特許 7300155 固形製剤外観検査における教示装置、及び固形製剤外観検査における教示方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2023-06-21

(45)【発行日】2023-06-29

(54)【発明の名称】固形製剤外観検査における教示装置、及び固形製剤外観検査における教示方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 21/85 20060101AFI20230622BHJP

【ＦＩ】

G01N21/85 A

【請求項の数】 4

(21)【出願番号】P 2019113653

(22)【出願日】2019-06-19

(65)【公開番号】P2020204598

(43)【公開日】2020-12-24

【審査請求日】2021-12-16

(73)【特許権者】

【識別番号】000112912

【氏名又は名称】フロイント産業株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100195752

【弁理士】

【氏名又は名称】奥村 一正

(72)【発明者】

【氏名】蜂谷 栄一

(72)【発明者】

【氏名】菊地 智弘

(72)【発明者】

【氏名】星野 嵩宜

(72)【発明者】

【氏名】安達 岳郎

【審査官】清水 靖記

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１７－２２５７８５（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０４－１６９８０７（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００６－０７８２８５（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１９－０３９９２５（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１７－２２３４４８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００６－１７０９２１（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１７－１３８６９３（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００７－３２７８４８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平１０－３２７０００（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ２１／８４ － Ｇ０１Ｎ ２１／９５８

Ｇ０１Ｂ １１／００ － Ｇ０１Ｂ １１／３０

Ｇ０６Ｔ １／００ － Ｇ０６Ｔ １／６０

Ｇ０６Ｔ ７／００ － Ｇ０６Ｔ ７／９０

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

固形製剤外観検査における教示装置であって、
固形製剤表面が白く撮像される良品画像を記憶する良品画像記憶部と、
前記固形製剤表面が白く撮像される不良品画像を記憶する不良品画像記憶部と、
前記不良品画像記憶部に記憶された前記不良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された少なくとも異物付着、又は欠けについての不良個所の大きさを演算する不良個所演算部と、
前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された大きさが小さく不良にならない不良候補の大きさを演算する不良候補演算部と、
前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示装置。

【請求項2】

前記不良個所演算部は、前記不良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された異物付着、欠け、文字にじみ、及び文字飛びについての不良個所の大きさを演算することを特徴とする請求項１記載の固形製剤外観検査における教示装置。

【請求項3】

前記不良判断閾値設定部は、不良カテゴリー毎における複数の前記不良個所における大きさのうち最小の大きさと、複数の前記不良候補における大きさのうち最大の大きさとから前記不良カテゴリー毎の前記不良判断閾値を設定することを特徴とする請求項１に記載の固形製剤外観検査における教示装置。

【請求項4】

固形製剤外観検査における教示方法であって、
固形製剤表面が白く撮像される良品画像を記憶するとともに、前記固形製剤表面が白く撮像される不良品画像を記憶する画像記憶工程と、
前記不良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された少なくとも異物付着、又は欠けについての不良個所の大きさを演算するとともに、前記良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された大きさが小さく不良にならない不良候補の大きさを演算する演算工程と、
前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定工程と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、固形製剤外観検査における教示を簡易的に行う、固形製剤外観検査における教示装置、及び固形製剤外観検査における教示方法に関するものである。

【背景技術】

【0002】

錠剤やカプセル剤等の固形製剤には、薬の種類や製造者を明示する文字やマーク等（本明細書においては、「文字等」と定義する。）が印刷される。この文字等は、印刷時ににじみや欠けが生じることがあり全数検査されている。また、文字等の印刷に先立って固形製剤の割れ、異物付着、欠け等の検査が全数行われている。

【0003】

特許文献１には、錠剤表面の欠陥や印刷の外観検査を行なうとともに、当該外観検査のためのティーチング（教示）を行なう構成が記載されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

特許文献１：特開平６－２５８２２６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

しかしながら、外観検査の場合、どの程度の欠陥で不良品と判断するかは、印刷にじみの場所、程度が印刷デザインによっても異なる。そして不良品は文字の検査における欠陥だけでなく、外観における欠け、割れ、異物付着等があり、それぞれを検出しつつ良品を誤って不良判定しない検査パラメータを設定しなければならない。従って一つの不良カテゴリーだけでも教示パラメータ作成には膨大な試行錯誤が必要であり、初期の設定作業に非常に多くの時間がかかるという問題があった。

【0006】

本発明は、上記問題点を解決して、固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことを課題とする。

【課題を解決するための手段】

【0007】

上記課題を解決するために本発明は、固形製剤外観検査における教示装置であって、
固形製剤表面が白く撮像される良品画像を記憶する良品画像記憶部と、
前記固形製剤表面が白く撮像される不良品画像を記憶する不良品画像記憶部と、
前記不良品画像記憶部に記憶された前記不良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された少なくとも異物付着、又は欠けについての不良個所の大きさを演算する不良個所演算部と、
前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された大きさが小さく不良にならない不良候補の大きさを演算する不良候補演算部と、
前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示装置を提供するものである。

【0008】

この構成により、固形製剤外観検査における教示作業のほとんどを自動化できるため、教示パラメータ作成を容易に行うことができる。

【0009】

前記不良個所演算部は、前記不良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された異物付着、欠け、文字にじみ、及び文字飛びについての不良個所の大きさを演算する構成としてもよい。

【0010】

不良判断閾値を設定する際に、異物付着、欠けに加えて、文字にじみ、文字飛び、及び文字欠けの不良個所についても考慮することができる。

【0011】

前記不良判断閾値設定部は、不良カテゴリー毎における複数の前記不良個所における大きさのうち最小の大きさと、複数の前記不良候補における大きさのうち最大の大きさとから前記不良カテゴリー毎の前記不良判断閾値を設定する構成としてもよい。

【0012】

この構成により、不良個所の大きさの最小値と不良候補の大きさの最大値とから不良カテゴリー毎の不良判断閾値を設定するため、過検出や見逃しの少ない不良判断閾値を設定することができる。

【0013】

また、上記課題を解決するために本発明は、固形製剤外観検査における教示方法であって、
固形製剤表面が白く撮像される良品画像を記憶するとともに、前記固形製剤表面が白く撮像される不良品画像を記憶する画像記憶工程と、
前記不良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された少なくとも異物付着、又は欠けについての不良個所の大きさを演算するとともに、前記良品画像の前記固形製剤表面に存在する黒く撮像された大きさが小さく不良にならない不良候補の大きさを演算する演算工程と、
前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定工程と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示方法を提供するものである。

【0014】

この構成により、固形製剤外観検査における教示作業のほとんどを自動化できるため、教示パラメータ作成を容易に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【0015】

【図1】本発明の実施例１における固形製剤外観検査における教示装置の構成を説明する図である。

【図2】本発明の実施例１における良品の固形製剤Ｔを説明する図である。

【図3】本発明の実施例１における固形製剤Ｔにおける不良個所を説明する図であり、（ａ）は、異物付着の不良カテゴリー、（ｂ）は、欠けの不良カテゴリーを説明する図である。

【図4】本発明の実施例２における良品の固形製剤Ｔを説明する図である。

【図5】本発明の実施例２における固形製剤Ｔにおける不良個所を説明する図であり、（ａ）は、文字にじみの不良カテゴリー、（ｂ）は、文字飛びの不良カテゴリーを説明する図である。

【図6】本発明の実施例２における文字にじみの不良例を説明する図である。

【発明を実施するための形態】

【実施例1】

【0016】

以下、図１～図３を参照しながら、本発明の実施例１ついて説明する。図１は、本発明の実施例１における固形製剤外観検査における教示装置の構成を説明する図である。図２は、本発明の実施例１における固形製剤Ｔを説明する図である。図３は、本発明の実施例１における固形製剤Ｔにおける不良個所を説明する図であり、（ａ）は、異物付着の不良カテゴリー、（ｂ）は、欠けの不良カテゴリーを説明する図である。

【0017】

（固形製剤外観検査における教示装置） 本発明の実施例１における固形製剤外観検査における教示装置（以下、「教示装置」という。）について図１を参照して説明する。教示装置２０は、撮像部１、不良品画像記憶部２、良品画像記憶部３、不良個所演算部４、不良候補演算部５、不良判断閾値設定部６、操作部７、表示部８等から構成されている。そして、教示装置２０は、固形製剤（本願発明においては、固形製剤を錠剤やカプセル錠等の固形の薬剤と定義する。）における外観検査のための教示パラメータを簡易に作成することができる。

【0018】

撮像部１は、白黒カメラで構成され、不良品及び良品の固形製剤Ｔを撮像する。実施例１においては、１台であるが、必要に応じて複数台の撮像部を備えるようにしてもよい。例えば、複数の撮像部で固形製剤Ｔの正面、背面、側面などを撮像するようにしてもよい。また、外観検査機に設置した撮像部を用いて固形製剤Ｔを撮像するようにしてもよい。撮像部１には、対象物である固形製剤Ｔを背景と明確に分離して撮像するために図示しない照明部を設けている。実施例１において、固形製剤Ｔの表面は白く撮像され、不良個所は黒く撮像されるように撮像部１、図示しない照明部を設定している。

【0019】

なお、実施例１においては、撮像部１が教示装置２０に組み込まれた構成としたが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、別置の撮像部１から撮像データを取り込んで処理しても良い。また撮像部１をカラーカメラとし、取り込んだ撮像データをグレースケール等に変換しても良い。

【0020】

不良品画像記憶部２、及び良品画像記憶部３には、それぞれ複数の画像を記憶することができ、これらはパソコンの記憶部により構成している。不良個所演算部４は不良画像中で不良個所が存在するとして指定された範囲に存在する不良の大きさを演算する。また、不良候補演算部５は良品画像に存在する不良候補、つまり、大きさが小さく不良にはならないものの背景とは異なる色合いで（実施例１においては黒く）撮像されている部分の大きさを演算する。不良判断閾値設定部６は、不良画像における不良個所の大きさと、良品画像における不良候補の大きさとから良否判断に用いる不良判断閾値を設定する。不良個所演算部４、不良候補演算部５、及び不良判断閾値設定部６は、パソコンで実行されるソフトウエアで構成される。

【0021】

なお、実施例１においては、不良個所演算部４、不良候補演算部５、及び不良判断閾値設定部６は、パソコンで実行されるソフトウエアで構成しているが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、電子回路で構成してもよい。

【0022】

操作部７は、タッチパネルからなり、ソフトウエアにより、キーを表示してデータの入力を行うことができる。表示部８は、撮像部１が撮像した画像や、不良品画像記憶部２、及び良品画像記憶部３に記憶されている画像を表示して確認することができる。

【0023】

なお、実施例１においては、操作部７をタッチパネルで構成したが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、マウス等の機器を用いて入力操作するように構成してもよい。

【0024】

（固形製剤外観検査における教示方法） まず、画像記憶工程を実施し、固形製剤Ｔの代表的な不良品を撮像部１で撮像して不良品画像記憶部２に不良カテゴリー毎に記憶させるとともに、固形製剤Ｔの良品を撮像部１で撮像して良品画像記憶部３に記憶させる。実施例１における不良カテゴリーは、固形製剤Ｔに対する異物付着Ａ（図３（ａ）参照）と欠けＢ（図３（ｂ）参照）である。代表的な不良品は複数撮像して記憶させることが望ましく、複数の異物付着Ａを有する不良品と、複数の欠けＢを有する不良品の画像を撮像して記憶する。代表的な良品の撮像も複数撮像することが望ましい。撮像された代表的な複数の良品画像は良品画像記憶部３に記憶される。

【0025】

異物付着Ａの不良カテゴリーに属する不良品画像の例を図３（ａ）に示す。固形製剤Ｔの表面は白く撮像されるように撮像部１や図示しない照明部が設定されているが、異物付着Ａがあるとその部分は暗い画像となる。また、図３（ｂ）に欠けＢの不良カテゴリーに属する不良品画像の例を示す。欠けＢも画像中に暗く撮像される。一方、良品の固形製剤Ｔの良品画像の例を図２に示す。理想的な良品画像は全面が白く撮像されるが、中には図２に不良候補Ｘで示すように、暗い点が撮像されることがある。これは、固形製剤Ｔの表面の凹凸等によるものか、細かい欠けで大きさから不良とはしないものであり、不良ではない。外観検査においては、この良品画像における不良候補Ｘと不良画像における異物付着Ａや欠けＢとを区別することにより良否判定を行う。

【0026】

良品画像における不良候補Ｘと不良品画像における異物付着Ａや欠けＢとを区別するために、外観検査機では固形製剤Ｔの画像における暗い部分の大きさに基づいて、良品の不良候補Ｘと不良品である異物付着Ａや欠けＢとを区別している。具体的には、画像における不良個所が黒くなるように画像濃度を動的閾値法により２値化し、黒い部分の大きさを計測して予め決められた閾値以上か否かを判断し、閾値以上の大きさであれば不良品と判断している。逆に黒く撮像された部分の大きさが閾値未満の大きさであれば、良品と判断している。

【0027】

このため、実施例１における教示装置２０においては、不良品画像記憶部２に記憶された不良品画像を不良カテゴリー毎に、不良個所演算部４において動的閾値法により２値化して、黒い部分（不良個所）の大きさを計測する。具体的には、不良個所範囲指定工程を実施し、オペレータが表示部８に表示された画像を見ながら操作部７を用いて不良個所を囲む四角形を設定する。不良個所が指定されれば、次に、演算工程を実施し、不良個所演算部４が不良カテゴリー毎に不良個所の大きさを演算するともに、不良候補演算部５が良品画像から不良候補Ｘの大きさを演算する。不良個所及び不良候補Ｘの大きさは面積値で表しているが、周囲長等の他のパラエータを用いて表してもよい。不良カテゴリー毎に複数の不良個所の大きさが計測できれば、不良個所演算部４がそれら複数の不良個所の大きさのうち最小の面積値を算出する。また、不良候補演算部５が不良候補Ｘの大きさのうち、最も大きな面積値を有する不良候補Ｘを抽出する。

【0028】

なお、実施例１においては、不良個所範囲指定工程を実施し、オペレータが表示部８に表示された画像を見ながら操作部７を用いて不良個所を囲む四角形を設定するように構成したが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、不良個所範囲指定工程を実施せずに、教示装置２０が上述の演算工程を実施して、自動的に不良個所を特定するように構成してもよい。

【0029】

不良個所演算部４及び不良候補演算部５で行う２値化のレベルは、動的閾値法で決められる。動的閾値法とは、画像を平均化して平均画像を算出し、元の画像と平均画像との差分をとり近傍の輝度と比べて突出している領域のみを黒色又は白色にして抽出する２値化方法であって、輝度ムラのある画像でも不良個所を検出することができる。

【0030】

そして、不良判断閾値設定工程を実施し、それぞれ演算された不良カテゴリー毎の不良個所の大きさの最小値と不良候補Ｘの大きさの最大値とを不良判断閾値設定部６が比較して中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値（教示パラメータ）を設定する。

【0031】

ここで、実施例１においては、不良個所の大きさの最小値と不良候補Ｘの大きさの最大値とを比較し、その中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値を設定する構成としたが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、不良個所の大きさの最小値に余裕度αを考慮した（最小値－α）と不良候補Ｘの大きさの最大値に余裕度βを考慮した（最大値＋β）とを比較し、その中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値を設定する構成としてもよい。

【0032】

実施例１においては、不良品画像記憶部３に複数の不良品画像を不良カテゴリー毎に記憶し、良品画像記憶部４に複数の良品画像を記憶し、不良個所を指定すれば、その後の不良カテゴリー毎の不良個所の大きさ計測と最小値演算、不良候補の大きさ計測と最大値演算、そして不良判断閾値の設定までを教示装置２０が自動で行うことができる。このため、たいへん容易に教示パラメータ作成を行うことができる。

【0033】

なお、実施例１においては、不良個所の大きさ及び不良候補の大きさを面積値で表すように構成したが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、不良個所の大きさ及び不良候補の大きさを周囲長で表すように構成してもよい。

【0034】

また、実施例１においては、不良個所や不良候補が暗くなるように撮像部１や図示しない照明部を設定したが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、不良個所や不良候補が白くなるように撮像部１や図示しない照明部を設定してもよい。

【0035】

このように、実施
例１においては、固形製剤外観検査における教示装置であって、 良品画像を記憶する良品画像記憶部と、 不良品画像を記憶する不良品画像記憶部と、 前記不良個所の大きさを演算する不良個所演算部と、 前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像から、不良候補の大きさを演算する不良候補演算部と、 前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示装置により、固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことができる。

【0036】

また、固形製剤外観検査における教示方法であって、 良品画像を記憶するとともに、不良品画像を不良カテゴリー毎に記憶する画像記憶工程と、 不良カテゴリー毎に前記不良個所の大きさを演算するともに、前記良品画像から不良候補の大きさを演算する演算工程と、 前記不良カテゴリー毎の前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから前記不良カテゴリー毎の不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定工程と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示方法により、固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことができる。

【実施例2】

【0037】

本発明の実施例２は、固形製剤に印刷された文字等の印刷検査のための教示パラメータを設定する点で実施例１と異なっている。図４は、本発明の実施例２における良品の固形製剤Ｔを説明する図である。図５は、本発明の実施例２における固形製剤Ｔにおける不良個所を説明する図であり、（ａ）は、文字にじみの不良カテゴリー、（ｂ）は、文字飛びの不良カテゴリーを説明する図である。図６は、本発明の実施例２における文字にじみの不良例を説明する図である。

【0038】

実施例２においても教示装置２０を用いて教示パラメータの設定を行う。実施例２における固形製剤Ｔは、その表面に文字等が印刷されたものである。まず、画像記憶工程を実施し、固形製剤Ｔの代表的な不良品を撮像部１で撮像して不良品画像記憶部２に不良カテゴリー毎に記憶させるとともに、固形製剤Ｔの良品を撮像部１で撮像して良品画像記憶部３に記憶させる。実施例２における不良カテゴリーは、固形製剤Ｔに対する文字にじみＣ（図５（ａ）参照）と文字飛びＤ（図５（ｂ）参照）である。不良品は複数撮像して記憶させることが望ましく、複数の文字にじみＣを有する不良品と、複数の文字飛びＤを有する不良品の画像を撮像して記憶する。文字等が正しく印刷された良品（図４参照）の撮像も複数撮像することが望ましい。撮像された複数の良品画像は良品画像記憶部３に記憶される。

【0039】

文字にじみＣの不良カテゴリーに属する不良品画像の例を図５（ａ）に示す。固形製剤Ｔの表面は白く撮像され、印刷された文字等は黒くなるように撮像部１や図示しない照明部が設定されているが、文字にじみＣがあるとその部分は文字色と同様に暗い画像となる。また、図５（ｂ）に文字飛びＤの不良カテゴリーに属する不良品画像の例を示す。文字飛びＤも画像中に暗く撮像される。一方、良品の固形製剤Ｔの良品画像の例を図４に示す。理想的な良品画像は表面が白く撮像され、その表面に文字等が印刷されている（文字等は黒く撮像される。）が、中には図４に不良候補Ｘで示すように、暗い点が撮像されることがある。これは、固形製剤Ｔの表面の凹凸等によるものであり、不良ではない。外観検査においては、この良品画像における不良候補Ｘと不良画像における文字にじみＣや文字飛びＤとを区別することにより良否判定を行う。

【0040】

良品画像における不良候補Ｘと不良品画像における文字にじみＣや文字飛びＤとを区別するために、外観検査機では固形製剤Ｔの画像における暗い部分の大きさに基づいて、良品の不良候補Ｘと不良品である文字にじみＣや文字飛びＤとを区別している。すなわち、画像における印刷文字等が黒くなるように画像濃度を２値化し、印刷文字等以外の黒い部分の大きさを計測して予め決められた閾値以上か否かを判断し、閾値以上の大きさであれば不良品と判断している。逆に黒く撮像された部分の大きさが閾値未満の大きさであれば、良品と判断している。

【0041】

文字にじみＣの検査は、正しい文字等に繋がっているので、不良部分の分離をする必要がある。そのため正しい文字等の画像をテンプレートとして予め記憶しておき、検査対象の固形製剤Ｔの印刷文字等の画像位置に重ね合わせたときに、重ならずテンプレートからはみ出る部分の大きさが所定以上であれば、文字にじみＣとして検出する。

【0042】

ここで、文字にじみＣの検査は、図６のような場合がある。図６（ａ）は、本来の文字「Ｅ」に一つの文字にじみＣが存在する場合であり、図６（ｂ）は、本来の文字「Ｅ」に複数の文字にじみＣが存在する場合である。複数の文字にじみＣを合計した大きさで良否の閾値を設定すると一つ一つの文字にじみＣが検出できない可能性がある。このため、実施例２においては、個々の文字にじみＣを別々にその大きさを計測して良否判断の閾値を設定している。

【0043】

実施例２における教示装置２０においては、不良品画像記憶部２に記憶された不良品画像を不良カテゴリー毎に、不良個所演算部４において動的閾値法により２値化して、黒い部分（不良個所）の大きさを計測する。具体的には、不良個所範囲指定工程を実施し、オペレータが表示部８に表示された画像を見ながら操作部７を用いて不良個所を囲む四角形を設定するか、文字等のテンプレートと重ならない部分を不良個所として設定する。不良個所が指定されれば、次に、演算工程を実施し、不良個所演算部４が不良カテゴリー毎に不良個所の大きさを演算するともに、不良候補演算部５が良品画像から不良候補の大きさを演算する。不良個所及び不良候補Ｘの大きさは面積値で表しているが、周囲長等の他のパラエータを用いて表してもよい。不良カテゴリー毎に複数の不良個所の大きさが計測できれば、不良個所演算部４がそれら複数の不良個所の大きさのうち最小の面積値を算出する。また、不良候補演算部５が不良候補Ｘの大きさのうち、最も大きな面積値を抽出する。

【0044】

そして、不良判断閾値設定工程を実施し、それぞれ演算された不良カテゴリー毎の不良個所の大きさの最小値と不良候補Ｘの大きさの最大値とを不良判断閾値設定部６が比較して中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値（教示パラメータ）を設定する。

【0045】

ここで、実施例２においては、不良個所の大きさの最小値と不良候補Ｘの大きさの最大値とを比較し、その中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値を設定する構成としたが、必ずしもこれに限定されず適宜変更が可能である。例えば、不良個所の大きさの最小値に余裕度αを考慮した（最小値－α）と不良候補Ｘの大きさの最大値に余裕度βを考慮した（最大値＋β）とを比較し、その中間に良否判断の閾値となる不良判断閾値を設定する構成としてもよい。

【0046】

なお、実施例２においては、文字にじみＣと文字飛びＤの不良カテゴリーについて説明したが、文字欠けについても検査パラメータの設定が可能である。つまり、文字等のテンプレートを固形製剤Ｔの表面に重ねた部分に暗くない、つまり明るい部分が閾値以上の大きさであれば、文字欠けと判断することができる。この場合は、文字欠けと判断できる不良個所の白い部分の大きさに基づいて不良判断閾値を設定すればよい。

【0047】

実施例２においても、不良品画像記憶部３に複数の不良品画像を不良カテゴリー毎に記憶し、良品画像記憶部４に複数の良品画像を記憶し、不良個所を指定すれば、その後の不良カテゴリー毎の不良個所の大きさ計測と最小値演算、不良候補の大きさ計測と最大値演算、そして不良判断閾値の設定までを教示装置２０が自動で行うことができる。このため、たいへん容易に教示パラメータ作成を行うことができる。

【0048】

このように、実施例２においては、固形製剤外観検査における教示装置であって、 良品画像を記憶する良品画像記憶部と、 不良品画像を記憶する不良品画像記憶部と、 前記不良個所の大きさを演算する不良個所演算部と、 前記良品画像記憶部に記憶された前記良品画像から、不良候補の大きさを演算する不良候補演算部と、 前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから、不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定部と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示装置により、固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことができる。

【0049】

また、固形製剤外観検査における教示方法であって、 良品画像を記憶するとともに、不良品画像を不良カテゴリー毎に記憶する画像記憶工程と、 不良カテゴリー毎に前記不良個所の大きさを演算するともに、前記良品画像から不良候補の大きさを演算する演算工程と、 前記不良カテゴリー毎の前記不良個所の大きさと、前記不良候補の大きさとから前記不良カテゴリー毎の不良判断閾値を設定する不良判断閾値設定工程と、を備えたことを特徴とする固形製剤外観検査における教示方法により、固形製剤外観検査における教示パラメータ作成を容易に行うことができる。

【産業上の利用可能性】

【0050】

本発明における固形製剤外観検査における教示装置、及び固形製剤外観検査における教示方法は、固形製剤の外観検査分野に幅広く適用することができる。

【符号の説明】

【0051】

１：撮像部 ２：不良品画像記憶部 ３：良品画像記憶部 ４：不良個所演算部 ５：不良候補演算部 ６：不良判断閾値設定部 ７：操作部 ８：表示部 ２０：固形製剤外観検査における教示装置 Ｔ：固形製剤 Ａ：不良個所（異物付着） Ｂ：不良個所（欠け） Ｃ：不良個所（文字にじみ） Ｄ：不良個所（文字飛び） Ｘ：不良候補

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】