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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2023-03-15
(45)【発行日】2023-03-24
(54)【発明の名称】装置、方法、およびプログラム
(51)【国際特許分類】
G01R 31/28 20060101AFI20230316BHJP
【ＦＩ】
G01R31/28 H
【請求項の数】
30
(21)【出願番号】P 2018171557
(22)【出願日】2018-09-13
(65)【公開番号】P2020041975
(43)【公開日】2020-03-19
【審査請求日】2021-07-15
【前置審査】
(73)【特許権者】
【識別番号】390005175
【氏名又は名称】株式会社アドバンテスト
(74)【代理人】
【識別番号】110000877
【氏名又は名称】弁理士法人ＲＹＵＫＡ国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】金巻 俊一
【審査官】小川 浩史
(56)【参考文献】
【文献】特表平１１－５１０９０３（ＪＰ，Ａ）
【文献】特表２００９－５４３３２６（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２００５－９０９５９（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２００１－２７２４４２（ＪＰ，Ａ）
【文献】米国特許出願公開第２０１０／０１６１２７６（ＵＳ，Ａ１）
【文献】“Examinator-Pro TM”，Galaxy Semiconductor Inc.，2016年10月29日，http://web.archive.org/web/20161029075620/http://www.galaxysemi.com/modules/index.htm
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｇ０１Ｒ ３１／２８－３１／３１９３
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成部と、試験装置に対して、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を実行させる試験処理部と、
前記変更試験候補による前記被試験デバイスの変更試験結果、および、前記対象試験による前記被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較部と、
前記比較部による比較結果に基づいて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定部と
を備え、
前記比較部は、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を繰り返し実行することによって取得される測定値の変更統計値、および、前記被試験デバイスの前記対象試験を繰り返し実行することによって取得される測定値の対象統計値を比較する、装置。
【請求項2】
前記判定部は、前記変更試験結果および前記対象試験結果が一致する場合に、または、前記被試験デバイスの前記対象試験を繰り返し実行することによって取得される測定値の対象統計値に対する、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を繰り返し実行することによって取得される測定値の変更統計値の差異が予め定められた範囲内にある場合に、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定する、請求項１に記載の装置。
【請求項3】
前記生成部は、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定されたことに応じて、前記変更試験候補の実行時間を更に短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成する、請求項２に記載の装置。
【請求項4】
前記生成部は、前記変更試験結果に含まれる前記被試験デバイスの性能別の分類を示す第１の指標が、前記対象試験結果に含まれる前記被試験デバイスの性能別の分類を示す第２の指標と同一であると判定されたことに応じて、前記変更試験候補の実行時間を更に短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成する、請求項１に記載の装置。
【請求項5】
前記生成部は、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定されたことに応じて、前記変更試験候補の実行時間を更に短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成し、前記比較部は、前記生成部によって生成された複数の前記変更試験候補のそれぞれによる前記変更試験結果を前記対象試験結果と比較し、
前記判定部は、前記比較部による比較結果に基づき、前記対象試験を前記複数の変更試験候補のそれぞれで代用可能か否かを判定し、
前記複数の変更試験候補のうち前記対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が最小となる変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備える、請求項１または２に記載の装置。
【請求項6】
前記生成部は、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定されたことに応じて、前記変更試験候補の実行時間を更に短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成し、前記比較部は、前記生成部によって生成された複数の前記変更試験候補のそれぞれによる前記変更試験結果を前記対象試験結果と比較し、
前記判定部は、前記比較部による比較結果に基づき、前記対象試験を前記複数の変更試験候補のそれぞれで代用可能か否かを判定し、
前記複数の変更試験候補のうち前記対象試験を代用可能であると判定された変更試験候補の実行時間が予め定められた目標時間以下となったことを条件として、前記条件を満たす前記変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備える、請求項１または２に記載の装置。
【請求項7】
前記生成部は、前記対象試験における、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮する変更を加えて前記変更試験候補を生成する、請求項１から６の何れか一項に記載の装置。
【請求項8】
前記生成部は、前記対象試験における、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮する変更を加えた複数の変更試験候補を生成し、前記比較部は、前記生成部によって生成された前記複数の変更試験候補のそれぞれによる前記変更試験結果を前記対象試験結果と比較し、
前記判定部は、前記比較部による比較結果に基づき、前記対象試験を前記複数の変更試験候補のそれぞれで代用可能か否かを判定し、
前記複数の変更試験候補のうち前記対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から実行時間が最小となる特定の変更試験候補を探索して、前記特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備える、請求項１または２に記載の装置。
【請求項9】
前記生成部は、前記対象試験における、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮する変更を加えた複数の変更試験候補を生成し、前記比較部は、前記生成部によって生成された前記複数の変更試験候補のそれぞれによる前記変更試験結果を前記対象試験結果と比較し、
前記判定部は、前記比較部による比較結果に基づき、前記対象試験を前記複数の変更試験候補のそれぞれで代用可能か否かを判定し、
前記複数の変更試験候補のうち前記対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から実行時間が予め定められた目標時間以下となる特定の変更試験候補を探索して、前記特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備える、請求項１または２に記載の装置。
【請求項10】
前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として、前記生成部に、前記変更試験候補における、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を単位時間だけ短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返し、複数の前記変更試験候補のうち前記対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から実行時間が最小となる特定の変更試験候補を探索するシーケンシャル探索を実施して、前記特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備える、請求項１または２に記載の装置。
【請求項11】
前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として、前記生成部に、前記変更試験候補における、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を単位時間だけ短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返し、複数の前記変更試験候補のうち前記対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から実行時間が予め定められた目標時間以下となる特定の変更試験候補を探索するシーケンシャル探索を実施して、前記特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備える、請求項１または２に記載の装置。
【請求項12】
前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として、前記生成部に、前記変更試験候補における、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を半分にする変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返し、複数の前記変更試験候補のうち前記対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から実行時間が最小となる特定の変更試験候補を探索するバイナリ探索を実施して、前記特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備える、請求項１または２に記載の装置。
【請求項13】
前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として、前記生成部に、前記変更試験候補における、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を半分にする変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返し、複数の前記変更試験候補のうち前記対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から実行時間が予め定められた目標時間以下となる特定の変更試験候補を探索するバイナリ探索を実施して、前記特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備える、請求項１または２に記載の装置。
【請求項14】
被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成部と、試験装置に対して、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を実行させる試験処理部と、
前記変更試験候補による前記被試験デバイスの変更試験結果、および、前記対象試験による前記被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較部と、
前記比較部による比較結果に基づいて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定部と
を備え、
前記生成部は、前記対象試験における、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮する変更を加えて前記変更試験候補を生成し、
前記待ち時間を単位時間だけ短縮する変更を加えて生成した前記変更試験候補を第１の回数だけ実行した前記変更試験結果を前記対象試験結果と比較した比較結果に基づいて前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として、前記生成部に前記変更試験候補の前記待ち時間を更に単位時間だけ短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返し、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能ではないと判定されたことに応じて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定されるまで、変更直前の前記変更試験候補を予め定められた回数繰り返し実行した前記変更試験結果を前記対象試験結果と比較することを繰り返すことにより、特定の変更試験候補を探索するスクリーニング探索を実施して、前記特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備え、前記第１の回数は前記予め定められた回数よりも少ない、装置。
【請求項15】
被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成部と、試験装置に対して、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を実行させる試験処理部と、
前記変更試験候補による前記被試験デバイスの変更試験結果、および、前記対象試験による前記被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較部と、
前記比較部による比較結果に基づいて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定部と、
前記対象試験に含まれる複数の試験シーケンスのそれぞれにおける、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間の組を遺伝子とする遺伝的アルゴリズムにより、前記複数の処理間の待ち時間を変更した前記複数の試験シーケンスを含む前記変更試験候補を決定して前記生成部に生成させ、前記遺伝的アルゴリズムにより前記変更試験候補の前記複数の処理間の待ち時間を更に変更した前記複数の試験シーケンスを含む新たな変更試験候補を決定して前記生成部に生成させ、前記対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が最小となる特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部と
を備える、装置。
【請求項16】
被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成部と、試験装置に対して、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を実行させる試験処理部と、
前記変更試験候補による前記被試験デバイスの変更試験結果、および、前記対象試験による前記被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較部と、
前記比較部による比較結果に基づいて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定部と、
前記対象試験に含まれる複数の試験シーケンスのそれぞれにおける、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間の組を遺伝子とする遺伝的アルゴリズムにより、前記複数の処理間の待ち時間を変更した前記複数の試験シーケンスを含む前記変更試験候補を決定して前記生成部に生成させ、前記遺伝的アルゴリズムにより前記変更試験候補の前記複数の処理間の待ち時間を更に変更した前記複数の試験シーケンスを含む新たな変更試験候補を決定して前記生成部に生成させ、前記対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が予め定められた目標時間以下となる特定の変更試験候補を探索して、前記特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部と
を備える、装置。
【請求項17】
被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成部と、試験装置に対して、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を実行させる試験処理部と、
前記変更試験候補による前記被試験デバイスの変更試験結果、および、前記対象試験による前記被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較部と、
前記比較部による比較結果に基づいて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定部と
を備え、
前記生成部は、前記被試験デバイスの前記対象試験に含まれる複数の試験シーケンスのそれぞれに予め設定されている、試験シーケンスが１つ終了する度に前記被試験デバイスの電源を自動的にオフにする自動パワーオフ処理を無効にすることにより前記実行時間を短縮する変更を加えて前記変更試験候補を生成する、装置。
【請求項18】
前記生成部は、前記対象試験における、前記被試験デバイスに電力を供給するためのリレーをクローズする複数の処理を並行に実行するように設定することにより前記実行時間を短縮する変更を加えて前記変更試験候補を生成する、請求項１から１７の何れか一項に記載の装置。
【請求項19】
前記生成部は、前記対象試験において、前記被試験デバイスに電力を供給するためのリレーをクローズした状態で前記被試験デバイスの電源をオンにする処理およびオフにする処理を繰り返し実行するように設定することにより前記実行時間を短縮する変更を加えて前記変更試験候補を生成する、請求項１から１８の何れか一項に記載の装置。
【請求項20】
前記生成部は、前記対象試験における処理を、前記リレーをクローズする処理と並行に実行するように設定することにより前記実行時間を短縮する変更を加えて前記変更試験候補を生成する、請求項１８または１９に記載の装置。
【請求項21】
前記生成部は、前記対象試験に含まれる繰り返し処理の繰り返し回数を削減することにより前記実行時間を短縮する変更を加えて前記変更試験候補を生成する、請求項１から２０の何れか一項に記載の装置。
【請求項22】
前記判定部は、統計値における複数の測定値の分布を示す指標である工程能力指数を利用し、前記対象統計値の工程能力指数が満たす基準を、前記変更統計値の工程能力指数が満たす場合に前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定する、請求項１に記載の装置。
【請求項23】
ユーザに対して、前記対象統計値の工程能力指数を示して前記基準を指定させるための画面を表示する表示部を更に備える、請求項２２に記載の装置。
【請求項24】
前記生成部は、前記対象試験における複数の処理のうち、ユーザによって指定された処理に対しては前記変更を加えない、請求項１から２３の何れか一項に記載の装置。
【請求項25】
被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成段階と、試験装置に対して、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を実行させる試験処理段階と、
前記変更試験候補による前記被試験デバイスの変更試験結果、および、前記対象試験による前記被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較段階と、
前記比較段階による比較結果に基づいて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定段階と
を備え、
前記比較段階は、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を繰り返し実行することによって取得される測定値の変更統計値、および、前記被試験デバイスの前記対象試験を繰り返し実行することによって取得される測定値の対象統計値を比較する、方法。
【請求項26】
被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成段階と、試験装置に対して、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を実行させる試験処理段階と、
前記変更試験候補による前記被試験デバイスの変更試験結果、および、前記対象試験による前記被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較段階と、
前記比較段階による比較結果に基づいて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定段階と
を備え、
前記生成段階は、前記対象試験における、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮する変更を加えて前記変更試験候補を生成し、
前記待ち時間を単位時間だけ短縮する変更を加えて生成した前記変更試験候補を第１の回数だけ実行した前記変更試験結果を前記対象試験結果と比較した比較結果に基づいて前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として、前記生成段階で前記変更試験候補の前記待ち時間を更に単位時間だけ短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返し、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能ではないと判定されたことに応じて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能であると判定されるまで、変更直前の前記変更試験候補を予め定められた回数繰り返し実行した前記変更試験結果を前記対象試験結果と比較することを繰り返すことにより、特定の変更試験候補を探索するスクリーニング探索を実施して、前記特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定段階を更に備え、前記第１の回数は前記予め定められた回数よりも少ない、方法。
【請求項27】
被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成段階と、試験装置に対して、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を実行させる試験処理段階と、
前記変更試験候補による前記被試験デバイスの変更試験結果、および、前記対象試験による前記被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較段階と、
前記比較段階による比較結果に基づいて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定段階と、
前記対象試験に含まれる複数の試験シーケンスのそれぞれにおける、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間の組を遺伝子とする遺伝的アルゴリズムにより、前記複数の処理間の待ち時間を変更した前記複数の試験シーケンスを含む前記変更試験候補を決定して前記生成段階で生成させ、前記遺伝的アルゴリズムにより前記変更試験候補の前記複数の処理間の待ち時間を更に変更した前記複数の試験シーケンスを含む新たな変更試験候補を決定して前記生成段階で生成させ、前記対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が最小となる特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定段階と
を備える方法。
【請求項28】
被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成段階と、試験装置に対して、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を実行させる試験処理段階と、
前記変更試験候補による前記被試験デバイスの変更試験結果、および、前記対象試験による前記被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較段階と、
前記比較段階による比較結果に基づいて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定段階と、
前記対象試験に含まれる複数の試験シーケンスのそれぞれにおける、前記被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間の組を遺伝子とする遺伝的アルゴリズムにより、前記複数の処理間の待ち時間を変更した前記複数の試験シーケンスを含む前記変更試験候補を決定して前記生成段階で生成させ、前記遺伝的アルゴリズムにより前記変更試験候補の前記複数の処理間の待ち時間を更に変更した前記複数の試験シーケンスを含む新たな変更試験候補を決定して前記生成段階で生成させ、前記対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が予め定められた目標時間以下となる特定の変更試験候補を探索して、前記特定の変更試験候補を前記対象試験の代わりの変更試験として決定する決定段階と
を備える方法。
【請求項29】
被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成段階と、試験装置に対して、前記被試験デバイスの前記変更試験候補を実行させる試験処理段階と、
前記変更試験候補による前記被試験デバイスの変更試験結果、および、前記対象試験による前記被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較段階と、
前記比較段階による比較結果に基づいて、前記対象試験を前記変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定段階と
を備え、
前記生成段階は、前記被試験デバイスの前記対象試験に含まれる複数の試験シーケンスのそれぞれに予め設定されている、試験シーケンスが１つ終了する度に前記被試験デバイスの電源を自動的にオフにする自動パワーオフ処理を無効にすることにより前記実行時間を短縮する変更を加えて前記変更試験候補を生成する、方法。
【請求項30】
コンピュータに請求項２５から２９の何れか一項に記載の方法を実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、装置、方法、およびプログラムに関する。
【背景技術】
【0002】
従来、静的な解析により、被試験デバイス（ＤＵＴ）の試験プログラムにおける不要な操作または命令の除去を行うことで、試験時間を短縮するシステムが知られている（例えば、特許文献１参照）。
特許文献１ 特開２００５－０９０９５９号公報
特許文献１ 特開２００５－０９０９５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
上記のシステムでは、実動作が不明であるため、論理的に確証が持てる項目しか改善することができなかった。
【課題を解決するための手段】
【0004】
本発明の第１の態様においては、装置を提供する。装置は、被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成部を備えてもよい。装置は、試験装置に対して、被試験デバイスの変更試験候補を実行させる試験処理部を備えてもよい。装置は、変更試験候補による被試験デバイスの変更試験結果、および、対象試験による被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較部を備えてもよい。装置は、比較部による比較結果に基づいて、対象試験を変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定部を備えてもよい。
【0005】
判定部は、変更試験結果と対象試験結果との差異が合格基準を満たす場合に対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定してもよい。
【0006】
生成部は、差異が合格基準を満たすと判定されたことに応じて、変更試験候補の実行時間を更に短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成してもよい。
【0007】
生成部は、変更試験結果の分類を示す第１のＢｉｎが、対象試験結果の分類を示す第２のＢｉｎと同一であると判定されたことに応じて、変更試験候補の実行時間を更に短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成してもよい。
【0008】
装置は、複数の変更試験候補のうち対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が最小となる変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備えてもよい。
【0009】
装置は、複数の変更試験候補のうち対象試験を代用可能であると判定された変更試験候補の実行時間が予め定められた目標時間以下となったことを条件として、条件を満たす変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備えてもよい。
【0010】
生成部は、対象試験における、被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮することによって、実行時間を短縮してもよい。
【0011】
生成部は、被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮する変更を加えた複数の変更試験候補を生成し、装置は、複数の変更試験候補のうち対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から実行時間が最小となる特定の変更試験候補を探索して、対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備えてもよい。
【0012】
生成部は、被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮する変更を加えた複数の変更試験候補を生成し、装置は、複数の変更試験候補のうち対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が予め定められた目標時間以下となる特定の変更試験候補を探索して、特定の変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備えてもよい。
【0013】
生成部は、対象試験における、被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮する変更を加えた複数の変更試験候補を生成し、決定部は、複数の変更試験候補のうち対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から実行時間が最小となる特定の変更試験候補を探索して、対象試験の代わりの変更試験として決定してもよい。
【0014】
生成部は、対象試験における、被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮する変更を加えた複数の変更試験候補を生成し、決定部は、複数の変更試験候補のうち対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が予め定められた目標時間以下となる特定の変更試験候補を探索して、特定の変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定してもよい。
【0015】
決定部は、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として生成部に変更試験候補の待ち時間を単位時間だけ短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返すシーケンシャル探索を実施することにより、特定の変更試験候補を探索してもよい。
【0016】
決定部は、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として生成部に二分法を用いて変更試験候補の待ち時間を短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返すバイナリ探索を実施することにより、特定の変更試験候補を探索してもよい。
【0017】
決定部は、待ち時間を単位時間だけ短縮する変更を加えて生成した変更試験候補に含まれる試験シーケンスを第１の回数だけ実行した変更試験結果を対象試験結果と比較した比較結果に基づいて対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として、生成部に変更試験候補の待ち時間を更に単位時間だけ短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返し、対象試験を変更試験候補で代用可能ではないと判定されたことに応じて、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定されるまで、変更直前の変更試験候補を予め定められた回数繰り返した変更試験結果を対象試験結果と比較することを繰り返すスクリーニング探索を実施することにより、特定の変更試験候補を探索し、第１の回数は予め定められた回数よりも少なくてもよい。
【0018】
装置は、対象試験に含まれる複数の試験シーケンスのそれぞれにおける、被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間の組を遺伝子とする遺伝的アルゴリズムにより、複数の処理間の待ち時間を変更した複数の試験シーケンスを含む変更試験候補を決定して生成部に生成させ、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として遺伝的アルゴリズムにより変更試験候補の複数の処理間の待ち時間を更に変更した複数の試験シーケンスを含む新たな変更試験候補を決定して生成部に生成させ、対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が最小となる特定の変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備えてもよい。
【0019】
装置は、対象試験に含まれる複数の試験シーケンスのそれぞれにおける、被試験デバイスに対して出力を行う複数の処理間の待ち時間の組を遺伝子とする遺伝的アルゴリズムにより、複数の処理間の待ち時間を変更した複数の試験シーケンスを含む変更試験候補を決定して生成部に生成させ、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として遺伝的アルゴリズムにより変更試験候補の複数の処理間の待ち時間を更に変更した複数の試験シーケンスを含む新たな変更試験候補を決定して生成部に生成させ、対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が予め定められた目標時間以下となる特定の変更試験候補を探索して、特定の変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定する決定部を更に備えてもよい。
【0020】
生成部は、被試験デバイスの対象試験に含まれる複数の試験シーケンスのそれぞれに予め設定されている、試験シーケンスが１つ終了する度に被試験デバイスの電源を自動的にオフにする自動パワーオフ処理を無効にすることによって、実行時間を短縮してもよい。
【0021】
生成部は、対象試験における、被試験デバイスに電力を供給するためのリレーをクローズする複数の処理を並行に実行するように設定することによって、実行時間を短縮してもよい。
【0022】
生成部は、対象試験において、被試験デバイスに電力を供給するためのリレーをクローズした状態で被試験デバイスの電源をオンにする処理およびオフにする処理を繰り返し実行するように設定することによって、実行時間を短縮してもよい。
【0023】
生成部は、対象試験における処理を、リレーをクローズする処理と並行に実行するように設定することによって、実行時間を短縮してもよい。
【0024】
生成部は、対象試験における、被試験デバイスに対して出力を行わない複数の処理間の待ち時間を削除することによって、実行時間を短縮してもよい。
【0025】
生成部は、対象試験に含まれる繰り返し処理の繰り返し回数を削減することによって、実行時間を短縮してもよい。
【0026】
比較部は、被試験デバイスの変更試験候補を繰り返し実行することによって取得される測定値の変更統計値、および、被試験デバイスの対象試験を繰り返し実行することによって取得される測定値の対象統計値を比較してもよい。
【0027】
判定部は、統計値における複数の測定値の分布を示す指標である工程能力指数を利用し、対象統計値の工程能力指数が満たす基準を、変更統計値の工程能力指数が満たす場合に対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定してもよい。
【0028】
装置は、ユーザに対して、対象統計値の工程能力指数を示して基準を指定させるための画面を表示する表示部を更に備えてもよい。
【0029】
生成部は、対象試験における複数の処理のうち、ユーザによって指定された処理に対しては変更を加えなくてもよい。
【0030】
本発明の第２の態様においては、方法を提供する。方法は、被試験デバイスを試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する生成段階を備えてもよい。方法は、試験装置に対して、被試験デバイスの変更試験候補を実行させる試験処理段階を備えてもよい。方法は、変更試験候補による被試験デバイスの変更試験結果、および、対象試験による被試験デバイスの対象試験結果を比較する比較段階を備えてもよい。方法は、比較段階による比較結果に基づいて、対象試験を変更試験候補で代用可能か否かを判定する判定段階を備えてもよい。
【0031】
本発明の第３の態様においては、プログラムを提供する。プログラムは、コンピュータに上記の方法を実行させてもよい。
【0032】
上記の発明の概要は、本発明の特徴の全てを列挙したものではない。これらの特徴群のサブコンビネーションも発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【0033】
【図1】本実施形態に係る試験システム１の構成を示す図である。
【図2】本実施形態に係るＧＵＩを説明する図である。
【図3】本実施形態に係るコンピュータ３０の動作フローを示す図である。
【図4】本実施形態に係る表示部６０に表示されるメイン画面の一例である。
【図5】本実施形態に係る表示部６０に表示されるメイン画面における、最適化設定テーブルの一例である。
【図6】本実施形態に係るパワーオンの最適化アルゴリズムの一例を説明するグラフである。
【図7】本実施形態に係る表示部６０に表示される、パワーオンの最適化アルゴリズムに関する設定ダイアログ画面の一例である。
【図8】本実施形態に係るパワーオンの最適化アルゴリズムの一例を説明するグラフである。
【図9】本実施形態に係るパワーオンの最適化アルゴリズムの一例を説明するグラフである。
【図10】本実施形態に係る不要な待ち時間の削除アルゴリズムの一例を説明するグラフである。
【図11】本実施形態に係る表示部６０に表示される、待ち時間の最適化アルゴリズムに関する設定ダイアログ画面の一例である。
【図12】本実施形態に係る待ち時間の最適化アルゴリズムの一例におけるスクリーニング探索を説明する図である。
【図13】本実施形態に係る待ち時間の最適化アルゴリズムの一例である遺伝的アルゴリズムを説明する図である。
【図14】本実施形態に係るコンピュータ３０の動作フローを示す図である。
【図15】本実施形態に係るコンピュータ２２００の構成の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0034】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【0035】
図１は、本実施形態に係る試験システム１の構成を示す図である。試験システム１は、被試験デバイス（ＤＵＴ１０）と、ＤＵＴ１０を試験する試験装置２０と、専用又は汎用の通信ネットワークを介して有線又は無線で試験装置２０に接続されたコンピュータ３０とを備える。試験システム１は、試験装置２０をＤＵＴ１０に接続するパフォーマンスボード（ＰＢ）を更に備えてもよい。
【0036】
ＤＵＴ１０は、ＳＯＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）であってもよく、メモリであってもよい。ＤＵＴ１０は、一例として、ＰＣＩｅ等の高速インターフェース（ＩＦ）や、光ＩＦを有するデバイスなどであってもよい。試験システム１において、ＤＵＴ１０は複数あってもよい。
【0037】
試験装置２０は、有線でＤＵＴ１０に接続され、試験信号をＤＵＴ１０に与え、当該試験信号に応じてＤＵＴ１０から出力された応答信号をコンピュータ３０に出力する。試験装置２０は、一例として半導体試験装置であって、パターン発生器、タイミング発生器、波形生成器、ドライバ、レベルコンパレータ、タイミングコンパレータなどを有してもよい。パターン発生器は、一例として、ＤＵＴ１０に与える試験信号の波形を指定する試験パターン、および、試験信号を与えたことに応じてＤＵＴ１０から出力されるべき応答信号の期待値を表わす試験パターンを発生する。また、パターン発生器は、一例として、試験信号の波形変化（エッジ）のタイミングおよび応答信号と期待値との比較タイミングを表わすタイミング情報を発生してもよい。タイミング発生器は、パターン発生器から受け取ったタイミング情報に基づき、ＤＵＴ１０との間で信号を授受するタイミングを指定するタイミング信号を発生する。波形成形器は、一例として、タイミング発生器から与えられたタイミング信号を基準として、試験パターンを成形した試験信号を生成する。ドライバは、一例として、波形成形器により生成された試験信号をＤＵＴ１０に供給する。レベルコンパレータは、一例として、試験信号に応じてＤＵＴ１０から出力された応答信号を受け取り、受け取った応答信号のレベルに応じた論理値を表す論理値信号を出力する。タイミングコンパレータは、一例として、レベルコンパレータが出力した論理値信号により表された論理値を、タイミング発生器から与えられたタイミング信号のタイミングで取り込む。ＤＵＴ１０および試験装置２０の間には、ＤＵＴ１０に対して電力を供給するためのリレーが設けられており、リレーをオープンおよびクローズすることにより、ＤＵＴ１０のパワーがオフおよびオンする。
【0038】
コンピュータ３０は、装置の一例であり、試験システム１のユーザインタフェースとして使用されてもよく、汎用コンピュータ、特殊目的のコンピュータ、若しくは他のプログラム可能なデータ処理装置であってもよく、パーソナルコンピュータの他に、例えばノートブック・コンピュータやラップトップ・コンピュータであってもよい。なお、コンピュータ３０は、試験装置２０と一体的であってもよく、すなわち、試験装置２０のテストコントローラの機能として実装されてもよい。
【0039】
コンピュータ３０は、試験装置２０によって少なくとも１つのＤＵＴ１０を試験するための試験フローを作成可能な試験ツールが予めインストールされている。コンピュータ３０は、一例として、試験装置２０によって、１つのＤＵＴ１０を連続的に試験してもよく、複数のＤＵＴ１０を順に、連続的に試験してもよい。本実施形態に係るコンピュータ３０は、制御部４０と、格納部５０と、表示部６０とを有する。コンピュータ３０は、複数の種類のＤＵＴ１０を試験する場合においては、１つの制御部４０に代えて、ＤＵＴ１０の種類毎の制御部４０を複数有してもよい。
【0040】
コンピュータ３０は、試験ツールを使用することによって、動的な解析により、ＤＵＴ１０の試験における不要な操作または命令の除去や新たな操作または命令の追加などを行って、試験時間を短縮する変更を加えた試験を生成可能とする。以降の説明において、このように時間短縮する対象の試験を対象試験と呼ぶ場合があり、時間短縮する変更を加えた試験であって対象試験と入れ替えることが決定されていない試験を変更試験候補と呼ぶ場合があり、時間短縮する変更を加えた試験であって対象試験と入れ替えることが決定された試験を変更試験と呼ぶ場合がある。
【0041】
コンピュータ３０は、上記の試験ツールを使用する条件として、以下の（１）～（５）の全てを満たす環境で使用することを定めてもよい。（１）コンピュータ３０、試験装置２０およびＤＵＴ１０が接続されていること。（２）試験を繰り返して実行できること。（３）対象試験によるＤＵＴ１０の対象試験結果が合格基準を満たすこと、すなわちＰａｓｓ（合格）すること。（４）対象試験によるＤＵＴ１０の対象試験結果におけるＢｉｎが対象試験を繰り返し実行しても変化しないこと。（５）試験の実行のみで試験が完結すること（例えば、試験を開始する前に温度制御する場合は本条件を満たさないものとしてもよい）。上記のＢｉｎは、試験結果の分類を示すものであり、一例として、Ｐａｓｓ（合格）という試験結果を、ＤＵＴ１０の一例であるＣＰＵの性能別に更に分類するのに用いる複数の値であってもよい。Ｂｉｎは、ユーザによって指定されてもよい。
【0042】
本実施形態に係る制御部４０は、生成部４１と、試験処理部４３と、通信部４４と、比較部４５と、判定部４７と、決定部４９とを含む。制御部４０は、本明細書で説明されるプログラムを実行することにより以下に示す各部として機能する。
【0043】
本実施形態に係る生成部４１は、ＤＵＴ１０を試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する。本実施形態に係る生成部４１は、ＤＵＴ１０を試験するための対象試験における、最適化対象となるパラメータに対して、時間短縮アルゴリズムを実行することにより、当該パラメータを初期値から自動的に変更する。これにより、生成部４１は、対象試験に対して試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する。生成部４１は、ユーザによって表示部６０から対象試験フローの設定情報が入力されると、入力された設定情報に応じた対象試験を生成し、試験処理部４３に出力する。ただし、生成部４１は、一例として、対象試験における複数の処理のうち、ユーザによって指定された処理に対しては変更を加えない。また、生成部４１は、生成した変更試験候補を試験処理部４３に出力する。なお、上記の時間短縮アルゴリズムを実行するためのデータなどは予め格納部５０に格納されており、生成部４１は格納部５０を参照することで、これらのデータを読み出す。
【0044】
本実施形態に係る試験処理部４３は、生成部４１から対象試験を入力されると、通信部４４を介し、試験装置２０に対して、ＤＵＴ１０の対象試験を実行させる。また、試験処理部４３は、通信部４４から対象試験結果を入力されると、格納部５０に格納する。また、試験処理部４３は、生成部４１から変更試験候補を入力されると、通信部４４を介し、試験装置２０に対して、ＤＵＴ１０の変更試験候補を実行させる。また、試験処理部４３は、通信部４４から変更試験結果を入力されると、格納部５０に格納すると共に、対象試験結果および変更試験結果を比較する指令を比較部４５に出力する。
【0045】
本実施形態に係る通信部４４は、試験装置２０との間で通信する。通信部４４は、試験処理部４３から入力された対象試験を試験装置２０へ送信し、試験装置２０から、対象試験によるＤＵＴ１０の対象試験結果を受信すると、受信した対象試験結果を試験処理部４３に出力する。また、通信部４４は、試験処理部４３から入力された変更試験候補を試験装置２０へ送信し、試験装置２０から、変更試験候補によるＤＵＴ１０の変更試験結果を受信すると、受信した変更試験結果を試験処理部４３に出力する。
【0046】
比較部４５は、試験処理部４３から上記の指令を入力されると、格納部５０から、変更試験候補によるＤＵＴ１０の変更試験結果、および、対象試験による被試験デバイスの対象試験結果を読み出し、両試験結果を比較する。比較部４５は、上記の比較の結果を判定部４７に出力する。本実施形態に係る比較部４５は、一例として、上記の変更試験結果と上記の対象試験結果とが一致するか否かを判定してもよく、また、対象試験結果に対する変更試験結果の変化量を算出してもよい。
【0047】
本実施形態に係る比較部４５は、一例として、ＤＵＴ１０の変更試験候補を繰り返し実行することによって取得される測定値の変更統計値、および、ＤＵＴ１０の対象試験を繰り返し実行することによって取得される測定値の対象統計値を比較してもよい。一例として、比較部４５は、統計値における複数の測定値の分布を示す指標である工程能力指数を利用し、上記の変更統計値の工程能力指数、および、上記の対象統計値の工程能力指数をそれぞれ算出し、一例として両工程能力指数の一致度合いを確認したり対象統計値の工程能力指数に対する変更統計値の工程能力指数の変化量を算出したりすることによって、両工程能力指数を互いに比較してもよい。なお、試験システム１が複数のＤＵＴ１０を含む場合、各工程能力指数の算出および相互比較は、ＤＵＴ１０ごとに行ってもよく、複数のＤＵＴ１０をまとめて行ってもよい。
【0048】
ここで、工程能力指数とは、管理状態にある工程において、その工程の持つ品質達成能力である工程能力を数値化したものである。工程能力指数は、複数回の測定によって得られた複数の測定値がどのような分布になっているかを示す指標となる場合があり、ＣｐまたはＣｐｋで表される。ＣｐまたはＣｐｋは、統計値のバラつきの大きさに反比例し、統計値のバラつきが無いほど高い数値となる。ＣｐまたはＣｐｋは更に、予め設定される上限値および下限値で定義される範囲に対して複数の測定値の分布の分散または標準偏差が大きいほど低い数値となる。
【0049】
また、一例として、本実施形態に係る比較部４５は、上記の対象統計値の工程能力指数が満たす基準と、上記の変更統計値の工程能力指数とを比較することにより、間接的に、変更試験候補によるＤＵＴ１０の変更試験結果、および、対象試験によるＤＵＴ１０の対象試験結果を比較してもよい。上記の基準は、ユーザによって指定されてもよく、例えば１．３３という、工程能力指数の標準的な指標値が指定されてもよい。
【0050】
本実施形態に係る比較部４５はまた、上記の変更試験結果の分類を示す第１のＢｉｎを、上記の対象試験結果の分類を示す第２のＢｉｎと比較してもよい。例えば、比較部４５による比較の結果として、上記の第１のＢｉｎが第２のＢｉｎと異なっていた場合、対象試験を変更試験候補に変更したことによってＣＰＵの性能が変わってしまったと判断し、当該変更試験候補が不適切であると判断できる。
【0051】
判定部４７は、比較部４５による比較結果に基づいて、対象試験を変更試験候補で代用可能か否かを判定する。本実施形態に係る判定部４７は、変更試験候補によるＤＵＴ１０の変更試験結果、および、対象試験によるＤＵＴ１０の対象試験結果を比較した比較結果を比較部４５から入力されたことに応じて、当該比較結果に基づき、対象試験を変更試験候補で代用可能か否かを判定する。判定部４７は、上記の判定結果を決定部４９に出力する。
【0052】
本実施形態に係る判定部４７は、一例として、上記の比較結果を比較部４５から入力されたことに応じて、格納部５０に格納されている合格基準を参照し、比較結果が合格基準を満たすか否かを判定する。一例として、判定部４７は、上記の変更試験結果と上記の対象試験結果との差異が合格基準を満たす場合、例えば、変更試験結果が対象試験結果と一致する場合や、対象試験結果に対する変更試験結果の変化量が予め定められた範囲内の場合などに、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定してもよい。また、例えば、判定部４７は、上述した工程能力指数を利用し、上記の対象統計値の工程能力指数が満たす合格基準を、上記の変更統計値の工程能力指数が満たす場合に、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定してもよい。これらのより具体的な一例として、判定部４７は、対象試験結果における工程能力指数に対する、変更試験結果における工程能力指数の変化量が０．１以内である場合に、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定してもよい。また、他の具体的な一例として、判定部４７は、対象試験結果における工程能力指数が満たす合格基準、例えば工程能力指数≧１．３３という基準を、変更試験結果における工程能力指数が満たす場合に、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定してもよい。
【0053】
また、本実施形態に係る判定部４７は、上記の比較結果を比較部４５から入力されたことに応じて、上記の変更試験結果の分類を示す第１のＢｉｎが、上記の対象試験結果の分類を示す第２のＢｉｎと同一であることが比較結果に示されている場合に、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定してもよい。
【0054】
本実施形態に係る決定部４９は、判定部４７から判定結果を入力されたことに応じて、生成部４１により更なる変更試験候補を生成するか否かを決定する。例えば、決定部４９は、ユーザによって入力された変更試験フローの設定情報に基づき又は特定のアルゴリズムに基づいて導出した、対象試験に対して試験の実行時間を短縮する全ての変更パターンを使用したか否かに応じて、更なる変更試験候補を生成するか否かを決定してもよい。
【0055】
本実施形態に係る決定部４９は、生成部４１により更なる変更試験候補を生成すると決定した場合、生成部４１に指令を出力し、上述した一連の流れを繰り返させる。本実施形態に係る決定部４９は、各変更試験結果および判定部４７による判定結果を表示部６０に出力して表示させると共に、各変更試験結果、判定結果などを格納部５０に格納する。
【0056】
決定部４９はまた、生成部４１によって生成された複数の変更試験候補のうち、判定部４７によって対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が最小となる変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定する。本実施形態に係る決定部４９は、格納部５０に格納されている、合格基準を満たす複数の変更試験候補による複数の変更試験結果を参照することにより、実行時間が最小となる変更試験候補を、対象試験の代わりの変更試験として決定し、決定した変更試験の情報を表示部６０に出力する。なお、決定部４９は、生成部４１によって生成された複数の変更試験候補のうち、判定部４７によって対象試験を代用可能であると判定された変更試験候補の実行時間が予め定められた目標時間以下となったことを条件として、上述した一連の流れを繰り返させることを終了し、当該条件を満たす変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定してもよい。当該目標時間は、一例として、ユーザによって指定され、ユーザによる指定方法の詳細は図４を用いて後述する。
【0057】
表示部６０は、一例として、コンピュータ３０のグラフィカルユーザインターフェース（ＧＵＩ）であって、ユーザがＧＵＩを介して試験フローの内容を設定（プログラミング）することができる。上述したように、本実施形態に係る比較部４５が、上記の対象統計値の工程能力指数が満たす基準と、上記の変更統計値の工程能力指数とを比較する場合、表示部６０は、ユーザに対して、上記の対象統計値の工程能力指数を示して、当該基準を指定させるための画面を表示してもよい。
【0058】
図２は、本実施形態に係るＧＵＩを説明する図である。ＧＵＩには、変更試験候補に含まれる試験シーケンスのグラフが示され、当該グラフの横軸は時間軸であり、試験シーケンスに従って試験装置２０およびコンピュータ３０が実行する複数の処理の要素が、時間軸に平行に配されたタイミングチャート上に位置している。当該処理の要素の一例として、四角いボックス内にｆｘが示された要素が示されており、要素ｆｘの処理を実行すると、ユーザが期待するテキスト形式の任意の関数の演算を実行する。一例として、各要素は、ユーザによって任意にタイミングチャート上に配されることができ、各要素をクリックすると中身をプログラミングでき、各要素間の距離を各要素の処理の実行時間間隔とすることができ、当該実行時間間隔をタイミングチャート上に表示することができる。また、この場合において、一例として、予め当該実行時間間隔が指定されている場合には、各要素は順序だけを守って適当にタイミングチャート上に配されたとしても、当該指定時間に応じた位置に移動することができてもよい。また、タイミングチャート上に配された各要素の処理の実行時間間隔について、特定の処理間の実行時間間隔のみをユーザ指定の時間間隔にして、他の処理間の実行時間間隔を固定間隔、例えば５ｍｓにすることができてもよい。なお、セトリング時間など、ＤＵＴ１０の電源をオンにしてから測定を開始するまでの時間がテストルールによって定められている場合には、当該時間の調整は不可能とされてもよい。
【0059】
図３は、本実施形態に係るコンピュータ３０の動作フローを示す図である。当該フローは、一例として、コンピュータ３０にインストールされている試験ツールが起動することにより開始する。
【0060】
コンピュータ３０は、ＤＵＴ１０を試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成する（ステップＳ１０１）。ステップＳ１０１において、コンピュータ３０は、一例として、変更試験候補を生成するための情報入力画面をＧＵＩ上に表示し、ユーザに上記の設定情報を入力させ、当該設定情報に基づいて変更試験候補を生成する。
【0061】
本実施形態に係るコンピュータ３０は、生成部４１によって、一例として、ＤＵＴ１０を試験するための対象試験における、最適化対象となるパラメータに対して、自動パワーオフの最適化、パワーオンの最適化、待ち時間の削除、または、待ち時間の最適化といった時間短縮アルゴリズムを実行することにより、当該パラメータを初期値から自動的に変更する。
【0062】
自動パワーオフの最適化は、一例として、不要な自動パワーオフを無効にすることを含む。また、パワーオンの最適化は、一例として、対象試験において、リレーをクローズする処理とパワーオンする処理とを一緒に、複数の出力チャンネル間で、又は、単一の出力チャンネルで、順に実行している場合に、各処理を分離し、複数の出力チャンネル間でリレーをクローズする複数の処理を並列して実行すること、又は、単一の出力チャンネルでリレーをクローズする複数の処理の回数を削減し、リレーをクローズした状態でパワーオンする処理およびパワーオフする処理を繰り返し実行することを含む。また、待ち時間の削除は、一例として、不要な時間間隔を削除することを含む。また、待ち時間の最適化は、一例として、時間間隔を最適に削減することを含む。
【0063】
コンピュータ３０は、試験装置２０に対してＤＵＴ１０の対象試験を実行させて対象試験結果を取得した後、試験装置２０に対して、ＤＵＴ１０の変更試験候補を実行させる（ステップＳ１０３）。ステップＳ１０３において、コンピュータ３０は、一例として、上記の設定情報に基づき又は特定のアルゴリズムに基づき、試験装置２０に対して、各ＤＵＴ１０の変更試験候補を、統計的に試験結果に影響が出ないと判断可能な回数、例えば１００回繰り返し実行させる。
【0064】
コンピュータ３０は、試験装置２０から受信した、変更試験候補によるＤＵＴ１０の変更試験結果、および、予め取得してある、対象試験によるＤＵＴ１０の対象試験結果を比較する（ステップＳ１０５）。ステップＳ１０５において、コンピュータ３０は、一例として、ＤＵＴ１０の変更試験候補を繰り返し実行することによって取得される測定値の変更統計値、および、ＤＵＴ１０の対象試験を繰り返し実行することによって取得される測定値の対象統計値を比較する。
【0065】
ステップＳ１０５では、コンピュータ３０は、変更統計値の工程能力指数、および、対象統計値の工程能力指数を算出し、互いに比較してもよい。自動パワーオフの最適化、パワーオンの最適化および待ち時間の削除といった時間短縮アルゴリズムでは、試験結果に影響を及ぼす可能性は低く、一方で、待ち時間の最適化アルゴリズムでは、対象試験に含まれる複数の処理のセトリング時間を調整するので、試験結果に微妙な影響を及ぼして工程能力指数を変化させる可能性が高い。また、異なる観点として、工程能力指数の比較を行う前に工程能力指数に関する多くの値をユーザが設定することでユーザビリティが低くなる場合がある。工程能力指数の比較を行う前にユーザにより設定される値の一例は、試験項目ごとの工程能力指数である。試験項目ごとに必要な工程能力指数は異なる可能性があり、規模の大きいプログラムでは試験項目数が非常に多くなるため、ユーザが工程能力指数を設定する手間は多大となる。これらの観点から、コンピュータ３０は、これらの時間短縮アルゴリズムのうち、待ち時間の最適化アルゴリズムを実行した変更試験結果に対してのみ、工程能力指数の比較を適用することが好ましい。
【0066】
コンピュータ３０は、ステップＳ１０５の比較段階による比較結果に基づいて、対象試験を変更試験候補で代用可能か否かを判定する（ステップＳ１０７）。ステップＳ１０５において、コンピュータ３０は、一例として、上記の変更試験結果と上記の対象試験結果との差異が合格基準を満たす場合、例えば変更試験結果が対象試験結果と一致する場合に、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定する。
【0067】
コンピュータ３０は、更なる変更試験候補を生成するか否かを決定する（ステップＳ１０９）。ステップＳ１０９において、コンピュータ３０は、一例として、ユーザによって入力された設定情報に基づき又は特定のアルゴリズムに基づいて導出した、対象試験に対して試験の実行時間を短縮する全ての変更パターンを使用したか否かに応じて、更なる変更試験候補を生成するか否かを決定する。
【0068】
ステップＳ１０９において、コンピュータ３０は、更なる変更試験候補を生成すると決定した場合（ステップＳ１０９：Ｙｅｓ）、ステップＳ１０１に戻り、ステップＳ１０１からステップＳ１０９を繰り返す。ただし、当該繰り返しにおいて、ステップＳ１０３における、試験装置２０に対してＤＵＴ１０の対象試験を実行させて対象試験結果を取得することは省略してもよい。また、ステップＳ１０９：Ｙｅｓの場合に、本実施形態に係るコンピュータ３０は、一例として、ＧＵＩ上に変更試験結果およびステップＳ１０７の判定結果を表示し、変更試験結果、判定結果などを格納部５０に格納する。
【0069】
ステップＳ１０９において、コンピュータ３０は、更なる変更試験候補を生成しないと決定した場合（ステップＳ１０９：Ｎｏ）、複数の変更試験候補のうち、対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が最小となる変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定し（ステップＳ１１１）、ＧＵＩ上に決定した変更試験の情報を表示して、当該フローは終了する。なお、ステップＳ１０９において、コンピュータ３０は、複数の変更試験候補のうち対象試験を代用可能であると判定された変更試験候補の実行時間が予め定められた目標時間以下となったか否かを判断することによって、更なる変更試験候補を生成するか否かを決定してもよい。この場合、決定部４９は、当該変更試験候補の実行時間が目標時間以下となったと決定した場合に、更なる変更試験候補を生成しないと決定し（ステップＳ１０９：Ｎｏ）、ステップＳ１１１において、実行時間が目標時間以下となった当該変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定してもよい。
【0070】
上記のフローにおいて、一例として、本実施形態に係る生成部４１は、ステップＳ１０７において、判定部４７により上記の差異が合格基準を満たすと判定されたことに応じて、ステップＳ１０９で決定部４９が更なる変更試験候補を生成すると決定した場合に（ステップＳ１０９：Ｙｅｓ）、変更試験候補の実行時間を更に短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成してもよい。また、一例として、本実施形態に係る生成部４１は、ステップＳ１０７において、判定部４７により、上述した変更試験結果の分類を示す第１のＢｉｎが、対象試験結果の分類を示す第２のＢｉｎと同一であると判定されたことに応じて、ステップＳ１０９で決定部４９が更なる変更試験候補を生成すると決定した場合に（ステップＳ１０９：Ｙｅｓ）、変更試験候補の実行時間を更に短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成してもよい。
【0071】
なお、上記のフローにおける各ステップの詳細は、コンピュータ３０が実行する時間短縮アルゴリズム等によって変更される場合がある。例えば、上述した通り、待ち時間の最適化アルゴリズムを実行した変更試験結果に対しては、ステップＳ１０５において、対象試験によるＤＵＴ１０の対象試験結果および変更試験候補によるＤＵＴ１０の変更試験結果のそれぞれの工程能力指数の比較を行うことが好ましい。
【0072】
このように、コンピュータ３０は、ＤＵＴ１０の対象試験を解析し、冗長な部分を短縮したり削除したりすることによって、変更試験候補を生成する。コンピュータ３０は、変更試験候補によって実際にＤＵＴ１０の試験を実行する。そして、コンピュータ３０は、冗長な部分を短縮等する前の対象試験による試験結果と同じ試験結果を変更試験候補から得られた場合に、冗長な部分を短縮等したことによって試験結果に悪影響が及んでいないと判断し、当該変更試験候補に対して更に冗長な部分を短縮等した、更なる変更試験候補を生成する。このように、コンピュータ３０は、試験を動的に最適化することにより、試験時間を短縮する。これにより、コンピュータ３０は、論理的に確証が持てる項目だけでなく、論理的に確証が持てない項目におけるアナログ値、例えば時間軸を調整して試行錯誤することで、論理的に確証が持てない項目も改善することができる。
【0073】
図４は、本実施形態に係る表示部６０に表示されるメイン画面の一例である。メイン画面の説明を目的として、メイン画面上の複数のエリアを枠線で区切り、各エリアを（１）～（７）の矢印で指している。メイン画面は、一例として、上記のステップＳ１０１で用いられる。
【0074】
エリア（１）には、スタートボタンおよびストップボタンが示されている。ユーザによりスタートボタンがクリックされると、対象試験の最適化を実行開始する。ユーザによりストップボタンがクリックされると、実行中の変更試験候補が終了するのを待ってから停止する。
【0075】
エリア（２）には、対象試験の選択ボタンが示されている。ユーザにより選択ボタンがクリックされると、プルダウンメニューが表示され、ユーザにより複数の対象試験の中から１つの対象試験が選択される。
【0076】
エリア（３）には、反復実行する回数の選択ボタンと、反復実行される変更試験候補間の待ち時間を入力するフィールドとを含む反復実行設定エリアが示されている。ユーザにより選択ボタンがクリックされると、プルダウンメニューが表示され、ユーザによりプルダウンメニュー内の複数の反復実行する回数の一覧の中から１つの反復実行する回数が選択される。プルダウンメニュー内の複数の反復実行する回数の一覧には、一例として、１０、２０、３０、…９０、１００の選択肢が含まれる。なお、選択ボタンの横における、反復実行する回数を表示するフィールドは、ユーザにより１以上の整数を直接入力されてもよい。反復実行される変更試験候補間の待ち時間を入力するフィールドには、初期値として１００ｍｓが設定されており、ユーザによって、反復実行される変更試験候補間の待ち時間を［ｍｓ］単位で入力される。
【0077】
エリア（４）には、オプションボタンが示されている。ユーザによりオプションボタンがクリックされると、オプションダイアログが開かれ、オプションダイアログ上には、一例として、対象試験を最適化するときの目標時間を設定するか否かを指定するためのチェックボックスと、対象試験を最適化するときの目標時間の選択ボタンとが示され、チェックボックスにチェックが入っている場合、変更試験候補の実行時間が、選択ボタンで選択された目標時間以下になったことを条件として、最適化を終了する。すなわち、ユーザにより目標時間が設定されてチェックボックスにチェックが入っている場合、目標時間までは試験の実行時間を短縮するが、それ以上は短縮しない。なお、目標時間は、対象試験ごとに設定されてもよい。また、当該試験ツールは、同様の機能として、一連の対象試験における時間軸上の特定の範囲については目標時間を設定し、他の範囲については目標時間を設定しないよう、ユーザにより選択的に入力される機能を有していてもよい。
【0078】
エリア（５）には、最適化設定テーブルが示されている。詳細については、図５において後述する。
【0079】
エリア（６）には、実績テキスト表示エリアと実績グラフ表示エリアとクリアボタンとを含むログ表示エリアが示されている。実績テキスト表示エリアには、ＤＵＴ１０の変更試験候補を実行したことによって出力される実行時間のログや、どのような処理（イベント）が最適化されたのかを示す結果（ログ）などがテキスト形式で、反復実行した回数分だけ表示される。実績グラフ表示エリアには、ログ表示エリアに表示される複数の実行時間が折れ線グラフで表示される。当該動作は、一例として、上記のステップＳ１０３に含まれる。グラフの縦軸は、変更試験候補の実行時間を［ｍｓ］単位で示し、横軸は、最適化の開始から終了までの時間を示す。なお、実績グラフ表示エリアには、時間短縮アルゴリズムの種類、例えば自動パワーオフの最適化、パワーオンの最適化、不要な待ち時間の削除および待ち時間の最適化の４つのアルゴリズムごとに異なる色で折れ線グラフが示されてもよい。クリアボタンは×印で示され、ユーザによりクリックされると、ログ表示エリアおよび実績グラフ表示エリアのそれぞれの表示が削除（クリア）される。
【0080】
エリア（７）には、進捗バーが示されている。進捗バーには、一例として、ＤＵＴ１０の変更試験候補が終了したことを示す文字「Ｄｏｎｅ」や、パワーオンの最適化の進捗が５０％であることを示す文字「Ｒｕｎｎｉｎｇ－Ｐｏｗｅｒ Ｏｎ Ｏｐｔｉｍｉｚａｔｉｏｎ（５０．０％）」などが表示されてもよい。
【0081】
図５は、本実施形態に係る表示部６０に表示されるメイン画面における、最適化設定テーブルの一例である。最適化設定テーブルは７行×６列のマトリクスで示され、最適化設定テーブルの説明を目的として、各列を（１）～（６）の矢印で指している。当該最適化設定テーブルは、一例として、上記のステップＳ１０１で用いられる。
【0082】
列（１）には、シーケンス名称一覧が示され、一例として、図４のメイン画面上のエリア（２）で選択された対象試験に登録されている複数の試験シーケンスの一覧が表示される。なお、当該試験ツールは、対象試験に登録されている複数の試験シーケンスをＥｎａｂｌｅに設定して実行するようユーザにより選択入力される機能（Ｆｌｏｗ Ｅｄｉｔｏｒ）を有していてもよく、この場合、シーケンス名称一覧には、Ｅｎａｂｌｅに設定された試験シーケンスのみが表示されてもよい。ただし、同一の試験シーケンスが複数指定されている場合には、２つ目以降の試験シーケンス名称を表示しなくてもよい。
【0083】
また、また、列（１）の１行目には、円弧状の２つの矢印により示されるリフレッシュボタンが配され、ユーザによりクリックされると、上記のＦｌｏｗ Ｅｄｉｔｏｒで行った変更をテーブルに反映させる。また、リフレッシュボタンがクリックされた場合、既存の試験シーケンスに対する時間短縮アルゴリズムの設定状態は保存され、実行時間はクリアされてもよい。また、列（１）の各シーケンス名称の横には、列（３）～（６）の各試験シーケンスにおいて全ての時間短縮アルゴリズムを実行するか否かを一括して選択および解除するための行一括選択ボタンおよび行一括解除ボタンが配されている。
【0084】
列（２）には、測定された試験の実行時間が［ｍｓ］単位で示されている。列（２）の２行目には、複数のシーケンスの実行時間を合計した、対象試験の実行時間が表示される。また、当該実行時間の横には、時計の絵により示される実行時間測定ボタンが配され、ユーザによりクリックされると、対象試験が実行される。なお、実行時間測定ボタンをクリックされた後に、図４のメイン画面上のエリア（１）に示されるストップボタンがクリックされた場合、対象試験の実行を停止する。
【0085】
また、列（２）の３～７行目には、各試験シーケンスの実行時間が表示され、当該実行時間の横には、括弧書きで、２行目に表示される対象試験の実行時間に対する当該実行時間の比率が［％］単位で表示される。なお、各試験シーケンスの実行時間は、図４のメイン画面上のエリア（３）に示される反復実行設定エリアで設定された反復実行する回数による平均値であり、同一の試験シーケンスが複数回実行された場合は、それらの積算値が表示されてもよい。
【0086】
列（３）～（６）には順に、自動パワーオフの最適化、パワーオンの最適化、待ち時間の削除、および、待ち時間の最適化のそれぞれを適用するか否かを選択するためのチェックボックスが、各試験シーケンスが示される３～７行目のそれぞれに配されており、ユーザは、これら４つの時間短縮アルゴリズムを適用するか否かを試験シーケンスごとに個別に設定することができる。換言すると、ユーザは、各時間短縮アルゴリズムによって試験の実行時間を短縮する変更を加えたくないものを、試験シーケンスごとに指定できる。なお、一例として、初期状態では、自動パワーオフの最適化、パワーオンの最適化および待ち時間の削除の３つの時間短縮アルゴリズムについて、全ての試験シーケンス行のチェックボックスにチェックが入っており、待ち時間の最適化アルゴリズムについては、何れの試験シーケンス行のチェックボックスにもチェックは入っていない。
【0087】
列（３）～（６）のそれぞれの２行目には、全ての試験シーケンスにおいて各時間短縮アルゴリズムを実行するか否かを一括して選択および解除するための列一括選択ボタンおよび列一括解除ボタンが配されている。また、列（４）および列（６）のそれぞれの２行目には更に、歯車の絵により示されるセットアップボタンが配され、ユーザによりクリックされると、それぞれの時間短縮アルゴリズムの設定ダイアログを表示する。
【0088】
上述した自動パワーオフの最適化アルゴリズムに関して、自動パワーオフ処理とは、一例として、ＤＵＴ１０の対象試験に含まれる複数の試験シーケンスのそれぞれに予め設定されている、試験シーケンスが１つ終了する度にＤＵＴ１０の電源を自動的にオフにする処理である。自動パワーオフ処理は、一例として、初期状態では各試験シーケンスが終了する度にＤＵＴ１０に対して実行するよう設定されているが、ユーザが、ＤＵＴ１０の内部状態をリセットした状態でＤＵＴ１０を試験したい場合や、電源起動直後のＤＵＴ１０の動向を確認したい場合などには、ユーザによって意図的に実行するよう設定される場合もある。なお、コンピュータ３０は、一例として、試験装置２０に対し、電源ピンからＤＵＴ１０に対して供給している電力を停止させることにより、ＤＵＴ１０の電源をオフにしてもよい。
【0089】
本実施形態に係る生成部４１は、一例として、上記の自動パワーオフ処理を無効にすることを含む自動パワーオフの最適化アルゴリズムを対象試験に適用することによって、試験の実行時間を短縮する。より具体的には、生成部４１は、対象試験の試験シーケンスに対して自動パワーオフの最適化アルゴリズムを適用し、当該試験シーケンスが終了した後に、ＤＵＴ１０のそれぞれの電源をオンにしたまま次の試験シーケンスを開始させることによって、ＤＵＴ１０に電力を供給するためのリレーをオープン及びクローズするのに要する時間、及び、ＤＵＴ１０の電源をオンオフするのに要する時間を省略し、対象試験の実行時間を短縮する。また、この場合における本実施形態に係る判定部４７は、対象試験に対して自動パワーオフの最適化アルゴリズムを適用することで生成された変更試験候補をＤＵＴ１０において実行することで取得された変更試験結果に悪影響があるか否かを判定する。より具体的には、判定部４７は、一例として、ＤＵＴ１０に対して当該変更試験候補を反復実行しても、ＤＵＴ１０からの変更試験結果において、Ｐａｓｓであること及びＢｉｎが変更前と変わらないことが示されている場合に、変更試験結果に悪影響が無かったと判定し、上記の自動パワーオフ処理は不要であると判定する。
【0090】
図６は、本実施形態に係るパワーオンの最適化アルゴリズムの一例を説明するグラフである。図６の上側には、パワーオンの最適化アルゴリズムによって試験の実行時間を短縮する変更を加える前のグラフを示し、図６の下側には、当該変更を加えた後のグラフを示す。各グラフの横軸は時間軸であり、各グラフには上から順に、対象試験の出力チャンネル１、出力チャンネル２および出力チャンネル３を示す。
【0091】
本実施形態に係る生成部４１は、一例として、対象試験における、ＤＵＴ１０に電力を供給するためのリレーをクローズする複数の処理を並行に実行するように設定することを含むパワーオンの最適化アルゴリズムを対象試験に適用することによって、試験の実行時間を短縮する。より具体的には、生成部４１は、対象試験に対してパワーオンの最適化アルゴリズムを適用し、対象試験におけるリレーをクローズする処理とパワーオンする処理とを分離し、対象試験の複数の出力チャンネル間でリレーをクローズする複数の処理を並列して実行することによって、１つの出力チャンネルにおけるリレーをクローズする処理を他の出力チャンネルにおけるパワーオンする処理が完了するまで開始せずに待機している時間を省略し、対象試験の実行時間を短縮する。これに代えて、生成部４１は、一例として、対象試験においてリレーをクローズした状態でＤＵＴ１０の電源をオンにする処理およびオフにする処理を繰り返し実行するように設定することを含むパワーオンの最適化アルゴリズムを対象試験に適用することによって、試験の実行時間を短縮してもよい。より具体的には、生成部４１は、対象試験に対してパワーオンの最適化アルゴリズムを適用し、対象試験におけるリレーをクローズする処理とパワーオンする処理とを分離し、対象試験の単一チャンネルでリレーをクローズする複数の処理の回数を削減し、リレーをクローズした状態でパワーオンする処理およびパワーオフする処理を繰り返し実行することによって、リレーをクローズする処理およびリレーをオープンする処理を実行する時間、すなわちリレーをクローズするのに必要な時間およびリレーをオープンするのに必要な時間を省略し、対象試験の実行時間を短縮してもよい。ただし、何れの場合にも、パワーオンの最適化アルゴリズムは、複数の出力チャンネル間における、又は、単一の出力チャンネルにおける、ユーザ指定のパワーオンする処理の順番がある場合には、当該順番を順守することを条件とする。以降のパワーオンの最適化アルゴリズムに関する説明においても、当該条件は満たされるものとし、説明を省略する。また、生成部４１は、一例として、対象試験におけるリレーをクローズする複数の処理のうち、ユーザによって指定された処理に対しては、パワーオンの最適化アルゴリズムによる変更を加えない。
【0092】
図６の上側における変更前のグラフでは、時刻ｔ１に、出力チャンネル１のリレーをクローズする処理が開始され、時刻ｔ２に、当該処理が終了し、時刻ｔ３に、出力チャンネル１のパワーオンする処理が実行されると共に出力チャンネル２のリレーをクローズする処理が開始され、以降、時刻ｔ３から時刻ｔ７までの間に、出力チャンネル２および出力チャンネル３で同様の処理が繰り返される。
【0093】
図６の上側における変更前のグラフに示すように、パワーオンの最適化アルゴリズムを適用する前の対象試験においては、複数の出力チャンネルのそれぞれにおけるリレーをクローズする処理およびパワーオンする処理は一体的なパワーオンイベントである。ユーザがＧＵＩのタイミングチャート上でパワーオンイベントの要素を配置すると、自動的にインターバルが設定される。複数の出力チャンネル間で当該パワーオンイベントが連続で指定されている場合は、前の出力チャンネルにおけるパワーオンイベント中の、リレーをクローズするのに必要な時間であるリレークローズ期間を待ってから、次の出力チャンネルにおけるパワーオンイベントを開始するように、シーケンシャルに複数のパワーオンイベントを実行する。
【0094】
一方で、図６の下側における変更後のグラフでは、時刻ｔ１に、出力チャンネル１のリレーをクローズする処理が開始され、時刻ｔ２に、出力チャンネル２のリレーをクローズする処理が開始され、時刻ｔ３に、出力チャンネル３のリレーをクローズする処理が開始される。そして、時刻ｔ４に、出力チャンネル１のリレーをクローズする処理が終了し、時刻ｔ５に、出力チャンネル１のパワーオンする処理が実行され、時刻ｔ６に、出力チャンネル２のリレーをクローズする処理が終了し、時刻ｔ７に、出力チャンネル２のパワーオンする処理が実行され、時刻ｔ８に、出力チャンネル３のリレーをクローズする処理が終了し、時刻ｔ９に、出力チャンネル３のパワーオンする処理が実行される。
【0095】
また、この場合における本実施形態に係る判定部４７は、対象試験に対してパワーオンの最適化アルゴリズムを適用することで生成された変更試験候補をＤＵＴ１０において実行することで取得された変更試験結果に悪影響があるか否かを判定する。より具体的には、判定部４７は、一例として、ＤＵＴ１０に対して当該変更試験候補を反復実行しても、ＤＵＴ１０からの変更試験結果において、Ｐａｓｓであること及びＢｉｎが変更前と変わらないことが示されている場合に、変更試験結果に悪影響が無かったと判定し、当該パワーオンの最適化が有効であると判定する。以降における、対象試験に対してパワーオンの最適化アルゴリズムを適用した場合についても同様とし、説明を省略する。
【0096】
なお、パワーオンの最適化アルゴリズムは、一例として、対象試験に６つの出力チャンネルが含まれ、そのうち３つの出力チャンネルにおけるパワーオンイベントのタイミングと、他の３つの出力チャンネルにおけるパワーオンイベントのタイミングが時間的に離れている場合に、先の３つの出力チャンネル間でリレーをクローズする複数の処理を並列して実行することと、後の３つの出力チャンネル間でリレーをクローズする複数の処理を並列して実行することとを、別に独立して設定してもよい。また、パワーオンの最適化アルゴリズムは、一例として、対象試験に３つの出力チャンネルが含まれ、そのうち２つの出力チャンネル間だけでリレーをクローズする複数の処理を並列して実行するよう設定してもよい。
【0097】
図７は、本実施形態に係る表示部６０に表示される、パワーオンの最適化アルゴリズムに関する設定ダイアログ画面の一例である。図７の左側の［Ａ］には、図４のメイン画面上のエリア（５）における最適化設定テーブルにおいて、パワーオンの最適化の列に配されたセットアップボタンがクリックされることによって開かれる画面を示し、図７の右側の［Ｂ］には、ユーザの入力によって［Ａ］の画面から遷移した状態の画面を示す。［Ａ］の画面の説明を目的として、［Ａ］の画面上の複数のエリアを枠線で区切り、各エリアを（１）～（２）の矢印で指している。同様に、［Ｂ］の画面の説明を目的として、［Ｂ］の画面上の複数のエリアを枠線で区切り、各エリアを（１）～（４）の矢印で指している。
【0098】
［Ａ］の画面において、エリア（１）には、リレーをクローズする処理を並列して実行する指定をユーザが行うためのチェックボックスが示され、エリア（２）には、リレーをクローズする処理と並列して実行してもよい他の１又は複数の処理の種類を個別に指定可能とする高度な指定をユーザが行うためのチェックボックス等が示されている。
【0099】
［Ｂ］の画面において、エリア（１）には、上記の高度な指定をユーザが行うためのチェックボックスが示され、エリア（２）には、エリア（１）のチェックボックスにチェックが入った場合に有効になる、上記の他の処理を選択するためのフィールドが示されている。図示の状態では、「Ｕｓｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ」のチェックボックスのみにチェックが入っている。また、エリア（３）には、エリア（２）に列挙された全ての処理を一括して選択する一括選択ボタンが示され、エリア（４）には、エリア（２）に列挙された全ての処理を一括して解除する一括解除ボタンが示されている。
【0100】
図８および図９は、本実施形態に係るパワーオンの最適化アルゴリズムの一例を説明するグラフである。図８および図９では、図７の両画面に示される、複数のチェックボックスのそれぞれにチェックを入れた場合における、パワーオンの最適化アルゴリズムの詳細を説明する。図８および図９で説明する試験フローにおいては、図６で説明した試験フローと異なり、各出力チャンネルにおける複数の処理間に、ユーザによって指定される待ち時間が設定されている。
【0101】
図８の上側には、パワーオンの最適化アルゴリズムによって試験の実行時間を短縮する変更を加える前のグラフを示し、図８の中央には、図７の［Ａ］の画面上におけるエリア（１）に示されるチェックボックス、および、図７の［Ｂ］の画面上におけるエリア（１）に示されるチェックボックスの両方にチェックが入っていない状態で、当該変更を加えた後のグラフを示す。また、図８の下側には、図７の［Ａ］の画面上におけるエリア（１）に示されるチェックボックスにチェックが入り、図７の［Ｂ］の画面上におけるエリア（１）に示されるチェックボックスにはチェックが入っていない状態で、当該変更を加えた後のグラフを示す。各グラフの横軸は時間軸であり、各グラフには上から順に出力チャンネル１、出力チャンネル２および出力チャンネル３を示す。
【0102】
本実施形態に係る生成部４１は、一例として、図７の［Ａ］および［Ｂ］の各画面上におけるエリア（１）に示されるチェックボックスにチェックが入っていない状態で、対象試験に対してパワーオンの最適化アルゴリズムを適用し、リレーをクローズする処理とパワーオンする処理とを分離し、１つの出力チャンネルにおけるリレーをクローズする処理が終了すると同時に、上記の待ち時間が経過するのを待たずに次の出力チャンネルにおけるリレーをクローズする処理を開始する。このように、生成部４１は、各出力チャンネル間でリレーをクローズする複数の処理を並列して実行しないものの、上記の待ち時間を省略することによって、対象試験の実行時間を短縮する。
【0103】
また、本実施形態に係る生成部４１は、一例として、図７の［Ａ］の画面上におけるエリア（１）に示されるチェックボックスにチェックが入り、図７の［Ｂ］の画面上におけるエリア（１）に示されるチェックボックスにはチェックが入っていない状態で、対象試験に対してパワーオンの最適化アルゴリズムを適用し、リレーをクローズする処理とパワーオンする処理とを分離し、複数の出力チャンネル間でリレーをクローズする複数の処理を並列して実行することによって、１つの出力チャンネルのパワーオンする処理が終了してから待ち時間が経過した直後に次の出力チャンネルのパワーオンする処理を実行する。このように、生成部４１は、パワーオンする処理間の待ち時間を確保しつつ、１つの出力チャンネルにおけるリレーをクローズする処理を他の出力チャンネルにおけるパワーオンする処理が完了するまで開始せずに待機している時間を省略し、対象試験の実行時間を短縮する。
【0104】
図８の上側における変更前のグラフでは、時刻ｔ１に、出力チャンネル１のリレーをクローズする処理が開始され、時刻ｔ２に、当該処理が終了し、時刻ｔ３に、出力チャンネル１のパワーオンする処理が実行されると共に出力チャンネル２の待ち時間のカウントが開始され、時刻ｔ４に、待ち時間が終了すると共に出力チャンネル２のリレーをクローズする処理が開始され、以降、時刻ｔ４から時刻ｔ９までの間に、出力チャンネル２および出力チャンネル３で同様の処理が繰り返される。
【0105】
図８の上側における変更前のグラフに示すように、パワーオンの最適化アルゴリズムを適用する前の対象試験においては、複数の出力チャンネルのそれぞれにおけるリレーをクローズする処理およびパワーオンする処理は一体的なパワーオンイベントである。複数の出力チャンネル間で当該パワーオンイベントが連続で指定されている場合は、前の出力チャンネルにおけるパワーオンイベント中のリレークローズ期間を待ち、リレークローズ期間の終了後にパワーオンする処理が実行されてから、更に待ち時間を置き、次の出力チャンネルにおけるパワーオンイベントを開始するように、シーケンシャルに複数のパワーオンイベントを実行する。
【0106】
一方で、図８の中央における変更後のグラフでは、時刻ｔ１に、出力チャンネル１のリレーをクローズする処理が開始され、時刻ｔ２に、当該処理が終了すると共に出力チャンネル２のリレーをクローズする処理が開始され、時刻ｔ３に、出力チャンネル１のパワーオンする処理が実行され、以降、時刻ｔ３から時刻ｔ７までの間に、出力チャンネル２および出力チャンネル３で同様の処理が繰り返される。
【0107】
更に、図８の下側における変更後のグラフでは、時刻ｔ１に、出力チャンネル１のリレーをクローズする処理が開始され、時刻ｔ２に、出力チャンネル２のリレーをクローズする処理が開始され、時刻ｔ３に、出力チャンネル３のリレーをクローズする処理が開始される。そして、時刻ｔ４に、出力チャンネル１のリレーをクローズする処理が終了し、時刻ｔ５に、出力チャンネル１のパワーオンする処理が実行されると共に出力チャンネル２の待ち時間のカウントが開始され、時刻ｔ６に、出力チャンネル２のリレーをクローズする処理が終了し、時刻ｔ７に、出力チャンネル３のリレーをクローズする処理が終了する。そして、時刻ｔ８に、出力チャンネル２の待ち時間が終了すると共に出力チャンネル２のパワーオンする処理が実行され、且つ、出力チャンネル３の待ち時間のカウントが開始され、時刻ｔ９に、当該待ち時間が終了すると共に出力チャンネル３のパワーオンする処理が実行される。
【0108】
図９の上側には、パワーオンの最適化アルゴリズムによって試験の実行時間を短縮する変更を加える前のグラフを示し、図９の下側には、図７の［Ａ］の画面上におけるエリア（１）に示されるチェックボックス、および、図７の［Ｂ］の画面上におけるエリア（１）に示されるチェックボックスの両方にチェックが入り、図７の［Ｂ］の画面上におけるエリア（２）に示される処理「Ｕｓｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ」のチェックボックスのみにチェックが入っている状態で、当該変更を加えた後のグラフを示す。
【0109】
各グラフの横軸は時間軸であり、各グラフには上から順に出力チャンネル１および出力チャンネル２を示す。また、各グラフにおいて、ＤＵＴ１０に対して出力を行わない複数の処理の要素が各出力チャンネルの時間軸に沿うタイミングチャート上に配されている。当該処理の要素の一例として、上述した要素ｆｘが示されている。
【0110】
本実施形態に係る生成部４１は、一例として、図７の［Ａ］及び［Ｂ］の各画面上におけるエリア（１）に示されるチェックボックスにチェックが入り、図７の［Ｂ］の画面上におけるエリア（２）に示される処理「Ｕｓｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ」のチェックボックスのみにチェックが入っている状態で、対象試験に対してパワーオンの最適化アルゴリズムを適用し、リレーをクローズする処理とパワーオンする処理とを分離し、対象試験に含まれる処理、一例としてＤＵＴ１０に対して出力を行わない処理を、リレーをクローズする処理と並行に実行するように設定することによって、試験の実行時間を短縮する。例えば、生成部４１は、複数の出力チャンネル間でリレーをクローズする処理とＤＵＴ１０に対して出力を行わない処理とを並列して実行することによって、ＤＵＴ１０に対して出力を行わない処理が実行されるまで待たずにリレーをクローズする処理を開始し、１つの出力チャンネルのパワーオンする処理が終了してから待ち時間が経過した直後に次の出力チャンネルのパワーオンする処理を実行する。このように、生成部４１は、パワーオンする処理間の待ち時間を確保しつつ、ＤＵＴ１０に対して出力を行わない処理が実行されるまで待機する時間、および、１つの出力チャンネルにおけるリレーをクローズする処理を他の出力チャンネルにおけるパワーオンする処理が完了するまで開始せずに待機している時間を省略し、対象試験の実行時間を短縮する。
【0111】
図９の上側における変更前のグラフでは、時刻ｔ１よりも前に、ＤＵＴ１０に対して出力を行わない複数の処理が順に実行され、時刻ｔ１に、出力チャンネル１のリレーをクローズする処理が開始され、時刻ｔ２に、当該処理が終了し、時刻ｔ３に、出力チャンネル１のパワーオンする処理が実行されると共に出力チャンネル２の待ち時間のカウントが開始され、時刻ｔ４に、待ち時間が終了すると共に出力チャンネル２のリレーをクローズする処理が開始される。
【0112】
一方で、図９の下側における変更後のグラフでは、出力チャンネル１におけるＤＵＴ１０に対して出力を行わない複数の処理のうちの要素ｆｘの処理を実行するよりも前の時刻ｔ１に、出力チャンネル１のリレーをクローズする処理が開始され、出力チャンネル２におけるＤＵＴ１０に対して出力を行わない複数の処理のうちの要素ｆｘの処理を実行するよりも前の時刻ｔ２に、出力チャンネル２のリレーをクローズする処理が開始される。そして、時刻ｔ３に、出力チャンネル１のリレーをクローズする処理が終了し、時刻ｔ４に、出力チャンネル１のパワーオンする処理が実行されると共に出力チャンネル２の待ち時間のカウントが開始され、時刻ｔ５に、出力チャンネル２のリレーをクローズする処理が終了し、時刻ｔ６に、出力チャンネル３のリレーをクローズする処理が終了すると共に出力チャンネル２のパワーオンする処理が実行される。
【0113】
図１０は、本実施形態に係る不要な待ち時間の削除アルゴリズムの一例を説明するグラフである。図１０の上側には、不要な待ち時間の削除アルゴリズムによって試験の実行時間を短縮する変更を加える前のグラフを示し、図１０の下側には、当該変更を加えた後のグラフを示す。各グラフの横軸は時間軸であり、各グラフには１つのシーケンスを示す。
【0114】
各グラフにおいて、シーケンスの時間軸に沿うタイミングチャート上には、左端の時刻ｔ１および時刻ｔ２と右端の時刻ｔ８とのそれぞれに、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理の要素が配され、時刻ｔ３からｔ７のそれぞれに、ＤＵＴ１０に対して出力を行わない複数の処理の要素が配されている。
【0115】
本実施形態に係る生成部４１は、一例として、対象試験における、ＤＵＴ１０に対して出力を行わない複数の処理間の待ち時間を削除することを含む不要な待ち時間の削除アルゴリズムを対象試験に適用することによって、試験の実行時間を短縮する。一例として、ＤＵＴ１０に対して出力を行わない複数の処理間の待ち時間では、セットアップ時間やホールド時間が不要であり、削除しても試験結果に悪影響が無い可能性が高い。また、生成部４１は、一例として、対象試験における、ＤＵＴ１０に対して出力を行わない複数の処理のうち、ユーザによって指定された処理に対しては、不要な待ち時間の削除アルゴリズムによる変更を加えない。
【0116】
図６の上側における変更前のグラフでは、各処理間の時間間隔として、時刻ｔ１とｔ２との間で３ｍｓ、時刻ｔ２とｔ３との間で１ｍｓ、時刻ｔ３とｔ４との間で０ｍｓ、時刻ｔ４とｔ５との間で１ｍｓ、時刻ｔ５とｔ６との間で０ｍｓ、時刻ｔ６とｔ７との間で１ｍｓ、時刻ｔ７とｔ８との間で０ｍｓがそれぞれ示されている。
【0117】
一方で、図６の下側における変更後のグラフでは、変更前のグラフとの相違点として、各処理間の時間間隔のうち、時刻ｔ４とｔ５との間、および、時刻ｔ６とｔ７との間のそれぞれで０ｍｓが示されている。
【0118】
また、この場合における本実施形態に係る判定部４７は、対象試験に対して不要な待ち時間の削除アルゴリズムを適用することで生成された変更試験候補をＤＵＴ１０において実行することで取得された変更試験結果に悪影響があるか否かを判定する。より具体的には、判定部４７は、一例として、ＤＵＴ１０に対して当該変更試験候補を反復実行しても、ＤＵＴ１０からの変更試験結果において、Ｐａｓｓであること及びＢｉｎが変更前と変わらないことが示されている場合に、変更試験結果に悪影響が無かったと判定し、その時間間隔は不要であると判定する。
【0119】
図１１は、本実施形態に係る表示部６０に表示される、待ち時間の最適化アルゴリズムに関する設定ダイアログ画面の一例である。当該設定ダイアログ画面は、図４のメイン画面上のエリア（５）における最適化設定テーブルにおいて、待ち時間の最適化の列に配されたセットアップボタンがクリックされることによって開かれる。図１１の設定ダイアログ画面の説明を目的として、設定ダイアログ画面上の複数のエリアを枠線で区切り、各エリアを（１）～（４）の矢印で指している。当該設定ダイアログ画面は、一例として、上記のステップＳ１０１で用いられる。
【0120】
エリア（１）には、探索アルゴリズムの選択ボタンが示されており、ユーザにより選択ボタンがクリックされると、プルダウンメニューが表示され、ユーザにより複数の探索アルゴリズムの中から１つの探索アルゴリズムが選択される。
【0121】
エリア（２）には、探索アルゴリズム説明エリアが示されており、エリア（１）の選択ボタンで選択された探索アルゴリズムの、シーケンス例を用いた概略的な動作説明が表示される。
【0122】
エリア（３）には、タイムアウトするまでの時間を指定するボタンが示されており、ユーザの入力によって、探索アルゴリズムの適用を終了するまでの時間が、例えば０．２５ｈｏｕｒ（１５分）～８７６０．００ｈｏｕｒ（２４時間×３６５日）を０．２５ｈｏｕｒ単位で指定される。
【0123】
エリア（４）には、追加指標設定エリアが示されており、ユーザの入力によって、探索アルゴリズムによるフロー実行に必要な最適化の判定基準が設定される。エリア（４）の左上には、指標サンプリングボタンが配され、その下部には、Ｓｅｔｕｐ Ｌｉｍｉｔｓタブと、Ｍｅａｓｕｒｅｄ Ｖａｌｕｅｓ Ｖｉｅｗタブとが配されている。ユーザにより各タブがクリックされると、タブの下部のフィールドでは、各タブに対応するテーブルの画面に切り替わる。指標サンプリングボタンは、ユーザによりクリックされると、図４のメイン画面におけるエリア（３）に示される反復実行設定エリアの指定に従って、追加指標サンプリングが実行され、実行結果が上記の各テーブルに表示される。Ｓｅｔｕｐ Ｌｉｍｉｔｓテーブルでは、ユーザの入力によって、基準とする指標および指標値の下限が指定される。基準とする指標は、上述した工程能力指数のＣｐおよびＣｐｋであって、ユーザによりＣｐおよびＣｐｋの何れかが指定される。ただし、初期設定では、測定されたＣｐに不定値が含まれていない場合はＣｐとなっており、不定値が含まれている場合はＤｉｓａｂｌｅとなっている。
【0124】
ユーザにとって、ＣｐまたはＣｐｋの下限を指定することは、何らかの判断基準が無いと困難な場合がある。そこで、Ｓｅｔｕｐ Ｌｉｍｉｔｓテーブルには、追加指標サンプリングの実行結果として測定値が表示され、Ｍｅａｓｕｒｅｄ Ｖａｌｕｅｓ Ｖｉｅｗテーブルには、ユーザにとって参考となる統計値が表示される。これにより、例えばユーザが電圧測定値のＣｐまたはＣｐｋの下限を指定する場合に、ＣｐまたはＣｐｋが平均的にはどれくらいであるのかを参照することができる。このように、本実施形態に係る表示部６０は、ユーザに対して、ＤＵＴ１０の対象試験を繰り返し実行することによって取得される測定値の対象統計値の工程能力指数を示して、対象統計値の工程能力指数が満たす基準、例えばＣｐまたはＣｐｋの下限を指定させるための画面を表示する。
【0125】
本実施形態に係る生成部４１は、対象試験における、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮することを含む待ち時間の最適化アルゴリズムを適用することによって、試験の実行時間を短縮する。より具体的には、生成部４１は、対象試験における、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮する変更を加えた複数の変更試験候補を生成する。一例として、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理間の待ち時間では、セットアップ時間やホールド時間が短くても問題なく、短縮しても試験結果に悪影響が無い場合がある。また、生成部４１は、一例として、対象試験における、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理のうち、ユーザによって指定された処理に対しては、待ち時間の最適化アルゴリズムによる変更を加えない。
【0126】
また、本実施形態に係る判定部４７は、対象試験に対して待ち時間の最適化アルゴリズムを適用することで生成された変更試験候補をＤＵＴ１０において実行することで取得された変更試験結果に悪影響があるか否かを判定する。より具体的には、判定部４７は、一例として、ＤＵＴ１０に対して当該変更試験候補を反復実行しても、ＤＵＴ１０からの変更試験結果において、Ｐａｓｓであること、Ｂｉｎが変更前と変わらないこと、及び、ＣｐまたはＣｐｋの工程能力指数が基準を満たすことが示されている場合に、変更試験結果に悪影響が無かったと判定し、その短縮された時間間隔で十分であると判定する。
【0127】
また、本実施形態に係る決定部４９は、生成部４１によって生成された複数の変更試験候補のうち、判定部４７によって対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、試験の実行時間が最小となる特定の変更試験候補を探索して、対象試験の代わりの変更試験として決定する。なお、決定部４９は、生成部４１によって生成された複数の変更試験候補のうち、判定部４７によって対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が予め定められた目標時間以下となる特定の変更試験候補を探索して、当該特定の変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定してもよい。当該目標時間は、一例として、図４を用いて説明したように、ユーザによって指定される。本実施形態に係る決定部４９が使用する探索アルゴリズムは、一例として、シーケンシャル探索、バイナリ探索、スクリーニング探索および人工知能探索を含む。
【0128】
本実施形態に係る決定部４９は、シーケンシャル探索を行う場合、一例として、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として生成部４１に当該変更試験候補の、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を単位時間だけ短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返す。より具体的には、決定部４９は、一例として、１つの時間間隔に注目して、１ｍｓ削減した変更試験候補を反復実行し、当該変更試験候補が、上述したように、判定部４７によって変更試験結果に悪影響が無かったと判定された場合に、同じ時間間隔を同様に１ｍｓ削減した新たな変更試験候補を反復実行し、同様に繰り返す。このような処理を、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理間の全ての待ち時間に対して実行し、対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、試験の実行時間が最小となる変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定する。シーケンシャル探索では、一例として、１ｍｓ削減した変更試験候補を１００回反復実行する。例えば、１００ｍｓの時間間隔を９０ｍｓまで時間短縮する場合は、１０×１００回＝１０００回だけ、１ｍｓずつ削減した複数の変更試験候補を反復実行する。なお、図１１の設定ダイアログ画面におけるエリア（２）には、シーケンシャル探索を用いた概略的な動作説明が表示されている。
【0129】
本実施形態に係る決定部４９は、バイナリ探索を行う場合、一例として、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として生成部４１に二分法を用いて当該変更試験候補の、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返す。より具体的には、決定部４９は、一例として、１つの時間間隔に注目して、二分法で時間変更した、すなわち時間間隔を半分にした変更試験候補を反復実行し、当該変更試験候補が、上述したように、判定部４７によって変更試験結果に悪影響が無かったと判定された場合に、同じ時間間隔を同様に半分にした新たな変更試験候補を反復実行し、同様に繰り返す。このような処理を、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理間の全ての待ち時間に対して実行し、対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、試験の実行時間が最小となる変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定する。バイナリ探索では、一例として、二分法で時間変更した変更試験候補を１００回反復実行する。
【0130】
本実施形態に係る決定部４９は、スクリーニング探索を行う場合、一例として、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理間の待ち時間を単位時間だけ短縮する変更を加えて生成した変更試験候補を第１の回数だけ実行した変更試験結果を対象試験結果と比較した比較結果に基づいて対象試験を当該変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件として、生成部４１に当該変更試験候補の当該待ち時間を更に単位時間だけ短縮する変更を加えた新たな変更試験候補を生成させることを繰り返す。そして、対象試験を変更試験候補で代用可能ではないと判定されたことに応じて、対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定されるまで、変更直前の変更試験候補に含まれる試験シーケンスを予め定められた回数繰り返した変更試験結果を対象試験結果と比較することを繰り返す。上記の第１の回数は、上記の予め定められた回数よりも少なく、一例として、第１の回数は１回であって、予め定められた回数は１００回であってもよい。
【0131】
本実施形態に係る決定部４９は、人工知能探索を行う場合、一例として、対象試験に含まれる複数の試験シーケンスのそれぞれにおける、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理間の待ち時間の組を遺伝子とする遺伝的アルゴリズムを用いる。当該遺伝子となる複数の処理間の待ち時間の組は、隣接する複数の処理間の待ち時間の組であってもよく、隣接しない複数の処理間の待ち時間の組であってもよい。決定部４９は、当該遺伝的アルゴリズムにより、複数の処理間の待ち時間を変更した複数の試験シーケンスを含む変更試験候補を決定して生成部４１に生成させ、上記の遺伝的アルゴリズムにより変更試験候補の複数の処理間の待ち時間を更に変更した複数の試験シーケンスを含む新たな変更試験候補を決定して、当該変更試験候補を再び生成部４１に生成させる。そして、決定部４９は、判定部４７により対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、試験の実行時間が最小となる特定の変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定する。なお、決定部４９は、上記の様に新たな変更試験候補を決定して生成させる場合に、判定部４７により対象試験を変更試験候補で代用可能であると判定されたことを条件としてもよく、このような条件を設定せず、例えばルーレット選択を用いることにより、判定部４７によって対象試験を代用可能ではないと判定され得る又は判定された変更試験候補から上記の新たな変更試験候補を決定して生成させてもよい。また、決定部４９は、判定部４７により対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、実行時間が予め定められた目標時間以下となる特定の変更試験候補を探索して、当該特定の変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定してもよい。当該目標時間は、一例として、図４を用いて説明したように、ユーザによって指定される。
【0132】
図１２は、本実施形態に係る待ち時間の最適化アルゴリズムの一例におけるスクリーニング探索を説明する図である。図１２では、１つの試験シーケンスのタイミングチャート上に、パワーオンする処理の要素と、測定する処理の要素とを示し、上から順に、これらの要素間の実行時間間隔を１ｍｓずつ削減していく動作を判定結果と共に示す。
【0133】
本実施形態に係る決定部４９は、一例として、１つの時間間隔に注目して、１ｍｓ削減した変更試験候補を１回実行し、当該変更試験候補が、上述したように、判定部４７によって変更試験結果に悪影響が無かったと判定された場合に、同じ時間間隔を同様に１ｍｓ削減した新たな変更試験候補を１回実行し、同様に繰り返す。１ｍｓずつ削減していた変更試験候補が、判定部４７によって変更試験結果に悪影響が有ったと判定された場合に、当該変更試験候補の１つ前、すなわち当該時間間隔が当該変更試験候補よりも１ｍｓ多い変更試験候補に戻り、当該変更試験候補を初めて１００回反復実行する。その結果として、当該変更試験候補が、判定部４７によって変更試験結果に悪影響が有ったと判定された場合には、更に１つ前の変更試験候補に戻って同様に繰り返し、１００回反復実行した結果として判定部４７により変更試験結果に悪影響が無かったと判定された変更試験候補が発見された場合に、対象試験が当該変更試験候補で代用可能であると判定される。
【0134】
上記の処理を、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理間の全ての待ち時間に対して実行し、対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、試験の実行時間が最小となる変更試験候補を対象試験の代わりの変更試験として決定する。例えば、ある時間間隔が１００ｍｓで、１ｍｓずつ削減すると９０ｍｓで変更試験結果に悪影響が有ったと判定された場合には、変更試験候補は１０×１回実行される。次に、１ｍｓずつ増加して９１ｍｓで変更試験結果に悪影響が無かったと判定された場合には、変更試験候補は１×１００回実行される。この場合の複数の変更試験候補の実行回数の合計は、１１０回となる。
【0135】
図１３は、本実施形態に係る待ち時間の最適化アルゴリズムの一例である遺伝的アルゴリズムを説明する図である。ここで説明する遺伝的アルゴリズムは、上述した通り、本実施形態に係る決定部４９が人工知能探索を行う場合に用いる遺伝的アルゴリズムの一例である。
【0136】
本実施形態に係る遺伝的アルゴリズムでは、一例として、ＤＵＴ１０に対して出力を行う複数の処理間の待ち時間の組を遺伝子とし、当該遺伝子で表現した各試験シーケンスを個体としてＮ個用意する。図１３の中央には、Ｎ個の試験シーケンスを含む遺伝子セットを現世代として示す。なお、個体数Ｎは、世代によって異なってもよい。なお、最初の現世代における複数の試験シーケンスは、対象試験に含まれる、対象とする試験シーケンスからランダムに生成されたものであり、決定部４９が現世代の複数の試験シーケンスを、変更試験候補に含まれる複数の試験シーケンスとして決定し、生成部４１に生成させる。
【0137】
本実施形態に係る決定部４９は、現世代の複数の試験シーケンスをＤＵＴ１０に対して実行した変更試験結果について判定部４７が判定した判定結果を取得する。当該判定結果は、一例として、評価関数により、現世代の各個体の評価値をそれぞれ計算したものである。決定部４９は続けて、ある確率で、交叉および突然変異の何れかを実行し、その結果を次世代に保存する。より具体的には、一例として図１３に示すように、現世代の遺伝子セットから抽出したシーケンス１（Ａ1、Ｂ1、Ｃ1）とシーケンス２（Ａ2、Ｂ2、Ｃ2）とを交叉させ、シーケンス（Ａ1、Ｂ2、Ｃ2）を生成して次世代に保存する。また、一例として、現世代の遺伝子セットから抽出したシーケンス１（Ａ、Ｂ、Ｃ）を突然変異させ、シーケンス（Ａ1、Ｂnew、Ｃ1）を生成して次世代に保存する。このとき、評価値が低い一部の試験シーケンスは一定の確率で消滅する。決定部４９は、当該処理を世代ごとに、最大世代数まで、又は、評価値の向上が見込めなくなるまで、又は、予め定められた時間を経過するまで、又は、ユーザによって強制的に終了されるまで繰り返す。決定部４９は、最終的に現世代の中で最も評価値の高い個体の試験シーケンスを、最適な遺伝子として出力する。なお、決定部４９は、現世代の試験シーケンスをある確率でそのままコピーして次世代に保存してもよい。
【0138】
図１４は、本実施形態に係るコンピュータ３０の動作フローを示す図である。図１４の動作フローでは、決定部４９が、複数の変更試験候補のうち対象試験を代用可能であると判定された複数の変更試験候補の中から、試験の実行時間が最小となる変更試験候補を、人工知能探索によって探索して、対象試験の代わりの変更試験として決定する。当該フローは、一例として、図３の動作フローと同様に、コンピュータ３０にインストールされている試験ツールが起動することにより開始する。
【0139】
コンピュータ３０は、遺伝的アルゴリズムを用いることにより、変更試験候補として、対象試験に含まれる試験シーケンスからランダムに生成したＮ個の試験シーケンスを決定し、変更試験候補の一例として、２つの試験シーケンスを交叉させた、または１つの試験シーケンスを突然変異させた試験シーケンスを決定する（ステップＳ２００）。以降、ステップＳ１０１～ステップＳ１１１は、図３の動作フローにおけるステップＳ１０１～ステップＳ１１１と同様である。ただし、ステップＳ１０９では、コンピュータ３０は、現世代の全ての試験シーケンスに対してある確率で、交叉および突然変異の何れかを実行するまで（ステップＳ１０９：Ｙｅｓ）、ステップＳ２００に戻る。また、ステップＳ１０９では、コンピュータ３０は、ステップＳ２００からステップＳ１０９までの処理を世代ごとに、最大世代数まで、又は、評価値の向上が見込めなくなるまで繰り返したら（ステップＳ１０９：Ｎｏ）、変更試験の一例として、最も評価値の高い試験シーケンスを決定する（ステップＳ１１１）。
【0140】
また、本発明の様々な実施形態は、フローチャートおよびブロック図を参照して記載されてよく、ここにおいてブロックは、（１）操作が実行されるプロセスの段階または（２）操作を実行する役割を持つ装置のセクションを表わしてよい。特定の段階およびセクションが、専用回路、コンピュータ可読媒体上に格納されるコンピュータ可読命令と共に供給されるプログラマブル回路、および／またはコンピュータ可読媒体上に格納されるコンピュータ可読命令と共に供給されるプロセッサによって実装されてよい。専用回路は、デジタルおよび／またはアナログハードウェア回路を含んでよく、集積回路（ＩＣ）および／またはディスクリート回路を含んでよい。プログラマブル回路は、論理ＡＮＤ、論理ＯＲ、論理ＸＯＲ、論理ＮＡＮＤ、論理ＮＯＲ、および他の論理操作、フリップフロップ、レジスタ、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）、プログラマブルロジックアレイ（ＰＬＡ）等のようなメモリ要素等を含む、再構成可能なハードウェア回路を含んでよい。
【0141】
コンピュータ可読媒体は、適切なデバイスによって実行される命令を格納可能な任意の有形なデバイスを含んでよく、その結果、そこに格納される命令を有するコンピュータ可読媒体は、フローチャートまたはブロック図で指定された操作を実行するための手段を作成すべく実行され得る命令を含む、製品を備えることになる。コンピュータ可読媒体の例としては、電子記憶媒体、磁気記憶媒体、光記憶媒体、電磁記憶媒体、半導体記憶媒体等が含まれてよい。コンピュータ可読媒体のより具体的な例としては、フロッピー（登録商標）ディスク、ディスケット、ハードディスク、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）、消去可能プログラマブルリードオンリメモリ（ＥＰＲＯＭまたはフラッシュメモリ）、電気的消去可能プログラマブルリードオンリメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、静的ランダムアクセスメモリ（ＳＲＡＭ）、コンパクトディスクリードオンリメモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、デジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）、ブルーレイ（ＲＴＭ）ディスク、メモリスティック、集積回路カード等が含まれてよい。
【0142】
コンピュータ可読命令は、アセンブラ命令、命令セットアーキテクチャ（ＩＳＡ）命令、マシン命令、マシン依存命令、マイクロコード、ファームウェア命令、状態設定データ、またはＳｍａｌｌｔａｌｋ、ＪＡＶＡ（登録商標）、Ｊａｖａｓｃｒｉｐｔ（登録商標）、Ｃ＋＋等のようなオブジェクト指向プログラミング言語、および「Ｃ」プログラミング言語または同様のプログラミング言語のような従来の手続型プログラミング言語を含む、１または複数のプログラミング言語の任意の組み合わせで記述されたソースコードまたはオブジェクトコードのいずれかを含んでよい。
【0143】
コンピュータ可読命令は、汎用コンピュータ、特殊目的のコンピュータ、若しくは他のプログラム可能なデータ処理装置のプロセッサまたはプログラマブル回路に対し、ローカルにまたはローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）、インターネット等のようなワイドエリアネットワーク（ＷＡＮ）を介して提供され、フローチャートまたはブロック図で指定された操作を実行するための手段を作成すべく、コンピュータ可読命令を実行してよい。プロセッサの例としては、コンピュータプロセッサ、処理ユニット、マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ、コントローラ、マイクロコントローラ等を含む。
【0144】
図１５は、本発明の複数の態様が全体的または部分的に具現化されてよいコンピュータ２２００の構成の一例を示す図である。コンピュータ２２００にインストールされたプログラムは、コンピュータ２２００に、本発明の実施形態に係る装置に関連付けられる操作または当該装置の１または複数のセクションとして機能させることができ、または当該操作または当該１または複数のセクションを実行させることができ、および／またはコンピュータ２２００に、本発明の実施形態に係るプロセスまたは当該プロセスの段階を実行させることができる。そのようなプログラムは、コンピュータ２２００に、本明細書に記載のフローチャートおよびブロック図のブロックのうちのいくつかまたはすべてに関連付けられた特定の操作を実行させるべく、ＣＰＵ２２１２によって実行されてよい。
【0145】
本実施形態によるコンピュータ２２００は、ＣＰＵ２２１２、ＲＡＭ２２１４、グラフィックコントローラ２２１６、およびディスプレイデバイス２２１８を含み、それらはホストコントローラ２２１０によって相互に接続されている。コンピュータ２２００はまた、通信インタフェース２２２２、ハードディスクドライブ２２２４、ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ２２２６、およびＩＣカードドライブのような入／出力ユニットを含み、それらは入／出力コントローラ２２２０を介してホストコントローラ２２１０に接続されている。コンピュータはまた、ＲＯＭ２２３０およびキーボード２２４２のようなレガシの入／出力ユニットを含み、それらは入／出力チップ２２４０を介して入／出力コントローラ２２２０に接続されている。
【0146】
ＣＰＵ２２１２は、ＲＯＭ２２３０およびＲＡＭ２２１４内に格納されたプログラムに従い動作し、それにより各ユニットを制御する。グラフィックコントローラ２２１６は、ＲＡＭ２２１４内に提供されるフレームバッファ等またはそれ自体の中にＣＰＵ２２１２によって生成されたイメージデータを取得し、イメージデータがディスプレイデバイス２２１８上に表示されるようにする。
【0147】
通信インタフェース２２２２は、ネットワークを介して他の電子デバイスと通信する。ハードディスクドライブ２２２４は、コンピュータ２２００内のＣＰＵ２２１２によって使用されるプログラムおよびデータを格納する。ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ２２２６は、プログラムまたはデータをＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１から読み取り、ハードディスクドライブ２２２４にＲＡＭ２２１４を介してプログラムまたはデータを提供する。ＩＣカードドライブは、プログラムおよびデータをＩＣカードから読み取り、および／またはプログラムおよびデータをＩＣカードに書き込む。
【0148】
ＲＯＭ２２３０はその中に、アクティブ化時にコンピュータ２２００によって実行されるブートプログラム等、および／またはコンピュータ２２００のハードウェアに依存するプログラムを格納する。入／出力チップ２２４０はまた、様々な入／出力ユニットをパラレルポート、シリアルポート、キーボードポート、マウスポート等を介して、入／出力コントローラ２２２０に接続してよい。
【0149】
プログラムが、ＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１またはＩＣカードのようなコンピュータ可読媒体によって提供される。プログラムは、コンピュータ可読媒体から読み取られ、コンピュータ可読媒体の例でもあるハードディスクドライブ２２２４、ＲＡＭ２２１４、またはＲＯＭ２２３０にインストールされ、ＣＰＵ２２１２によって実行される。これらのプログラム内に記述される情報処理は、コンピュータ２２００に読み取られ、プログラムと、上記様々なタイプのハードウェアリソースとの間の連携をもたらす。装置または方法が、コンピュータ２２００の使用に従い情報の操作または処理を実現することによって構成されてよい。
【0150】
例えば、通信がコンピュータ２２００および外部デバイス間で実行される場合、ＣＰＵ２２１２は、ＲＡＭ２２１４にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理に基づいて、通信インタフェース２２２２に対し、通信処理を命令してよい。通信インタフェース２２２２は、ＣＰＵ２２１２の制御下、ＲＡＭ２２１４、ハードディスクドライブ２２２４、ＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１、またはＩＣカードのような記録媒体内に提供される送信バッファ処理領域に格納された送信データを読み取り、読み取られた送信データをネットワークに送信し、またはネットワークから受信された受信データを記録媒体上に提供される受信バッファ処理領域等に書き込む。
【0151】
また、ＣＰＵ２２１２は、ハードディスクドライブ２２２４、ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ２２２６（ＤＶＤ－ＲＯＭ２２０１）、ＩＣカード等のような外部記録媒体に格納されたファイルまたはデータベースの全部または必要な部分がＲＡＭ２２１４に読み取られるようにし、ＲＡＭ２２１４上のデータに対し様々なタイプの処理を実行してよい。ＣＰＵ２２１２は次に、処理されたデータを外部記録媒体にライトバックする。
【0152】
様々なタイプのプログラム、データ、テーブル、およびデータベースのような様々なタイプの情報が記録媒体に格納され、情報処理を受けてよい。ＣＰＵ２２１２は、ＲＡＭ２２１４から読み取られたデータに対し、本開示の随所に記載され、プログラムの命令シーケンスによって指定される様々なタイプの操作、情報処理、条件判断、条件分岐、無条件分岐、情報の検索／置換等を含む、様々なタイプの処理を実行してよく、結果をＲＡＭ２２１４に対しライトバックする。また、ＣＰＵ２２１２は、記録媒体内のファイル、データベース等における情報を検索してよい。例えば、各々が第２の属性の属性値に関連付けられた第１の属性の属性値を有する複数のエントリが記録媒体内に格納される場合、ＣＰＵ２２１２は、第１の属性の属性値が指定される、条件に一致するエントリを当該複数のエントリの中から検索し、当該エントリ内に格納された第２の属性の属性値を読み取り、それにより予め定められた条件を満たす第１の属性に関連付けられた第２の属性の属性値を取得してよい。
【0153】
上で説明したプログラムまたはソフトウェアモジュールは、コンピュータ２２００上またはコンピュータ２２００近傍のコンピュータ可読媒体に格納されてよい。また、専用通信ネットワークまたはインターネットに接続されたサーバーシステム内に提供されるハードディスクまたはＲＡＭのような記録媒体が、コンピュータ可読媒体として使用可能であり、それによりプログラムを、ネットワークを介してコンピュータ２２００に提供する。
【0154】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【0155】
例えば、以上に示した生成部４１は、ＤＵＴ１０を試験するための対象試験に対して、試験の実行時間を短縮する変更を加えた変更試験候補を生成すべく、対象試験に含まれる繰り返し処理の繰り返し回数を削減することによって、実行時間を短縮することも可能である。なお、対象試験に含まれる繰り返し処理とは、一例として、対象試験に含まれる１又は複数の処理をループ処理することを意味する。
【0156】
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
【符号の説明】
【0157】
１ 試験システム、１０ ＤＵＴ、２０ 試験装置、３０ コンピュータ、４０ 制御部、４１ 生成部、４３ 試験処理部、４４ 通信部、４５ 比較部、４７ 判定部、４９ 決定部、５０ 格納部、６０ 表示部、２２００ コンピュータ、２２０１ ＤＶＤ－ＲＯＭ、２２１０ ホストコントローラ、２２１２ ＣＰＵ、２２１４ ＲＡＭ、２２１６ グラフィックコントローラ、２２１８ ディスプレイデバイス、２２２０ 入／出力コントローラ、２２２２ 通信インタフェース、２２２４ ハードディスクドライブ、２２２６ ＤＶＤ－ＲＯＭドライブ、２２３０ ＲＯＭ、２２４０ 入／出力チップ、２２４２ キーボード
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】