特許7340668IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

一般的に、電子デバイスの製造に関する。より具体的には、本発明は、フォトレジスト組成物、及びネガ型現像プロセスを使用する微細パターンの形成を可能にするフォトリソグラフィープロセス

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本明細書では、酸不安定基を含む第1のポリマーと;光酸発生剤と;11を超える親油性(logP)値を有するトリアルキルアミド化合物を含む酸拡散制御剤と;を含有するフォトレジスト組成物が開示される。

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