特許7340706IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

発明の分野 本発明は、パワーエレクトロニクスの分野に関する。特に、本発明は、パワー半導体モジュール

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

発明の説明 本発明の目的は、モジュールにパッケージ化されたパワー半導体チップの物理的状態の判定および測定を改善し、容易にすることである。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の一パワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
【図2】 本発明のさらなるパワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
【図3】 本発明のさらなるパワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
【図4】 本発明のさらなるパワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
【図5】 本発明のさらなるパワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
【図6】 本発明のさらなるパワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
図面で用いられる参照符号、およびその意味は、参照符号のリストに要約形式で列挙されている。原則として、図面において同一の部品には同一の参照符号が付されている。

代表図 図1本件の代表的な図

参照符号のリスト 10 パワー半導体モジュール 12 基板 14 金属化層 14a、14b、14c 構造化領域 16 金属化層 18 半導体チップ 20 金属クリップ 20a 第1部 20b 中間部 20c 第2部 22 抵抗器 24 端子 26 ベースプレート 28 冷却管 30 モールド封止材 32 凹部 34 回路基板 36 非接触温度センサ 37 封止リング 38 接触温度センサ 40 磁界センサ 42 ピン 44 カバー層 46 プレスピン 48 第2の凹部 50 金属板/ストリップ 52 第2のプレスピン 54 さらなる凹部 56 さらなるプレスピン 58 デカップリングコンデンサ 60 冷却流体 62 カバープレート 64 ノズル

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