特許 7312442 検査装置および検査方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2023-07-12

(45)【発行日】2023-07-21

(54)【発明の名称】検査装置および検査方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 27/82 20060101AFI20230713BHJP

【ＦＩ】

G01N27/82

【請求項の数】 15

(21)【出願番号】P 2019144195

(22)【出願日】2019-08-06

(65)【公開番号】P2021025887

(43)【公開日】2021-02-22

【審査請求日】2022-08-04

(73)【特許権者】

【識別番号】516129150

【氏名又は名称】株式会社Ｉｎｔｅｇｒａｌ Ｇｅｏｍｅｔｒｙ Ｓｃｉｅｎｃｅ

(74)【代理人】

【識別番号】100110928

【弁理士】

【氏名又は名称】速水 進治

(72)【発明者】

【氏名】木村 憲明

(72)【発明者】

【氏名】木村 建次郎

(72)【発明者】

【氏名】美馬 勇輝

(72)【発明者】

【氏名】鈴木 章吾

(72)【発明者】

【氏名】三津野 隆宏

(72)【発明者】

【氏名】川原 敬治

(72)【発明者】

【氏名】宮口 浩一

(72)【発明者】

【氏名】田中 弘毅

(72)【発明者】

【氏名】土井 章裕

(72)【発明者】

【氏名】楠藤 正伯

【審査官】村田 顕一郎

(56)【参考文献】

【文献】特開２００９－１０３５３４（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００６－２４４７２７（ＪＰ，Ａ）

【文献】中国特許出願公開第１０１７２５８３４（ＣＮ，Ａ）

【文献】特開２００２－２５７７８８（ＪＰ，Ａ）

【文献】実開昭６１－１６１６５９（ＪＰ，Ｕ）

【文献】特開昭５９－１０８９７０（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平０５－１２６７９８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開昭５９－１３５３６２（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開昭５４－１１９３３６（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ２７／７２－２７／９０９３

Ｈ０２Ｇ １／０２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

少なくとも一つの周波数ｆ_ｍで変調された磁場を発生させるコイルと、
前記コイルに対向して配置され、磁場を検出する磁気センサと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置される被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成部とを備え、
前記生成部は、前記磁気センサの検出信号から周波数ｆ_ｍ成分を検波して検波信号を生成し、複数の周波数ｆ _ｍ に対する前記検波信号を平均化して、前記劣化情報を生成する検査装置。

【請求項2】

請求項１に記載の検査装置において、
前記コイルを複数備え、
前記複数のコイルは互いに異なる周波数ｆ_ｍで変調された磁場を発生させる検査装置。

【請求項3】

少なくとも一つの周波数ｆ _ｍ で変調された磁場を発生させるコイルと、
前記コイルに対向して配置され、磁場を検出する磁気センサと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置される被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成部とを備え、
前記生成部は、前記磁気センサの検出信号から周波数ｆ _ｍ 成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成し、
前記生成部は、前記検波信号の大きさに基づいて前記被測定物の引張強度を導出する検査装置。

【請求項4】

少なくとも一つの周波数ｆ _ｍ で変調された磁場を発生させるコイルと、
前記コイルに対向して配置され、磁場を検出する磁気センサと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置される被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成部と、
シャフトと、
前記シャフトの一端側に取り付けられ、前記コイルを支持するコイル支持部と、
前記シャフトの前記一端側に取り付けられ、前記磁気センサを支持するセンサ支持部と、
を備え、
前記生成部は、前記磁気センサの検出信号から周波数ｆ _ｍ 成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成し、
前記コイル支持部および前記センサ支持部の前記シャフトに対する角度が可変である検査装置。

【請求項5】

請求項４に記載の検査装置において、
前記シャフトの前記一端とは反対側の他端側には、前記角度を操作する操作部が設けられている検査装置。

【請求項6】

請求項４または５に記載の検査装置において、
前記シャフトの前記一端側には、カメラが配置されている検査装置。

【請求項7】

請求項１から６のいずれか一項に記載の検査装置において、
周波数ｆ_ｍは、１０Ｈｚ以上１００ｋＨｚ以下である検査装置。

【請求項8】

請求項１から７のいずれか一項に記載の検査装置において、
前記被測定物は、強磁性体を含む検査装置。

【請求項9】

請求項８に記載の検査装置において、
前記被測定物は鉄を含む検査装置。

【請求項10】

請求項１から９のいずれか一項に記載の検査装置において、
前記被測定物は、電線の吊り下げ部品である検査装置。

【請求項11】

請求項１０に記載の検査装置において、
周波数ｆ_ｍは、前記電線に流れる電流の周波数ｆ_ｗの４倍以上である検査装置。

【請求項12】

請求項１から１１のいずれか一項に記載の検査装置において、
前記コイルと前記磁気センサとの距離は１ｃｍ以上１０ｃｍ以下である検査装置。

【請求項13】

少なくとも一つの周波数ｆ_ｍで変調された磁場をコイルから発生させる磁場発生ステップと、
前記コイルに対向して配置された磁気センサで、磁場を検出する検出ステップと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置された被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成ステップとを含み、
前記生成ステップでは、前記磁気センサの検出信号から周波数ｆ_ｍ成分を検波して検波信号を生成し、複数の周波数ｆ _ｍ に対する前記検波信号を平均化して、前記劣化情報を生成する検査方法。

【請求項14】

少なくとも一つの周波数ｆ _ｍ で変調された磁場をコイルから発生させる磁場発生ステップと、
前記コイルに対向して配置された磁気センサで、磁場を検出する検出ステップと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置された被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成ステップとを含み、
前記生成ステップでは、前記磁気センサの検出信号から周波数ｆ _ｍ 成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成し、
前記生成ステップでは、前記検波信号の大きさに基づいて前記被測定物の引張強度を導出する検査方法。

【請求項15】

少なくとも一つの周波数ｆ _ｍ で変調された磁場をコイルから発生させる磁場発生ステップと、
前記コイルに対向して配置された磁気センサで、磁場を検出する検出ステップと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置された被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成ステップとを含み、
前記生成ステップでは、前記磁気センサの検出信号から周波数ｆ _ｍ 成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成し、
前記コイルは、シャフトの一端側に取り付けられたコイル支持部に支持されており、
前記磁気センサは、前記シャフトの前記一端側に取り付けられたセンサ支持部に支持されており、
前記コイル支持部および前記センサ支持部の前記シャフトに対する角度が可変である検査方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は検査装置および検査方法に関する。

【背景技術】

【0002】

屋外で用いられる部材は、風雨による劣化が生じることから、検査を行ってある程度の期間ごとに交換する必要がある。

【0003】

特許文献１には、第１発振コイルと第２発振コイルから交流磁場を発生させ、受信コイルが出力する磁場波形を用いて車両用のレールの劣化箇所を特定することが記載されている。

【0004】

また、特許文献２には、磁性材からなる検査対象物の探傷検査部位を磁化し、その表面に散布された磁粉の模様を観察することでキズの有無を検出する検査装置が記載されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【文献】特開２０１７－２０８６２号公報

【文献】特開２０１７－９２９８号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

しかし、特許文献１および２の技術では、劣化箇所やキズの有無を検査し得るのみで、たとえば部材の強度に関連するような劣化具合の客観的な定量化ができない。

【0007】

本発明は、被測定物の劣化具合の定量化が可能な検査装置および検査方法を提供する。

【課題を解決するための手段】

【0008】

本発明によれば、
少なくとも一つの周波数ｆ_ｍで変調された磁場を発生させるコイルと、
前記コイルに対向して配置され、磁場を検出する磁気センサと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置される被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成部とを備え、
前記生成部は、前記磁気センサの検出信号から周波数ｆ_ｍ成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成する検査装置
が提供される。

【0009】

本発明によれば、
少なくとも一つの周波数ｆ_ｍで変調された磁場をコイルから発生させる磁場発生ステップと、
前記コイルに対向して配置された磁気センサで、磁場を検出する検出ステップと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置された被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成ステップとを含み、
前記生成ステップでは、前記磁気センサの検出信号から周波数ｆ_ｍ成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成する検査方法
が提供される。

【発明の効果】

【0010】

本発明によれば、被測定物の劣化具合の定量化が可能な検査装置および検査方法が提供できる。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】実施形態に係る検査装置の構成を例示するブロック図である。

【図2】実施形態に係る検査装置の構造を例示する図である。

【図3】（ａ）および（ｂ）はそれぞれ、実施形態に係る検査装置の第１の状態と第２の状態を示す図である。

【図4】（ａ）および（ｂ）はそれぞれ、実施形態に係る検査装置の第３の状態と第４の状態を示す図である。

【図5】（ａ）および（ｂ）は、測定中における吊り下げ部品および検査装置の状態の第１例を示す図である。

【図6】（ａ）および（ｂ）は、測定中における吊り下げ部品および検査装置の状態の第２例を示す図である。

【図7】検査装置の変形例を示す図である。

【図8】実施形態に係る検査方法を示すフローチャートである。

【図9】実施例に係る検査装置の構成を例示するブロック図である。

【図10】実施例に係る測定装置の構成を例示する図である。

【図11】図１０のＡの部分を拡大した図である。

【図12】実施例に係る測定装置の他の状態を例示する図である。

【図13】図１２のＢの部分を拡大した図である。

【図14】第１角度調整部および第２角度調整部の構造を例示する斜視図である。

【図15】第１角度調整部および第２角度調整部の構造を例示する正面図である。

【図16】実施例に係るコイルおよび磁気センサの配置の一例を示す図である。

【図17】実施例に係るコイルおよび磁気センサと支持部との関係を例示する図である。

【図18】（ａ）および（ｂ）は、実施例に係るコイルおよび磁気センサの配置の第１の変形例を示す図である。

【図19】（ａ）および（ｂ）は、実施例に係るコイルおよび磁気センサの配置の第２の変形例を示す図である。

【図20】端末を実現するための計算機を例示する図である。

【図21】実施例に係る検査装置の動作を例示するフローチャートである。

【図22】（ａ）から（ｃ）は、実施例に係る端末の表示内容を例示する図である。

【図23】（ａ）および（ｂ）は、実施例に係る検査装置で被測定物とした吊り下げ部品の写真であり、（ｃ）および（ｄ）はそれぞれ（ａ）および（ｂ）の吊り下げ部品を被測定物とした場合に、実施例に係る検査装置のカメラで得られた画像である。

【発明を実施するための形態】

【0012】

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。

【0013】

なお、以下に示す説明において、検査装置１０の生成部２２０、記憶部２３０、およびコイル駆動部２１０は、ハードウエア単位の構成ではなく、機能単位のブロックを示している。検査装置１０の生成部２２０、記憶部２３０、およびコイル駆動部２１０は、任意のコンピュータのＣＰＵ、メモリ、メモリにロードされた本図の構成要素を実現するプログラム、そのプログラムを格納するハードディスクなどの記憶メディア、ネットワーク接続用インタフェースを中心にハードウエアとソフトウエアの任意の組合せによって実現されうる。そして、その実現方法、装置には様々な変形例がある。

【0014】

図１は、実施形態に係る検査装置１０の構成を例示するブロック図である。検査装置１０は、コイル１２０、磁気センサ１４０、および生成部２２０を備える。コイル１２０は、少なくとも一つの周波数ｆ_ｍで変調された磁場を発生させる。磁気センサ１４０は、コイル１２０に対向して配置され、磁場を検出する。生成部２２０はコイル１２０と磁気センサ１４０との間に配置される被測定物９０の劣化度合いを示す劣化情報を生成する。生成部２２０は具体的には、磁気センサ１４０の検出信号から周波数ｆ_ｍ成分を検波して検波信号を生成し、検波信号を用いて劣化情報を生成する。以下に詳しく説明する。

【0015】

被測定物９０は、強磁性体を含む。強磁性体としては鉄、コバルト、ニッケル等が挙げられる。被測定物９０は、たとえば電線の吊り下げ部品である。この場合、被測定物９０は鉄を含む。

【0016】

たとえば電車等に送電する電線は、線路に沿って電車の上部に位置する高さで配線される架空電線である。電線から電車にはパンタグラフを介して電力が供給される。電線は具体的にはビーム等から吊り下げ部品によって吊り下げられ、複数のビームの間を渡されている。各ビームは、線路脇に立てられた電柱により支えられている。

【0017】

電線の吊り下げ部品は屋外で風雨にさらされることで劣化する。一方、吊り下げ部品は電線を支えるのに十分な強度を常に備えている必要があり、適切な時期での交換が必要である。ここで、電車の路線に用いられている吊り下げ部品は多数に上る。したがって、定量的な検査を行い、客観的な基準に基づいて交換することが、過不足の無い交換、すなわちコスト削減のために重要である。

【0018】

本実施形態に係る検査装置１０では、コイル１２０と磁気センサ１４０との間に被測定物９０がある状態で、コイル１２０からの磁場を磁気センサ１４０で検出する。ここで、コイル１２０から磁気センサ１４０に向かう磁力線は、たとえば被測定物９０の錆具合に依存して変化する。具体的には、錆の程度が小さいほど、コイル１２０からの磁場が被測定物９０に引き付けられる結果、磁気センサ１４０に入る磁力線が多くなる。一方、錆の程度が大きいほど、コイル１２０からの磁場が発散する結果、磁気センサ１４０に入る磁力線が少なくなる。したがって、磁気センサ１４０の検出結果に基づいて、被測定物９０の劣化具合を知ることができる。測定時において被測定物９０は、コイル１２０と磁気センサ１４０の間の中央に配置されることが好ましい。

【0019】

また、本実施形態に係る検査装置１０では、コイル１２０が周波数ｆ_ｍで変調された磁場を発生させ、生成部２２０が周波数ｆ_ｍ成分を検波して劣化情報を生成することにより、Ｓ／Ｎ比が高い測定をすることができる。たとえば交流電流が流れる電線の近傍で測定する場合、磁気センサ１４０が検出する磁場には電線に流れる電流に起因した磁場が混ざる。そのような状況でも、本実施形態に係る検査装置１０および検査方法によれば、周波数ｆ_ｍ成分をコイル１２０からの磁場として抽出することで、その他の磁場の影響を抑えた信頼性の高い測定結果を得ることができる。

【0020】

したがって、本実施形態に係る検査装置１０を用いることで、劣化具合の定量的な測定が可能となる。また、被測定物９０が電線の吊り下げ部品である場合、測定は、電線に電流が流れた状態で、被測定物９０の導電部に非接触で行うことができる。なお、被測定物９０の導電部は少なくとも一部が絶縁体で覆われていてもよい。この場合、導電部が絶縁体の内部に隠れて目視しにくいことから、本実施形態に係る検査装置１０および検査方法がより効果的に用いられる。

【0021】

検査装置１０の構成について図１を参照して詳しく説明する。本実施形態において、検査装置１０はさらにコイル駆動部２１０を備える。コイル駆動部２１０はたとえば交流信号を発生させ、コイル１２０に入力する。コイル１２０は、軸が磁気センサ１４０に向くように配置されている。そしてコイル１２０はコイル駆動部２１０からの駆動信号により、周波数ｆ_ｍで変調された磁場を発生させる。周波数ｆ_ｍは一つであってもよいし、複数であってもよい。周波数ｆ_ｍは一つである場合、コイル１２０は、周波数ｆ_ｍの交流磁場である。なお、周波数ｆ_ｍが複数である場合については後述する。

【0022】

磁気センサ１４０は、たとえばＴＭＲ（Tunnel Magneto Resistance）素子等の磁気センサである。磁気センサ１４０はコイル１２０が発生した磁場の少なくとも一部を測定する。磁気センサ１４０で測定される磁場には、さらにコイル１２０以外からの磁場が含まれてもよい。コイル１２０と磁気センサ１４０との距離は特に限定されないが、たとえば１ｃｍ以上１０ｃｍ以下である。コイル１２０と磁気センサ１４０との距離は固定されていてもよいし、被測定物９０に応じて可変であってもよい。磁気センサ１４０の検出信号は磁気センサ１４０が受けた磁場の強さを示す。検出信号は磁気センサ１４０から生成部２２０に入力される。

【0023】

生成部２２０は、磁気センサ１４０の検出信号から周波数ｆ_ｍ成分を検波し、検波信号を生成する。検波信号は周波数ｆ_ｍ成分の大きさを示す信号である。そして生成部２２０は検波信号を用いて劣化情報を生成する。たとえば生成部２２０は検波信号に基づき、周波数ｆ_ｍ成分の大きさを示す数値を劣化情報として生成し、出力する。具体的には検波信号の信号値を劣化情報とすることができる。劣化情報はたとえば、被測定物９０の錆の進行具合や強度に対応する情報である。出力された劣化情報は、検査装置１０に備えられた表示部２４０に表示される。

【0024】

周波数ｆ_ｍは、電線９２に流れる電流の周波数ｆ_ｗの４倍以上であることが好ましい。そうすれば、電線９２に流れる電流に起因する磁場の影響がより抑制された測定結果が得られる。周波数ｆ_ｍは特に限定されないが、たとえば１０Ｈｚ以上１００ｋＨｚ以下である。

【0025】

また、生成部２２０は検波信号の大きさに基づいて被測定物９０の引張強度を導出してもよい。この場合、生成部２２０は劣化情報として被測定物９０の引張強度等を示す数値を生成し、出力する。具体的には生成部２２０は次のように引張強度を導出する。検査装置１０は記憶部２３０をさらに備えており、記憶部２３０には予め周波数ｆ_ｍ成分の大きさと引張強度との対応を示す情報（数式、表、グラフ等）が保持されている。周波数ｆ_ｍ成分の大きさと引張強度との対応を示す情報は、事前実験等により取得し、記憶部２３０に記憶させることができる。生成部２２０は、周波数ｆ_ｍ成分の大きさと引張強度との対応を示す情報を記憶部２３０から読み出し、この情報と生成された検波信号とを用いて引張強度を導出する。

【0026】

生成部２２０が被測定物９０の引張強度を導出することで、被測定物９０の劣化具合がより分かりやすくなる。たとえば被測定物９０が電線の吊り下げ部品である場合、吊り下げ部品の交換時期をより判断しやすくなる。

【0027】

コイル１２０が複数の周波数ｆ_ｍで変調された磁場を発生させる場合について、以下に説明する。周波数ｆ_ｍが複数である場合、コイル１２０からは複数の周波数ｆ_ｍの交流磁場が順に発生してもよいし、複数の周波数ｆ_ｍの交流磁場が重ね合わされた磁場が発生してもよい。複数の周波数ｆ_ｍの交流磁場がコイル１２０から順に発生する場合、生成部２２０は磁気センサ１４０の検出信号から複数の周波数ｆ_ｍ成分を順に検波して各周波数ｆ_ｍに対する検波信号を生成する。一方、複数の周波数ｆ_ｍの交流磁場が重ね合わされた磁場がコイル１２０から発生する場合、生成部２２０は磁気センサ１４０の検出信号を複数の周波数ｆ_ｍで検波して各周波数ｆ_ｍに対する検波信号を生成する。

【0028】

そして生成部２２０は、複数の周波数ｆ_ｍに対する検波信号を平均化して、劣化情報を生成する。

【0029】

図２は、本実施形態に係る検査装置１０の構造を例示する図である。検査装置１０は、シャフト１８０、コイル支持部１２２、およびセンサ支持部１４２をさらに備える。コイル支持部１２２は、シャフト１８０の一端１８１側に取り付けられ、コイル１２０を支持している。センサ支持部１４２は、シャフト１８０の一端１８１側に取り付けられ、磁気センサ１４０を支持している。そして、コイル支持部１２２およびセンサ支持部１４２のシャフト１８０に対する角度は可変である。以下に詳しく説明する。

【0030】

シャフト１８０は、一方向に延びた棒状または管状の部材である。シャフト１８０の一端１８１側にはコイル１２０および磁気センサ１４０が備えられており、シャフト１８０の他端１８２側には持ち手１９０が設けられている。なお、他端１８２は一端１８１とは反対側の端である。測定者は、持ち手１９０を持ち、一端１８１側にある被測定物９０を測定する。検査装置１０がシャフト１８０を備えることにより、高い位置や測定者から離れた位置にある被測定物９０の測定が容易になる。

【0031】

シャフト１８０の長さはたとえば１００ｃｍ以上１０００ｃｍ以下であり、太さはたとえば１ｃｍ以上１０ｃｍ以下である。シャフト１８０は伸縮可能に構成されていてもよい。シャフト１８０はたとえば金属または樹脂である。シャフト１８０が金属または樹脂であることにより、屋外や高所での測定においてもシャフト１８０が強風に耐えられる。

【0032】

コイル支持部１２２およびセンサ支持部１４２はたとえば、それぞれ棒状、または一方向に長い板状の部材である。

【0033】

シャフト１８０、コイル支持部１２２、センサ支持部１４２、および後述する連結部１３０は、それぞれ少なくとも表面が絶縁性であることが好ましい。そうすれば、それらが万が一電線等に接触した場合であっても、電気系統への影響を避けられる。

【0034】

被測定物９０が高圧電線等の吊り下げ部品９４である場合、測定者の感電を防ぐため、シャフト１８０の被測定物９０側の一端１８１と持ち手１９０とは完全に絶縁されていることが好ましい。また、同様の目的で、シャフト１８０は絶縁体であることが好ましい。

【0035】

また、本実施形態において、シャフト１８０の一端１８１とは反対側の他端１８２側には、コイル支持部１２２およびセンサ支持部１４２の、シャフト１８０に対する角度を操作する操作部１７０が設けられている。操作部１７０はたとえば、コイル支持部１２２およびセンサ支持部１４２のシャフト１８０に対する角度を変化させるモータの操作スイッチである。コイル支持部１２２およびセンサ支持部１４２とシャフト１８０との関係について以下に詳しく説明する。

【0036】

本図の例において、コイル支持部１２２とセンサ支持部１４２とは、連結部１３０で連結されている。連結部１３０は、一端にコイル支持部１２２、他端にセンサ支持部１４２が取り付けられた棒状、または一方向に長い板状の部材である。そして、連結部１３０の中央にはシャフト１８０の一端１８１が取り付けられている。コイル支持部１２２には、一端側に連結部１３０が、他端側にコイル１２０が取り付けられている。また、センサ支持部１４２には、一端側に連結部１３０が、他端側に磁気センサ１４０が取り付けられている。

【0037】

図３（ａ）および図３（ｂ）はそれぞれ、実施形態に係る検査装置１０の第１の状態と第２の状態を示す図である。図３（ａ）および図３（ｂ）は、検査装置１０の一端１８１付近を拡大して示している。図３（ａ）は第１の状態、図３（ｂ）は第２の状態を示しており、第１の状態と第２の状態とは操作部１７０に対する操作により切り替え可能である。具体的には第１の状態と第２の状態とでは、角度αが異なっている。角度αはシャフト１８０の長さ方向と、連結部１３０の長さ方向とのなす角である。または角度αは、シャフト１８０の長さ方向と、コイル１２０から磁気センサ１４０に向かう方向とのなす角である。連結部１３０はシャフト１８０に対し、第１回転軸１６１を基準に回転可能に取り付けられている。このことにより、角度αが可変であり、すなわちコイル支持部１２２およびセンサ支持部１４２のシャフト１８０に対する角度が可変である。また、コイル１２０の向きに注目すると、第１の状態と第２の状態とで、シャフト１８０の長さ方向とコイル１２０の軸とのなす角が互いに異なる。

【0038】

図４（ａ）および図４（ｂ）はそれぞれ、実施形態に係る検査装置１０の第３の状態と第４の状態を示す図である。図４（ａ）は、図３（ａ）の検査装置１０を左側から見た状態に相当する。図４（ａ）は第３の状態、図４（ｂ）は第４の状態を示しており、第３の状態と第４の状態とは操作部１７０での操作により切り替え可能である。具体的には第３の状態と第４の状態とでは、角度βが異なっている。角度βはシャフト１８０の長さ方向と、コイル支持部１２２およびセンサ支持部１４２の長さ方向とのなす角である。コイル支持部１２２およびセンサ支持部１４２は連結部１３０に対し、第２回転軸１６２を基準に回転可能に取り付けられている。このことにより、角度βが可変であり、すなわちコイル支持部１２２およびセンサ支持部１４２のシャフト１８０に対する角度が可変である。

【0039】

コイル支持部１２２およびセンサ支持部１４２のシャフト１８０に対する角度が可変であることにより、様々な状態の被測定物９０に対してコイル１２０および磁気センサ１４０をアプローチさせることができる。

【0040】

なお、以上に説明した角度αおよび角度βは、互いに独立に操作可能である。また、検査装置１０は、角度αと角度βのいずれか一方のみが可変であるように構成されていてもよい。

【0041】

図５（ａ）および図５（ｂ）は、測定中における吊り下げ部品９４および検査装置１０の状態の第１例を示す図である。図５（ａ）は正面図であり、図５（ｂ）は図５（ａ）の検査装置１０等を左側から見た状態に相当する。図５（ａ）および図５（ｂ）はシャフト１８０の一端１８１近傍を拡大して示しており、測定者はこれらの図中、下側で検査装置１０を操作している。吊り下げ部品９４の一端は碍子９６に取り付けられており、他端側には電線９２が吊り下げられている。詳しくは、吊り下げ部品９４の他端側には貫通孔が設けられており、この貫通孔に電線９２が通っている。測定者は、吊り下げ部品９４のうち碍子９６と電線９２との間の部分を測定する。図５（ａ）および図５（ｂ）の例において、吊り下げ部品９４は水平方向に延びている。測定者はシャフト１８０の他端１８２にある持ち手１９０を持って、コイル１２０および磁気センサ１４０を、碍子９６と電線９２との間に差し込み、コイル１２０および磁気センサ１４０が吊り下げ部品９４を挟むようにする。そうすれば、離れた位置にある吊り下げ部品９４の所望の部分を容易に測定できる。

【0042】

図６（ａ）および図６（ｂ）は、測定中における吊り下げ部品９４および検査装置１０の状態の第２例を示す図である。図６（ａ）は正面図であり、図６（ｂ）は図６（ａ）の検査装置１０等を左側から見た状態に相当する。図６（ａ）および図６（ｂ）はシャフト１８０の一端１８１近傍を拡大して示しており、測定者はこれらの図中、下側で検査装置１０を操作している。図６（ａ）および図６（ｂ）の例において、吊り下げ部品９４は鉛直方向に延びている。測定者は角度βを９０°にした状態で、コイル１２０および磁気センサ１４０を碍子９６と電線９２との間に差し込み、コイル１２０および磁気センサ１４０が吊り下げ部品９４を挟むようにする。そうすれば、離れた位置にある吊り下げ部品９４の所望の部分を容易に測定できる。

【0043】

図７は、検査装置１０の変形例を示す図である。本変形例において、シャフト１８０の一端１８１側には、カメラ１５０が配置されている。カメラ１５０は、コイル１２０、磁気センサ１４０およびその近傍を撮像する。たとえばシャフト１８０の他端１８２側にいる測定者は、カメラ１５０で撮影された画像（静止画または動画）をリアルタイムで見ることができる。検査装置１０がカメラ１５０を備えることにより、測定者は、直接目視することが困難な被測定物９０に対してもコイル１２０および磁気センサ１４０をアプローチさせることができる。

【0044】

図８は、本実施形態に係る検査方法を示すフローチャートである。本実施形態に係る検査方法は、磁場発生ステップＳ１０、検出ステップＳ２０および生成ステップＳ３０を含む。磁場発生ステップＳ１０では、少なくとも一つの周波数ｆ_ｍで変調された磁場をコイル１２０から発生させる。検出ステップＳ２０では、コイル１２０に対向して配置された磁気センサ１４０で、磁場を検出する。生成ステップＳ３０では、コイル１２０と磁気センサ１４０との間に配置された被測定物９０の劣化度合いを示す劣化情報を生成する。生成ステップＳ３０では具体的には、磁気センサ１４０の検出信号から周波数ｆ_ｍ成分を検波して検波信号を生成し、検波信号を用いて劣化情報を生成する。

【0045】

測定者は、ひとつの被測定物９０に対し、コイル１２０および磁気センサ１４０の配置を変えて複数の測定を行ってもよい。たとえば複数の測定の結果を平均化することにより、劣化具合をより正確に測定できる。

【0046】

本検査方法は、たとえば上述したような検査装置１０を用いて実現される。

【0047】

次に、本実施形態の作用および効果について説明する。本実施形態に係る検査装置１０によれば、被測定物９０の劣化具合を定量的に測定できる。

【0048】

たとえば被測定物９０が電線９２の吊り下げ部品９４である場合、定量的な検査を行った上で客観的基準に基づいた交換が可能となり、コストの削減につながる。

【0049】

（実施例）
図９は実施例に係る検査装置１０の構成を例示するブロック図である。本実施例に係る検査装置１０は、以下に説明する点を除いて実施形態に係る検査装置１０と同様である。本実施例に係る検査装置１０について以下に詳しく説明する。

【0050】

本実施例に係る検査装置１０は測定装置１００および端末４００を含む。測定装置１００では被測定物９０に対して測定が行われる。端末４００と測定装置１００とは無線通信を行う。検査装置１０のユーザーは、端末４００を操作することにより測定装置１００を用いた被測定物９０の検査を行える。また、検査装置１０のユーザーは、測定装置１００から端末４００に測定結果を取得することができる。さらに、ユーザーは、端末４００を用いて測定装置１００を操作してもよい。

【0051】

図１０は、実施例に係る測定装置１００の構成を例示する図である。また、図１１は、図１０のＡの部分を拡大した図である。図１０および図１１には、被測定物９０としての吊り下げ部品９４と、吊り下げ部品９４に接続された碍子９６とが合わせて描かれている。測定装置１００は、シャフト１８０、調整部、および測定部を含む。調整部は少なくとも角度調整機構および位置調整機構を含む。測定部は、少なくともコイル１２０および磁気センサ１４０を含み、磁場の生成および検出を行う。調整部および測定部は、シャフト１８０の一端に、ネジ３１３および固定具３１４によって固定されている。具体的には、第２角度調整部３１２のガイドに固定具３１４を通してはめ込み、固定すべき状態でネジ３１３を締めることにより、調整部および測定部は、シャフト１８０に固定されている。シャフト１８０の他端は実施形態で説明した持ち手１９０として機能する。

【0052】

図１０の例においてシャフト１８０は伸縮棒である。図１０および図１１の例において調整部は、位置調整部３０８、カメラ支持部３０９、カメラ１５０、第１角度調整部３１１、および第２角度調整部３１２を含む。本図の例において、測定部は回路３０３ａ、回路３０３ｂ、支持部３０２、回路３０５、および電池３０６を含む。さらに回路３０３ａはコイル１２０および磁気センサ１４０の少なくとも一方を含む。回路３０３ｂはコイル１２０および磁気センサ１４０の少なくとも一方を含む。くわえて、回路３０５には発振器および位相検波回路が含まれる。回路３０３ａ、回路３０３ｂ、回路３０５により、実施形態で説明したコイル駆動部２１０および生成部２２０が実現される。回路３０３ａと回路３０５とはケーブル３０４ａで電気的に接続されている。また、回路３０３ｂと回路３０５とはケーブル３０４ｂで電気的に接続されている。回路３０５と電池３０６とはケーブル３０７で電気的に接続されており、電池３０６からの電力が回路３０５、回路３０３ａ、および回路３０３ｂに供給される。回路３０３ａおよび回路３０３ｂの構成については詳しく後述する。

【0053】

支持部３０２は、回路３０３ａおよび回路３０３ｂを互いに対向した状態で支持し、被測定物９０に対してコイル１２０および磁気センサ１４０を固定するための部分である。支持部３０２は実施形態で説明したコイル支持部１２２、センサ支持部１４２、および連結部１３０を一体化したものに相当する。被測定物９０に対する支持部３０２の位置を調整することにより、回路３０３ａおよび回路３０３ｂの被測定物９０に対する位置を調整できる。したがって、コイル１２０および磁気センサ１４０を所望の位置に配置した状態で測定を行える。具体的には、被測定物９０が一方向を除いて支持部３０２で取り囲まれている状態で測定が行われる。

【0054】

図１０および図１１の例において、支持部３０２は位置調整部３０８に接続されており、位置調整部３０８を介して第１角度調整部３１１、および第２角度調整部３１２にさらに接続されている。位置調整部３０８は支持部３０２と第１角度調整部３１１との距離を調整可能とする。位置調整部３０８により、支持部３０２と第１角度調整部３１１とは任意の距離で固定される。また、第１角度調整部３１１および第２角度調整部３１２により、シャフト１８０に対する支持部３０２の角度が調整可能である。カメラ１５０はカメラ支持部３０９によって第１角度調整部３１１へ固定されており、測定装置１００のユーザーはカメラ１５０で撮影された画像を確認しながら被測定物９０に対して支持部３０２を適切に配置できる。カメラ１５０の位置も支持部３０２の位置と同時に、位置調整部３０８によって調整される。

【0055】

図１２は、実施例に係る測定装置１００の他の状態を例示する図である。また、図１３は、図１２のＢの部分を拡大した図である。図１２および図１３の例において、碍子９６はシャフト１８０に対して傾いている。すなわち、図１０および図１１の例において、吊り下げ部品９４の吊り下げ方向はシャフト１８０の長軸と平行であったのに対し、図１２および図１３の例において、吊り下げ部品９４の吊り下げ方向は、シャフト１８０の長軸に対して傾いている。本実施例に係る測定装置１００では、第１角度調整部３１１および第２角度調整部３１２を用いて第２角度調整部３１２の角度を調整することにより、このような傾いた被測定物９０に対しても容易に測定が行える。

【0056】

図１４は、第１角度調整部３１１および第２角度調整部３１２の構造を例示する斜視図である。図１５は、第１角度調整部３１１および第２角度調整部３１２の構造を例示する正面図である。第１角度調整部３１１および第２角度調整部３１２には互いにはめ合わせ可能な凹凸が設けられている。第１角度調整部３１１と第２角度調整部３１２とは、ネジ３１６およびナット３１７によって、所望の角度関係で固定される。

【0057】

本実施例において、回路３０５のカメラ１５０側の面にはカメラ１５０で撮影可能な表示部２４０が設けられている。回路３０５で生成された劣化情報は表示部２４０に表示され、表示部２４０の表示内容がカメラ１５０で撮影される。またカメラ１５０は表示部２４０と同時に被測定物９０を撮影できる。カメラ１５０で得られた画像は無線通信で端末４００に送られる。

【0058】

本実施例において、シャフト１８０は絶縁体であり、たとえば樹脂からなる。そして、シャフト１８０の一端と他端とは完全に絶縁されている。すなわちシャフト１８０の一端と他端との間には、配線や電気ケーブル等は設けられておらず、電気的な経路がない。測定装置１００における測定は、電池を電源として行われる。また、測定装置１００で得られた情報は無線通信で端末４００へ取り出すことができる。このような構成により、被測定物９０が高電圧や高電流の電線の吊り下げ部品９４である場合でも、測定者の感電を防ぐことができる。

【0059】

図１６は、実施例に係るコイル１２０および磁気センサ１４０の配置の一例を示す図である。実施例において、検査装置１０は複数のコイル１２０および複数の磁気センサ１４０を含む。そして、複数のコイル１２０は互いに異なる周波数で変調された磁場を発生させる。各コイル１２０には対を成す磁気センサ１４０が設けられる。すなわち、周波数ｆ_ｍｋ（ｋは正の整数）で変調された磁場を発生させるコイル１２０と対を成す磁気センサ１４０の検出信号からは、周波数ｆ_ｍｋ成分が検波されて検波信号が生成される。本実施例に係る検査装置１０には、このようなコイル１２０と磁気センサ１４０との対が複数含まれる。複数のコイル１２０および複数の磁気センサ１４０を用いることにより、コイル１２０と磁気センサ１４０の間の、より広い範囲の検査が可能となる。特に、対を成すコイル１２０と磁気センサ１４０とが対角に配置されることにより、被測定物９０を介した磁場の検出が効果的に行われる。

【0060】

本図の例において、複数のコイル１２０および複数の磁気センサ１４０は、第１の線３０１ａおよび第２の線３０１ｂ上に配置されている。第１の線３０１ａおよび第２の線３０１ｂは測定時に被測定物９０をはさむように配置される。本図の例において第１の線３０１ａおよび第２の線３０１ｂは直線である。また、第１の線３０１ａ上および第２の線３０１ｂ上のそれぞれには、コイル１２０と磁気センサ１４０とが交互に配置されている。そして、対を成すコイル１２０および磁気センサ１４０の一方は、第１の線３０１ａ上に位置し、他方は第２の線３０１ｂ上に位置する。より詳しくは、対を成すコイル１２０と磁気センサ１４０とは被測定物９０をはさんで対角に位置するように配置されている。

【0061】

図１７は、実施例に係るコイル１２０および磁気センサ１４０と支持部３０２との関係を例示する図である。支持部３０２に固定された回路３０３ａおよび回路３０３ｂのそれぞれには磁気センサ１４０とコイル１２０とが交互に配されている。すなわち図１６の例において、第１の線３０１ａ上に位置するコイル１２０および磁気センサ１４０が回路３０３ａに含まれ、第２の線３０１ｂ上に位置するコイル１２０および磁気センサ１４０が回路３０３ｂに含まれる。コイル１２０ａと磁気センサ１４０ｂとは対を成し、コイル１２０ｂと磁気センサ１４０ａとは対を成している。回路３０３ａおよび回路３０３ｂはそれぞれ、複数のコイル１２０、複数の磁気センサ１４０、コイル１２０を駆動するための回路、および磁気センサ１４０から磁場の検出信号を生成するための回路を含む。そして、周波数ｆ_ｍｋの交流電流が一つのコイル１２０に流され、そのコイル１２０の対角に位置する磁気センサ１４０の検出信号が周波数ｆ_ｍｋで検波される。複数のコイル１２０および複数の磁気センサ１４０による測定は、互いに異なる周波数ｆ_ｍ１～ｆ_ｍｎ（ｎは正の整数であり、ｋ≦ｎ）によって同時に行われる。生成部２２０は、複数の磁気センサ１４０により得られた複数の検波信号の信号値の平均を、劣化情報として生成する。

【0062】

図１８（ａ）および図１８（ｂ）は、実施例に係るコイル１２０および磁気センサ１４０の配置の第１の変形例を示す図である。本変形例に係る検査装置１０は、以下に説明する点を除いて図１６を参照して説明した検査装置１０と同じである。本変形例においても、複数のコイル１２０および複数の磁気センサ１４０は、第１の線３０１ａおよび第２の線３０１ｂ上に配置されている。ただし、本変形例では、複数のコイル１２０のすべてが、第１の線３０１ａ上に配置され、複数の磁気センサ１４０のすべてが第２の線３０１ｂ上に配置されている。

【0063】

本変形例において、対を成すコイル１２０と磁気センサ１４０との配置関係は特に限定されない。図１８（ａ）の例では対を成すコイル１２０と磁気センサ１４０とは対角に位置する。図１８（ｂ）の例では、対を成すコイル１２０と磁気センサ１４０とを結ぶ複数の線が平行となるように、複数のコイル１２０および複数の磁気センサ１４０が並んでいる。

【0064】

本変形例において、回路３０３ａは複数のコイル１２０、およびコイル１２０を駆動するための回路を含む。回路３０３ｂは複数の磁気センサ１４０、および磁気センサ１４０から磁場の検出信号を生成するための回路を含む。

【0065】

図１９（ａ）および図１９（ｂ）は、実施例に係るコイル１２０および磁気センサ１４０の配置の第２の変形例を示す図である。本変形例に係る検査装置１０は、以下に説明する点を除いて図１６を参照して説明した検査装置１０と同じである。本変形例においても、複数のコイル１２０および複数の磁気センサ１４０は、第１の線３０１ａおよび第２の線３０１ｂ上に配置されている。ただし、本変形例では、第１の線３０１ａおよび第２の線３０１ｂは曲線である。具体的には、第１の線３０１ａおよび第２の線３０１ｂは被測定物９０を取り囲む円の円周上に配置される。

【0066】

図１９（ａ）の例において、第１の線３０１ａ上および第２の線３０１ｂ上のぞれぞれには、コイル１２０と磁気センサ１４０とが交互に配置されている。そして、対を成すコイル１２０および磁気センサ１４０の一方は、第１の線３０１ａ上に位置し、他方は第２の線３０１ｂ上に位置する。より詳しくは、対を成すコイル１２０と磁気センサ１４０とは被測定物９０をはさんで対角に位置するように配置されている。本図の例において、回路３０３ａおよび回路３０３ｂはそれぞれ、複数のコイル１２０、複数の磁気センサ１４０、コイル１２０を駆動するための回路、および磁気センサ１４０から磁場の検出信号を生成するための回路を含む。

【0067】

図１９（ｂ）の例において、複数のコイル１２０のすべてが第１の線３０１ａ上に配置され、複数の磁気センサ１４０のすべてが第２の線３０１ｂ上に配置されている。図１９（ｂ）の例において、対を成すコイル１２０と磁気センサ１４０との配置関係は特に限定されない。すなわち、対を成すコイル１２０と磁気センサ１４０とは対角に位置していてもよいし、対を成すコイル１２０と磁気センサ１４０とを結ぶ複数の線が平行となるように、複数のコイル１２０および複数の磁気センサ１４０が並んでいてもよい。本図の例において、回路３０３ａは複数のコイル１２０、およびコイル１２０を駆動するための回路を含む。回路３０３ｂは複数の磁気センサ１４０、および磁気センサ１４０から磁場の検出信号を生成するための回路を含む。

【0068】

なお、図１６、および図１８（ａ）から図１９（ｂ）は、コイル１２０および磁気センサ１４０がそれぞれ７個である例、すなわちｎ＝７の例を示しているが、コイル１２０および磁気センサ１４０の数はこの例に限定されない。また、コイル１２０の数と磁気センサ１４０の数とは必ずしも同じである必要はない。変調および検波のための周波数ｆ_ｍに関して、一つのコイル１２０に対し二つ以上の磁気センサ１４０が対応していてもよいし、二つの以上のコイル１２０に対し一つの磁気センサ１４０が対応していてもよい。

【0069】

図２０は、端末４００を実現するための計算機１０００を例示する図である。計算機１０００は任意の計算機である。例えば計算機１０００は、SoC（System On Chip）、Personal Computer（PC）、サーバマシン、タブレット端末、又はスマートフォンなどである。計算機１０００は、端末４００を実現するために設計された専用の計算機であってもよいし、汎用の計算機であってもよい。

【0070】

計算機１０００は、バス１０２０、プロセッサ１０４０、メモリ１０６０、ストレージデバイス１０８０、入出力インタフェース１１００、及びネットワークインタフェース１１２０を有する。バス１０２０は、プロセッサ１０４０、メモリ１０６０、ストレージデバイス１０８０、入出力インタフェース１１００、及びネットワークインタフェース１１２０が、相互にデータを送受信するためのデータ伝送路である。ただし、プロセッサ１０４０などを互いに接続する方法は、バス接続に限定されない。プロセッサ１０４０は、CPU（Central Processing Unit）、GPU（Graphics Processing Unit）、又は FPGA（Field-Programmable Gate Array）などの種々のプロセッサである。メモリ１０６０は、RAM（Random Access Memory）などを用いて実現される主記憶装置である。ストレージデバイス１０８０は、ハードディスク、SSD（Solid State Drive）、メモリカード、又は ROM（Read Only Memory）などを用いて実現される補助記憶装置である。

【0071】

入出力インタフェース１１００は、計算機１０００と入出力デバイスとを接続するためのインタフェースである。例えば入出力インタフェース１１００には、キーボードなどの入力装置や、ディスプレイ装置などの出力装置が接続される。

【0072】

ネットワークインタフェース１１２０は、計算機１０００をネットワークに接続するためのインタフェースである。この通信網は、例えば LAN（Local Area Network）や WAN（Wide Area Network）である。ネットワークインタフェース１１２０がネットワークに接続する方法は、無線接続であってもよいし、有線接続であってもよい。ただし、端末４００は少なくとも測定装置１００とは無線接続されることが好ましい。

【0073】

ストレージデバイス１０８０は、端末４００の機能を実現するプログラムモジュールを記憶している。プロセッサ１０４０は、このプログラムモジュールをメモリ１０６０に読み出して実行することで、プログラムモジュールに対応する機能を実現する。記憶部２３０は、ストレージデバイス１０８０を用いて実現される。ただし、記憶部２３０はクラウド等、外部の記憶装置であってもよい。

【0074】

図２１は、実施例に係る検査装置１０の動作を例示するフローチャートである。図２２（ａ）から図２２（ｃ）は、実施例に係る端末４００の表示内容を例示する図である。図２２（ａ）から図２２（ｃ）の例において、端末４００はスマートフォンであり、ディスプレイと入力部を兼ねたタッチパネルを搭載している。

【0075】

ステップＳ１０１では、検査装置１０のユーザーがコイル１２０および磁気センサ１４０を被測定物９０に対して配置する。具体的には、第１角度調整部３１１および第２角度調整部３１２にて角度調整を行い、シャフト１８０を用いて被測定物９０に支持部３０２を装着する。このとき、測定装置１００は測定可能な状態、すなわち電源ＯＮの状態にしておく。

【0076】

ステップＳ２０１では、コイル１２０による磁場の発生および磁気センサ１４０による磁場の検出が行われる。具体的には、回路３０５の発振器からの変調信号は、回路３０３ａおよび回路３０３ｂの少なくとも一方を介してコイル１２０に入力される。そして、コイル１２０から発生する磁場が磁気センサ１４０で検出される。次いで、ステップＳ２０２において、磁気センサ１４０の出力信号が回路３０３ａおよび回路３０３ｂの少なくとも一方を介して回路３０５の位相検波回路に入力され、上記した通り周波数ｆ_ｍｋ（ｋ＝１～ｎ）の成分の振幅値の平均値が劣化情報として得られる。得られた劣化情報が表示部２４０に表示される。

【0077】

ステップＳ１０２においてユーザーは、測定装置１００から情報を取得するためのアプリケーションを端末４００で起動させる。すると、ステップＳ２０３において、端末４００に第１の表示内容４２０が表示される。第１の表示内容４２０は、測定に関する測定情報を表示する測定情報表示部４２５、カメラ１５０で撮影された画像を表示する画像表示部４２４、データの保存ボタン４２６、他の画面への遷移ボタン（第１の遷移ボタン４２２および第２の遷移ボタン４２８）が含まれる。測定情報にはたとえば、劣化情報、測定位置を示す情報、測定日時を示す情報が含まれる。

【0078】

ここでユーザーが新たな測定情報を得ようとする場合、ユーザーは第１の表示内容４２０のうち、第１の遷移ボタン４２２をタップする（ステップＳ１０３）。すると、端末４００に第２の表示内容４２１が表示される（ステップＳ２０４）。第２の表示内容４２１には、カメラ１５０で撮影されている画像がリアルタイムで映し出されている。また、第２の表示内容４２１は撮影ボタン４２３を含む。ここで、ユーザーが撮影ボタン４２３をタップすると（ステップＳ１０４）、ステップＳ２０５において、その時の測定情報が生成される。測定情報に含まれる劣化情報はたとえばカメラ１５０で得られた画像中の表示部２４０に表示された数値を画像認識することで得られる。測定位置を示す情報はカメラ１５０または端末４００に備えられたＧＰＳ（Global Positioning System）装置により得られる。測定日時を示す情報は、カメラ１５０または端末４００に備えられた時計により得られる。また、ステップＳ２０５では、端末４００の表示内容が第１の表示内容４２０に戻る。戻った第１の表示内容４２０の測定情報表示部４２５には生成された測定情報が表示され、画像表示部４２４には撮影ボタン４２３がタップされた時点の画像が表示される。なお、測定情報表示部４２５の表示内容は、文字でもよいし、図やグラフ等が含まれてもよい。

【0079】

なお、直接目視しにくい被測定物９０を検査する場合、ユーザーはカメラ１５０で撮影された画像を端末４００で見ながら被測定物９０に対するコイル１２０および磁気センサ１４０の配置を行ってもよい。すなわち、ユーザーは、ステップＳ１０１の前にアプリケーションを起動し、第１の表示内容４２０の第１の遷移ボタン４２２をタップして第２の表示内容４２１を端末４００に表示させてもよい。

【0080】

ステップＳ２０５に次ぐステップＳ２０６において、劣化情報が所定の条件を満たすか否かの判定が行われる。たとえば、劣化情報があらかじめ定められた基準値以下である場合（ステップＳ２０６のＮ）、端末４００の画面に警告が表示される（ステップＳ２０７）。一方、劣化情報があらかじめ定められた基準値を超える場合（ステップＳ２０６のＹ）、端末４００の画面に警告は表示されない。

【0081】

ユーザーは、第１の表示内容４２０に表示された情報を保存したい場合、第１の表示内容４２０の保存ボタン４２６をタップする（ステップＳ１０５）。すると、画像表示部４２４に表示されていた画像、および測定情報表示部４２５に表示されていた測定情報が記憶部２３０に保存される（ステップＳ２０８）。ユーザーは、撮影（すなわち測定情報の取得）および保存を必要に応じて繰り返し行うことができる。

【0082】

また、ユーザーは、保存された情報を確認したい場合、第１の表示内容４２０の第２の遷移ボタン４２８をタップする（ステップＳ１０６）。すると、端末４００に第３の表示内容４２７が表示される（ステップＳ２０９）。第３の表示内容４２７では、地図上に測定位置を示すピン４２９が表示されるとともに、各ピン４２９に対応する測定情報４３０が表示される。

【0083】

なお、検査装置１０の動作は本例に限定されず、ユーザーは必要なタイミングや順序で、測定、保存、確認等の操作を行うことができる。

【0084】

図２３（ａ）および図２３（ｂ）は、実施例に係る検査装置１０で被測定物９０とした吊り下げ部品９４の写真である。図２３（ｂ）の吊り下げ部品９４は図２３（ａ）の吊り下げ部品９４よりも腐食が進んでいる。また、図２３（ｃ）および図２３（ｄ）は、それぞれ図２３（ａ）および図２３（ｂ）の吊り下げ部品９４を被測定物９０とした場合に、実施例に係る検査装置１０のカメラ１５０で得られた画像である。

【0085】

図２３（ｃ）および図２３（ｄ）に示されている通り、腐食具合に応じた数値が表示部２４０に表示される。なお、腐食具合が大きいほど小さな数値が表示される。

【0086】

本実施例によれば、実施形態と同様の作用および効果が得られる。くわえて、端末４００をユーザーインタフェースとして、容易に測定を進めることができる。

【0087】

以上、図面を参照して本発明の実施形態および実施例について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。

【0088】

上記の実施形態および実施例の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうる。ただし、以下には限られない。
１－１． 少なくとも一つの周波数ｆ_ｍで変調された磁場を発生させるコイルと、
前記コイルに対向して配置され、磁場を検出する磁気センサと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置される被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成部とを備え、
前記生成部は、前記磁気センサの検出信号から周波数ｆ_ｍ成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成する検査装置。
１－２． １－１．に記載の検査装置において、
周波数ｆ_ｍは、１０Ｈｚ以上１００ｋＨｚ以下である検査装置。
１－３． １－１．または１－２．に記載の検査装置において、
前記被測定物は、強磁性体を含む検査装置。
１－４． １－３．に記載の検査装置において、
前記被測定物は鉄を含む検査装置。
１－５． １－１．から１－４．のいずれか一つに記載の検査装置において、
前記被測定物は、電線の吊り下げ部品である検査装置。
１－６． １－５．に記載の検査装置において、
周波数ｆ_ｍは、前記電線に流れる電流の周波数ｆ_ｗの４倍以上である検査装置。
１－７． １－１．から１－６．のいずれか一つに記載の検査装置において、
前記生成部は、複数の周波数ｆ_ｍに対する前記検波信号を平均化して、前記劣化情報を生成する検査装置。
１－８． １－７．に記載の検査装置において、
前記コイルを複数備え、
前記複数のコイルは互いに異なる周波数ｆ_ｍで変調された磁場を発生させる検査装置。
１－９． １－１．から１－８．のいずれか一つに記載の検査装置において、
前記生成部は、前記検波信号の大きさに基づいて前記被測定物の引張強度を導出する検査装置。
１－１０． １－１．から１－９．のいずれか一つに記載の検査装置において、
前記コイルと前記磁気センサとの距離は１ｃｍ以上１０ｃｍ以下である検査装置。
１－１１． １－１．から１－１０．のいずれか一つに記載の検査装置において、
シャフトと、
前記シャフトの一端側に取り付けられ、前記コイルを支持するコイル支持部と、
前記シャフトの前記一端側に取り付けられ、前記磁気センサを支持するセンサ支持部と、
をさらに備え、
前記コイル支持部および前記センサ支持部の前記シャフトに対する角度が可変である検査装置。
１－１２． １－１１．に記載の検査装置において、
前記シャフトの前記一端とは反対側の他端側には、前記角度を操作する操作部が設けられている検査装置。
１－１３． １－１１．または１－１２．に記載の検査装置において、
前記シャフトの前記一端側には、カメラが配置されている検査装置。
２－１． 少なくとも一つの周波数ｆ_ｍで変調された磁場をコイルから発生させる磁場発生ステップと、
前記コイルに対向して配置された磁気センサで、磁場を検出する検出ステップと、
前記コイルと前記磁気センサとの間に配置された被測定物の劣化度合いを示す劣化情報を生成する生成ステップとを含み、
前記生成ステップでは、前記磁気センサの検出信号から周波数ｆ_ｍ成分を検波して検波信号を生成し、前記検波信号を用いて前記劣化情報を生成する検査方法。
２－２． ２－１．に記載の検査方法において、
周波数ｆ_ｍは、１０Ｈｚ以上１００ｋＨｚ以下である検査方法。
２－３． ２－１．または２－２．に記載の検査方法において、
前記被測定物は、強磁性体を含む検査方法。
２－４． ２－３．に記載の検査方法において、
前記被測定物は鉄を含む検査方法。
２－５． ２－１．から２－４．のいずれか一つに記載の検査方法において、
前記被測定物は、電線の吊り下げ部品である検査方法。
２－６． ２－５．に記載の検査方法において、
周波数ｆ_ｍは、前記電線に流れる電流の周波数ｆ_ｗの４倍以上である検査方法。
２－７． ２－１．から２－６．のいずれか一つに記載の検査方法において、
前記生成ステップでは、複数の周波数ｆ_ｍに対する前記検波信号を平均化して、前記劣化情報を生成する検査方法。
２－８． ２－７．に記載の検査方法において、
前記磁場発生ステップでは、複数の前記コイルから互いに異なる周波数ｆ_ｍで変調された磁場を発生させる検査方法。
２－９． ２－１．から２－８．のいずれか一つに記載の検査方法において、
前記生成ステップでは、前記検波信号の大きさに基づいて前記被測定物の引張強度を導出する検査方法。
２－１０． ２－１．から２－９．のいずれか一つに記載の検査方法において、
前記コイルと前記磁気センサとの距離は１ｃｍ以上１０ｃｍ以下である検査方法。

【符号の説明】

【0089】

１０ 検査装置
９０ 被測定物
９２ 電線
９４ 吊り下げ部品
９６ 碍子
１００ 測定装置
１２０ コイル
１２２ コイル支持部
１３０ 連結部
１４０ 磁気センサ
１４２ センサ支持部
１５０ カメラ
１７０ 操作部
１８０ シャフト
１９０ 持ち手
２１０ コイル駆動部
２２０ 生成部
２３０ 記憶部
２４０ 表示部
３０２ 支持部
３０３ａ，３０３ｂ，３０５ 回路
３０４ａ，３０４ｂ，３０７ ケーブル
３０６ 電池
３０８ 位置調整部
３０９ カメラ支持部
３１１ 第１角度調整部
３１２ 第２角度調整部
３１４ 固定具
４００ 端末
４２０ 第１の表示内容
４２１ 第２の表示内容
４２２ 第１の遷移ボタン
４２３ 撮影ボタン
４２４ 画像表示部
４２５ 測定情報表示部
４２６ 保存ボタン
４２７ 第３の表示内容
４２８ 第２の遷移ボタン
４２９ ピン
４３０ 測定情報

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】

【図20】

【図21】

【図22】

【図23】