7】 本開示の実施の形態１における比例計数管領域を説明するための図である。
【図8】 本開示の実施の形態１における放射能汚染量の算出処理に関するフローチャートである。

代表図 図1本件の代表的な図

１ 検査対象物、１１ 形状計測部、１２ 電極、１３ 電極駆動部、１４ コントローラ、２１ 表示器。

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