特許7256871IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

電気活性デバイス

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

電気活性デバイスを使用する産業は、欠陥の視認の検出を軽減するため及び電気活性デバイスの美的品質を向上させるために電気活性デバイス内の欠陥を修復する方法の改善を要求し続けている。加えて、電気活性デバイスを使用する産業は、電気活性性能の向上並びに新たな特性及び品質を作り出すことができる電気活性デバイスを要求し続けている。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 実施例による軽減されたエリア(mitigated area)を含む電気活性デバイスの断面図である。
【図2】 実施例による軽減されたエリア及び因習的に修復されたピンホール欠陥を含む電気活性デバイスの上面図である。
【図3】 実施例による電気活性デバイス内の欠陥を修復する方法のフロー・チャートである。
【図4】 走査型電子顕微鏡で見た実施例による軽減されたエリアの画像である。

代表図 図1本件の代表的な図

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