発明の名称 非接触検査システム、非接触検査装置及び非接触検査方法
出願人 学校法人桐蔭学園 (識別番号 593232206)
特許公開件数ランキング 30447 位(1件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 9051 位(2件)(共同出願を含む)
出願人 プロテック株式会社 (識別番号 517228490)
特許公開件数ランキング 30447 位(0件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 24615 位(0件)(共同出願を含む)
公報番号 特許-7350243
公報発行日 2023年9月26
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7350243
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