特許7347842IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

計測システム、計測方法、計測用プログラムに関し、特に、複数のピンを備えた測定治具を用いた計測システム、計測方法、計測用プログラム

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、工作機械などで使用する場合、ワークの利用環境（例えば、水や油内）に依らず、効率的にワークの表面立体的形状を計測する計測システム、方法、プログラムが求められている。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の第１の態様にかかる計測システムは、格子状に配列された長手方向に変位可能な複数のピン、および前記複数のピンを保持する保持機構、を備えた測定治具と、 前記測定治具を接触感知装置に対して前記複数のピンの前記長手方向に沿って移動させる駆動機構と、 を備え、 前記測定治具の前記複数のピンを、測定対象となるワークに押し当てて、前記ワークの形状を各ピンの変位として転写した後、 前記・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示によれば、ワークの利用環境（例えば、水や油内）に依らず、効率的にワークの表面立体的形状を計測する計測システムおよび方法を提供することができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 実施の形態１にかかる測定治具の構成を示す概略上面図である。
【図2】 実施の形態１にかかる測定治具の構成を示す概略側面図である。
【図3】 実施の形態１にかかるワーク計測装置の構成を示す概略図である。
【図4】 実施の形態１にかかるワーク計測方法を示すフローチャートである。
【図5】 実施の形態１にかかる加工液内のワークの表面形状の計測方法を説明する図である。
【図6】 実施の形態１にかかるワークの表面形状が転写された測定治具の各ピンの座標を数値化する方法を説明する図である。
【図7】 実施の形態１にかかるすべてのピンが接触感知装置に接触した状態図である。
【図8】 実施の形態２にかかる計測システムの構成を説明する図である。
【図9】 実施の形態２にかかるワーク計測方法を示すフローチャートである。

代表図 図1本件の代表的な図

１ａ～１ｎ ピン １０ 測定治具 １１ シート １２ 保持機構 １５，１６ 駆動機構 ２０ ワーク計測装置 ２１ 接触感知装置 ２２ 演算装置 ２３ ディスプレイ ３０ ワーク ３１ ワーク設置台 ５０ 表面

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