ホーム > 特許ランキング > ダイキン工業株式会社
知財求人 - 知財ポータルサイト「IP Force」
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2023-03-28
(45)【発行日】2023-04-05
(54)【発明の名称】成形品の検査方法、及び、成形品の製造方法
(51)【国際特許分類】
G01N 21/88 20060101AFI20230329BHJP
G01N 21/17 20060101ALI20230329BHJP
B29C 45/76 20060101ALI20230329BHJP
【ＦＩ】
G01N21/88 Z
G01N21/17 630
B29C45/76
【請求項の数】
10
(21)【出願番号】P 2021512021
(86)(22)【出願日】2020-03-27
(86)【国際出願番号】 JP2020014112
(87)【国際公開番号】W WO2020203807
(87)【国際公開日】2020-10-08
【審査請求日】2021-09-06
(31)【優先権主張番号】P 2019066862
(32)【優先日】2019-03-29
(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP
(73)【特許権者】
【識別番号】000002853
【氏名又は名称】ダイキン工業株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110000914
【氏名又は名称】弁理士法人ＷｉｓｅＰｌｕｓ
(72)【発明者】
【氏名】青山 高久
(72)【発明者】
【氏名】津田 早登
(72)【発明者】
【氏名】桑嶋 祐己
【審査官】越柴 洋哉
(56)【参考文献】
【文献】特開２０１８－１３２３２４（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２００７－３２０２６７（ＪＰ，Ａ）
【文献】特表２０１８－５２９０７５（ＪＰ，Ａ）
【文献】米国特許出願公開第２０１５／００７０７０８（ＵＳ，Ａ１）
【文献】米国特許出願公開第２０１５／０１０９６１１（ＵＳ，Ａ１）
【文献】DONG, Bo et al.，Microdefect identification in polymers by mapping depth-resolved phase-difference destributions using optical coherence tomography，Polymer Testing，2018年，Vol.68，p.233-237
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｇ０１Ｎ ２１／８４ － Ｇ０１Ｎ ２１／９５８
Ｇ０１Ｎ ２１／１７
Ｂ２９Ｃ ４５／００ － Ｂ２９Ｃ ４５／８４
ＪＳＴＰｌｕｓ／ＪＭＥＤＰｌｕｓ／ＪＳＴ７５８０（ＪＤｒｅａｍＩＩＩ）
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
フッ素含有率が３０質量％以上の成形品を光干渉断層撮影法（ＯＣＴ）により撮影して得られた画像データに基づいて、当該成形品の内部の状態を検査する工程（Ａ１）を含み、
前記ＯＣＴによる撮影を、光源からの光線の前記成形品に対する入射角αを３～３０度として行う、
成形品の検査方法。
【請求項2】
フッ素含有率が３０質量％以上の成形品を光干渉断層撮影法（ＯＣＴ）により撮影して得られた画像データに基づいて、当該成形品の内部の状態を検査する工程（Ａ１）を含み、
前記ＯＣＴによる撮影を、光源と前記成形品との間に、結晶性のポリマーを含むフィルタを設けて行う、
成形品の検査方法。
【請求項3】
更に、工程（Ａ１）における検査の結果に基づいて、前記成形品が良品であるか否かを判定する工程（Ａ２）を含む請求項１又は２記載の検査方法。
【請求項4】
前記成形品は、含フッ素ポリマーを含む請求項１～３のいずれかに記載の検査方法。
【請求項5】
前記成形品は、溶融加工性フッ素樹脂を含む請求項１～４のいずれかに記載の検査方法。
【請求項6】
前記成形品は、射出成形品である請求項１～５のいずれかに記載の検査方法。
【請求項7】
工程（Ａ１）は、前記画像データに基づいて、前記成形品の内部のクラック及びデラミネーションを検査する工程である請求項１～６のいずれかに記載の検査方法。
【請求項8】
フッ素原子を含む材料を成形することにより、フッ素含有率が３０質量％以上の成形品を複数得る工程（Ｂ１）、複数の前記成形品から１以上の前記成形品を選択し、当該成形品を光干渉断層撮影法（ＯＣＴ）により撮影して得られた画像データに基づいて、当該成形品の内部の状態を検査する工程（Ｂ２）、及び、
工程（Ｂ２）における検査の結果に基づいて、複数の前記成形品から良品を選別する工程（Ｂ３）を含み、
前記ＯＣＴによる撮影を、光源からの光線の前記成形品に対する入射角αを３～３０度として行う、
成形品の製造方法。
【請求項9】
フッ素原子を含む材料を成形することにより、フッ素含有率が３０質量％以上の成形品を複数得る工程（Ｂ１）、
複数の前記成形品から１以上の前記成形品を選択し、当該成形品を光干渉断層撮影法（ＯＣＴ）により撮影して得られた画像データに基づいて、当該成形品の内部の状態を検査する工程（Ｂ２）、及び、
工程（Ｂ２）における検査の結果に基づいて、複数の前記成形品から良品を選別する工程（Ｂ３）を含み、
前記ＯＣＴによる撮影を、光源と前記成形品との間に、結晶性のポリマーを含むフィルタを設けて行う、
成形品の製造方法。
【請求項10】
工程（Ｂ３）は、工程（Ｂ２）における検査の結果に基づいて、工程（Ｂ２）で検査された成形品が良品であるか否かを判定する工程（Ｂ３－１）、及び、工程（Ｂ１）で得られた複数の前記成形品から、工程（Ｂ３－１）において良品と判定された成形品を選別する工程（Ｂ３－２）を含む請求項８又は９記載の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、成形品の検査方法、及び、成形品の製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
フッ素樹脂は耐熱性、耐摩耗性、耐薬品性等に優れており、代表的なエンジニアリングプラスチックスの一つとして成形品等に広く利用されている。
【0003】
特許文献１には、フッ素樹脂製の被検査物を超音波によって検査する特定の方法が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【文献】特開２００６－１４５５５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
本開示は、フッ素を含む成形品の内部の状態を非破壊で検査することが可能な、成形品の新規な検査方法、及び、当該検査方法を用いる成形品の製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示は、フッ素含有率が３０質量％以上の成形品を光干渉断層撮影法により撮影して得られた画像データに基づいて、当該成形品の内部の状態を検査する工程（Ａ１）を含む成形品の検査方法に関する。
【0007】
上記検査方法は、更に、工程（Ａ１）における検査の結果に基づいて、上記成形品が良品であるか否かを判定する工程（Ａ２）を含むことが好ましい。
【0008】
上記成形品は、含フッ素ポリマーを含むことが好ましい。
【0009】
上記成形品は、溶融加工性フッ素樹脂を含むことが好ましい。
【0010】
上記成形品は、射出成形品であることが好ましい。
【0011】
工程（Ａ１）は、上記画像データに基づいて、上記成形品の内部のクラック及びデラミネーションを検査する工程であることが好ましい。
【0012】
本開示は、フッ素原子を含む材料を成形することにより、フッ素含有率が３０質量％以上の成形品を複数得る工程（Ｂ１）、
複数の上記成形品から１以上の上記成形品を選択し、当該成形品を光干渉断層撮影法により撮影して得られた画像データに基づいて、当該成形品の内部の状態を検査する工程（Ｂ２）、及び、
工程（Ｂ２）における検査の結果に基づいて、複数の上記成形品から良品を選別する工程（Ｂ３）を含む成形品の製造方法にも関する。
複数の上記成形品から１以上の上記成形品を選択し、当該成形品を光干渉断層撮影法により撮影して得られた画像データに基づいて、当該成形品の内部の状態を検査する工程（Ｂ２）、及び、
工程（Ｂ２）における検査の結果に基づいて、複数の上記成形品から良品を選別する工程（Ｂ３）を含む成形品の製造方法にも関する。
【0013】
工程（Ｂ３）は、工程（Ｂ２）における検査の結果に基づいて、工程（Ｂ２）で検査された成形品が良品であるか否かを判定する工程（Ｂ３－１）、及び、工程（Ｂ１）で得られた複数の上記成形品から、工程（Ｂ３－１）において良品と判定された成形品を選別する工程（Ｂ３－２）を含むことが好ましい。
【発明の効果】
【0014】
本開示によれば、フッ素を含む成形品の内部の状態を非破壊で検査することが可能な、成形品の新規な検査方法、及び、当該検査方法を用いる成形品の製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0015】
【図1】本開示の検査方法において使用し得る光干渉断層撮影（ＯＣＴ）装置の一例を示す模式図である。
【図2】本開示の検査方法において使用し得るＯＣＴ装置において、試料を傾けて配置する態様の一例を示す拡大図である。
【図3】本開示の検査方法において採用し得る成形品の形状の例を示す模式図である。
【図4】本開示の検査方法において使用し得るＯＣＴ装置において、スペーサーを用いて光線入射角を調整する態様の一例を示す模式図である。
【図5】実施例のＯＣＴにおける試料の配置態様を模式的に示す図である。
【図6】実施例１で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図7】実施例２で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図8】実施例３で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図9】実施例４で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図10】実施例５で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図11】実施例６で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図12】実施例７で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図13】実施例８で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図14】実施例９で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図15】実施例１０で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図16】実施例１１で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図17】実施例１２で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図18】実施例１３で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図19】実施例１４で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図20】実施例１５で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図21】実施例１６で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図22】実施例１７で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【図23】実施例１８で得られたＯＣＴ画像を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下、本開示を具体的に説明する。
【0017】
本開示は、フッ素含有率が３０質量％以上の成形品を光干渉断層撮影法（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）により撮影して得られた画像データに基づいて、当該成形品の内部の状態を検査する工程（Ａ１）を含む成形品の検査方法に関する。
本開示の検査方法によれば、成形品の内部の状態を非破壊で検査することができるので、成形品の全数検査を行うことができる。したがって、成形品の品質の信頼性を高めることができる。
また、ＯＣＴによる画像化は高速で実施できるため、上記検査方法を成形品の生産ラインに組み込むことが容易である。したがって、生産ラインにおいて、生産性を損なうことなく、成形品の品質の信頼性を高めることができる。
本開示の検査方法によれば、成形品の内部の状態を非破壊で検査することができるので、成形品の全数検査を行うことができる。したがって、成形品の品質の信頼性を高めることができる。
また、ＯＣＴによる画像化は高速で実施できるため、上記検査方法を成形品の生産ラインに組み込むことが容易である。したがって、生産ラインにおいて、生産性を損なうことなく、成形品の品質の信頼性を高めることができる。
【0018】
工程（Ａ１）において検査の対象となる上記成形品は、フッ素含有率が３０質量％以上である。上記フッ素含有率は、４１質量％以上であることが好ましく、５９質量％以上であることがより好ましい。上記フッ素含有率は、また、７６質量％以下であることが好ましい。
上記フッ素含有率は、酸素フラスコ燃焼法により試料１０ｍｇを燃焼し、分解ガスを脱イオン水２０ｍｌに吸収させ、吸収液中のフッ素イオン濃度をフッ素選択電極法で測定することにより求める。
上記フッ素含有率は、酸素フラスコ燃焼法により試料１０ｍｇを燃焼し、分解ガスを脱イオン水２０ｍｌに吸収させ、吸収液中のフッ素イオン濃度をフッ素選択電極法で測定することにより求める。
【0019】
上記成形品は、フッ素原子を含む材料を含んでいればよいが、ポリマーの成形品であることが好ましい。
【0020】
上記成形品は、含フッ素ポリマーを含むことが好ましい。上記含フッ素ポリマーとしては、フッ素原子を含むポリマー、例えば、フッ素樹脂、フッ素ゴム等が挙げられる。なかでも、フッ素樹脂が好ましい。
【0021】
上記フッ素樹脂は、融点が１００～３６０℃であることが好ましく、１５０～３４０℃であることがより好ましく、１８０～３３０℃であることが更に好ましく、２００～３２０℃であることが特に好ましい。
融点は、示差走査熱量計〔ＤＳＣ〕を用いて１０℃／分の速度で昇温したときの融解熱曲線における極大値に対応する温度である。
融点は、示差走査熱量計〔ＤＳＣ〕を用いて１０℃／分の速度で昇温したときの融解熱曲線における極大値に対応する温度である。
【0022】
上記フッ素樹脂としては、ポリテトラフルオロエチレン［ＰＴＦＥ］、テトラフルオロエチレン［ＴＦＥ］／パーフルオロ（アルキルビニルエーテル）［ＰＡＶＥ］共重合体［ＰＦＡ］、ＴＦＥ／ヘキサフルオロプロピレン［ＨＦＰ］共重合体［ＦＥＰ］、エチレン［Ｅｔ］／ＴＦＥ共重合体［ＥＴＦＥ］、Ｅｔ／ＴＦＥ／ＨＦＰ共重合体［ＥＦＥＰ］、ポリクロロトリフルオロエチレン［ＰＣＴＦＥ］、クロロトリフルオロエチレン［ＣＴＦＥ］／ＴＦＥ共重合体、Ｅｔ／ＣＴＦＥ共重合体、ポリフッ化ビニリデン［ＰＶＤＦ］、ポリフッ化ビニル［ＰＶＦ］、フッ化ビニリデン［ＶｄＦ］／ＴＦＥ共重合体、ＶｄＦ／ＨＦＰ共重合体、ＶｄＦ／ＴＦＥ／ＨＦＰ共重合体、ＶｄＦ／ＨＦＰ／（メタ）アクリル酸共重合体、ＶｄＦ／ＣＴＦＥ共重合体、ＶｄＦ／ペンタフルオロプロピレン共重合体、ＶｄＦ／ＰＡＶＥ／ＴＦＥ共重合体等が挙げられる。
【0023】
上記フッ素樹脂としては、なかでも、溶融加工性フッ素樹脂が好ましい。溶融加工性とは、射出成形機等の従来の加工機器を用い、溶融して加工することが可能であることを意味する。溶融加工性フッ素樹脂は、メルトフローレート（ＭＦＲ）が０．０１～５００ｇ／１０分であることが通常である。
本明細書において、ＭＦＲは、ＡＳＴＭ Ｄ １２３８に準拠し、温度３７２℃、荷重５ｋｇで測定して得られる値である。
本明細書において、ＭＦＲは、ＡＳＴＭ Ｄ １２３８に準拠し、温度３７２℃、荷重５ｋｇで測定して得られる値である。
【0024】
上記溶融加工性フッ素樹脂としては、ＰＦＡ、ＦＥＰ、ＥＴＦＥ、ＥＦＥＰ、ＰＣＴＦＥ、ＣＴＦＥ／ＴＦＥ共重合体、Ｅｔ／ＣＴＦＥ共重合体、ＰＶＤＦ及びＰＶＦからなる群より選択される少なくとも１種が好ましく、ＰＦＡ、ＦＥＰ、ＥＴＦＥ、ＥＦＥＰ、ＰＣＴＦＥ、ＣＴＦＥ／ＴＦＥ共重合体、Ｅｔ／ＣＴＦＥ共重合体及びＰＶＤＦからなる群より選択される少なくとも１種がより好ましく、ＰＦＡ及びＦＥＰからなる群より選択される少なくとも１種が更に好ましく、射出成形が容易であることからＰＦＡが特に好ましい。
【0025】
上記ＰＦＡにおけるＰＡＶＥとしては、例えば、式（１）：
ＣＦ２＝ＣＦ－ＯＲｆ （１）
（式中、Ｒｆは、炭素数１～１０、好ましくは炭素数１～５のパーフルオロアルキル基を表す。）で表されるものが挙げられ、なかでもパーフルオロ（メチルビニルエーテル）〔ＰＭＶＥ〕、パーフルオロ（エチルビニルエーテル）〔ＰＥＶＥ〕、パープルオロ（プロピルビニルエーテル）〔ＰＰＶＥ〕が好ましい。
ＣＦ２＝ＣＦ－ＯＲｆ （１）
（式中、Ｒｆは、炭素数１～１０、好ましくは炭素数１～５のパーフルオロアルキル基を表す。）で表されるものが挙げられ、なかでもパーフルオロ（メチルビニルエーテル）〔ＰＭＶＥ〕、パーフルオロ（エチルビニルエーテル）〔ＰＥＶＥ〕、パープルオロ（プロピルビニルエーテル）〔ＰＰＶＥ〕が好ましい。
【0026】
上記ＰＦＡとしては、特に限定されないが、ＴＦＥ単位とＰＡＶＥ単位とのモル比（ＴＦＥ単位／ＰＡＶＥ単位）が７０／３０以上９９．５／０．５未満である共重合体が好ましい。より好ましいモル比は、７０／３０以上９８．９／１．１以下であり、更に好ましいモル比は、８０／２０以上９８．５／１．５以下である。ＴＦＥ単位が少なすぎると機械物性が低下する傾向があり、多すぎると融点が高くなりすぎ成形性が低下する傾向がある。上記ＰＦＡは、ＴＦＥ及びＰＡＶＥのみからなる共重合体であってもよいし、ＴＦＥ及びＰＡＶＥと共重合可能な単量体に由来する単量体単位が０．１～１０モル％であり、ＴＦＥ単位及びＰＡＶＥ単位が合計で９０～９９．９モル％である共重合体であることも好ましい。ＴＦＥ及びＰＡＶＥと共重合可能な単量体としては、ＨＦＰ、ＣＺ１Ｚ２＝ＣＺ３（ＣＦ２）ｎＺ４（式中、Ｚ１、Ｚ２及びＺ３は、同一若しくは異なって、水素原子又はフッ素原子を表し、Ｚ４は、水素原子、フッ素原子又は塩素原子を表し、ｎは２～１０の整数を表す。）で表されるビニル単量体、及び、ＣＦ２＝ＣＦ－ＯＣＨ２－Ｒｆ１（式中、Ｒｆ１は炭素数１～５のパーフルオロアルキル基を表す。）で表されるアルキルパーフルオロビニルエーテル誘導体等が挙げられる。
【0027】
上記ＰＦＡは、融点が１８０～３４０℃であることが好ましく、２３０～３３０℃であることがより好ましく、２８０～３２０℃であることが更に好ましい。上記融点は、示差走査熱量計〔ＤＳＣ〕を用いて１０℃／分の速度で昇温したときの融解熱曲線における極大値に対応する温度である。
【0028】
上記ＰＦＡは、メルトフローレート（ＭＦＲ）が０．１～１００ｇ／１０分であることが好ましく、０．５～９０ｇ／１０分であることがより好ましく、１．０～８５ｇ／１０分であることが更に好ましい。
【0029】
上記ＦＥＰとしては、特に限定されないが、ＴＦＥ単位とＨＦＰ単位とのモル比（ＴＦＥ単位／ＨＦＰ単位）が７０／３０以上９９／１未満である共重合体が好ましい。より好ましいモル比は、７０／３０以上９８．９／１．１以下であり、更に好ましいモル比は、８０／２０以上９７／３以下である。ＴＦＥ単位が少なすぎると機械物性が低下する傾向があり、多すぎると融点が高くなりすぎ成形性が低下する傾向がある。ＦＥＰは、ＴＦＥ及びＨＦＰと共重合可能な単量体に由来する単量体単位が０．１～１０モル％であり、ＴＦＥ単位及びＨＦＰ単位が合計で９０～９９．９モル％である共重合体であることも好ましい。ＴＦＥ及びＨＦＰと共重合可能な単量体としては、ＰＡＶＥ、アルキルパーフルオロビニルエーテル誘導体等が挙げられる。
【0030】
上記ＦＥＰは、融点が１５０～３２０℃であることが好ましく、２００～３００℃であることがより好ましく、２４０～２８０℃であることが更に好ましい。上記融点は、示差走査熱量計〔ＤＳＣ〕を用いて１０℃／分の速度で昇温したときの融解熱曲線における極大値に対応する温度である。
【0031】
上記ＦＥＰは、ＭＦＲが０．０１～１００ｇ／１０分であることが好ましく、０．１～８０ｇ／１０分であることがより好ましく、１～６０ｇ／１０分であることが更に好ましく、１～５０ｇ／１０分であることが特に好ましい。
【0032】
本明細書において、フッ素樹脂を構成する各単量体単位の含有量は、ＮＭＲ、ＦＴ－ＩＲ、元素分析、蛍光Ｘ線分析を単量体の種類によって適宜組み合わせることで算出できる。
【0033】
上記フッ素ゴムは、非晶質のフルオロポリマーである。上記フッ素ゴムは、通常、明確な融点を有しないものである。
【0034】
上記フッ素ゴムとしては、ビニリデンフルオライド［ＶｄＦ］系フッ素ゴム、テトラフルオロエチレン［ＴＦＥ］／プロピレン［Ｐｒ］系フッ素ゴム、ＴＦＥ／Ｐｒ／ＶｄＦ系フッ素ゴム、エチレン［Ｅｔ］／ヘキサフルオロプロピレン［ＨＦＰ］系フッ素ゴム、Ｅｔ／ＨＦＰ／ＶｄＦ系フッ素ゴム、Ｅｔ／ＨＦＰ／ＴＦＥ系フッ素ゴム、パーフルオロゴム、フルオロシリコーン系フッ素ゴム、フルオロホスファゼン系フッ素ゴム等が挙げられる。なかでもＶｄＦ系フッ素ゴムが好ましい。
【0035】
上記ＶｄＦ系フッ素ゴムとしては、ＶｄＦ／ＨＦＰ共重合体、ＶｄＦ／ＴＦＥ／ＨＦＰ共重合体、ＶｄＦ／クロロトリフルオロエチレン［ＣＴＦＥ］共重合体、ＶｄＦ／ＣＴＦＥ／ＴＦＥ共重合体、ＶｄＦ／パーフルオロ（アルキルビニルエーテル）［ＰＡＶＥ］共重合体、ＶｄＦ／ＴＦＥ／ＰＡＶＥ共重合体、ＶｄＦ／ＨＦＰ／ＰＡＶＥ共重合体、ＶｄＦ／ＨＦＰ／ＴＦＥ／ＰＡＶＥ共重合体、ＶｄＦ／ＴＦＥ／Ｐｒ共重合体、ＶｄＦ／Ｅｔ／ＨＦＰ共重合体、ＶｄＦ／式（２）で表される含フッ素単量体の共重合体等が挙げられる。
式（２）：
ＣＨ２＝ＣＦＲｆ２ （２）
（式中、Ｒｆ２は炭素数１～１２の直鎖状又は分岐状のフルオロアルキル基）
式（２）：
ＣＨ２＝ＣＦＲｆ２ （２）
（式中、Ｒｆ２は炭素数１～１２の直鎖状又は分岐状のフルオロアルキル基）
【0036】
上記フッ素ゴムは、１００℃におけるムーニー粘度が２～２００であることが好ましく、１０～１５０であることがより好ましく、３０～８０であることが更に好ましい。
ムーニー粘度は、ＡＳＴＭ Ｄ１６４６及びＪＩＳ Ｋ６３００に準拠して測定する。
ムーニー粘度は、ＡＳＴＭ Ｄ１６４６及びＪＩＳ Ｋ６３００に準拠して測定する。
【0037】
上記成形品は、必要に応じて他の成分を含んでもよい。
上記他の成分としては、フッ素非含有ポリマー、充填材、可塑剤、顔料、着色剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、難燃剤、老化防止剤、帯電防止剤、抗菌剤等を挙げることができる。
上記他の成分としては、フッ素非含有ポリマー、充填材、可塑剤、顔料、着色剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、難燃剤、老化防止剤、帯電防止剤、抗菌剤等を挙げることができる。
【0038】
上記フッ素非含有ポリマーとしては、ポリオレフィン樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアセタール樹脂、ポリエーテル樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリスルホン系樹脂等の非フッ素系樹脂；スチレン－ブタジエンゴム（ＳＢＲ）、クロロプレンゴム（ＣＲ）、ブタジエンゴム（ＢＲ）、天然ゴム（ＮＲ）、イソプレンゴム（ＩＲ）、エチレン－プロピレン－ターモノマー共重合体ゴム、シリコーンゴム、ブチルゴム、アクリル系ゴム、エチレンプロピレンジエンゴム（ＥＰＤＭ）等の非フッ素系ゴム等が挙げられる。
【0039】
上記充填材としては、シリカ、カオリン、クレー、有機化クレー、タルク、マイカ、アルミナ、炭酸カルシウム、テレフタル酸カルシウム、酸化チタン、リン酸カルシウム、フッ化カルシウム、フッ化リチウム、架橋ポリスチレン、チタン酸カリウム、カーボン、チッ化ホウ素、カーボンナノチューブ、ガラス繊維等が挙げられる。
【0040】
上記他の成分の含有量は、上記成形品に対して３０質量％以下であることが好ましく、２０質量％以下であることがより好ましく、１０質量％以下であることが更に好ましく、５質量％以下であることが特に好ましい。
上記成形品が、上記含フッ素ポリマーのみからなることも好ましい。
上記成形品が、上記含フッ素ポリマーのみからなることも好ましい。
【0041】
上記成形品は、フッ素原子を含む材料（例えば、上記含フッ素ポリマー）を、必要に応じて他の成分とともに所望の形状や大きさに成形することにより製造することができる。
【0042】
成形方法は特に限定されず、圧縮成形法、トランスファー成形法、押出成形法、射出成形法、カレンダー成形法等が挙げられる。
生産性の観点からは、押出成形法又は射出成形法が好ましく、射出成形法がより好ましい。
上記成形品が射出成形品であることは、好適な態様の１つである。射出成形品は、内部にデラミネーションやクラックといった欠陥が生じやすい。本開示の検査方法によれば、生産性に優れる射出成形品の内部の状態を容易に検査することができる。
生産性の観点からは、押出成形法又は射出成形法が好ましく、射出成形法がより好ましい。
上記成形品が射出成形品であることは、好適な態様の１つである。射出成形品は、内部にデラミネーションやクラックといった欠陥が生じやすい。本開示の検査方法によれば、生産性に優れる射出成形品の内部の状態を容易に検査することができる。
【0043】
上記成形品の形状は特に限定されず、シート状、フィルム状、ロッド状、パイプ状等の種々の形状であってよい。
上記成形品は、表面と裏面とが平行である形状を有していてもよい。
上記成形品は、表面と裏面とが平行である形状を有していてもよい。
【0044】
上記成形品は、厚みが０．０５～６ｍｍであることが好ましい。上記厚みは、３ｍｍ以下であることがより好ましく、２ｍｍ以下であることが更に好ましい。また、０．１ｍｍ以上であることがより好ましく、０．２ｍｍ以上であることが更に好ましい。
【0045】
上記成形品は、波長１３５０ｎｍの近赤外線の透過率が６０％以上であることが好ましい。上記透過率は、８５％以上であることがより好ましく、９０％以上であることが更に好ましい。
上記透過率は、対象となる成形品そのものを近赤外分光分析装置により測定して得られた値と、当該成形品と同じ素材を用いて作成したシート又はフィルムを近赤外分光分析装置により測定して得られた値のうち、大きいほうを採用することにより求める値である。
上記透過率は、対象となる成形品そのものを近赤外分光分析装置により測定して得られた値と、当該成形品と同じ素材を用いて作成したシート又はフィルムを近赤外分光分析装置により測定して得られた値のうち、大きいほうを採用することにより求める値である。
【0046】
上記成形品は、単層構造であることが好ましい。単層構造であるとは、意図的に多層構造を構成したものではないことを意味する。
【0047】
工程（Ａ１）の検査は、上記成形品をＯＣＴにより撮影して得られた画像データに基づいて行う。本開示の検査方法は、上記成形品をＯＣＴにより撮影して、当該成形品に基づく画像データを得る工程を含むものであってよい。
【0048】
ＯＣＴは、時間領域ＯＣＴ（Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ： ＴＤ－ＯＣＴ）とフーリエ領域ＯＣＴ（Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ： ＦＤ－ＯＣＴ）とに分類され、ＦＤ－ＯＣＴは更にスペクトル領域ＯＣＴ（Ｓｐｅｃｔｒａｌ Ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ：ＳＤ－ＯＣＴ）と周波数走査ＯＣＴ（Ｓｗｅｐｔ Ｓｏｕｒｃｅ ＯＣＴ：ＳＳ－ＯＣＴ）とに分類される。
工程（Ａ１）ではいずれのＯＣＴを採用してもよいが、感度が高く、計測可能深さが深い点で、ＳＳ－ＯＣＴが好ましい。
工程（Ａ１）ではいずれのＯＣＴを採用してもよいが、感度が高く、計測可能深さが深い点で、ＳＳ－ＯＣＴが好ましい。
【0049】
ＯＣＴに用いる光線としては、可視光線、赤外線が挙げられ、近赤外線（ＮＩＲ）が好ましい。
ＣＦ結合とＣＣ結合から主になるポリマーの成形品の検査においては、多くの場合、近赤外光のほぼ全波長域の光線を使用することができる。結晶サイズが小さい場合は更に、可視領域の長波長側（６００ｎｍ以上）や、赤外領域の短波長側（５０００ｎｍ以下）の光線も使用することができる。
対応するＯＣＴ装置の入手が容易である点では、波長１０００～２０００ｎｍの光線を使用することが好ましい。中でも、光源の安定性や、センサーの信頼性から、１１００±５０ｎｍ、１３２０±５０、及び、１７５０±１００ｎｍを中心波長とする光線がより好ましい。
ＣＦ結合とＣＣ結合から主になるポリマーの成形品の検査においては、多くの場合、近赤外光のほぼ全波長域の光線を使用することができる。結晶サイズが小さい場合は更に、可視領域の長波長側（６００ｎｍ以上）や、赤外領域の短波長側（５０００ｎｍ以下）の光線も使用することができる。
対応するＯＣＴ装置の入手が容易である点では、波長１０００～２０００ｎｍの光線を使用することが好ましい。中でも、光源の安定性や、センサーの信頼性から、１１００±５０ｎｍ、１３２０±５０、及び、１７５０±１００ｎｍを中心波長とする光線がより好ましい。
【0050】
ＯＣＴ装置を用いて上記成形品を撮影する方法の一例を、図１を参照して説明する。
ＯＣＴ装置１０において、光源１１から出射した光線は、ビームスプリッター１２によって２つに分離され、一方の光線は参照ミラー１３に反射された後、参照光として光検出器１４に入射する。他方の光線は試料（成形品）１５に入射し、ある程度の深さまで侵入して、試料１５の表面や、クラック、デラミネーション等の内部の欠陥部分で反射する。試料１５からの反射光はビームスプリッター１２を通り、信号光として光検出器１４に入射する。光検出器１４は、上記参照光と上記信号光との干渉によって生じる干渉光を検出し、信号に変換して出力する。この出力信号を強度等の特性に応じて画像化することにより、試料１５の構造を示す画像が得られる。
なお、本開示の検査方法において使用し得るＯＣＴ装置及び撮影方法は、上述したものに限定されない。
ＯＣＴ装置１０において、光源１１から出射した光線は、ビームスプリッター１２によって２つに分離され、一方の光線は参照ミラー１３に反射された後、参照光として光検出器１４に入射する。他方の光線は試料（成形品）１５に入射し、ある程度の深さまで侵入して、試料１５の表面や、クラック、デラミネーション等の内部の欠陥部分で反射する。試料１５からの反射光はビームスプリッター１２を通り、信号光として光検出器１４に入射する。光検出器１４は、上記参照光と上記信号光との干渉によって生じる干渉光を検出し、信号に変換して出力する。この出力信号を強度等の特性に応じて画像化することにより、試料１５の構造を示す画像が得られる。
なお、本開示の検査方法において使用し得るＯＣＴ装置及び撮影方法は、上述したものに限定されない。
【0051】
上記ＯＣＴによる撮影においては、ＯＣＴ装置の光源からの光線の、上記成形品に対する入射角αが、３～３０度であることが好ましい。上記入射角αは、５度以上であることがより好ましく、７度以上であることが更に好ましい。また、３０度以下であることがより好ましく、２０度以下であることが更に好ましく、１５度以下であることが更により好ましく、１０度以下であることが特に好ましい。
上記入射角αを上記範囲内とすることにより、上記画像中のノイズを低減することができ、しかも、上記成形品の欠陥によるシグナルを明確化することができる。
上記成形品の近赤外線透過率が高い場合（特に、上記成形品がフッ素樹脂を含む場合）や、上記成形品の検査対象となる表面（ＯＣＴ光源側の表面）と裏面（上記表面と反対側の面）とが平行である場合は、上記の効果が顕著になる。
上記入射角αを上記範囲内とすることにより、上記画像中のノイズを低減することができ、しかも、上記成形品の欠陥によるシグナルを明確化することができる。
上記成形品の近赤外線透過率が高い場合（特に、上記成形品がフッ素樹脂を含む場合）や、上記成形品の検査対象となる表面（ＯＣＴ光源側の表面）と裏面（上記表面と反対側の面）とが平行である場合は、上記の効果が顕著になる。
【0052】
上記入射角αは、上記光線の入射方向と、上記成形品の表面に対する垂線とがなす角として定義される。上記表面は、ＯＣＴ光源側の表面であってよい。
図２に、試料を傾けて配置する態様の一例を示す。図２においては、光線が試料１５に対し入射角αで入射する。
上記入射角αの調整は、例えば、上記成形品（試料）を配置するサンプルステージの傾きを調整することによって行うことができる。
また、例えば、水平な面上に置いた場合に、検査したい部分が水平からずれるように成形品の形状を設計し、入射角αを上記好ましい範囲とすることもできる。図３（ｂ）及び（ｃ）に例を示す。水平な台１７に対し、成形品１６の検査対象表面（ＯＣＴ光源側の表面）が傾斜するように設計されており、ＯＣＴ光源からの光線が入射角αで入射する。なお、成形品の形状は上記の例に限定されない。
上記の調整方法は、単独で用いても、併用してもよい。
図２に、試料を傾けて配置する態様の一例を示す。図２においては、光線が試料１５に対し入射角αで入射する。
上記入射角αの調整は、例えば、上記成形品（試料）を配置するサンプルステージの傾きを調整することによって行うことができる。
また、例えば、水平な面上に置いた場合に、検査したい部分が水平からずれるように成形品の形状を設計し、入射角αを上記好ましい範囲とすることもできる。図３（ｂ）及び（ｃ）に例を示す。水平な台１７に対し、成形品１６の検査対象表面（ＯＣＴ光源側の表面）が傾斜するように設計されており、ＯＣＴ光源からの光線が入射角αで入射する。なお、成形品の形状は上記の例に限定されない。
上記の調整方法は、単独で用いても、併用してもよい。
【0053】
上記入射角αの調整は、また、プローブと上記成形品（試料）との間にスペーサーを設けることによっても行うことができる。上記スペーサーは、上記プローブに固定されてもよい。
上記スペーサーは、例えば、プローブから出射する光線を通過させることが可能な筒体であって、上記光線の進行方向（上記筒体の長さ方向）に垂直な面に対して傾斜を有する端部を有することが好ましい。上記筒体は、例えば、円筒であってよい。上記傾斜を有する端部は、上記スペーサーにおける、成形品側（プローブと反対側）の端部である。上記スペーサーのプローブ側の端部は、上記光線の進行方向（上記筒体の長さ方向）に対し垂直に形成されてよい。
上記スペーサーは、例えば、プローブから出射する光線を通過させることが可能な筒体であって、上記光線の進行方向（上記筒体の長さ方向）に垂直な面に対して傾斜を有する端部を有することが好ましい。上記筒体は、例えば、円筒であってよい。上記傾斜を有する端部は、上記スペーサーにおける、成形品側（プローブと反対側）の端部である。上記スペーサーのプローブ側の端部は、上記光線の進行方向（上記筒体の長さ方向）に対し垂直に形成されてよい。
【0054】
上記スペーサーの傾斜を有する端部を成形品に軽く当て、他端をプローブに当てるか又は固定した状態で光線を照射することにより、上記成形品に対する入射角を、上記傾斜に応じた角度に調整することができる。
図４に一例を示す。プローブ１８に一端を固定されたスペーサー１９の成形品１６’側の端部には、光線の進行方向（スペーサー１９の長さ方向）に垂直な面に対し角度αの傾斜が設けられている。当該端部を成形品１６’の表面に軽く押し当てて光線を照射することで、光線が成形品１６’に対し入射角αで入射する。
なお、上記スペーサーを成形品に押し当てる際は、スペーサー（あるいはプローブ）を動かして押し当ててもよく、成形品を動かして押し当ててもよく、両方を動かして押し当ててもよい。
図４に一例を示す。プローブ１８に一端を固定されたスペーサー１９の成形品１６’側の端部には、光線の進行方向（スペーサー１９の長さ方向）に垂直な面に対し角度αの傾斜が設けられている。当該端部を成形品１６’の表面に軽く押し当てて光線を照射することで、光線が成形品１６’に対し入射角αで入射する。
なお、上記スペーサーを成形品に押し当てる際は、スペーサー（あるいはプローブ）を動かして押し当ててもよく、成形品を動かして押し当ててもよく、両方を動かして押し当ててもよい。
【0055】
上記スペーサーにおいては、成形品（試料）側の端部に所望の光線入射角に応じた傾斜が設けられていることが重要である。この点において、上記スペーサーは、試料とプローブとの接触防止や試料とプローブとの距離の制御のために設けられる従来のスペーサーに、従来技術から想起しえない全く新しい機能が付加されたものである。
上記スペーサーの大きさ、素材、色等は、機械的強度、押し当てた際の成形品へのダメージ、コスト、取り扱いやすさ等を考慮して決定することができる。
上記スペーサーの大きさ、素材、色等は、機械的強度、押し当てた際の成形品へのダメージ、コスト、取り扱いやすさ等を考慮して決定することができる。
【0056】
また、上記成形品の、ＯＣＴ光源側の表面とは反対側の面に対する垂線と、上記光線とがなす角βを３～３０度に調整することも好ましい。角βは、５度以上であることがより好ましく、７度以上であることが更に好ましい。また、３０度以下であることがより好ましく、２０度以下であることが更に好ましく、１５度以下であることが更により好ましく、１０度以下であることが特に好ましい。
上記角βを上記範囲内とすることにより、上記画像中のノイズを低減することができ、しかも、上記成形品の欠陥によるシグナルを明確化することができる。
上記態様は、成形品における検査対象部分が板状である場合に特に有効である。
上記角βを上記範囲内とすることにより、上記画像中のノイズを低減することができ、しかも、上記成形品の欠陥によるシグナルを明確化することができる。
上記態様は、成形品における検査対象部分が板状である場合に特に有効である。
【0057】
上記角βは、例えば、水平な面上に置いた場合に、検査したい部分が水平からずれるように成形品の形状を設計することにより、調整できる。図３（ｄ）に例を示す。水平な台１７に対し、成形品１６のＯＣＴ光源側の表面とは反対側の面が傾斜するように設計されており、当該面に対する垂線と、ＯＣＴ光源からの光線とが角βをなしている。なお、成形品の形状は上記の例に限定されない。
また、上記成形品を配置するサンプルステージの傾きを調整することによって角βを調整することもできる。
上記の調整方法は、単独で用いても、併用してもよい。
また、上記成形品を配置するサンプルステージの傾きを調整することによって角βを調整することもできる。
上記の調整方法は、単独で用いても、併用してもよい。
【0058】
１の成形品において、検査したい部分が２つ以上ある場合は、ＯＣＴ光学系を複数用意し、検査対象箇所を同時又は逐次測定してもよい。その場合、検査したい成形品の各部の傾きが異なっていた場合でもそれぞれ上記の好ましい範囲に入射角αや角βを調整できるので好ましい。また、測定部位が離れている場合でも、ＯＣＴ装置の仕様を変更する必要がないので好ましい。また、検査したい成形品の部位間に段差が大きい場合でも、それぞれの部位に合わせて入射角αや角βを調整できることからも好ましい。
【0059】
上記ＯＣＴによる撮影においては、上記成形品に入射する光線の強度が、１ｍＷ～１８ｍＷであることが好ましい。上記光線の強度は、５ｍＷ以上であることがより好ましく、１０ｍＷ以上であることが更に好ましい。また、１５ｍＷ以下であることがより好ましく、１２ｍＷ以下であることが更に好ましい。
上記光線の強度を上記範囲内とすることにより、上記画像中のノイズを低減することができ、しかも、上記成形品の欠陥によるシグナルを明確化することができる。
上記成形品の近赤外線透過率が高い場合（特に、上記成形品がフッ素樹脂を含む場合）や、上記成形品の表面と裏面とが平行である場合は、上記の効果が顕著になる。
本明細書において、上記成形品に入射する光線の強度は、後述するフィルタを設けない場合は、ＯＣＴ装置のプローブ端における光線の強度である。
上記光線の強度を上記範囲内とすることにより、上記画像中のノイズを低減することができ、しかも、上記成形品の欠陥によるシグナルを明確化することができる。
上記成形品の近赤外線透過率が高い場合（特に、上記成形品がフッ素樹脂を含む場合）や、上記成形品の表面と裏面とが平行である場合は、上記の効果が顕著になる。
本明細書において、上記成形品に入射する光線の強度は、後述するフィルタを設けない場合は、ＯＣＴ装置のプローブ端における光線の強度である。
【0060】
ＯＣＴ装置の光源と上記成形品との間に、上記光源からの光線の強度を低減するフィルタを設けることにより、光線の強度を上述した範囲内に制御してもよい。
上記フィルタは、ＯＣＴ装置が備えるビームスプリッターと、上記成形品との間に設置することが好ましい。また、ビームスプリッターに近い所（例えば、ビームスプリッターから３０ｍｍ以内、好ましくは１０ｍｍ以内）に設置することが好ましい。
上記フィルタは、ＯＣＴ装置が備えるビームスプリッターと、上記成形品との間に設置することが好ましい。また、ビームスプリッターに近い所（例えば、ビームスプリッターから３０ｍｍ以内、好ましくは１０ｍｍ以内）に設置することが好ましい。
【0061】
上記フィルタとしては、上記光源からの光線の強度を低減することができる材質・構造を有するものを使用することができる。
上記フィルタの素材としては、例えば、結晶性のポリマーが挙げられる。結晶性のポリマーによって光線を散乱させることができ、光線の強度を低減することができる。上記結晶性のポリマーとしては、ポリエチレン（ＰＥ）（例えば、直鎖状低密度ポリエチレン（ＬＬＰＥ）、低密度ポリエチレン（ＬＰＥ）、高密度ポリエチレン（ＨＤＰＥ））、エチレン／酢酸ビニル共重合体（ＥＶＡ）等のエチレン系ポリマー；ポリプロピレン（ＰＰ）；ポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）（例えば、ＴＦＥホモポリマー、変性ＰＴＦＥ）、テトラフルオロエチレン／パーフルオロ（アルキルビニルエーテル）共重合体（ＰＦＡ）、テトラフルオロエチレン／ヘキサフルオロプロピレン共重合体（ＦＥＰ）等のフッ素樹脂、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）等のポリエステル等が例示される。
上記フィルタの素材としては、また、光線を吸収する素材も挙げられ、例えば、ＯＨ基や芳香環を含むポリマーが例示できる。
上記フィルタの素材としては、例えば、結晶性のポリマーが挙げられる。結晶性のポリマーによって光線を散乱させることができ、光線の強度を低減することができる。上記結晶性のポリマーとしては、ポリエチレン（ＰＥ）（例えば、直鎖状低密度ポリエチレン（ＬＬＰＥ）、低密度ポリエチレン（ＬＰＥ）、高密度ポリエチレン（ＨＤＰＥ））、エチレン／酢酸ビニル共重合体（ＥＶＡ）等のエチレン系ポリマー；ポリプロピレン（ＰＰ）；ポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）（例えば、ＴＦＥホモポリマー、変性ＰＴＦＥ）、テトラフルオロエチレン／パーフルオロ（アルキルビニルエーテル）共重合体（ＰＦＡ）、テトラフルオロエチレン／ヘキサフルオロプロピレン共重合体（ＦＥＰ）等のフッ素樹脂、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）等のポリエステル等が例示される。
上記フィルタの素材としては、また、光線を吸収する素材も挙げられ、例えば、ＯＨ基や芳香環を含むポリマーが例示できる。
【0062】
上記フィルタとしては、中でも、容易に多重反射ノイズを低減し、シグナルを明確化することができることから結晶性のポリマーを含むものが好ましく、ＰＥ、ＰＰ、フッ素樹脂及びＰＥＴからなる群より選択される少なくとも１種を含むものがより好ましく、ＰＥ及びフッ素樹脂からなる群より選択される少なくとも１種を含むものが更に好ましく、ＰＥ、ＰＴＦＥ及びＰＦＡからなる群より選択される少なくとも１種を含むものが更により好ましい。
なかでも、ＰＴＦＥを含むフィルタは、試料のシグナルの解像度を維持したまま効率よく多重反射ノイズを除去することができることから好ましく、変性ＰＴＦＥを含むフィルタが特に好ましい。
本明細書において、変性ＰＴＦＥは、ＴＦＥ単位と、ＴＦＥと共重合可能な変性モノマーに基づく変性モノマー単位とを含むＰＴＦＥであり、好ましくは、全モノマー単位に対し、ＴＦＥ単位が９９．０～９９．９９９９９質量％、変性モノマー単位が０．００００１～１．０質量％の範囲であるＰＴＦＥである。
なかでも、ＰＴＦＥを含むフィルタは、試料のシグナルの解像度を維持したまま効率よく多重反射ノイズを除去することができることから好ましく、変性ＰＴＦＥを含むフィルタが特に好ましい。
本明細書において、変性ＰＴＦＥは、ＴＦＥ単位と、ＴＦＥと共重合可能な変性モノマーに基づく変性モノマー単位とを含むＰＴＦＥであり、好ましくは、全モノマー単位に対し、ＴＦＥ単位が９９．０～９９．９９９９９質量％、変性モノマー単位が０．００００１～１．０質量％の範囲であるＰＴＦＥである。
【0063】
上記フィルタは、厚みが０．０５～３ｍｍであることが好ましい。上記厚みは、２ｍｍ以下であることがより好ましく、１ｍｍ以下であることが更に好ましい。上記厚みは、また、０．０８ｍｍ以上であることがより好ましく、０．１０ｍｍ以上であることが更に好ましい。
【0064】
上記フィルタは、１層からなる単層構造であってもよく、複数の層からなる多層構造であってもよい。層を複数重ねた構造であると、試料のシグナルとノイズとのバランスを細かく調整できるので好ましい。同じ素材のものを使用してもよいし、異なる素材・異なる厚みのものを同時に使用してもよい。各層は密着している必要はなく、適宜空間を開けることができる。空間が開いているほうが各層ごとに出し入れするのが容易であるので、試料のシグナルとノイズとのバランスを調整するのが容易となる。
【0065】
サンプル（上記成形品）における測定の対象となる部分がサンプルステージに近い場合、当該サンプルを透過した光線の、ステージからの反射がノイズのもととなることがある。そのため、サンプルを透過した光線が測定に影響を与えないよう工夫することが望ましい。
例えば、サンプルを透過した光線を反射する物を、サンプルの測定の対象となる部分から１０ｍｍ以上離すことが挙げられる。この場合、測定の対象とならない部分（例えば、サンプルの両端部）でサンプルを支え、測定の対象となる部分とサンプルステージとが重ならないようにすることが好ましい。
また、サンプルを透過した光線を、プローブとは違う方向に反射することも挙げられる。
また、サンプルを通過した光線が当たる位置に、当該光線のほとんどを吸収するか又は散乱させる物を置くことも挙げられる。
上記の方法は適宜組み合わせて用いることができる。
例えば、サンプルを透過した光線を反射する物を、サンプルの測定の対象となる部分から１０ｍｍ以上離すことが挙げられる。この場合、測定の対象とならない部分（例えば、サンプルの両端部）でサンプルを支え、測定の対象となる部分とサンプルステージとが重ならないようにすることが好ましい。
また、サンプルを透過した光線を、プローブとは違う方向に反射することも挙げられる。
また、サンプルを通過した光線が当たる位置に、当該光線のほとんどを吸収するか又は散乱させる物を置くことも挙げられる。
上記の方法は適宜組み合わせて用いることができる。
【0066】
工程（Ａ１）においては、上記画像データに基づいて、当該成形品の内部の状態を検査する。
【0067】
上記検査は、上記画像データから得られる画像を用いて行ってもよく、上記画像データを処理することにより行ってもよく、その両方を併用してもよい。
【0068】
上記検査は、上記成形品の内部の欠陥の検査であることが好ましい。
上記欠陥としては、クラック、デラミネーション、ボイド、異物等が挙げられる。上記欠陥は、成形不具合によるものであってもよい。
上記検査においては、上記欠陥の有無を判断することが好ましい。
上記欠陥としては、クラック、デラミネーション、ボイド、異物等が挙げられる。上記欠陥は、成形不具合によるものであってもよい。
上記検査においては、上記欠陥の有無を判断することが好ましい。
【0069】
工程（Ａ１）は、上記画像データに基づいて、上記成形品の内部の欠陥を検査する工程であることが好ましく、上記画像データに基づいて、上記成形品の内部のクラック及びデラミネーションを検査する工程であることがより好ましい。
【0070】
上記検査は、上記画像データにおける、上記成形品の内部の欠陥によるシグナルに基づいて行ってよい。また、上記欠陥によるシグナルに基づいて、上記欠陥の有無を判断することが好ましい。
上記欠陥の有無の判断方法としては、例えば、ＯＣＴにより得られた画像において、上記のいずれの欠陥によるシグナルも確認されない場合に、欠陥なしと判断し、上記の欠陥の少なくとも１つによるシグナルが上記画像中に確認される場合に、欠陥ありと判断する方法を挙げることができる。
上記欠陥の有無の判断方法としては、例えば、ＯＣＴにより得られた画像において、上記のいずれの欠陥によるシグナルも確認されない場合に、欠陥なしと判断し、上記の欠陥の少なくとも１つによるシグナルが上記画像中に確認される場合に、欠陥ありと判断する方法を挙げることができる。
【0071】
上記検査において欠陥ありと判断された場合には、更に、上記欠陥の大きさ、形状、出現頻度等を解析してもよい。このような解析により、上記欠陥が、上記成形品を不良品にするほどの欠陥であるか否かを容易に判断することが可能となる。上記解析は、例えば、上記欠陥によるシグナルを処理することにより行うことができる。
【0072】
本開示の検査方法は、更に、工程（Ａ１）における検査の結果に基づいて、上記成形品が良品であるか否かを判定する工程（Ａ２）を含んでもよい。
工程（Ａ２）は、例えば、工程（Ａ１）において欠陥なしと判断された成形品を良品と判定し、工程（Ａ１）において欠陥ありと判断された成形品を不良品と判定する工程であってもよい。
工程（Ａ２）は、また、工程（Ａ１）において欠陥なしと判断された成形品と、工程（Ａ１）において欠陥ありと判断された成形品のうち、欠陥の程度が所定の基準以下のものとを良品と判定し、工程（Ａ１）において欠陥ありと判断された成形品のうち、欠陥の程度が所定の基準を超えるものを不良品と判定する工程であってもよい。
上記欠陥の程度の基準は特に限定されず、成形品の要求特性等に応じて適宜決定することができる。例えば、成形品の欠陥の大きさ、形状、出現頻度等と、当該成形品を部品として用いて実用試験をした時の合否データとの相関関係を予め取得し、不良品とならない欠陥の大きさ、形状、出現頻度等の許容範囲等を実験的に求めることにより、上記基準を決定することができる。
工程（Ａ２）は、例えば、工程（Ａ１）において欠陥なしと判断された成形品を良品と判定し、工程（Ａ１）において欠陥ありと判断された成形品を不良品と判定する工程であってもよい。
工程（Ａ２）は、また、工程（Ａ１）において欠陥なしと判断された成形品と、工程（Ａ１）において欠陥ありと判断された成形品のうち、欠陥の程度が所定の基準以下のものとを良品と判定し、工程（Ａ１）において欠陥ありと判断された成形品のうち、欠陥の程度が所定の基準を超えるものを不良品と判定する工程であってもよい。
上記欠陥の程度の基準は特に限定されず、成形品の要求特性等に応じて適宜決定することができる。例えば、成形品の欠陥の大きさ、形状、出現頻度等と、当該成形品を部品として用いて実用試験をした時の合否データとの相関関係を予め取得し、不良品とならない欠陥の大きさ、形状、出現頻度等の許容範囲等を実験的に求めることにより、上記基準を決定することができる。
【0073】
本開示の検査方法は、成形品の内部の状態を容易に検査することができるため、成形条件の調整等に役立つ。また、成形品の内部の状態を非破壊で高速に検査することができるため、成形品の製造における良品又は不良品の選別、成形品の受入検査等に用いることができる。
【0074】
本開示は、フッ素原子を含む材料を成形することにより、フッ素含有率が３０質量％以上の成形品を複数得る工程（Ｂ１）、複数の上記成形品から１以上の上記成形品を選択し、当該成形品を光干渉断層撮影法（ＯＣＴ）により撮影して得られた画像データに基づいて、当該成形品の内部の状態を検査する工程（Ｂ２）、及び、工程（Ｂ２）における検査の結果に基づいて、複数の上記成形品から良品を選別する工程（Ｂ３）を含む成形品の製造方法にも関する。
本開示の製造方法によれば、成形品の内部の状態を非破壊で検査することができるので、全数検査を行った上で良品の成形品を得ることができる。したがって、成形品の品質の信頼性を高めることができる。
また、ＯＣＴによる画像化は高速で実施できるため、上記工程（Ｂ２）を成形品の生産ラインに組み込むことが容易である。したがって、生産ラインにおいて、生産性を損なうことなく、成形品の品質の信頼性を高めることができる。
本開示の製造方法によれば、成形品の内部の状態を非破壊で検査することができるので、全数検査を行った上で良品の成形品を得ることができる。したがって、成形品の品質の信頼性を高めることができる。
また、ＯＣＴによる画像化は高速で実施できるため、上記工程（Ｂ２）を成形品の生産ラインに組み込むことが容易である。したがって、生産ラインにおいて、生産性を損なうことなく、成形品の品質の信頼性を高めることができる。
【0075】
工程（Ｂ１）では、フッ素原子を含む材料を成形することにより、フッ素含有率が３０質量％以上の成形品を複数得る。
【0076】
工程（Ｂ１）における上記成形品は、本開示の検査方法の工程（Ａ１）における成形品と同様である。上記フッ素原子を含む材料としては、工程（Ａ１）における成形品を構成し得る材料として上述したものが挙げられる。
上記フッ素原子を含む材料の成形方法としては、工程（Ａ１）における成形品における成形方法と同様の方法が挙げられる。
上記フッ素原子を含む材料の成形方法としては、工程（Ａ１）における成形品における成形方法と同様の方法が挙げられる。
【0077】
工程（Ｂ２）では、工程（Ｂ１）で得られた複数の上記成形品から１以上の上記成形品を選択し、当該成形品をＯＣＴにより撮影して得られた画像データに基づいて、当該成形品の内部の状態を検査する。本開示の製造方法は、上記成形品をＯＣＴにより撮影して、当該成形品に基づく画像データを得る工程を含むものであってよい。
【0078】
工程（Ｂ２）において選択する上記成形品は１つであってもよいし、２つ以上であってもよい。工程（Ｂ２）の検査は非破壊で実施することができるので、２つ以上を選択することが好ましく、工程（Ｂ１）で得られた上記成形品の半数以上を選択することがより好ましく、工程（Ｂ１）で得られた上記成形品の全てを選択することが更に好ましい。
【0079】
工程（Ｂ２）において、ＯＣＴによる撮影方法や、検査（例えば、欠陥の有無の判断）の方法としては、本開示の検査方法における工程（Ａ１）について説明したのと同様の方法を採用することができる。
【0080】
工程（Ｂ３）では、工程（Ｂ２）における検査の結果に基づいて、工程（Ｂ１）で得られた複数の上記成形品から良品を選別する。工程（Ｂ３）で選別された良品の成形品が、本開示の製造方法によって製造される成形品である。
【0081】
工程（Ｂ３）は、工程（Ｂ２）における検査の結果に基づいて、工程（Ｂ２）で検査された成形品が良品であるか否かを判定する工程（Ｂ３－１）、及び、工程（Ｂ１）で得られた複数の上記成形品から、工程（Ｂ３－１）において良品と判定された成形品を選別する工程（Ｂ３－２）を含むものであってよい。
工程（Ｂ３－１）における判定の方法としては、工程（Ａ２）について説明したのと同様の方法を採用することができる。
工程（Ｂ３－２）における選別の方法は特に限定されない。
工程（Ｂ３－１）における判定の方法としては、工程（Ａ２）について説明したのと同様の方法を採用することができる。
工程（Ｂ３－２）における選別の方法は特に限定されない。
【0082】
工程（Ｂ１）～（Ｂ３）は、フッ素原子を含む材料のロットを単位として行ってもよい。同一ロットの材料から得られた成形品は、類似の性能を有している可能性が高いからである。ただし、上述したように、本開示の製造方法においては成形品を非破壊で全数検査することが可能であるため、材料のロットにかかわらず、良品の成形品のみを選別することが可能である。
【実施例】
【0083】
次に実施例を挙げて本開示を更に詳しく説明するが、本開示はこれらの実施例のみに限定されるものではない。
【0084】
＜ＯＣＴ撮影＞
ＯＣＴ装置：ＳｗｅｐｔＳｙｓ－０２（株式会社システムズエンジニアリング製）
ＯＣＴ用掃引レーザー光源：中心波長１３１０ｎｍ、スペクトル幅１００ｎｍ、スキャンレート５０ｋＨｚ、コヒーレンス長１２ｍｍ、光出力１８ｍＷ（プローブ端１３ｍＷ）
撮影条件：輝度１００、コントラスト３０
サンプルの配置方法：シグマ光機株式会社製ゴニオステージに切れ込みがある金属板を取り付け、その金属板の切れ込みの部分に測定の対象となる部分が位置するようにサンプルを載せた。図５にその模式図を示す。ゴニオステージ２３に金属板２２が設置され、金属板２２の切れ込みを跨ぐようにサンプルシート２４が配置される。プローブ２１からの光線が、サンプルシート２４の測定対象部分に入射する。
ＯＣＴ装置：ＳｗｅｐｔＳｙｓ－０２（株式会社システムズエンジニアリング製）
ＯＣＴ用掃引レーザー光源：中心波長１３１０ｎｍ、スペクトル幅１００ｎｍ、スキャンレート５０ｋＨｚ、コヒーレンス長１２ｍｍ、光出力１８ｍＷ（プローブ端１３ｍＷ）
撮影条件：輝度１００、コントラスト３０
サンプルの配置方法：シグマ光機株式会社製ゴニオステージに切れ込みがある金属板を取り付け、その金属板の切れ込みの部分に測定の対象となる部分が位置するようにサンプルを載せた。図５にその模式図を示す。ゴニオステージ２３に金属板２２が設置され、金属板２２の切れ込みを跨ぐようにサンプルシート２４が配置される。プローブ２１からの光線が、サンプルシート２４の測定対象部分に入射する。
【0085】
＜ＭＦＲ＞
本実施例で用いた溶融加工性フッ素樹脂のメルトフローレート（ＭＦＲ）は、ＡＳＴＭ Ｄ １２３８に準拠し、温度３７２℃、荷重５ｋｇで測定した。
本実施例で用いた溶融加工性フッ素樹脂のメルトフローレート（ＭＦＲ）は、ＡＳＴＭ Ｄ １２３８に準拠し、温度３７２℃、荷重５ｋｇで測定した。
【0086】
実施例１
溶融加工性フッ素樹脂１（ＴＦＥ／ＰＰＶＥ共重合体、ＴＦＥ／ＰＰＶＥ＝９８．５／１．５（モル比）、フッ素含有率７６質量％、ＭＦＲ：１５ｇ／１０分）を３６０℃で溶融圧縮成形して得られたシート（直径１２０ｍｍ、厚さ１．０ｍｍ）をサンプルとして用い、上記サンプルに対する光線の入射角αが３度となるようにサンプルの傾きを調整して、上記の方法でＯＣＴ撮影を行った。
結果を図６に示す。ＯＣＴ画像中の明瞭な２本の白線が、サンプルの表面及び裏面を示している。
なお、実施例１～６では、入射角の効果を確認するために、予めクラック、デラミネーション、ボイド等の欠陥がないことを確認したシートをサンプルとして用いた。
溶融加工性フッ素樹脂１（ＴＦＥ／ＰＰＶＥ共重合体、ＴＦＥ／ＰＰＶＥ＝９８．５／１．５（モル比）、フッ素含有率７６質量％、ＭＦＲ：１５ｇ／１０分）を３６０℃で溶融圧縮成形して得られたシート（直径１２０ｍｍ、厚さ１．０ｍｍ）をサンプルとして用い、上記サンプルに対する光線の入射角αが３度となるようにサンプルの傾きを調整して、上記の方法でＯＣＴ撮影を行った。
結果を図６に示す。ＯＣＴ画像中の明瞭な２本の白線が、サンプルの表面及び裏面を示している。
なお、実施例１～６では、入射角の効果を確認するために、予めクラック、デラミネーション、ボイド等の欠陥がないことを確認したシートをサンプルとして用いた。
【0087】
実施例２
光線の入射角αを４度に変更したこと以外は実施例１と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図７に示す。
光線の入射角αを４度に変更したこと以外は実施例１と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図７に示す。
【0088】
実施例３
光線の入射角αを５度に変更したこと以外は実施例１と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図８に示す。
光線の入射角αを５度に変更したこと以外は実施例１と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図８に示す。
【0089】
実施例４
光線の入射角αを６度に変更したこと以外は実施例１と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図９に示す。
光線の入射角αを６度に変更したこと以外は実施例１と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図９に示す。
【0090】
実施例５
光線の入射角αを７度に変更したこと以外は実施例１と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１０に示す。
光線の入射角αを７度に変更したこと以外は実施例１と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１０に示す。
【0091】
実施例６
光線の入射角αを８度に変更したこと以外は実施例１と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１１に示す。
光線の入射角αを８度に変更したこと以外は実施例１と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１１に示す。
【0092】
実施例１～４では、サンプルがない部分にノイズがわずかに存在するのに対し、実施例５及び６では、サンプルがある部分、ない部分ともにノイズがほとんどなかった。
【0093】
実施例７
溶融加工性フッ素樹脂２（ＴＦＥ／ＰＰＶＥ共重合体、ＴＦＥ／ＰＰＶＥ＝９８．２／１．８（モル比）、フッ素含有率７６質量％、ＭＦＲ：２６ｇ／１０分）を射出成形して、シート状の射出成形品（３０ｍｍ×６０ｍｍ×厚さ１．０ｍｍ）を得た。この射出成形品をサンプルとして用い、上記サンプルに対する光線の入射角αが８度となるようにサンプルの傾きを調整して、上記の方法で上記サンプルのゲートから５ｍｍの部分のＯＣＴ撮影を行った。結果を図１２に示す。
多重反射ノイズは見られず、画像中のサンプルの断面に相当する部分に、筋状のシグナルが確認された。上記サンプルをスライスして断面を観察したところ、筋状のクラックが確認された。
溶融加工性フッ素樹脂２（ＴＦＥ／ＰＰＶＥ共重合体、ＴＦＥ／ＰＰＶＥ＝９８．２／１．８（モル比）、フッ素含有率７６質量％、ＭＦＲ：２６ｇ／１０分）を射出成形して、シート状の射出成形品（３０ｍｍ×６０ｍｍ×厚さ１．０ｍｍ）を得た。この射出成形品をサンプルとして用い、上記サンプルに対する光線の入射角αが８度となるようにサンプルの傾きを調整して、上記の方法で上記サンプルのゲートから５ｍｍの部分のＯＣＴ撮影を行った。結果を図１２に示す。
多重反射ノイズは見られず、画像中のサンプルの断面に相当する部分に、筋状のシグナルが確認された。上記サンプルをスライスして断面を観察したところ、筋状のクラックが確認された。
【0094】
実施例８
溶融加工性フッ素樹脂３（エチレン／ＴＦＥ共重合体、エチレン／ＴＦＥ／パーフルオロ（１，１，５－トリハイドロ－ペンテン）＝５４／４４／２（モル比）、フッ素含有率６６質量％、ＭＦＲ：１６．０ｇ／１０分）を射出成形して、シート状の射出成形品（１３０ｍｍ×１３０ｍｍ×厚さ３．０ｍｍ）を得た。この射出成形品をサンプルとして用い、上記サンプルに対する光線の入射角αが８度となるようにサンプルの傾きを調整して、上記の方法で上記サンプルのゲートから３ｍｍの部分のＯＣＴ撮影を行った。結果を図１３に示す。
多重反射ノイズは見られず、画像中のサンプルの断面に相当する部分に、筋状のシグナルが確認された。上記サンプルをスライスして断面を観察したところ、筋状のクラックが確認された。
溶融加工性フッ素樹脂３（エチレン／ＴＦＥ共重合体、エチレン／ＴＦＥ／パーフルオロ（１，１，５－トリハイドロ－ペンテン）＝５４／４４／２（モル比）、フッ素含有率６６質量％、ＭＦＲ：１６．０ｇ／１０分）を射出成形して、シート状の射出成形品（１３０ｍｍ×１３０ｍｍ×厚さ３．０ｍｍ）を得た。この射出成形品をサンプルとして用い、上記サンプルに対する光線の入射角αが８度となるようにサンプルの傾きを調整して、上記の方法で上記サンプルのゲートから３ｍｍの部分のＯＣＴ撮影を行った。結果を図１３に示す。
多重反射ノイズは見られず、画像中のサンプルの断面に相当する部分に、筋状のシグナルが確認された。上記サンプルをスライスして断面を観察したところ、筋状のクラックが確認された。
【0095】
実施例９
溶融加工性フッ素樹脂２（ＴＦＥ／ＰＰＶＥ共重合体、ＴＦＥ／ＰＰＶＥ＝９８．２／１．８（モル比）、フッ素含有率７６質量％、ＭＦＲ：２６ｇ／１０分）を射出成形して、シート状の射出成形品（５０ｍｍ×６０ｍｍ×厚さ２．０ｍｍ）を得た。この射出成形品をサンプルとして用い、プローブと上記サンプルとの間に厚さ１ｍｍの透明ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）シートをフィルタとして配置し、上記サンプルに対する光線の入射角αを０度として、上記サンプルのゲートから１０ｍｍの場所をＯＣＴ撮影した。結果を図１４に示す。
溶融加工性フッ素樹脂２（ＴＦＥ／ＰＰＶＥ共重合体、ＴＦＥ／ＰＰＶＥ＝９８．２／１．８（モル比）、フッ素含有率７６質量％、ＭＦＲ：２６ｇ／１０分）を射出成形して、シート状の射出成形品（５０ｍｍ×６０ｍｍ×厚さ２．０ｍｍ）を得た。この射出成形品をサンプルとして用い、プローブと上記サンプルとの間に厚さ１ｍｍの透明ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）シートをフィルタとして配置し、上記サンプルに対する光線の入射角αを０度として、上記サンプルのゲートから１０ｍｍの場所をＯＣＴ撮影した。結果を図１４に示す。
【0096】
実施例１０
フィルタとして厚さ０．５ｍｍのテトラフルオロエチレン／パーフルオロ（アルキルビニルエーテル）共重合体（ＰＦＡ）シートを用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１５に示す。
フィルタとして厚さ０．５ｍｍのテトラフルオロエチレン／パーフルオロ（アルキルビニルエーテル）共重合体（ＰＦＡ）シートを用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１５に示す。
【0097】
実施例１１
フィルタとして厚さ１．０ｍｍのＰＦＡシートを用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１６に示す。
フィルタとして厚さ１．０ｍｍのＰＦＡシートを用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１６に示す。
【0098】
実施例１２
フィルタとして厚さ０．５ｍｍのＰＦＡシートを２枚重ねて用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１７に示す。
フィルタとして厚さ０．５ｍｍのＰＦＡシートを２枚重ねて用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１７に示す。
【0099】
実施例１３
フィルタとして厚さ０．２ｍｍのポリプロピレン（ＰＰ）シートを用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１８に示す。
フィルタとして厚さ０．２ｍｍのポリプロピレン（ＰＰ）シートを用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１８に示す。
【0100】
実施例１４
フィルタとして厚さ０．０４ｍｍのポリエチレン（ＰＥ）シートを４枚重ねて用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１９に示す。
フィルタとして厚さ０．０４ｍｍのポリエチレン（ＰＥ）シートを４枚重ねて用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図１９に示す。
【0101】
実施例１５
フィルタとして厚さ０．１ｍｍのポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ、ＴＦＥホモポリマー）シートを用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図２０に示す。
フィルタとして厚さ０．１ｍｍのポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ、ＴＦＥホモポリマー）シートを用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図２０に示す。
【0102】
実施例１６
フィルタとして厚さ０．１ｍｍの変性ポリテトラフルオロエチレン（変性ＰＴＦＥ）シートを用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図２１に示す。
フィルタとして厚さ０．１ｍｍの変性ポリテトラフルオロエチレン（変性ＰＴＦＥ）シートを用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図２１に示す。
【0103】
実施例１７
フィルタとして厚さ０．１ｍｍの変性ＰＴＦＥシートを２枚重ねて用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図２２に示す。
フィルタとして厚さ０．１ｍｍの変性ＰＴＦＥシートを２枚重ねて用いたこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図２２に示す。
【0104】
実施例１８
フィルタを使用しなかったこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図２３に示す。
フィルタを使用しなかったこと以外は実施例９と同様にして、ＯＣＴ撮影を行った。結果を図２３に示す。
【0105】
フィルタを使用する実施例９～１７では、フィルタを使用しない実施例１８と比較して、多重反射ノイズが低減された。ＰＦＡ、ＰＥ、ＰＴＦＥのフィルタを使用する実施例１０～１２、１４～１７では、多重反射ノイズの低減効果が特に大きかった。また、ＰＴＦＥのフィルタを使用する実施例１５～１７、特に、変性ＰＴＦＥのフィルタを使用する実施例１６及び１７では、サンプルのシグナルの解像度は高いまま、多重反射ノイズが充分に低減された。
【符号の説明】
【0106】
１０：ＯＣＴ装置
１１：光源
１２：ビームスプリッター
１３：参照ミラー
１４：光検出器
１５：試料（成形品）
１６、１６’：成形品
１７：台
１８：プローブ
１９：スペーサー
２１：プローブ
２２：金属板
２３：ゴニオステージ
２４：サンプルシート
１１：光源
１２：ビームスプリッター
１３：参照ミラー
１４：光検出器
１５：試料（成形品）
１６、１６’：成形品
１７：台
１８：プローブ
１９：スペーサー
２１：プローブ
２２：金属板
２３：ゴニオステージ
２４：サンプルシート
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】
【図16】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】