特許7330872微粒子分析装置におけるフィルタ検査システム及びフィルタ検査方法

発明の名称　微粒子分析装置におけるフィルタ検査システム及びフィルタ検査方法

出願人　株式会社日立製作所　（識別番号 5108）

　　　　特許公開件数ランキング 13 位（1147件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 15 位（915件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7330872

公報発行日　2023年8月22

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7330872

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