特許 7332131 光断層画像撮影装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2023-08-15

(45)【発行日】2023-08-23

(54)【発明の名称】光断層画像撮影装置

(51)【国際特許分類】

   A61B 3/10 20060101AFI20230816BHJP

【ＦＩ】

A61B3/10 100

【請求項の数】 5

(21)【出願番号】P 2019061545

(22)【出願日】2019-03-27

(65)【公開番号】P2020156909

(43)【公開日】2020-10-01

【審査請求日】2022-03-01

【新規性喪失の例外の表示】特許法第３０条第２項適用 平成３０年５月１９日、第２回日本近視学会総会、ナレッジキャピタルコングレコンベンションセンター（大阪府大阪市北区大深町３－１ グランフロント大阪北館Ｂ２Ｆ） 〔刊行物等〕 平成３１年２月３日、Ｐｈｏｔｏｎｉｃｓ Ｗｅｓｔ ２０１９、モスコーニセンター（アメリカ合衆国カリフォルニア州サンフランシスコ ハワードストリート７４７）

(73)【特許権者】

【識別番号】501299406

【氏名又は名称】株式会社トーメーコーポレーション

(74)【代理人】

【識別番号】110000110

【氏名又は名称】弁理士法人 快友国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】山成 正宏

【審査官】増渕 俊仁

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１７－１４０３１６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１６－０２８６６６（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許出願公開第２０１７／０２７３５５７（ＵＳ，Ａ１）

【文献】特開２０１８－０６８７７８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１７－０７４３２５（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１８－１２１８８８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１６－０５７１９７（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ａ６１Ｂ ３／００－３／１８

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

偏光感受型の光断層画像撮影装置であって、
被検眼の断層画像を撮影する撮影部と、
演算部と、を備えており、
前記断層画像は、前記被検眼に第１の偏光波を照射することで撮影された第１断層画像と、前記被検眼に前記第１の偏光波とは異なる振動方向を有する第２の偏光波を照射することで撮影された第２断層画像と、を含んでおり、
前記演算部は、前記第１断層画像と前記第２断層画像に基づいて、少なくとも前記被検眼の強膜及び篩状板における線維の走行態様を特定する特定処理を実行可能に構成されている、光断層画像撮影装置。

【請求項2】

前記被検眼の強膜のアンファス画像を表示する表示部をさらに備えており、
前記表示部は、前記被検眼の強膜のアンファス画像とともに、前記強膜のアンファス画像の対応する位置に前記走行態様を重ねて表示する、請求項１に記載の光断層画像撮影装置。

【請求項3】

前記表示部に前記強膜のアンファス画像及び前記走行態様が重ねて表示されたときに、その表示された画像内において前記被検眼の深さ方向の断面の位置を指定する指定部をさらに備えており、
前記表示部は、前記指定部によって前記深さ方向の断面の位置が指定されたときに、前記指定された断面の位置における前記被検眼の眼底の断面画像を表示する、請求項２に記載の光断層画像撮影装置。

【請求項4】

前記撮影部は、９８０ｎｍ以上かつ１１２０ｎｍ以下の波長の光を用いて前記被検眼の眼底を撮影する、請求項１～３のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。

【請求項5】

前記撮影部は、円偏光による前記第１の偏光波及び前記第２の偏光波を前記被検眼に照射する、請求項１～４のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本明細書に開示する技術は、偏光感受型の光断層画像撮影装置に関する。

【背景技術】

【0002】

光断層画像撮影装置は、非侵襲、非接触であるため、生体組織の断層画像を取得する方法として眼科装置等に広く利用されている。

【0003】

偏光状態を変化させる複屈折は分子や繊維組織が一定方向に配列する組織において生じる。眼底における網膜では網膜神経繊維層、網膜色素上皮層、血管壁、強膜、篩状板に強い複屈折性が存在する。この複屈折性を利用したこれら組織の可視化のため、機能性の光断層画像撮影装置の一つである偏光感受型の光断層画像撮影装置が開発されている。例えば、特許文献１に、偏光感受型の光断層画像撮影装置の一例が開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【文献】特開２０１６－５７１９７号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

本明細書は、偏光感受型の光断層画像撮影装置による新たな画像診断に寄与する技術を開示する。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本明細書に開示する光断層画像撮影装置は、偏光感受型の光断層画像撮影装置である。光断層画像撮影装置は、被検眼の断層画像を撮影する撮影部と、演算部と、を備えている。断層画像は、被検眼に第１の偏光波を照射することで撮影された第１断層画像と、被検眼に第１の偏光波とは異なる振動方向を有する第２の偏光波を照射することで撮影された第２断層画像と、を含んでいる。演算部は、第１断層画像と第２断層画像に基づいて、少なくとも被検眼の強膜及び篩状板における線維の走行態様を特定する特定処理を実行可能に構成されている。

【0007】

上記の光断層画像撮影装置では、第１断層画像と第２断層画像に基づいて、少なくとも被検眼の強膜及び篩状板における線維の走行態様を特定することができる。これによって、被検眼の強膜や篩状板における線維の走行態様を把握することができ、新たな画像診断に寄与することができる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】実施例に係る光断層画像撮影装置の光学系の概略構成を示す図。

【図2】実施例に係る光断層画像撮影装置の制御系を示すブロック図。

【図3】サンプリングトリガー／クロック発生器の構成を示すブロック図。

【図4】被検眼の強膜における線維の走行態様を特定する処理の一例を示すフローチャート。

【図5】光源から出力される光の波長帯の性質を説明するための図。

【図6】（ａ）は被検眼の眼底の断層画像であり、（ｂ）は被検眼の網膜のＥｎ－ｆａｃｅ画像と網膜の線維の走行態様を示し、（ｃ）は被検眼の強膜のＥｎ－ｆａｃｅ画像と強膜の線維の走行態様を示す。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下に説明する実施例の主要な特徴を列記しておく。なお、以下に記載する技術要素は、それぞれ独立した技術要素であって、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。

【0010】

（特徴１）本明細書が開示する光断層画像撮影装置は、被検眼の強膜のアンファス画像を表示する表示部をさらに備えていてもよい。表示部は、被検眼の強膜のアンファス画像とともに、強膜のアンファス画像の対応する位置に走行態様を重ねて表示してもよい。このような構成によると、検査者が被検眼の強膜の線維の走行態様をより容易に把握することができる。

【0011】

（特徴２）本明細書が開示する光断層画像撮影装置は、表示部に強膜のアンファス画像及び走行態様が重ねて表示されたときに、その表示された画像内において被検眼の深さ方向の断面の位置を指定する指定部をさらに備えていてもよい。表示部は、指定部によって深さ方向の断面の位置が指定されたときに、指定された断面の位置における被検眼の眼底の断面画像を表示してもよい。このような構成によると、検査者が、被検眼の強膜の線維の走行態様において注目する領域について、それに対応する断面画像を容易に確認することができる。このため、被検眼の状態をより正確に把握することができる。

【0012】

（特徴３）本明細書が開示する光断層画像撮影装置では、撮影部は、９８０ｎｍ以上かつ１１２０ｎｍ以下の波長の光を用いて被検眼の眼底を撮影してもよい。このような構成によると、被検眼の眼底を好適に撮影することができる。

【0013】

（特徴４）本明細書が開示する光断層画像撮影装置では、撮影部は、円偏光による第１の偏光波及び第２の偏光波を被検眼に照射してもよい。このような構成によると、強膜や篩状板の線維がどの方向を向いていても測定することができ、線維の走行方向をより確実に特定することができる。

【実施例】

【0014】

以下、実施例に係る光断層画像撮影装置について説明する。本実施例の光断層画像撮影装置は、波長掃引型の光源を用いた波長掃引型のフーリエドメイン方式（ｓｗｅｐｔ－ｓｏｕｒｃｅ ｏｐｔｉｃａｌ ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＳＳ－ＯＣＴ）で、被検物の偏光特性を捉えることが可能な偏光感受型ＯＣＴ（ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ－ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ ＯＣＴ：ＰＳ－ＯＣＴ）の装置である。

【0015】

図１に示すように、本実施例の光断層画像撮影装置は、光源１１と、光源１１の光から測定光を生成する測定光生成部（２１～２９、３１、３２）と、光源１１の光から参照光を生成する参照光生成部（４１～４６、５１）と、測定光生成部で生成される被検眼５００からの反射光と参照光生成部で生成される参照光とを合波して干渉光を生成する干渉光生成部６０、７０と、干渉光生成部６０、７０で生成された干渉光を検出する干渉光検出部８０、９０を備えている。

【0016】

（光源）
光源１１は、波長掃引型の光源であり、出射される光の波長（波数）が所定の周期で変化する。被検眼５００に照射される光の波長が変化（掃引）するため、被検眼５００からの反射光と参照光との干渉光から得られる信号をフーリエ解析することで、被検眼５００の深さ方向の各部位から反射される光の強度分布を得ることができる。

【0017】

なお、光源１１には、偏光制御装置１２及びファイバカプラ１３が接続され、ファイバカプラ１３にはＰＭＦＣ（偏波保持ファイバカプラ）１４及びサンプリングトリガー／クロック発生器１００が接続されている。したがって、光源１１から出力される光は、偏光制御装置１２及びファイバカプラ１３を介して、ＰＭＦＣ１４及びサンプルトリガー／クロック発生器１００のそれぞれに入力される。サンプリングトリガー／クロック発生器１００は、光源１１の光を用いて、後述する信号処理器８３、９３それぞれのサンプリングトリガー及びサンプリングクロックを生成する。

【0018】

（測定光生成部）
測定光生成部（２１～２９、３１、３２）は、ＰＭＦＣ１４に接続されたＰＭＦＣ２１と、ＰＭＦＣ２１から分岐する２つの測定光路Ｓ１、Ｓ２と、２つの測定光路Ｓ１、Ｓ２を接続する偏光ビームコンバイナ／スプリッタ２５と、偏光ビームコンバイナ／スプリッタ２５に接続されるコリメータレンズ２６、光路延長部３０６、ガルバノミラー２７、２８及びレンズ２９を備えている。測定光路Ｓ１には、光路長差生成部２２とサーキュレータ２３が配置されている。測定光路Ｓ２には、サーキュレータ２４のみが配置されている。したがって、測定光路Ｓ１と測定光路Ｓ２との光路長差ΔＬは、光路長差生成部２２によって生成される。光路長差ΔＬは、被検眼５００の深さ方向の測定範囲よりも長く設定してもよい。これにより、光路長差の異なる干渉光が重なることを防止できる。光路長差生成部２２には、例えば、光ファイバが用いられてもよいし、ミラーやプリズム等の光学系が用いられてもよい。本実施例では、光路長差生成部２２に、１ｍのＰＭファイバを用いている。また、測定光生成部は、ＰＭＦＣ３１、３２をさらに備えている。ＰＭＦＣ３１は、サーキュレータ２３に接続されている。ＰＭＦＣ３２は、サーキュレータ２４に接続されている。

【0019】

上記の測定光生成部（２１～２９、３１、３２）には、ＰＭＦＣ１４で分岐された一方の光（すなわち、測定光）が入力される。ＰＭＦＣ２１は、ＰＭＦＣ１４から入力する測定光を、第１測定光と第２測定光に分割する。ＰＭＦＣ２１で分割された第１測定光は測定光路Ｓ１に導かれ、第２測定光は測定光路Ｓ２に導かれる。測定光路Ｓ１に導かれた第１測定光は、光路長差生成部２２及びサーキュレータ２３を通って偏光ビームコンバイナ／スプリッタ２５に入力される。測定光路Ｓ２に導かれた第２測定光は、サーキュレータ２４を通って偏光ビームコンバイナ／スプリッタ２５に入力される。ＰＭファイバ３０４は、偏光ビームコンバイナ／スプリッタ２５に、ＰＭファイバ３０２に対して円周方向に９０度回転した状態で接続される。これにより、偏光ビームコンバイナ／スプリッタ２５に入力される第２測定光は、第１測定光に対して直交する偏光成分を持った光となる。測定光路Ｓ１に光路長差生成部２２が設けられているため、第１測定光は第２測定光に対して光路長差生成部２２の距離だけ遅延している（すなわち、光路長差ΔＬが生じている）。偏光ビームコンバイナ／スプリッタ２５は、入力される第１測定光と第２測定光を重畳する。偏光ビームコンバイナ／スプリッタ２５から出力される光（第１測定光と第２測定光が重畳された光）は、コリメータレンズ２６、ガルバノミラー２７、２８及びレンズ２９を介して被検眼５００に照射される。被検眼５００に照射される光は、ガルバノミラー２７、２８によってｘ－ｙ方向に走査される。

【0020】

被検眼５００に照射された光は、被検眼５００によって反射する。ここで、被検眼５００で反射される光は、被検眼５００の表面や内部で散乱する。被検眼５００からの反射光は、入射経路とは逆に、レンズ２９、ガルバノミラー２８、２７及びコリメータレンズ２６を通って、ＳＭＦＣ２６に入力され、偏光ビームコンバイナ／スプリッタ２５に入力される。偏光ビームコンバイナ／スプリッタ２５は、入力される反射光を、互いに直交する２つの偏光成分に分割する。ここでは便宜上それらを水平偏光反射光（水平偏光成分）と垂直偏光反射光（垂直偏光成分）と呼ぶ。そして、水平偏光反射光は測定光路Ｓ１に導かれ、垂直偏光反射光は測定光路Ｓ２に導かれる。

【0021】

水平偏光反射光は、サーキュレータ２３により光路が変更され、ＰＭＦＣ３１に入力される。ＰＭＦＣ３１は、入力される水平偏光反射光を分岐して、ＰＭＦＣ６１、７１のそれぞれに入力する。したがって、ＰＭＦＣ６１、７１に入力される水平偏光反射光には、第１測定光による反射光成分と、第２測定光による反射光成分が含まれている。垂直偏光反射光は、サーキュレータ２４により光路が変更され、ＰＭＦＣ３２に入力される。ＰＭＦＣ３２は、入力される垂直偏光反射光を分岐して、ＰＭＦＣ６２、７２に入力する。したがって、ＰＭＦＣ６２、７２に入力される垂直偏光反射光には、第１測定光による反射光成分と、第２測定光による反射光成分が含まれている。

【0022】

（参照光生成部）
参照光生成部（４１～４６、５１）は、ＰＭＦＣ１４に接続されたサーキュレータ４１と、サーキュレータ４１に接続された参照遅延ライン（４２、４３）と、サーキュレータ４１に接続されたＰＭＦＣ４４と、ＰＭＦＣ４４から分岐する２つの参照光路Ｒ１、Ｒ２と、参照光路Ｒ１に接続されるＰＭＦＣ４６と、参照光路Ｒ２に接続されるＰＭＦＣ５１を備えている。参照光路Ｒ１には、光路長差生成部４５が配置されている。参照光路Ｒ２には、光路長差生成部は設けられていない。したがって、参照光路Ｒ１と参照光路Ｒ２との光路長差ΔＬ’は、光路長差生成部４５によって生成される。光路長差生成部４５には、例えば、光ファイバが用いられる。光路長差生成部４５の光路長ΔＬ’は、光路長差生成部２２の光路長ΔＬと同一としてもよい。光路長差ΔＬとΔＬ’を同一にすることで、後述する複数の干渉光の被検眼５００に対する深さ位置が同一となる。すなわち、取得される複数の断層像の位置合わせが不要となる。

【0023】

上記の参照光生成部（４１～４６、５１）には、ＰＭＦＣ１４で分岐された他方の光（すなわち、参照光）が入力される。ＰＭＦＣ１４から入力される参照光は、サーキュレータ４１を通って参照遅延ライン（４２、４３）に入力される。参照遅延ライン（４２、４３）は、コリメータレンズ４２と参照ミラー４３によって構成されている。参照遅延ライン（４２、４３）に入力された参照光は、コリメータレンズ４２を介して参照ミラー４３に照射される。参照ミラー４３で反射された参照光は、コリメータレンズ４２を介してサーキュレータ４１に入力される。ここで、参照ミラー４３は、コリメータレンズ４２に対して近接又は離間する方向に移動可能となっている。本実施例では、測定を開始する前に、被検眼５００からの信号がＯＣＴの深さ方向の測定範囲内に収まるように、参照ミラー４３の位置を調整している。

【0024】

参照ミラー４３で反射された参照光は、サーキュレータ４１により光路が変更され、ＰＭＦＣ４４に入力される。ＰＭＦＣ４４は、入力する参照光を、第１参照光と第２参照光に分岐する。第１参照光は参照光路Ｒ１に導かれ、第２参照光は参照光路Ｒ２に導かれる。第１参照光は、光路長差生成部４５を通ってＰＭＦＣ４６に入力される。ＰＭＦＣ４６に入力された参照光は、第１分岐参照光と第２分岐参照光に分岐される。第１分岐参照光は、コリメータレンズ４７、レンズ４８を通ってＰＭＦＣ６１に入力される。第２分岐参照光は、コリメータレンズ４９、レンズ５０を通って、ＰＭＦＣ６２に入力される。第２参照光は、ＰＭＦＣ５１に入力され、第３分岐参照光と第４分岐参照光に分割される。第３分岐参照光は、コリメータレンズ５２、レンズ５３を通って、ＰＭＦＣ７１に入力される。第４分岐参照光は、コリメータレンズ５４、レンズ５５を通って、ＰＭＦＣ７２に入力される。

【0025】

（干渉光生成部）
干渉光生成部６０、７０は、第１干渉光生成部６０と、第２干渉光生成部７０を備えている。第１干渉光生成部６０は、ＰＭＦＣ６１、６２を有している。上述したように、ＰＭＦＣ６１には、測定光生成部より水平偏光反射光が入力され、参照光生成部より第１分岐参照光（光路長差ΔＬ’を有する光）が入力される。ここで、水平偏光反射光には、第１測定光による反射光成分（光路長差ΔＬを有する光）と、第２測定光による反射光成分（光路長差ΔＬを有しない光）が含まれている。したがって、ＰＭＦＣ６１では、水平偏光反射光のうち第１測定光による反射光成分（光路長差ΔＬを有する光）と、第１分岐参照光とが合波されて第１干渉光（水平偏光成分）が生成される。

【0026】

また、ＰＭＦＣ６２には、測定光生成部より垂直偏光反射光が入力され、参照光生成部より第２分岐参照光（光路長差ΔＬ’を有する光）が入力される。ここで、垂直偏光反射光には、第１測定光による反射光成分（光路長差ΔＬを有する光）と、第２測定光による反射光成分（光路長差ΔＬを有しない光）が含まれている。したがって、ＰＭＦＣ６２では、垂直偏光反射光のうち第１測定光による反射光成分（光路長差ΔＬを有する光）と、第２分岐参照光とが合波されて第２干渉光（垂直偏光成分）が生成される。

【0027】

第２干渉光生成部７０は、ＰＭＦＣ７１、７２を有している。上述したように、ＰＭＦＣ７１には、測定光生成部より水平偏光反射光が入力され、参照光生成部より第３分岐参照光（光路長差ΔＬ’を有しない光）が入力される。したがって、ＰＭＦＣ７１では、水平偏光反射光のうち第２測定光による反射光成分（光路長差ΔＬを有しない光）と、第３分岐参照光とが合波されて第３干渉光（水平偏光成分）が生成される。

【0028】

また、ＰＭＦＣ７２には、測定光生成部より垂直偏光反射光が入力され、参照光生成部より第４分岐参照光（光路長差ΔＬ’を有しない光）が入力される。したがって、ＰＭＦＣ７２では、垂直偏光反射光のうち第２測定光による反射光成分（光路長差ΔＬを有しない光）と、第４分岐参照光とが合波されて第４干渉光（垂直偏光成分）が生成される。第１干渉光と第２干渉光は測定光路Ｓ１を経由した測定光に対応しており、第３干渉光と第４干渉光は測定光路Ｓ２を経由した測定光に対応している。

【0029】

（干渉光検出部）
干渉光検出部８０、９０は、第１干渉光生成部６０で生成された干渉光（第１干渉光及び第２干渉光）を検出する第１干渉光検出部８０と、第２干渉光生成部７０で生成された干渉光（第３干渉光及び第４干渉光）を検出する第２干渉光検出部９０を備えている。

【0030】

第１干渉光検出部８０は、バランス型光検出器８１、８２（以下、単に「検出器８１，８２」ともいう）と、検出器８１、８２に接続された信号処理器８３を備えている。検出器８１にはＰＭＦＣ６１が接続されており、検出器８１の出力端子には信号処理器８３が接続されている。ＰＭＦＣ６１は、第１干渉光を、位相が１８０度異なる２つの干渉光に分岐して、検出器８１に入力する。検出器８１は、ＰＭＦＣ６１から入力する位相が１８０度異なる２つの干渉光に対して、差動増幅及びノイズ低減処理を実施し、電気信号（第１干渉信号）に変換し、第１干渉信号を信号処理器８３に出力する。すなわち、第１干渉信号は、水平偏光測定光による被検眼５００からの水平偏光反射光と参照光の干渉信号ＨＨである。同様に、検出器８２にはＰＭＦＣ６２が接続されており、検出器８２の出力端子には信号処理器８３が接続されている。ＰＭＦＣ６２は、第２干渉光を、位相が１８０度異なる２つの干渉光に分岐して、検出器８２に入力する。検出器８２は、位相が１８０度異なる２つの干渉光に対して、差動増幅及びノイズ低減処理を実施し、電気信号（第２干渉信号）に変換し、第２干渉信号を信号処理器８３に出力する。すなわち、第２干渉信号は、水平偏光測定光による被検眼５００からの垂直偏光反射光と参照光の干渉信号ＨＶである。

【0031】

信号処理器８３は、第１干渉信号が入力される第１信号処理部８４と、第２干渉信号が入力される第２信号処理部８５を備えている。第１信号処理部８４は、サンプリングトリガー／クロック発生器１００から信号処理器８３に入力されるサンプリングトリガー及びサンプリングクロックに基づいて、第１干渉信号をサンプリングする。また、第２信号処理部８５は、サンプリングトリガー／クロック発生器１００から信号処理器８３に入力されるサンプリングトリガー及びサンプリングクロックに基づいて、第２干渉信号をサンプリングする。第１信号処理部８４及び第２信号処理部８５でサンプリングされた第１干渉信号と第２干渉信号は、後述する演算部２０２に入力される。信号処理器８３には、公知のデータ収集装置（いわゆる、ＤＡＱ）を用いることができる。

【0032】

第２干渉光検出部９０は、第１干渉光検出部８０と同様に、バランス型光検出器９１、９２（以下、単に「検出器９１、９２」ともいう）と、検出器９１、９２に接続された信号処理器９３を備えている。検出器９１にはＰＭＦＣ７１が接続されており、検出器９１の出力端子には信号処理器９３が接続されている。ＰＭＦＣ７１は、第３干渉光を、位相が１８０度異なる２つの干渉光に分岐して、検出器９１に入力する。検出器９１は、位相が１８０度異なる２つの干渉光に対して、差動増幅及びノイズ低減処理を実施し、電気信号（第３干渉信号）に変換し、第３干渉信号を信号処理器９３に出力する。すなわち、第３干渉信号は、垂直偏光測定光による被検眼５００からの水平偏光反射光と参照光の干渉信号ＶＨである。同様に、検出器９２にはＰＭＦＣ７２が接続されており、検出器９２の出力端子には信号処理器９３が接続されている。ＰＭＦＣ７２は、第４干渉光を、位相が１８０度異なる２つの干渉光に分岐して、検出器９２に入力する。検出器９２は、位相が１８０度異なる２つの干渉光に対して、差動増幅及びノイズ低減処理を実施し、電気信号（第４干渉信号）に変換し、第４干渉信号を信号処理器９３に出力する。すなわち、第４干渉信号は、垂直偏光測定光からによる被検眼５００の垂直偏光反射光と参照光の干渉信号ＶＶである。

【0033】

信号処理器９３は、第３干渉信号が入力される第３信号処理部９４と、第４干渉信号が入力される第４信号処理部９５を備えている。第３信号処理部９４は、サンプリングトリガー／クロック発生器１００から信号処理器９３に入力されるサンプリングトリガー及びサンプリングクロックに基づいて、第３干渉信号をサンプリングする。また、第４信号処理部９５は、サンプリングトリガー／クロック発生器１００から信号処理器９３に入力されるサンプリングトリガー及びサンプリングクロックに基づいて、第４干渉信号をサンプリングする。第３信号処理部９４及び第４信号処理部９５でサンプリングされた第３干渉信号と第４干渉信号とは、後述する演算部２０２に入力される。信号処理器９３にも、公知のデータ収集装置（いわゆる、ＤＡＱ）を用いることができる。このような構成によると、被検眼５００の４つの偏光特性を表す干渉信号を取得することができる。なお、本実施例では、２つの信号処理部を備える信号処理器８３，９３用いているが、このような構成に限定されない。例えば、４つの信号処理部を備える１つの信号処理器を用いてもよいし、１つの信号処理部を備える信号処理器を４つ用いてもよい。

【0034】

次に、本実施例に係る光断層画像撮影装置の制御系の構成を説明する。図２に示すように、光断層画像撮影装置は演算装置２００によって制御される。演算装置２００は、演算部２０２と、第１干渉光検出部８０と、第２干渉光検出部９０によって構成されている。第１干渉光検出部８０と、第２干渉光検出部９０と、演算部２０２は、測定部１０に接続されている。演算部２０２は、測定部１０に制御信号を出力し、ガルバノミラー２７及び２８を駆動することで測定光の被検眼５００への入射位置を走査する。第１干渉光検出部８０は、測定部１０から入力される干渉信号（干渉信号ＨＨと干渉信号ＨＶ）に対して、サンプリングトリガー１をトリガーにして、測定部１０から入力されるサンプリングクロック１に基づいて、第１サンプリングデータを取得し、演算部２０２に第１サンプリングデータを出力する。演算部２０２は、第１サンプリングデータにフーリエ変換処理等の演算処理を行い、ＨＨ断層画像とＨＶ断層画像を生成する。第２干渉光検出部９０は、サンプリングトリガー２をトリガーにして、測定部１０から入力される干渉信号（干渉信号ＶＨと干渉信号ＶＶ）に対して、測定部１０から入力されるサンプリングクロック２に基づいて、第２サンプリングデータを取得し、演算部２０２に第２サンプリングデータを出力する。演算部２０２は、第２サンプリングデータにフーリエ変換処理等の演算処理を行い、ＶＨ断層画像とＶＶ断層画像を生成する。ここで、ＨＨ断層画像と、ＶＨ断層画像と、ＨＶ断層画像と、ＶＶ断層画像とは、同一位置の断層画像である。このため、演算部２０２は、被検眼５００のジョーンズ行列を表す４つの偏光特性（ＨＨ、ＨＶ、ＶＨ、ＶＶ）の断層画像を生成することができる。

【0035】

図３に示すように、サンプリングトリガー／クロック発生器１００は、ファイバカプラ１０２と、サンプリングトリガー発生器（１４０～１５２）と、サンプリングクロック発生器（１６０～１７２）を備えている。光源１１からの光は、ファイバカプラ１３とファイバカプラ１０２を介して、サンプリングトリガー発生器１４０及びサンプリングクロック発生器１６０にそれぞれ入力される。

【0036】

（サンプリングトリガー発生器）
サンプリングトリガー発生器１４０は、例えば、ＦＢＧ（Ｆｉｂｅｒ Ｂｒａｇｇ Ｇｒａｔｉｎｇ）１４４を用いて、サンプリングトリガーを生成してもよい。図３に示すように、ＦＢＧ１４４は、光源１１から入射される光の特定の波長のみを反射して、サンプリングトリガーを生成する。生成されたサンプリングトリガーは、分配器１５０に入力される。分配器１５０は、サンプリングトリガーを、サンプリングトリガー１とサンプリングトリガー２に分配する。サンプリングトリガー１は、信号遅延回路１５２を介して、演算部２０２に入力される。サンプリングトリガー２は、そのまま演算部２０２に入力される。サンプリングトリガー１は、第１干渉光検出部８０から演算部２０２に入力される干渉信号（第１干渉信号と第２干渉信号）のトリガー信号となる。サンプリングトリガー２は、第２干渉光検出部９０から演算部２０２に入力される干渉信号（第３干渉信号と第４干渉信号）のトリガー信号となる。信号遅延回路１５２は、サンプリングトリガー１がサンプリングトリガー２に対して、光路長差生成部２２の光路長差ΔＬの分だけ時間が遅延するように設計されている。これにより、第１干渉光検出部８０から入力される干渉信号のサンプリングを開始する周波数と、第２干渉光検出部９０から入力される干渉信号のサンプリングを開始する周波数を同じにすることができる。ここで、サンプリングトリガー１だけを生成してもよい。光路長差ΔＬが既知であるので、第２干渉光検出部９０から入力される干渉をサンプリングする際、サンプリングトリガー１から光路長差ΔＬの分だけ時間を遅延するようにサンプリングを開始すればよい。

【0037】

（サンプリングクロック発生器）
サンプリングクロック発生器は、例えば、マッハツェンダー干渉計で構成されていてもよい。図３に示すように、サンプリングクロック発生器は、マッハツェンダー干渉計を用いて、等周波数のサンプリングクロックを生成する。マッハツェンダー干渉計で生成されたサンプリングクロックは、分配器１７２に入力される。分配器１７２は、サンプリングクロックを、サンプリングクロック１とサンプリングクロック２に分配する。サンプリングクロック１は、信号遅延回路１７４を通って、第１干渉光検出部８０に入力される。サンプリングクロック２は、そのまま第２干渉光検出部９０に入力される。信号遅延回路１７４は、光路長差生成部２２の光路長差ΔＬの分だけ時間が遅延するように設計されている。これにより、光路長差生成部２２の分だけ遅延している干渉光に対しても、同じタイミングでサンプリングすることができる。これにより、取得する複数の断層画像の位置ずれが防止できる。本実施例では、サンプリングクロックを生成するのに、マッハツェンダー干渉計を用いている。しかしながら、サンプリングクロックを生成するのに、マイケルソン干渉計を用いてもよいし、電気回路を用いてもよい。また、光源に、サンプリングクロック発生器を備えた光源を用いて、サンプリングロックを生成してもよい。

【0038】

次に、図４～図６を参照して、被検眼５００の強膜における線維の走行態様を特定する処理について説明する。図４は、本実施例の光断層画像撮影装置を用いて被検眼５００の強膜における線維の走行態様を特定する処理の一例を示すフローチャートである。

【0039】

図４に示すように、まず、演算部２０２は、被検眼５００の眼底の断層画像を取得する（Ｓ１２）。被検眼５００の眼底の断層画像を取得する処理は、以下の手順で実行する。まず、検査者は図示しないジョイスティック等の操作部材を操作して、被検眼５００に対して光断層画像撮影装置の位置合わせを行う。すなわち、演算部２０２は、検査者の操作部材の操作に応じて、図示しない位置調整機構を駆動する。これによって、被検眼５００に対する光断層画像撮影装置のｘｙ方向（縦横方向）の位置とｚ方向（進退動する方向）の位置が調整される。

【0040】

次いで、演算部２０２は、被検眼５００の眼底の断層画像を撮影する。ここで、本実施例における被検眼５００の眼底の撮影条件について説明する。本実施例では、被検眼５００の強膜の線維の走行態様を特定するため、被検眼５００の眼底の断層画像を撮影する際には、強膜まで含むように撮影する必要がある。眼底の強膜を測定するには、光が網膜と脈絡膜を透過する必要がある。さらに、眼の前房や水晶体、硝子体が持つ水の光吸収による光の減衰が低いことが望ましい。これらの条件を満たす光波長として、８００ｎｍ前後の波長帯と１０６０ｎｍ前後の波長帯が知られている。ここで、図５を参照して具体的に説明する。図５のグラフＧ１は、矢印で示すように、光の波長及び水の吸収率（Absorption coefficient of water）の関係を示しており、グラフＧ２は、矢印で示すように、光の波長及び比視感度（Log quantal luminosity efficiency）の関係を示している。図５に示すように、８００ｎｍ前後の波長帯（Ａ）はおおよそ７６０～９１０ｎｍの波長帯であり、近赤外光の中では水による光吸収が小さいため（グラフＧ１参照）光が眼底によく到達し、視細胞の比視感度も小さいため（グラフＧ２参照）被検者が眩しさを感じにくい、といった性質を持つ。また、図５で１０６０ｎｍ前後の波長帯（Ｂ）はおおよそ９８０～１１２０ｎｍの波長帯であり、（Ａ）よりも長波長帯の中では水による光吸収が小さく（グラフＧ１参照）、さらに視細胞が光を感受しないため（グラフＧ２参照）被検者は眩しさを全く感じない、といった性質を持つ。これらの波長帯のうち、長波長である１０６０ｎｍ前後の波長帯のほうが光散乱強度が小さいため生体組織への深達度が高いことが知られている。特に、眼底の強膜や視神経乳頭の篩状板、加齢黄斑変性などによって発生する線維性瘢痕組織を測定するには、通常のＯＣＴだけでなく偏光ＯＣＴにおいても１０６０ｎｍ前後の波長帯が有利である。このため、本実施例では、光源１１から中心波長が１０６０ｎｍの光を出射して、被検眼５００の眼底の断層画像を撮影する。

【0041】

なお、本実施例では、眼底の断層画像を撮影しているが、本実施例の技術を用いて、眼底以外の眼球の線維組織を特定するための画像を撮影することもできる。例えば、波長１３１０ｎｍ帯や１５５０ｎｍ帯、１７００ｎｍ帯、あるいは可視域の波長帯を用いて前眼部の線維組織を測定することが可能である。

【0042】

前眼部の線維組織としては、たとえば角膜実質、線維柱帯、結膜実質、強膜、外眼筋、瞳孔括約筋、瞳孔散大筋、毛様体筋などが挙げられる。疾患眼の線維組織としては翼状片、線維柱帯切除術によって形成された濾過胞の瘢痕組織が挙げられる。また、緑内障濾過手術で用いられる樹脂製インプラントや白内障手術で用いられる樹脂製人工眼内レンズといった人工物にも複屈折を持つ材質が使われることがあり、偏光ＯＣＴで測定が可能である。ほかに、前眼部や眼底の部位によらず、一般に血管壁には平滑筋、弾性線維、コラーゲン繊維が存在しており、偏光ＯＣＴでそれら線維組織の複屈折が測定できる。

【0043】

また、ＯＣＴの原理としては、参照光の光路長を走査するタイムドメイン方式、分光器を用いるスペクトラルドメイン方式、波長掃引光源を用いるスウェプトソース方式すべてにおいて、上述の各波長帯を用いたＯＣＴが実装可能である。

【0044】

光源１１から出射される光は、右回り又は左回りの円偏光によって被検眼５００に入射させる。被検眼５００への入射偏光状態として、右回りまたは左回り円偏光を用いると、測定対象物（すなわち、強膜）の線維がどの方向を向いていても線維の複屈折を測定できる。これは、円偏光ならば、偏光を線維の複屈折が持つ軸に並行な成分と垂直な成分に分解したとき、偏光を両方の軸方向に分解した各成分が同じ振幅となり、各軸方向の偏光成分間に発生する位相遅延を確実に測定できるためである。

【0045】

なお、本実施例では眼底の強膜を測定するため、光が強膜に到達する前に角膜や視神経線維によって入射偏光状態が変化し、入射偏光状態が強膜の線維方向と一致もしくは直交した直線偏光となる可能性がある。その場合、強膜の複屈折を正確に測定することができない。この現象は、眼底の強膜に限らず、一般に生体のどの部位の測定でも起こりうる。上記の可能性を排除するために、２種類またはそれ以上の異なる入射偏光を用いて対象物のジョーンズ行列を測定する方法がある。偏光ＯＣＴでジョーンズ行列を測定すれば、入射偏光状態に関係なく対象物の複屈折を確実に測定することが可能である。

【0046】

また、本実施例では、ラスタースキャンを用いて眼底の断層画像を撮影する。なお、眼底の強膜の線維を測定するために眼底の断層画像を撮影する方法としては、ラスタースキャンに限られない。例えば、放射状スキャン、同心円状スキャン等、どのような横方向スキャンを用いても構わないが、強膜の線維が円周方向を向いている視神経乳頭の近傍を含むスキャンであることが望ましい。視神経乳頭近傍の視神経線維と強膜は、視神経乳頭を中心としてそれぞれ放射状・同心円状の線維方向を持つことが知られている。ほかには、正常な網膜中心禍近傍のHenle's fiberは中心禍を中心として放射状の線維方向を持っているため、網膜中心禍をスキャン範囲に含めても良い。このように解剖学的に線維方向が明確な部位をスキャン範囲に含めることで、測定に大きなエラーがないかどうかを確認することができる。

【0047】

次に、演算部２０２は、ステップＳ１２で取得した断層画像から強膜を特定する（Ｓ１４）。強膜を特定する処理は、以下の手順で実行する。網膜の複屈折・線維走行を測定するには、まず偏光ＯＣＴのデータから網膜の内境界膜と視細胞内節外節結合部を決定する必要がある。強膜の複屈折・線維走行を測定するには、まず偏光ＯＣＴのデータから網膜の視細胞内節外節結合部と脈絡膜/強膜境界面を決定する必要がある。具体的には、ＯＣＴ強度画像に対して画像の強度勾配やしきい値による二値化を適用し、適切なパーティクルフィルタを画像に適用することで、上述の各組織・界面を求めることができる。

【0048】

なお、強膜を特定する方法は、上記の方法に限定されない。例えば、ＯＣＴ強度画像に対して上述の各組織・界面について手動でセグメンテーションを行い、深層学習などの手法を用いて教師あり機械学習を行い、任意のＯＣＴ強度画像について自動でセグメンテーションを行っても良い。

【0049】

また、そのほかの手法として、脈絡膜／強膜境界面を決定するために、脈絡膜と強膜の特性の違いを利用することも可能である。たとえば、生きた脈絡膜には血液が充満し常に血流が存在する一方、強膜内部に血液は充満していない。眼底の同じ位置で偏光ＯＣＴのＢスキャンを繰り返し行うと、血流の存在する脈絡膜ではＯＣＴのスペックルパターンが経時変化する。この経時変化をＯＣＴ強度または複素信号の経時的な相互相関関数によってパラメーター化・画像化し、ＯＣＴ強度画像に対するセグメンテーションと同様な画像処理技術を適用することで脈絡膜／強膜界面を決定できる。ここで、相互相関関数の代わりに、偏光ＯＣＴで測定されたジョーンズベクトルまたは行列の経時変化を共分散行列によって表し、その時間的または空間的アンサンブル平均を求め、アンサンブル平均された共分散行列の固有値からエントロピーを求めて画像化することも可能である。

【0050】

また、正常な脈絡膜はメラニン色素を含むのに対し、強膜はほとんどメラニン色素を含まない。メラニン色素は偏光状態をランダムにする偏光解消性を持つため、それを用いて脈絡膜／強膜境界面を決定しても良い。偏光解消性は、ストークスパラメーターで定義されるdegree of polarization uniformity や Cloude-Pottier decompositionによって算出されるジョーンズ行列の乱雑さを示す指標である偏光エントロピーなどのパラメーターによって定義・可視化することが可能である。

【0051】

また、強膜はコラーゲン線維束による強い複屈折を示すのに対し、脈絡膜は強い複屈折を示さない。偏光ＯＣＴで測定できる位相遅延量が脈絡膜と強膜では異なるため、そのコントラストを用いて脈絡膜/強膜境界面を決定しても良い。

【0052】

上記のように、内境界膜、視細胞内節外節結合部、脈絡膜／強膜境界面はＯＣＴもしくは偏光ＯＣＴで得られる様々なパラメーターやコントラストから決定することが可能である。それらセグメンテーションにあたっては、単一の画像、例えばＯＣＴ強度画像だけを用いても構わないし、複数の画像やデータ・コントラストを組み合わせてセグメンテーションを行っても構わない。

【0053】

演算部２０２は、断層画像から特定した強膜を示す領域を抽出し、強膜のみで構成されるＥｎ－ｆａｃｅ（アンファス）画像を生成する。具体的には、３次元データについて、Ａスキャン毎に深さ方向で最大値や平均値などを算出し、３次元データを２次元のＥｎ－ｆａｃｅ画像に圧縮する。

【0054】

次に、演算部２０２は、ステップＳ１４で特定した強膜について、線維の走行態様を特定する（Ｓ１６）。強膜における線維の走行態様を特定する処理は、以下の手順で実行する。

【0055】

上記のステップＳ１４において強膜を特定する際に測定された網膜の内境界膜のジョーンズ行列を以下の数１のように定義し、視細胞内節外節結合部のジョーンズ行列を以下の数２のように定義する。

【0056】

【数1】

【0057】

【数2】

【0058】

ここで、Ｊ_inは、偏光ＯＣＴの光が光源１１から内境界膜を照射するまでのすべての偏光特性を表すジョーンズ行列であり、Ｊ_outは、内境界膜から反射または散乱した光が参照光と干渉するまでに受けるすべての偏光特性を表すジョーンズ行列である。Ｊ_ILMは、内境界膜における局所的な偏光特性を表すジョーンズ行列である。Ｊ_PRは、内境界膜から視細胞内節外節結合部の間の偏光特性を表すジョーンズ行列である。上付き文字のｔは、行列転置を表す。

【0059】

このとき、内境界膜から視細胞内節外節結合部までの局所的ジョーンズ行列は、次のように求められる。

【0060】

【数3】

【0061】

ここで、Ｕ_PRILMinは、(Ｋ_ILM)^-1Ｋ_PRの固有ベクトルで構成される行列であり、Λ_PRは、Ｊ_PRの位相遅延量を含む固有値で構成される対角行列である。Ｕ_PRILMinとΛ_PRはともに(Ｋ_ILM)^-1Ｋ_PRを固有値分解することで求められる。

【0062】

Ｊ_PRの固有ベクトルで構成される回転行列Ｒ_PRを用いると、Ｕ_PRILMinは、以下のように記述することができる。

【0063】

【数4】

【0064】

視細胞内節外節結合部の深さにおいて、横方向のある任意の位置（ｘ₁，ｙ₁）に対して相対的な複屈折軸は、次式を利用して求めることができる。

【0065】

【数5】

【0066】

ここで、Ｕ（ｘ，ｙ）は、Ｕ_PRILMin(ｘ₁,ｙ₁)(Ｕ_PRILMin)^-1(ｘ₁,ｙ₁)の固有ベクトルで構成される行列であり、Λ(ｘ－ｘ₁,ｙ－ｙ₁)は、その相対的な複屈折軸θを（ｅｘｐ（ｉθ），０；０，ｅｘｐ（－ｉθ）） という形で含む対角行列である。上記のように、ジョーンズ行列を、例えば３次の回転群であるストークスパラメーターに変換することなく、２次の特殊ユニタリ群の形式を保ったまま、内境界膜から視細胞内節外節結合部の間に存在する複屈折軸の方向を求めることができる。

【0067】

強膜の複屈折軸についても上記と類似したアルゴリズムで求めることができる。偏光ＯＣＴで測定された脈絡膜／強膜境界膜直下の強膜が持つジョーンズ行列を次のように定義する。

【0068】

【数6】

【0069】

視細胞内節外節結合部から脈絡膜／強膜境界膜直下の強膜の間の局所的ジョーンズ行列は、次のように求められる。

【0070】

【数7】

【0071】

ここで、以下の数８が成立する。

【0072】

【数8】

【0073】

視細胞内節外節結合部から脈絡膜/強膜境界膜の間には、メラニン色素を持つ網膜色素細胞層と脈絡膜が存在する。メラニン色素からの後方散乱光は偏光解消性を持つことが知られているが、透過光については偏光解消性がない。そのため、網膜色素細胞層と脈絡膜を透過する光は偏光状態が変化せず、ジョーンズ行列は単位行列であると考えることができる。脈絡膜／強膜境界膜直下の強膜が存在する深さにおいて、横方向のある任意の位置（ｘ₁，ｙ₁）に対して相対的な複屈折軸は、次式を利用して求めることができる。

【0074】

【数9】

【0075】

前述の視細胞内節外節結合部の場合と同様に、上記の数９で示す式の固有値が横方向のある任意の位置（ｘ₁，ｙ₁）に対して相対的な強膜の複屈折軸の方向を示す。

【0076】

原理的には、上述の手法によって網膜あるいは強膜が持つ複屈折軸から線維方向・線維走行を求めることができる。しかしながら、偏光ＯＣＴで測定されたジョーンズ行列の生データはスペックルノイズを含むため、ノイズ低減処理を適用することが望ましい。

【0077】

ジョーンズ行列のノイズ低減処理として、たとえばCloude-Pottier decompositionを用いることができる。この方法では、ジョーンズ行列の各要素を４行１列のベクトルに再配置し、そのベクトルから４行４列の共分散行列を求め、ある規定されたカーネルサイズ内のピクセルについてその共分散行列のアンサンブル平均を求め、アンサンブル平均された共分散行列の固有値を求めると、そのカーネルサイズ内のジョーンズ行列を最尤推定することができる。またほかに、グローバル位相で規格化したジョーンズ行列の平均を求める手法も用いることができる。本実施例では、最初にグローバル位相で規格化したジョーンズ行列の平均を、Ｋ_ILMについては深さ５ピクセルについて求め、Ｋ_Scについては深さ２０ピクセルについて求める。その後、Ｋ_ILM、Ｋ_PR及びＫ_Scは、各組織深さにおけるＥｎ－ｆａｃｅ平面上において横方向にカーネルサイズ２１×１１ピクセルの範囲でCloude-Pottier decompositionを用いてジョーンズ行列のノイズ低減処理を行う。その後、上述の複屈折軸を算出するアルゴリズムを適用し、線維方向を導出する。

【0078】

次に、演算部２０２は、ステップＳ１６で特定した強膜の線維の走行態様をモニタ１２０に表示させる（Ｓ１８）。具体的には、図６（ｃ）に示すように、演算部２０２は、ステップＳ１４で生成した強膜のＥｎ－ｆａｃｅ画像と共に、強膜のＥｎ－ｆａｃｅ画像の対応する位置にステップＳ１６で特定した強膜の線維の走行態様を重ねてモニタ１２０に表示させる。

【0079】

複屈折軸方向を画像として可視化する方法として、軸方向を任意の疑似カラーマップに対応させて表示することが可能である。しかしながら、カラーマップの色から軸方向を直感的に読解することは必ずしも容易ではない。そこで、軸方向に対応した曲線、いわゆるストリームラインを描出することが可能である。一般にストリームラインを描出するアルゴリズムやソフトウェアは容易に入手可能である。例えば、National Instruments社のLabVIEWへのアドオンとして提供されている、Heliosphere Research LCC社のAdvanced Plotting Toolkitを用いて複屈折軸方向のストリームラインを描出することができる。ほかにも、オープンソースソフトウェアのMatplotlibを用いて同様の処理を行ってもよい。このようにして描出したストリームラインをそれ単体で画像として提示することも可能であるし、ほかの偏光ＯＣＴ画像に重畳して表示することも可能である。特に、複屈折軸方向を疑似カラーマップで可視化した画像の上にストリームラインを重畳して表示すると、撮影者がデータを直感的に理解するために効果的である。

【0080】

また、モニタ１２０に表示された強膜のＥｎ－ｆａｃｅ画像内の位置を指定すると、その位置に対応する断層画像が表示されてもよい。このとき、モニタ１２０には、対応する断層画像と強膜のＥｎ－ｆａｃｅ画像が並んで表示されてもよいし、強膜のＥｎ－ｆａｃｅ画像から対応する断層画像に表示が切り替わってもよい。指定した位置の断層画像を表示することによって、強膜の線維の走行態様から病変等が疑われる位置について、眼底の断面の状態を確認することができる。このため、病変が疑われる部分の状態をより正確に把握することができる。

【0081】

上述の例では偏光ＯＣＴで測定された眼底のデータを元にして、網膜内境界膜・視細胞内節外節結合部・脈絡膜／強膜境界膜の各層をセグメンテーションし、網膜内層と強膜の線維走行を可視化する例を示した。この手法は網膜内層や強膜だけでなく、どのような線維組織に対しても適用することができる。たとえば、視神経乳頭内部の篩状板の線維走行を可視化する場合には、上述の視細胞内節外節結合部を視神経線維／篩状板境界と読み替え、脈絡膜／強膜境界膜についても視神経線維／篩状板境界と読み替えることで、篩状板より上部の視神経線維の線維走行および篩状板内部の線維走行を可視化することができる。なお、上述の強膜の例と異なり、この篩状板の例の場合は篩状板の上方に存在する線維である視神経線維が篩状板に接しているため、線維走行の計算に用いるセグメンテーションされた層の数は３層ではなく２層で十分である。

【0082】

以上、本明細書に開示の技術の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。

【符号の説明】

【0083】

１０：測定部
１１：光源
４３：参照ミラー
６０、７０：干渉光生成部
８０、９０：干渉光検出部
８１、８２、９１、９２：バランス型光検出器
８３、９３：信号処理器
８４、８５、９４、９５：信号処理部
１００：サンプリングトリガー／クロック発生器
１４０：サンプリングトリガー発生器
１６０：サンプリングロック発生器
２００：演算装置
２０２：演算部
５００：被検眼
Ｓ１、Ｓ２：測定光路
Ｒ１、Ｒ２：参照光路

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】