【図1】
図1は、産業プラントの自己最適化制御のためのインテリジェントな自己適応制御装置を備えた、産業プラントの監視及び適応プロセスを概略的に示す図を示す
【図2】
図2は、産業プラントにおける監視及び適応プロセスを概略的に示す図を示す。センサーからのデータは定期的に、例えば3分ごとに送信される。
【図3】
図3から12は、図2による例示的なプラントのプレミアムミリングセクションでのプラントフォールト/サスペンドイベント(ダウンタイム)を示す。ミリング/クリーニング/第1のクリーニングセクションの機械的エラーによる主要なフォールトサスペンド(suspends)イベントは、操作ステータスの概要に示されている。個々のセンサーレベルでの頻繁なフォールトは、それぞれ2017年と2018年の例示的なデータについて示される。異常は、ミルレベルのセクションで、個々のセンサーについて示されている。最適化と予防保守のためのシグナリングも示されている。図3は、2017年から2018年の期間における例示的なミル収率(mill yield)の監視を概略的に示す図を示す。
【図4】
図4は、2017年から2018年の期間における例示的なF1収率(F1 yield)の監視を概略的に示す図を示す。
【図5】
図5は、2017年から2018年の期間における例示的なミリングセクションミリングサスペンドの要約の監視を概略的に示す図を示す。2018年のサスペンドイベントの総数は、この例では80で、合計継続時間(duration)は2日(days)27時間(h)11分(min)であった。ミリングセクションにおける最長のサスペンドは、2018年1月1日の14時間(h)51分(min)であった。2017年のサスペンドイベントの総数は275で、合計継続時間は9日(days)8時間(h)58分(min)であった。合計には、欠落しているイベントは含まれない。
【図6a】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6b】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6c】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6d】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6e】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6f】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6g】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6h】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6i】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6j】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6k】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6l】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6m】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6n】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図6o】
図6aから図6oは、2017年11月1日から11月30日までの期間における例示的なミリングプラントのエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図7】
図7は、2017年から2018年の期間における例示的なミリングプラントのエラー監視頻度の要約(summery)を概略的に示す図を示す。図は、第2のクリーニングセクション(MUEPS001)、ミリングセクション(MUEPS002)、及び第1のクリーニングセクション(RE1PS001)の機械的エラーフォールトのためのプラントサスペンドイベントを週番号別に示す。10分を超える欠落データ(Missing Data)が上にプロットされている。垂直バーは、フォールトがいつ発生したかを示し、短いタイムスケールのフォールトイベントを可視化するため(15時間(h))拡大される。太い縦線は、より長いフォールトイベント又はいくつかの短いフォールトイベントが接近していることを示す。3分より短いフォールトは除外される(データは3分ごとにサンプリングされる)。
【図8a】
図8a及び8bは、2018年の期間ごとの上位10のフォールトアラームの例を概略的に示す図を示す。
【図8b】
図8a及び8bは、2018年の期間ごとの上位10のフォールトアラームの例を概略的に示す図を示す。
【図9】
図9は、2017年から2018年の期間における例示的なプラントの洗浄セクションでのエラー監視を概略的に示す図を示す。本発明のシステム及び方法は、予防的保守又はさらなる監視がsortexのために必要とされる場合、シグナリングを生成することを可能にする。本発明の異常検出方法は、予防保守又は監視を必要とする機器を識別することができる。プロットはいくつかの速報値(preliminary results)を示し、ここで、異常な週は、クリーニングセクション用にオレンジ色でラベル付けされている。図9は、異常なフォールト頻度が検出された速報値を示す。垂直バーは、いつフォールトが発生したかを示し、短いタイムスケールのフォールトイベントを可視化するため、わずかに拡大される。カラーバーは、各フォールト信号の分類を示す。グレーのラベルが付いた期間は、典型的なプラント操作であると想定される。青でラベル付けされた期間は、正常の操作として分類され、オレンジ色のラベルが付いた週は、異常として分類される。欠落データ期間は正常操作として分類され、表示されない。Sortex、ハイレベルセンサー(High Level Sensor)‐WT、フローバランサー(Flow Balancer)203、及びクリーニングセクション(Cleaning Section)は、さまざまなマシンの単なる例であることに注意してください。したがって、図9では、sortexはより一般的に「マシン1」、ハイレベルセンサー(High Level Sensor)‐WTは「マシン2」、フローバランサー(Flow Balancer)203は「マシン3」、クリーニングセクション(Cleaning Section)はシステム全体の「マシン4」と呼ばれることもある。
【図10】
図10は、例示的なミリングプラントのクリーニングセクションにおける、プラント内のセンサー位置によるエラー監視を概略的に示す図を示している。A-xxxxの形式の参照番号は、センサー及びミリングプラントのクリーニングセクションの操作中に測定データをキャプチャする測定デバイスを示し、処理のさまざまな場所で取得される。
【図11】
図11は、重量スケール(weight scales)及びフローバランサー(flow balancers)による例示的なミリングプラントのクリーニングセクションにおけるエラー監視を概略的に示す図を示す。
【図12】
図12は、感覚データと測定データのエラー/フォールト(fault)相関を概略的に示す図を示す。プラントの操作の異常を検出する制御装置のための本発明のシステム及び新規の方法は、多数の相関及び感覚値に対処することができる。図12のコード(chord)プロットは、同時に発生するフォールトを示し、機械的故障間の可能な相関関係を意味する。
【図13】
図13は、プロセスデータのバイナリ変換を伴う本発明の実施形態の変形を概略的に示す図を示す。典型的には、時系列異常検出アルゴリズムは、異常を検出するため、しきい値や移動平均などに依存する。その結果、振動/ノイズの多い信号(典型的には工業プロセス)による異常イベントが多すぎることが検出される可能性がある。本発明では、感度を増減するようにしきい値を調整できる(異常が垂直線でマークされている図13を参照)。イベントの各々は、しきい値を超えた場合にTrue/1値(それ以外の場合はFalse/0)として取得され、バイナリシーケンスが生成される。これにより、しきい値を超える(crossings)頻度を確認できるため、異常な頻度に基づいて異常を分類できる。技術的な利点は、しきい値の過敏性や振動/ノイズの多い産業用IoTデータについて心配する必要がないことである。
【図14】
図14は、プロセスデータの異常検出を概略的に示す図を示す。ここで、第1のステップでは、バイナリシーケンスは、プロセスデータに適用されたしきい値に基づいて生成される(図14を参照)。第2のステップでは、本明細書に記載の異常検出がバイナリシーケンスに適用され、それに応じて異常期間にラベルが付けられる。アナログ信号の異常をバイナリベクトルに変換すること、及び次に、本発明による統計的HMM(隠れマルコフモデル)異常検出構造を適用することは、技術的にユニークであり、従来技術のシステムのいずれからも導き出すことができない。
【図15】
図15は、ダウンタイムとエラー感覚データに基づくプロセスデータの異常検出を概略的に示す他の図を示す。ここで、左側のカラム(Downtime)は、時間の経過に伴うさまざまなセクション内のダウンタイム測定値を示し、右側のカラム(Errors)は、上の図では、すべてのマシンでマシンごとに測定された失敗を示し、真ん中の図では、マシンごとのエラータイムを示し、下の図では、日ごとに測定されたエラー頻度を示している。
【図16】
図16は、図15に示した例ための感覚データと測定データのエラー/フォールト(fault)相関を概略的に示す別の図を示す。図16は、産業プロセスで使用されるコンポーネントに由来する感覚又は測定データをトリガーする産業機器又は生産プラントにおける機器障害の異常又は早期兆候を検出するための本発明のシステム及び方法が、検出及び測定されたアラーム頻度(alarms frequencies)、相関、及び異常に基づいて適切なステアリング信号を提供することをどのように可能にするかを図示する。したがって、本発明のシステムは、アラームイベント間の相関をトリガーする、及び/又は時間内に(in time)アラームイベントを視覚化する、及び/又は異常なダウンタイム/アラームの異常検出、及び/又はアラーム再生(playback)及び対応する電子シグナリング生成の技術的に完全に新しい方法を可能にする。