発明の名称 走査透過電子顕微鏡および光学系の調整方法
出願人 日本電子株式会社 (識別番号 4271)
特許公開件数ランキング 630 位(43件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 681 位(36件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-7285871
公報発行日 2023年6月2
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7285871
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