特許7313853IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

半導体メモリ

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

半導体メモリの動作特性を向上する。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

実施形態の半導体メモリは、第1のビット線と、第2のビット線と、ソース線と、前記第1のビット線と前記ソース線との間に電気的に接続され、第1のトランジスタと第1のキャパシタとを含む第1のメモリセルと、前記第2のビット線と前記ソース線との間に電気的に接続され、第2のトランジスタと第2のキャパシタとを含む第2のメモリセルと、前記ソース線に電気的に接続された第3のトランジスタと、前記第1のビット線及び・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 実施形態の半導体メモリの構成例を示すブロック図。
【図2】 実施形態の半導体メモリのメモリセルアレイの構成例を示す回路図。
【図3】 実施形態の半導体メモリのメモリセルアレイの構成例を示す断面図。
【図4】 実施形態の半導体メモリのメモリセルの構造の一例を示す図。
【図5】 メモリセルに保持される信号とデータとの関係を説明するための図。
【図6】 メモリセルに記憶されるデータの読み出しを説明するための図。
【図7】 実施形態の半導体メモリのセンスアンプ回路の構成例を示す模式図。
【図8】 実施形態の半導体メモリの書き込み動作の一例を示すタイミングチャート。
【図9】 実施形態の半導体メモリの読み出し動作の一例を示すタイミングチャート。
【図10】 実施形態の半導体メモリの読み出し動作の一例を説明するための模式図。

代表図 図1本件の代表的な図

800:半導体メモリ、801:メモリセルアレイ、804:センスアンプ回路、80:センスアンプ、MC:メモリセル、10:キャパシタ、20:セルトランジスタ。

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