技術分野
発明の分野
本発明は、パワーエレクトロニクスの分野に関する。特に、本発明は、パワー半導体モジュール
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
発明の説明
本発明の目的は、モジュールにパッケージ化されたパワー半導体チップの物理的状態の判定および測定を改善し、容易にすることである。
この特許の権利範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
本発明の一パワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
【図2】
本発明のさらなるパワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
【図3】
本発明のさらなるパワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
【図4】
本発明のさらなるパワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
【図5】
本発明のさらなるパワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
【図6】
本発明のさらなるパワー半導体モジュールを貫通する断面を模式的に示す図である。
図面で用いられる参照符号、およびその意味は、参照符号のリストに要約形式で列挙されている。原則として、図面において同一の部品には同一の参照符号が付されている。
参照符号のリスト
10 パワー半導体モジュール
12 基板
14 金属化層
14a、14b、14c 構造化領域
16 金属化層
18 半導体チップ
20 金属クリップ
20a 第1部
20b 中間部
20c 第2部
22 抵抗器
24 端子
26 ベースプレート
28 冷却管
30 モールド封止材
32 凹部
34 回路基板
36 非接触温度センサ
37 封止リング
38 接触温度センサ
40 磁界センサ
42 ピン
44 カバー層
46 プレスピン
48 第2の凹部
50 金属板/ストリップ
52 第2のプレスピン
54 さらなる凹部
56 さらなるプレスピン
58 デカップリングコンデンサ
60 冷却流体
62 カバープレート
64 ノズル
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