特許7342022物体の角度放射とスペクトル放射を同時に測定できるようにする光学装置

発明の名称　物体の角度放射とスペクトル放射を同時に測定できるようにする光学装置

出願人　エルディム　（識別番号 500489635）

　　　　特許公開件数ランキング 13975 位（0件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 11821 位（0件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7342022

公報発行日　2023年9月11

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7342022

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