特許 7342022出願番号特願 2020-552876
物体の角度放射とスペクトル放射を同時に測定できるようにする光学装置

出願人エルディム（識別番号 500489635）

2026年特許公開件数ランキング 28039位 0件（※）

2026年特許取得件数ランキング 23055位 0件（※）

公報発行日　2023年9月11

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7342022　ログイン済みの方はこのURLへ

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※ 共同出願を含む

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【図1】図１は、従来技術によるシステムの概略図を表す。

【図2】図２は、従来技術によるシステムの概略図を表す。

【図3】図３は、本発明によるシステムの概略図を表す。

【図4】図４は、本発明によるシステムのフーリエ光学系の実施形態、及び前記光学系に関連する選択手段を表す。

【図5】図５は、フーリエ面における、図４に表されるフーリエ光学系の横方向色収差の影響の概略図である。

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