特許 7316306 移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2023-07-19

(45)【発行日】2023-07-27

(54)【発明の名称】移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法

(51)【国際特許分類】

   H04W 24/06 20090101AFI20230720BHJP

   H04W 88/02 20090101ALI20230720BHJP

【ＦＩ】

H04W24/06

H04W88/02 150

【請求項の数】 5

(21)【出願番号】P 2021012007

(22)【出願日】2021-01-28

(65)【公開番号】P2022115423

(43)【公開日】2022-08-09

【審査請求日】2022-08-04

(73)【特許権者】

【識別番号】000000572

【氏名又は名称】アンリツ株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110001520

【氏名又は名称】弁理士法人日誠国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】狩野 大樹

(72)【発明者】

【氏名】中村 拓海

(72)【発明者】

【氏名】中川 大祐

(72)【発明者】

【氏名】竹内 将人

【審査官】三枝 保裕

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１４－０７２８３８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１７－１６８０１９（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｈ０４Ｂ ７／２４－ ７／２６

Ｈ０４Ｗ ４／００－９９／００

３ＧＰＰ ＴＳＧ ＲＡＮ ＷＧ１－４

ＳＡ ＷＧ１－４

ＣＴ ＷＧ１、４

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

移動端末（２）の基地局として機能する擬似基地局部（１０）と、
前記擬似基地局部を制御することにより前記移動端末を試験する試験制御部（１３）と、を備え、
前記試験制御部に実行させる試験に関する設定を操作部（１５）による操作によって行わせるための設定画面（２０）を表示部（１４）に表示させる移動端末試験装置であって、
前記試験制御部は、
前記試験制御部に実行させる試験の仕様を選択させるための第１操作画像（２１）と、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じた試験を実行するためのパラメータを設定させるためのパラメータ操作画像（２２ａ～２２ｅ）がパラメータの階層に基づいて並べられた第２操作画像（２２）と、を前記設定画面に表示させ、
前記パラメータ操作画像に対する操作によって１のパラメータが変更された場合には、該パラメータ操作画像よりもパラメータの階層が下位のパラメータ操作画像を、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様にしたがって更新し、
前記パラメータ操作画像が表す最上位の階層のパラメータは、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じて分類された試験のグループを表す移動端末試験装置。

【請求項2】

前記試験制御部は、試験条件を設定するための第３操作画像（２３）を前記第１操作画像及び前記第２操作画像とともに前記設定画面に表示させる詳細モードと、前記第３操作画像を前記設定画面に表示させずに前記第１操作画像及び前記第２操作画像を前記設定画面に表示させる簡略モードとの間で前記設定画面の表示モードを前記操作部による操作に応じて切り替えることを特徴とする請求項１に記載の移動端末試験装置。

【請求項3】

前記試験制御部は、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様と、前記第２操作画像に対する操作によって選択されたパラメータと、に対応する仕様上の試験項目の一覧を表す項目一覧画像（２８）を前記設定画面に表示させることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の移動端末試験装置。

【請求項4】

移動端末（２）の試験を行う移動端末試験装置（１）と、
前記移動端末試験装置を制御する試験制御装置（４）と、を備え、
前記移動端末試験装置は、
前記移動端末の基地局として機能する擬似基地局部（１０）を有し、
前記試験制御装置は、
前記擬似基地局部を制御する試験制御部（１３）と、
表示部（１４）と、
操作部（１５）と、を有し、
前記試験制御部に実行させる試験に関する設定を前記操作部による操作によって行わせるための設定画面（２０）を前記表示部に表示させる移動端末試験システムであって、
前記試験制御部は、
前記試験制御部に実行させる試験のパラメータを前記操作部による操作によって設定させるための設定画面（２０）を前記表示部に表示させ、
前記試験制御部に実行させる試験の仕様を選択させるための第１操作画像（２１）と、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じた試験を実行するためのパラメータを設定させるためのパラメータ操作画像（２２ａ～２２ｅ）がパラメータの階層に基づいて並べられた第２操作画像（２２）と、を前記設定画面に表示させ、
前記パラメータ操作画像に対する操作によって１のパラメータが変更された場合には、該パラメータ操作画像よりもパラメータの階層が下位のパラメータ操作画像を、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様にしたがって更新し、
前記パラメータ操作画像が表す最上位の階層のパラメータは、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じて分類された試験のグループを表す移動端末試験システム。

【請求項5】

移動端末（２）の基地局として機能する擬似基地局部（１０）と、
前記擬似基地局部を制御することにより前記移動端末を試験する試験制御部（１３）と、を備え、
前記試験制御部に実行させる試験に関する設定を操作部（１５）による操作によって行わせるための設定画面（２０）を表示部（１４）に表示させる移動端末試験装置（１）の制御方法であって、
前記試験制御部に実行させる試験の仕様を選択させるための第１操作画像（２１）と、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じた試験を実行するためのパラメータを設定させるためのパラメータ操作画像（２２ａ～２２ｅ）がパラメータの階層に基づいて並べられた第２操作画像（２２）と、を前記設定画面に表示させるステップと、
前記パラメータ操作画像に対する操作によって１のパラメータが変更された場合には、該パラメータ操作画像よりもパラメータの階層が下位のパラメータ操作画像を、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様にしたがって更新するステップと、を前記試験制御部に実行させ、
前記パラメータ操作画像が表す最上位の階層のパラメータは、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じて分類された試験のグループを表す移動端末試験装置の制御方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法に関する。

【0002】

従来、特許文献１に提案された技術のように、設定項目や設定項目ごとに定める試験の値を設定するための１つ以上のウィンドウが表示される設定項目設定エリアと、試験結果を表示する試験結果表示エリアとを表示装置に表示させる技術が提案されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特開２０１４－７２８３８号公報（第００３３段落、図２）

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

しかしながら、このような従来の技術は、設定項目の数や設定項目ごとに定めるパラメータを試験の仕様に応じて設定させる必要があるため、パラメータの設定がユーザの負担となることがあるといった課題があった。

【0005】

本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、試験の仕様に応じたパラメータの設定にかかるユーザの負担を軽減することができる移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本発明の移動端末試験装置は、移動端末（２）の基地局として機能する擬似基地局部（１０）と、前記擬似基地局部を制御することにより前記移動端末を試験する試験制御部（１３）と、を備え、前記試験制御部に実行させる試験に関する設定を操作部（１５）による操作によって行わせるための設定画面（２０）を表示部（１４）に表示させる移動端末試験装置であって、前記試験制御部は、前記試験制御部に実行させる試験の仕様を選択させるための第１操作画像（２１）と、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じた試験を実行するためのパラメータを設定させるためのパラメータ操作画像（２２ａ～２２ｅ）がパラメータの階層に基づいて並べられた第２操作画像（２２）と、を前記設定画面に表示させ、前記パラメータ操作画像に対する操作によって１のパラメータが変更された場合には、該パラメータ操作画像よりもパラメータの階層が下位のパラメータ操作画像を、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様にしたがって更新し、前記パラメータ操作画像が表す最上位の階層のパラメータは、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じて分類された試験のグループを表す構成を有している。

【0007】

この構成により、本発明の移動端末試験装置は、第１操作画像に対する操作によって移動端末の試験の仕様を選択した後に、第２操作画像に並べられた順序でパラメータ操作画像を操作することによって試験の仕様に応じたパラメータを設定することができるため、試験の仕様に応じたパラメータの設定にかかるユーザの負担を軽減することができる。

【0008】

なお、本発明の移動端末試験装置において、前記試験制御部は、試験条件を設定するための第３操作画像（２３）を前記第１操作画像及び前記第２操作画像とともに前記設定画面に表示させる詳細モードと、前記第３操作画像を前記設定画面に表示させずに前記第１操作画像及び前記第２操作画像を前記設定画面に表示させる簡略モードとの間で前記設定画面の表示モードを前記操作部による操作に応じて切り替える構成としてもよい。

【0009】

この構成により、本発明の移動端末試験装置は、第１操作画像に対する操作によって移動端末の試験の仕様を選択した後に、詳細モードで、第３操作画像に対する操作によって試験条件を設定した状態で、詳細モード及び簡略モードのいずれかの表示モードで、第２操作画像に並べられた順序でパラメータ操作画像を操作することによって試験の仕様に応じたパラメータを設定することができるため、試験の仕様及び試験条件に応じたパラメータの設定にかかるユーザの負担を軽減することができる。

【0010】

また、本発明の移動端末試験装置において、前記試験制御部は、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様と、前記第２操作画像に対する操作によって選択されたパラメータと、に対応する仕様上の試験項目の一覧を表す項目一覧画像（２８）を前記設定画面に表示させる構成としてもよい。

【0011】

この構成により、本発明の移動端末試験装置は、第１操作画像及び第２操作画像に対する操作によって決定される仕様上の試験項目の一覧を表す項目一覧画像を設定画面に表示させるため、冊子や記憶媒体に記録されている仕様上の試験項目を確認させることなく、試験の内容を確認させることができる。

【0012】

本発明の移動端末試験システムは、移動端末（２）の試験を行う移動端末試験装置（１）と、前記移動端末試験装置を制御する試験制御装置（４）と、を備え、前記移動端末試験装置は、前記移動端末の基地局として機能する擬似基地局部（１０）を有し、前記試験制御装置は、前記擬似基地局部を制御する試験制御部（１３）と、表示部（１４）と、操作部（１５）と、を有し、前記試験制御部に実行させる試験に関する設定を前記操作部による操作によって行わせるための設定画面（２０）を前記表示部に表示させる移動端末試験システムであって、前記試験制御部は、前記試験制御部に実行させる試験のパラメータを前記操作部による操作によって設定させるための設定画面（２０）を前記表示部に表示させ、前記試験制御部に実行させる試験の仕様を選択させるための第１操作画像（２１）と、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じた試験を実行するためのパラメータを設定させるためのパラメータ操作画像（２２ａ～２２ｅ）がパラメータの階層に基づいて並べられた第２操作画像（２２）と、を前記設定画面に表示させ、前記パラメータ操作画像に対する操作によって１のパラメータが変更された場合には、該パラメータ操作画像よりもパラメータの階層が下位のパラメータ操作画像を、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様にしたがって更新し、前記パラメータ操作画像が表す最上位の階層のパラメータは、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じて分類された試験のグループを表す構成を有している。

【0013】

この構成により、本発明の移動端末試験システムは、第１操作画像に対する操作によって移動端末の試験の仕様を選択した後に、第２操作画像に並べられた順序でパラメータ操作画像を操作することによって試験の仕様に応じたパラメータを設定することができるため、試験の仕様に応じたパラメータの設定にかかるユーザの負担を軽減することができる。

【0014】

本発明の移動端末試験装置の制御方法は、移動端末（２）の基地局として機能する擬似基地局部（１０）と、前記擬似基地局部を制御することにより前記移動端末を試験する試験制御部（１３）と、を備え、前記試験制御部に実行させる試験に関する設定を操作部（１５）による操作によって行わせるための設定画面（２０）を表示部（１４）に表示させる移動端末試験装置（１）の制御方法であって、前記試験制御部に実行させる試験の仕様を選択させるための第１操作画像（２１）と、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じた試験を実行するためのパラメータを設定させるためのパラメータ操作画像（２２ａ～２２ｅ）がパラメータの階層に基づいて並べられた第２操作画像（２２）と、を前記設定画面に表示させるステップと、前記パラメータ操作画像に対する操作によって１のパラメータが変更された場合には、該パラメータ操作画像よりもパラメータの階層が下位のパラメータ操作画像を、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様にしたがって更新するステップと、を前記試験制御部に実行させ、前記パラメータ操作画像が表す最上位の階層のパラメータは、前記第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じて分類された試験のグループを表す。

【0015】

このように、本発明の移動端末試験装置の制御方法は、第１操作画像に対する操作によって移動端末の試験の仕様を選択した後に、第２操作画像に並べられた順序でパラメータ操作画像を操作することによって試験の仕様に応じたパラメータを設定することができるため、試験の仕様に応じたパラメータの設定にかかるユーザの負担を軽減することができる。

【発明の効果】

【0016】

本発明は、試験の仕様に応じたパラメータの設定にかかるユーザの負担を軽減することができる移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【0017】

【図1】図１は、本発明の実施形態に係る移動端末試験装置のブロック図である。

【図2】図２は、本発明の実施形態に係る移動端末試験装置によって表示装置に表示される簡略モードの表示画面の表示例を示す概要図である。

【図3】図３は、本発明の実施形態に係る移動端末試験装置によって表示装置に表示される簡略モードの表示画面上に選択項目の候補が表示されている状態の表示例を示す概要図である。

【図4】図４は、本発明の実施形態に係る移動端末試験装置によって表示装置に表示される詳細モードの表示画面の表示例を示す概要図である。

【図5】図５は、本発明の実施形態の変形例に係る移動端末試験システムのブロック図である。

【発明を実施するための形態】

【0018】

以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係る移動端末試験システムについて詳細に説明する。なお、本発明の実施形態においては、５Ｇ（5th Generation）無線方式である５Ｇ ＮＲ（New Radio）の標準仕様に準拠した移動端末の試験を行う移動端末試験装置に本発明に係る移動端末試験装置を適用した例について説明する。

【0019】

５Ｇ ＮＲの標準仕様では、キャリアアグリゲーション（Carrier Aggregation）技術が導入されている。このキャリアアグリゲーションは、複数のキャリアを同時に用いて通信を行なうことで、伝送速度の向上を図る技術である。

【0020】

キャリアアグリゲーションにおいては、コンポーネントキャリア（以下、「ＣＣ」ともいう）と呼ばれるキャリアを複数用いて通信を行なう。キャリアアグリゲーションでは、移動端末が基地局との接続を維持するために必要なＣＣである１つのプライマリコンポーネントキャリア（以下、「ＰＣＣ」ともいう）と、移動端末と基地局との伝送速度を向上させるために使用されるＣＣである１つ以上のセカンダリコンポーネントキャリア（以下、「ＳＣＣ」ともいう）とにより通信が行なわれる。

【0021】

また、本発明の実施形態における移動端末試験装置は、送信側と受信側との双方で複数のアンテナを使用した通信を行うＭＩＭＯ(Multiple-Input and Multiple-Output)に対応している。すなわち、本発明の実施形態における移動端末試験装置は、各ＣＣを複数のアンテナから送信する状態を再現することができる。

【0022】

図１に示すように、移動端末試験装置１は、アンテナ３を介して無線で移動端末２と信号を送受信する。また、移動端末試験装置１は、同軸ケーブル等を介して有線で移動端末２と信号を送受信することもできる。

【0023】

移動端末試験装置１は、移動端末の基地局として機能する擬似基地局部１０と、擬似基地局部１０を制御するためのパラメータを含む試験情報が記憶される試験情報記憶部１１と、移動端末の試験の仕様に応じて定義されたシナリオを含む情報が記憶されたシナリオ記憶部１２と、擬似基地局部１０を制御する試験制御部１３と、表示部１４と、操作部１５と、を含んで構成される。

【0024】

移動端末試験装置１は、移動端末２と通信を行うための通信回路が設けられた図示しないコンピュータ装置によって構成される。このコンピュータ装置は、それぞれ図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）と、ＲＯＭ（Read Only Memory）と、ＲＡＭ（Random Access Memory）と、ハードディスク装置と、表示装置と、入力装置とを有する。

【0025】

このコンピュータ装置のＲＯＭ及びハードディスク装置には、コンピュータ装置を移動端末試験装置１として機能させるためのプログラムが格納されている。すなわち、ＣＰＵがＲＡＭを作業領域としてＲＯＭに格納されたプログラムを実行することにより、当該コンピュータ装置は、移動端末試験装置１として機能する。

【0026】

擬似基地局部１０は、ＣＰＵ及び通信回路によって構成される。試験情報記憶部１１は、ハードディスク装置によって構成される。試験制御部１３は、ＣＰＵによって構成される。シナリオ記憶部１２は、ＲＯＭ又はハードディスク装置によって構成される。

【0027】

表示部１４は、液晶表示装置などの表示装置によって構成される。操作部１５は、キーボード装置やポインティングデバイスなどの入力装置によって構成される。例えば、操作部１５は、表示部１４を構成する液晶表示装置と一体に設けられたタッチパッドによって構成してもよい。

【0028】

移動端末試験装置１は、「3GPP TS 38.521-1(FR1 SA)」、「3GPP TS 38.521-3(FR1 NSA)」及び「3GPP TS 38.521-3(FR2 NSA)」などの３ＧＰＰ（3rd Generation Partnership Project）の技術仕様書（ＴＳ）３８シリーズにおける複数の仕様に対応する試験を実行することができる。各仕様に応じたシナリオは、シナリオ記憶部１２に記憶されている。各仕様における各試験のパラメータは、試験情報記憶部１１に記憶されている。

【0029】

試験制御部１３は、移動端末２の試験の開始が操作部１５によって指示されると、第１操作画像２１が表す試験の仕様に応じてシナリオ記憶部１２に記憶されたシナリオと、試験情報記憶部１１に記憶されたパラメータとに基づいて擬似基地局部１０を制御する。

【0030】

図２に示すように、試験制御部１３は、試験情報記憶部１１に記憶された試験に関するパラメータを操作部１５による操作によって更新させるための設定画面２０を表示部１４に表示させる。

【0031】

例えば、試験制御部１３は、移動端末試験装置１の起動が完了したこと、又は、操作部１５による操作によって設定画面２０の表示が要求されたことに基づいて、設定画面２０を表示部１４に表示させる。

【0032】

設定画面２０には、詳細モードと簡略モードとの間で表示モードを切り替えるためのモード切替ボタン２４が表示される。モード切替ボタン２４は、トグル表示形式のボタンとして機能する。

【0033】

モード切替ボタン２４は、詳細モードのときに操作部１５によって操作されると簡略モードに表示モードを切り替え、簡略モードのときに操作部１５によって操作されると詳細モードに表示モードを切り替える。図２には、簡略モードの設定画面２０の表示例が示されている。詳細モードの設定画面２０の表示例については、図４を参照しながら後述する。

【0034】

設定画面２０には、試験制御部１３に実行させる試験の仕様を選択させるための第１操作画像２１と、第１操作画像に対する操作によって選択された仕様に応じた試験を実行するためのパラメータを設定させるためのパラメータ操作画像２２ａ～２２ｅがパラメータの階層に基づいて並べられた第２操作画像２２とが表示される。

【0035】

図２に示す例において、第１操作画像２１には、項目名として「Test Specification」が表示され、設定値として「521-1(FR1 SA)」が表示されている。本実施形態において、「Test Specification」の設定値は、仕様を表す。したがって、図２における第１操作画像２１は、試験の仕様として「3GPP TS 38.521-1(FR1 SA)」が選択されていることを表す。

【0036】

図３に示すように、操作部１５による操作によって第１操作画像２１が押下されると、第１操作画像２１の位置に基づく位置（例えば、第１操作画像２１の下方）にプルダウンメニューが表示される。

【0037】

このプルダウンメニューには、「3GPP TS 38.521-1(FR1 SA)」の他に、「3GPP TS 38.521-3(FR1 NSA)」及び「3GPP TS 38.521-3(FR2 NSA)」を表す選択項目が表示され、操作部１５による操作によって選択項目が選択されることによって、試験の仕様が選択される。

【0038】

なお、本実施形態において、設定値を選択させるユーザインタフェースとしてプルダウンメニューを用いた例を説明するが、設定値を選択させるユーザインタフェースとして、設定値の候補から設定値を選択させる画面や設定値を直接に入力させる画面を設定画面２０に重畳して表示させるなど、選択させる設定値の種別に応じた態様のユーザインタフェースを採用することが好ましい。

【0039】

図２において、試験の仕様が選択されると、第２操作画像２２に含まれるパラメータ操作画像２２ａ～２２ｅの表示数、表示項目及び設定値が必要に応じて更新される。パラメータ操作画像２２ａには、項目名として「Test Group」が表示され、設定値として「TX-Fundamental」が表示されている。

【0040】

「Test Group」の設定値は、第１操作画像２１で選択されている仕様に応じて分類された試験のグループ（以下、「試験グループ」ともいう）を表す。「Test Group」は、第１階層（最上位）のパラメータである。

【0041】

操作部１５による操作によってパラメータ操作画像２２ａが押下されると、パラメータ操作画像２２ａの位置に基づく位置（例えば、パラメータ操作画像２２ａの下方）にプルダウンメニューが表示される。

【0042】

このプルダウンメニューには、例えば、「TX-Fundamental」の他に、「TX-Time Mask」、「TX-Power Control」及び「RX」などの選択項目が表示され、操作部１５による操作によって選択項目が選択されることによって、試験グループが選択される。

【0043】

試験グループが選択されると、パラメータ操作画像２２ｂ～２２ｅの表示数、表示項目及び設定値が必要に応じて更新される。パラメータ操作画像２２ｂには、項目名として「Test Item」が表示され、設定値として「Modulation-PUSCH」が表示されている。

【0044】

「Test Item」の設定値は、第１操作画像２１で選択されている仕様において、パラメータ操作画像２２ａで選択されている試験グループに属する試験項目を表す。「Test Item」は、第２階層のパラメータである。

【0045】

操作部１５による操作によってパラメータ操作画像２２ｂが押下されると、パラメータ操作画像２２ｂの位置に基づく位置（例えば、パラメータ操作画像２２ｂの下方）にプルダウンメニューが表示される。

【0046】

このプルダウンメニューには、「Modulation-PUSCH」の他に、「Max. Power」、「Configured Power」、「Min. Power」、「Modulation-PUCCH」及び「Modulation-PRACH」などの選択項目が表示され、操作部１５による操作によって選択項目が選択されることによって、試験項目が選択される。

【0047】

試験項目が選択されると、パラメータ操作画像２２ｃ～２２ｅの表示数、表示項目及び設定値が必要に応じて更新される。試験項目によっては、パラメータ操作画像の表示数が０の場合もある。

【0048】

各パラメータ操作画像２２ｃ～２２ｅの各設定値は、試験項目ごとに試験情報記憶部１１に記憶されたパラメータの値を初期値とし、操作部１５による操作によって変更された場合には、変更後の値に試験項目ごとに維持される。

【0049】

パラメータ操作画像２２ｃには、項目名として「UL RMC Modulation」が表示され、設定値として「DFT-s-OFDM QPSK」が表示されている。「UL RMC Modulation」の設定値は、アップリンクの基準測定チャネルの変調方式を表す。「UL RMC Modulation」は、第３階層のパラメータである。

【0050】

操作部１５による操作によってパラメータ操作画像２２ｃが押下されると、パラメータ操作画像２２ｃの位置に基づく位置（例えば、パラメータ操作画像２２ｃの下方）にプルダウンメニューが表示される。

【0051】

このプルダウンメニューには、「DFT-s-OFDM QPSK」の他に、第１操作画像２１で選択されている仕様と、パラメータ操作画像２２ｂで選択されている試験項目とに応じた変調方式の候補を表す選択項目が表示され、操作部１５による操作によって選択項目が選択されることによって、アップリンクの基準測定チャネルの変調方式が選択される。

【0052】

パラメータ操作画像２２ｄには、項目名として「UL RB Allocation」が表示され、設定値として「Inner_1RB_Right」が表示されている。「UL RB Allocation」の設定値は、リソースブロック数とリソースブロックの割り当て位置との組み合せを表す。「UL RB Allocation」は、第３階層のパラメータである。

【0053】

操作部１５による操作によってパラメータ操作画像２２ｄが押下されると、パラメータ操作画像２２ｄの位置に基づく位置（例えば、パラメータ操作画像２２ｄの下方）にプルダウンメニューが表示される。

【0054】

このプルダウンメニューには、「Inner_1RB_Right」の他に、第１操作画像２１で選択されている仕様と、パラメータ操作画像２２ｂで選択されている試験項目とに応じたリソースブロック数とリソースブロックの割り当て位置との組み合せの候補を表す選択項目が表示され、操作部１５による操作によって選択項目が選択されることによって、リソースブロック数とリソースブロックの割り当て位置との組み合せが選択される。

【0055】

パラメータ操作画像２２ｅには、項目名として「Test Power」が表示され、設定値として「10 dBm」が表示されている。「Test Power」の設定値は、試験用信号の送信レベルを表す。「Test Power」は、第３階層のパラメータである。

【0056】

操作部１５による操作によってパラメータ操作画像２２ｅが押下されると、パラメータ操作画像２２ｅの位置に基づく位置（例えば、パラメータ操作画像２２ｅの下方）にプルダウンメニューが表示される。

【0057】

このプルダウンメニューには、「10 dBm」の他に、第１操作画像２１で選択されている仕様と、パラメータ操作画像２２ｂで選択されている試験項目とに応じた送信レベルの候補を表す選択項目が表示され、操作部１５による操作によって選択項目が選択されることによって、送信レベルが選択される。

【0058】

第３階層のパラメータとしては、「UL RMC Modulation」、「UL RB Allocation」及び「Test Power」の他に、「UL RB Index」、「DL RMC Modulation」、「Test Point」、「Power Pattern」及び「Test Type」などがある。これらのパラメータに対応するパラメータ操作画像についての説明は省略する。

【0059】

第３階層の１のパラメータが変更された場合、第３階層の他のパラメータの数が変わったり、第３階層の他のパラメータの設定値が規定範囲外になったりするといったように、第３階層の他のパラメータに影響することがある。

【0060】

他の第３階層のパラメータに影響する第３階層のパラメータを上位の第３階層のパラメータとし、上位の第３階層のパラメータによって影響を受ける第３階層のパラメータを下位の第３階層のパラメータとする。

【0061】

この場合、第２操作画像２２においては、上位の第３階層のパラメータに相当するパラメータ操作画像に対して、下位の第３階層のパラメータに相当するパラメータ操作画像が下方に表示される。

【0062】

したがって、第１操作画像２１に対する操作によって試験の仕様を選択した後に、第２操作画像２２に含まれるパラメータ操作画像を上から順に操作していくことによって試験の仕様に応じたパラメータが選択される。

【0063】

以上のように選択された各種パラメータは、設定画面２０に表示される適用ボタン２５が操作部によって操作されることで、試験情報記憶部１１に反映される。この結果として、試験情報記憶部１１に記憶されたパラメータが更新される。適用ボタン２５は、プッシュ形式のボタンとして機能する。

【0064】

図４には、詳細モードの設定画面２０の表示例が示されている。詳細モードの設定画面２０には、第１操作画像２１及び第２操作画像２２に加えて、試験条件を設定するための第３操作画像２３と、試験項目の一覧を表す項目一覧画像２８とが表示される。

【0065】

なお、図４において、パラメータ操作画像２２ｂの設定値として「Max. Power」が表示されている。「Max. Power」に対する第３階層のパラメータの数は、「UL RMC Modulation」及び「UL RB Allocation」の２つであるため、図２において表示されていたパラメータ操作画像２２ｅは、第２操作画像２２に含まれない。

【0066】

第３操作画像２３に表示される試験条件を表す各設定値は、パラメータ操作画像２２ｃ～２２ｅの設定値と同様に、試験情報記憶部１１に記憶されている。第３操作画像２３に表示される試験条件を表す各設定値は、試験情報記憶部１１に記憶された値を初期値とし、操作部１５による操作によって変更された場合には、変更後の値に維持される。

【0067】

第３操作画像２３には、ＤＬＳＣＣ操作画像２３ａと、ＵＬＳＣＣ操作画像２３ｂと、ＵＬアンテナ操作画像２３ｃと、パワークラス操作画像２３ｄと、リスト画像２３ｅが表示される。

【0068】

ＤＬＳＣＣ操作画像２３ａには、項目名として「Number of DL SCC」が表示され、設定値として「1」が表示されている。ＤＬＳＣＣ操作画像２３ａの設定値は、ダウンリンクのＳＣＣの数を表す。

【0069】

ＵＬＳＣＣ操作画像２３ｂには、項目名として「Number of UL SCC」が表示され、設定値として「1」が表示されている。ＵＬＳＣＣ操作画像２３ｂの設定値は、アップリンクのＳＣＣの数を表す。

【0070】

ＵＬアンテナ操作画像２３ｃには、項目名として「UL Antenna Configuration」が表示され、設定値として「Single Antenna」が表示されている。ＵＬアンテナ操作画像２３ｃの設定値は、アップリンクに使用するアンテナ３の状態を表す。「UL Antenna Configuration」に対する選択項目としては、「Single Antenna」の他に、ＭＩＭＯに対応するための「Multiple Antenna」がある。

【0071】

パワークラス操作画像２３ｄには、項目名として「UE Power Class」が表示され、設定値として「3」が表示されている。パワークラス操作画像２３ｄの設定値は、第１操作画像２１で選択されている仕様において規定された移動端末２の最大送信電力のクラスを表す。

【0072】

各操作画像２３ａ～２３ｄは、操作部１５による操作によって押下されると、各操作画像２３ａ～２３ｄの位置に基づく位置（例えば、各操作画像２３ａ～２３ｄの下方）に表示されるプルダウンメニューが表示されることにより、各設定値の選択が可能になる。

【0073】

リスト画像２３ｅには、ＰＣＣと、ＵＬＳＣＣ操作画像２３ｂで選択された数のＳＣＣとのそれぞれに対して、「Duplex mode」、「DL Subcarrier Spacing (data)」、「UL Subcarrier Spacing (data)」、「DL Channel Bandwidth」、「UL Offset To Carrier」などの各設定値を設定させるための操作画像が配置される。

【0074】

図４においては、ＵＬＳＣＣ操作画像２３ｂで選択された数が１であるため、リスト画像２３ｅには、ＳＣＣ１に対する操作画像が配置される。例えば、ＵＬＳＣＣ操作画像２３ｂで選択された数が２であれば、リスト画像２３ｅには、ＳＣＣ１及びＳＣＣ２に対する操作画像が配置される。

【0075】

「Duplex mode」の行に配置された各操作画像は、各ＣＣにおける多重化方式を表す。「DL Subcarrier Spacing (data)」の行に配置された各操作画像は、各ＣＣにおけるダウンリンクのサブキャリア幅を表す。

【0076】

「UL Subcarrier Spacing (data)」の行に配置された各操作画像は、各ＣＣにおけるアップリンクのサブキャリア幅を表す。「DL Channel Bandwidth」の行に配置された各操作画像は、各ＣＣにおけるダウンリンクのチャネルバンド幅を表す。「UL Offset To Carrier」の行に配置された各操作画像は、各ＣＣにおけるアップリンクのキャリアのオフセット周波数を表す。

【0077】

リスト画像２３ｅには、「Duplex mode」、「DL Subcarrier Spacing (data)」、「UL Subcarrier Spacing (data)」、「DL Channel Bandwidth」、「UL Offset To Carrier」に加えて、その他の各種設定値を設定させるための各操作画像が各ＣＣに対応付けられて配置されているが、その他の各種設定値についての説明は省略する。

【0078】

図４に示すリスト画像２３ｅにおいては、各ＣＣに対して配置される全ての操作画像を表示するには表示領域が不足しているため、リスト画像２３ｅにスクロールバー２３ｆが表示される。スクロールバー２３ｆに対する操作によって、その他の各種設定値を設定させるための操作画像を表示させることもできるようになる。

【0079】

リスト画像２３ｅに表示される操作画像は、例えば、図中、ＳＣＣ１に対する「DL Subcarrier Spacing (data)」並びにＰＣＣ及びＳＣＣ１に対する「UL Subcarrier Spacing (data)」のように、変更することができない設定値を表すものもある。

【0080】

変更することができない設定値に対する操作画像は、操作部１５による操作によって押下されたとしても、プルダウンメニューの表示が禁止される、すなわち、プルダウンメニューが表示されないことにより、設定値を変更することができない。

【0081】

リスト画像２３ｅにおいて、変更することができない設定値は、変更することができる設定値と異なる表示態様（背景、文字色、文字の太さ、又は、これらの組合せ）で表示されることによって、変更することができる設定値と識別させるように表示される。

【0082】

以上のように第３操作画像２３において選択された試験条件を表す各種設定値は、設定画面２０に表示される適用ボタン２５が操作部によって操作されることで、試験情報記憶部１１に反映される。この結果として、試験情報記憶部１１に記憶された試験条件を表す各種設定値が更新される。

【0083】

このように、第１操作画像２１に対する操作によって試験の仕様を選択した後に、第３操作画像２３に含まれる操作画像２３ａ～２３ｄとリスト画像２３ｅに表示される操作画像に対する操作によって試験条件を設定した状態で、第２操作画像２２に含まれるパラメータ操作画像を上から順に操作していくことによって試験の仕様及び試験条件に応じたパラメータが設定される。

【0084】

項目一覧画像２８は、第１操作画像２１で選択されている仕様と、パラメータ操作画像２２ｂで選択されている試験項目とに対応する仕様上の試験項目の一覧を表す。仕様上の試験項目の一覧は、第１操作画像２１で選択されている仕様が規定された仕様書におけるセクション番号と、タイトルと、テストＩＤとによって表される。テストＩＤは、仕様書にて定められているパラメータの組み合わせに対応する識別情報であって、パラメータ操作画像２２ｃ～２２ｅの設定値によって変化する場合がある。

【0085】

なお、本実施形態においては、詳細モードの設定画面２０に項目一覧画像２８を表示し、簡略モードの設定画面２０に項目一覧画像２８を表示しない例について説明したが、簡略モードの設定画面２０にも項目一覧画像２８を表示するようにしてもよい。

【0086】

以上に説明したように、本実施形態は、第１操作画像２１に対する操作によって移動端末２の試験の仕様を選択した後に、第２操作画像２２に並べられた順序でパラメータ操作画像２２ａ～２２ｅを操作することによって試験の仕様に応じたパラメータを設定することができるため、試験の仕様に応じたパラメータの設定にかかるユーザの負担を軽減することができる。

【0087】

また、本実施形態は、第１操作画像２１に対する操作によって移動端末２の試験の仕様を選択した後に、詳細モードで、第３操作画像２３に対する操作によって試験条件を設定した状態で、詳細モード及び簡略モードのいずれかの表示モードで、第２操作画像２２に並べられた順序でパラメータ操作画像２２ａ～２２ｅを操作することによって試験の仕様に応じたパラメータを設定することができるため、試験の仕様及び試験条件に応じたパラメータの設定にかかるユーザの負担を軽減することができる。

【0088】

また、本実施形態は、第１操作画像２１及び第２操作画像２２に対する操作によって決定される試験項目の一覧を表す項目一覧画像２８を設定画面２０に表示させるため、冊子や記憶媒体に記録されている仕様上の試験項目を確認させることなく、仕様上の試験の内容を確認させることができる。

【0089】

なお、本実施形態における移動端末試験装置１は、ＣＰＵと、ＲＡＭと、ＲＯＭと、フラッシュメモリと、ハードディスク装置と、通信モジュールとを備えた汎用のコンピュータ装置を接続できるように構成してもよい。

【0090】

この場合、図５に示すように、試験情報記憶部１１、シナリオ記憶部１２と、試験制御部１３と、表示部１４と、操作部１５と、を含む試験制御装置４を汎用のコンピュータ装置によって構成し、試験情報記憶部１１、シナリオ記憶部１２と、試験制御部１３と、表示部１４と、操作部１５と、を除いた移動端末試験装置１と試験制御装置４とによって移動端末試験システムを構成してもよい。

【0091】

以上、本発明の実施形態について開示したが、本発明の範囲を逸脱することなく、本発明の実施形態に変更を加えることは容易である。本発明の実施形態は、このような変更が加えられた等価物が特許請求の範囲に記載された発明に含まれることを前提として開示されている。

【符号の説明】

【0092】

１ 移動端末試験装置
２ 移動端末
４ 試験制御装置
１０ 擬似基地局部
１３ 試験制御部
１４ 表示部
１５ 操作部
２０ 設定画面
２１ 第１操作画像
２２ 第２操作画像
２２ａ～２２ｅ パラメータ操作画像
２３ 第３操作画像
２８ 項目一覧画像

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】