特許 7351394 ロープテスタ用検査装置

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B1)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2023-09-19

(45)【発行日】2023-09-27

(54)【発明の名称】ロープテスタ用検査装置

(51)【国際特許分類】

   G01N 27/83 20060101AFI20230920BHJP

   B66B 5/02 20060101ALN20230920BHJP

【ＦＩ】

G01N27/83

B66B5/02 C

【請求項の数】 5

(21)【出願番号】P 2022170535

(22)【出願日】2022-10-25

【審査請求日】2022-10-25

(73)【特許権者】

【識別番号】000112705

【氏名又は名称】フジテック株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110000729

【氏名又は名称】弁理士法人ユニアス国際特許事務所

(72)【発明者】

【氏名】平田 智之

(72)【発明者】

【氏名】廣畑 圭司朗

(72)【発明者】

【氏名】田平 尚己

(72)【発明者】

【氏名】田 利軍

(72)【発明者】

【氏名】張 燕莉

【審査官】村田 顕一郎

(56)【参考文献】

【文献】特開２０１０－１６００６８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開平１１－２１１６９８（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１２－１５４７２９（ＪＰ，Ａ）

【文献】国際公開第２０１９／１４６７４２（ＷＯ，Ａ１）

【文献】米国特許出願公開第２００８／０１０６２６０（ＵＳ，Ａ１）

【文献】国際公開第２０１３／０２３８１８（ＷＯ，Ａ１）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ２７／７２－２７／９０９３

Ｂ６６Ｂ ５／０２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

挿入溝の内部に配置されるロープから漏洩する磁束を検出するロープテスタを、検査するためのロープテスタ用検査装置であって、
前記挿入溝の内部に配置される装置本体と、
前記装置本体の外部に磁束を発生させる磁束発生部と、を備え、
前記磁束発生部は、自身の周りに磁界を形成する磁石部を備え、
前記装置本体は、前記挿入溝をガイドするために、第１方向へ延びるガイド部と、前記磁石部を固定する固定部と、を備え、
前記磁石部は、前記ガイド部の前記第１方向の中間部に配置され、
前記ガイド部及び前記固定部は、非磁性体で形成される、ロープテスタ用検査装置。

【請求項2】

前記磁石部は、電流を流すことによって磁束を発生させるソレノイドを備える、請求項１に記載のロープテスタ用検査装置。

【請求項3】

前記磁石部は、前記ソレノイドの内部に配置される磁性部を備える、請求項２に記載のロープタ用検査装置。

【請求項4】

挿入溝の内部に配置されるロープから漏洩する磁束を検出するロープテスタを、検査するためのロープテスタ用検査装置であって、
前記挿入溝の内部に配置される装置本体と、
前記装置本体の外部に磁束を発生させる磁束発生部と、を備え、
前記装置本体は、前記挿入溝をガイドするために、第１方向へ延びるガイド部を備え、
前記磁束発生部は、自身の周りに磁界を形成する磁石部を備え、
前記磁石部は、前記ガイド部の前記第１方向の中間部に配置され、
前記挿入溝は、溝幅方向に離れる一対の溝側面を備えることに対し、
前記ガイド部は、前記一対の溝側面をそれぞれガイド可能な一対の第１ガイド面と、前記一対の溝側面をそれぞれガイド可能な一対の第２ガイド面と、を備え、
前記一対の第１ガイド面間の距離は、前記一対の第２ガイド面間の距離と、異なる、ロープテスタ用検査装置。

【請求項5】

挿入溝の内部に配置されるロープから漏洩する磁束を検出するロープテスタを、検査するためのロープテスタ用検査装置であって、
前記挿入溝の内部に配置される装置本体と、
前記装置本体の外部に磁束を発生させる磁束発生部と、を備え、
前記装置本体は、前記挿入溝をガイドするために、第１方向へ延びるガイド部を備え、
前記磁束発生部は、自身の周りに磁界を形成する磁石部を備え、
前記磁石部は、前記ガイド部の前記第１方向の中間部に配置され、
前記装置本体は、前記磁石部が固定されるベース部を備え、
前記ガイド部は、前記ベース部に選択して装着されるために、前記ベース部に着脱可能な第１ガイド部及び第２ガイド部を含み、
前記挿入溝は、溝幅方向に離れる一対の溝側面を備えることに対し、
前記第１ガイド部は、前記一対の溝側面をそれぞれガイド可能な一対のガイド面を備え、前記第２ガイド部は、前記一対の溝側面をそれぞれガイド可能な一対のガイド面を備え、
前記第１ガイド部の前記一対のガイド面間における距離は、前記第２ガイド部の前記一対のガイド面間における距離と、異なる、ロープテスタ用検査装置。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本出願は、ロープテスタ用検査装置に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、例えば、ロープテスタは、挿入溝の内部に配置されるロープから漏洩する磁束を検出する（例えば、特許文献１）。ところで、例えば、製造して出荷前のロープテスタや現在使用しているロープテスタに対して、ロープテスタがロープから漏洩する磁束を検出することを検査したい、という要望が存在する。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特開２０２０－１３２３９５号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

そこで、課題は、ロープテスタがロープから漏洩する磁束を検出することを検査することができるロープテスタ用検査装置を提供することである。

【課題を解決するための手段】

【0005】

ロープテスタ用検査装置は、挿入溝の内部に配置されるロープから漏洩する磁束を検出するロープテスタを、検査するためのロープテスタ用検査装置であって、前記挿入溝の内部に配置される装置本体と、前記装置本体の外部に磁束を発生させる磁束発生部と、を備える。

【図面の簡単な説明】

【0006】

【図1】一例のロープテスタの斜視図

【図2】同ロープテスタの要部底面図

【図3】図１のIII－III線の要部拡大断面図

【図4】同ロープテスタの構成要素の斜視図

【図5】同ロープテスタの構成要素の正面図

【図6】一実施形態に係るロープテスタ用検査装置の斜視図

【図7】同ロープテスタ用検査装置の分解斜視図

【図8】同ロープテスタ用検査装置の図（（ａ）：側面図、（ｂ）：正面図）

【図9】同ロープテスタ用検査装置の要部正面図

【図10】同ロープテスタ用検査装置の底面図

【図11】同ロープテスタ用検査装置の底面図であって、第１のロープテスタを検査する状態を示す図

【図12】同ロープテスタ用検査装置の底面図であって、第２のロープテスタを検査する状態を示す図

【図13】同ロープテスタ用検査装置の斜視図であって、ベース部に別のガイド部を装着させた状態を示す図

【図14】図１３に係るロープテスタ用検査装置の底面図

【図15】図１３に係るロープテスタ用検査装置の底面図であって、第３のロープテスタを検査する状態を示す図

【図16】図１３に係るロープテスタ用検査装置の底面図であって、第４のロープテスタを検査する状態を示す図

【図17】図１３に係るロープテスタ用検査装置の底面図であって、第５のロープテスタを検査する状態を示す図

【図18】同実施形態に係るロープテスタ用検査装置がロープテスタを検査する状態を示す図（（ａ）：斜視図、（ｂ）：（ａ）の状態からロープテスタ用検査装置をスライドさせた状態を示す正面図）

【図19】他の実施形態に係るロープテスタ用検査装置の図（（ａ）：ガイド部の側面図、（ｂ）：分解底面図）

【図20】さらに他の実施形態に係るロープテスタ用検査装置の分解図（（ａ）：側面図、（ｂ）：底面図）

【発明を実施するための形態】

【0007】

各図面において、構成要素の寸法は、例えば、理解を容易にするために、実際の寸法に対して拡大、縮小して示す場合があり、また、各図面の間での寸法比は、一致していない場合がある。なお、各図面において、例えば、理解を容易にするために、構成要素の一部を省略して示す場合がある。

【0008】

第１、第２等の序数を含む用語は、多様な構成要素を説明するために用いられるが、この用語は、一つの構成要素を他の構成要素から区別する目的でのみ用いられ、構成要素は、この用語によって特に限定されるものではない。なお、序数を含む構成要素の個数は、特に限定されず、例えば、一つでもよい場合がある。また、以下の明細書及び図面で用いられる序数は、特許請求の範囲に記載された序数と異なる場合がある。

【0009】

まず、本実施形態に係るロープテスタ用検査装置の各構成を説明するのに先立って、ロープテスタの構成について、図１～図５を参照しながら説明する。なお、以下のロープテスタは、ロープテスタの構成等の理解を助けるために例示するものであり、ロープテスタ用検査装置が検査するロープテスタの構成等を限定するものではない。

【0010】

図１に示すように、ロープテスタ１１は、例えば、エレベータに用いられるエレベータ用ロープＸ１を診断するために用いられてもよい。なお、ロープテスタ１１が診断するロープＸ１は、特に限定されない。

【0011】

ロープテスタ１１は、ロープＸ１が内部に挿入されるために、第１方向Ｄ１へ延びる挿入溝１２と、把持される把持部１３とを備えていてもよい。挿入溝１２は、例えば、ロープテスタ１１の第３方向Ｄ３の一端に配置されていてもよく、また、把持部１３は、例えば、ロープテスタ１１の第３方向Ｄ３の他端に配置されていてもよい。なお、図１に係るロープテスタ１１は、把持されて用いられるが、特に限定されず、例えば、エレベータの昇降路に固定されて用いられてもよい。

【0012】

また、各図において、第１方向Ｄ１は、挿入溝１２が延びる溝長さ方向Ｄ１であり、第２方向Ｄ２は、挿入溝１２の溝幅方向Ｄ２であり、第３方向Ｄ３は、挿入溝１２の溝深さ方向Ｄ３である。なお、第１～第３方向Ｄ１～Ｄ３は、互いに直交する方向である。

【0013】

図２に示すように、挿入溝１２は、例えば、溝幅方向Ｄ２に離れる一対の溝側面１２ａ，１２ａと、一対の溝側面１２ａ，１２ａ同士を接続する溝底面１２ｂとを備えていてもよい。これにより、挿入溝１２は、溝長さ方向Ｄ１視において、溝深さ方向Ｄ３へ向けて一部が開放された凹面に形成されている。

【0014】

図３に示すように、ロープテスタ１１は、例えば、ロープＸ１を磁化させる磁化部１４と、ロープＸ１から漏洩する磁束を検出する磁束検出部１５とを備えていてもよい。なお、特に限定されないが、磁束検出部１５は、例えば、磁束の大きさを電圧（電流）の大きさに変換する各種磁気センサ（ホール素子、コイル）としてもよい。

【0015】

磁化部１４は、例えば、第１及び第２磁石１４ａ，１４ｂと、第１磁石１４ａと第２磁石１４ｂとを磁気的に接続する磁路部１４ｃとを備えていてもよい。これにより、第１及び第２磁石１４ａ，１４ｂと磁路部１４ｃとは、ロープＸ１と協働することによって、無端環状の磁気回路を構成することができる。

【0016】

なお、各磁石１４ａ，１４ｂは、特に限定されないが、例えば、永久磁石としてもよく、また、例えば、電磁石としてもよい。また、磁路部１４ｃは、特に限定されないが、高い透磁率を有しており、例えば、純鉄や低炭素鋼で形成されていてもよい。

【0017】

また、挿入溝１２は、例えば、ロープＸ１から漏洩する磁束を集める溝磁性部１６と、溝磁性部１６の透磁率よりも低い透磁率を有する溝非磁性部１７とを備えていてもよい。そして、磁束検出部１５は、例えば、磁化部１４によって磁化されるロープＸ１から漏洩する磁束を検出するために、溝磁性部１６の内部を通る磁束を検出していてもよい。

【0018】

溝磁性部１６は、特に限定されないが、磁性体（強磁性体）で形成され、高い透磁率を有しており、例えば、純鉄や低炭素鋼で形成されていてもよい。また、溝非磁性部１７は、特に限定されないが、非磁性体（常磁性体、反磁性体）で形成され、低い透磁率を有しており、例えば、ロープＸ１の硬度よりも低い硬度の金属（例えば、アルミ青銅、アルミ）や硬質樹脂で形成されていてもよい。

【0019】

また、例えば、磁性体の透磁率は、非磁性体の透磁率の１００倍以上であることが好ましく、また、１０００倍以上であることがより好ましい。また、例えば、磁性体の透磁率は、大気の透磁率の１００倍以上であることが好ましく、また、１０００倍以上であることがより好ましい。

【0020】

図４及び図５に示すように、溝磁性部１６は、例えば、挿入溝１２を構成する磁性凹部１６ａ，１６ａと、磁性凹部１６ａと磁束検出部１５とを接続する接続部１６ｂとを備えていてもよい。これにより、図５に示すように、ロープＸ１の断線部分が磁性凹部１６ａ，１６ａ間に位置したときに、断線部分から漏洩した磁束が、溝磁性部１６によって集められ、磁束検出部１５は、溝磁性部１６の内部（接続部１６ｂ，１６ｂ間）を通る磁束を検出する。

【0021】

このように、ロープテスタ１１は、挿入溝１２の内部に配置されるロープＸ１から漏洩する磁束を検出することができる。なお、ロープＸ１の断線部分が、磁性凹部１６ａ，１６ａ間でなく、例えば、一方の磁性凹部１６ａの近くに位置したときでも、断線部分から漏洩した磁束が、溝磁性部１６によって集められ、磁束検出部１５は、溝磁性部１６の内部（接続部１６ｂ，１６ｂ間）を通る磁束を検出できる。

【0022】

そして、ロープテスタ１１は、例えば、磁束検出部１５で検出した情報を、有線又は無線によって、外部装置（例えば、当該情報に基づいてロープＸ１を診断する診断システム）へ向けて出力してもよい。なお、接続部１６ｂと磁束検出部１５との間には、例えば、隙間が形成されていてもよい。

【0023】

次に、ロープテスタ用検査装置における一実施形態について、図６～図１８を参照しながら説明する。なお、以下の実施形態は、ロープテスタ用検査装置の構成等の理解を助けるために例示するものであり、ロープテスタ用検査装置の構成を限定するものではない。

【0024】

また、各図において、各方向Ｄ１～Ｄ３は、ロープテスタ用検査装置がロープテスタ１を検査するときの方向を示している。具体的には、第１方向Ｄ１は、溝長さ方向Ｄ１であり、第２方向Ｄ２は、溝幅方向Ｄ２であり、第３方向Ｄ３は、溝深さＤ３方向である。

【0025】

図６～図９に示すように、ロープテスタ用検査装置（以下、単に「検査装置」ともいう）１は、例えば、挿入溝１２の内部に配置される装置本体２と、装置本体２の外部に磁束Ｘ２を発生させる磁束発生部３とを備えていてもよい。そして、検査装置１は、ロープテスタ１１を検査するために用いられる。

【0026】

例えば、本実施形態のように、磁束発生部３は、自身の周りに磁界を形成する磁石部４を備え、装置本体２は、磁石部４を固定する固定部５と、固定部５が固定されることによって、磁石部４が固定されるベース部６と、挿入溝１２をガイドし、ベース部６に着脱可能であるガイド部７と、ベース部６に固定され、ロープテスタ１１を当て止めする当止部９とを備えている、という構成でもよい。

【0027】

磁石部４は、例えば、本実施形態のように、電流を流すことによって磁束Ｘ２を発生させるソレノイド４ａと、ソレノイド４ａの内部に配置される磁性部４ｂ（例えば、鉄心）とを備えていてもよい。これにより、ソレノイド４ａに電流が流されることによって、磁束Ｘ２が発生するため、磁束Ｘ２が装置本体２の外部に発生する。なお、磁石部４は、例えば、磁性部４ｂを備えておらず、ソレノイド４ａのみで構成されていてもよい。

【0028】

固定部５は、特に限定されないが、例えば、非磁性体で形成され、低い透磁率を有している。これにより、磁石部４の周りに形成される磁界に、固定部５が影響を及ぼさないため、装置本体２の外部に発生する磁束Ｘ２の大きさを一定に安定させることができる。

【0029】

なお、ベース部６、ガイド部７及び当止部９は、特に限定されないが、例えば、それぞれ非磁性体で形成され、低い透磁率を有していてもよい。例えば、装置本体２の全体は、非磁性体で形成され、低い透磁率を有していてもよい。

【0030】

また、検査装置１は、例えば、本実施形態のように、情報が入力される入力部１ａと、ソレノイド４ａに電流を流す電源部１ｂとを備えていてもよい。そして、電源部１ｂは、例えば、入力部１ａに入力された情報に基づいて、所定の大きさの電流をソレノイド４ａに流してもよい。

【0031】

例えば、入力部１ａに、ソレノイド４ａに流す電流の大きさ、又は、磁石部４で発生させる磁束Ｘ２の大きさ等の情報が入力されることによって、電源部１ｂは、ソレノイド４ａに流す電流の大きさを変更する。これにより、装置本体２の外部に発生する磁束Ｘ２の大きさを変更することができるため、例えば、検査に適切な磁束Ｘ２の大きさに設定することができる。

【0032】

なお、特に限定されないが、例えば、設定される磁束Ｘ２は、ロープＸ１が実際に断線した（自然断線した）場合にロープテスタ１１が検出する磁束よりも、小さくしてもよい。これにより、ロープテスタ１１がロープＸ１から漏洩する磁束を検出する能力が一定の基準を満たしていることを検査することが可能となり、ロープテスタ１１の検出能力を担保することができる。

【0033】

ガイド部７は、例えば、本実施形態のように、挿入溝１２をガイドするために、第１方向Ｄ１へ延びていてもよい。それに対して、磁石部４は、例えば、本実施形態のように、ガイド部７の第１方向Ｄ１の中間部に配置されていてもよい。これにより、磁石部４が、ガイド部７の第１方向Ｄ１の中間部で、自身の周りに磁界を形成するため、ガイド部７の第１方向Ｄ１の中間部で、磁束Ｘ２が装置本体２の外部に発生する。

【0034】

そして、例えば、本実施形態のように、磁石部４の一部は、露出していてもよい。これにより、磁石部４の位置を把握できるため、例えば、装置本体２の外部で発生している磁束Ｘ２の位置を把握することが容易となる。なお、特に限定されないが、中間部とは、ガイド部７の中央の位置であって、例えば、ガイド部７の第１方向Ｄ１の長さの８０％の範囲の位置としてもよく、また、例えば、ガイド部７の第１方向Ｄ１の長さの５０％の範囲の位置としてもよい。

【0035】

また、磁石部４は、例えば、本実施形態のように、第３方向Ｄ３へ突出して露出していてもよい。それに対して、ガイド部７は、磁石部４及び固定部５を収容するために、第２方向Ｄ２に開放された収容凹部７ａを備えていてもよい。これにより、ガイド部７が磁石部４に対して第２方向Ｄ２へ変位することによって、ガイド部７をベース部６に着脱することができるため、例えば、ガイド部７が磁石部４に当たることを抑制することができる。

【0036】

ところで、ガイド部７，８は、例えば、ベース部６に選択して装着されるために、複数設けられていてもよい。本実施形態においては、ガイド部７，８は、図６～図１２に示す第１ガイド部７と、図１３～図１７に示す第２ガイド部８とを備えている。これにより、例えば、検査するロープテスタ１１の挿入溝１２の大きさに対応して、複数のガイド部７，８のうち、一つのガイド部７，８がベース部６に装着される。

【0037】

なお、ガイド部７，８の個数は、本実施形態においては、二つであるが、特に限定されず、例えば、一つでもよく、また、例えば、三つ以上でもよい。また、ロープテスタ１１の挿入溝１２の大きさは、例えば、ロープテスタ１１で診断するロープＸ１の直径の大きさに対応している。

【0038】

図１０～図１２に示すように、第１ガイド部７は、例えば、第１ロープテスタ１１ａの一対の溝側面１２ａ，１２ａをそれぞれガイド可能な一対の第１ガイド面７ｂ，７ｂと、第２ロープテスタ１１ｂの一対の溝側面１２ａ，１２ａをそれぞれガイド可能な一対の第２ガイド面７ｃ，７ｃとを備えていてもよい。

【0039】

そして、第１ガイド面７ｂ，７ｂ間の距離は、第２ガイド面７ｃ，７ｃ間の距離と、異なっている。例えば、本実施形態においては、第１ロープテスタ１１ａの溝側面１２ａ，１２ａ間の距離が、第２ロープテスタ１１ｂの溝側面１２ａ，１２ａ間の距離よりも大きいことに対して、第１ガイド面７ｂ，７ｂ間の距離は、第２ガイド面７ｃ，７ｃ間の距離よりも、大きくなっている。

【0040】

これにより、第１ロープテスタ１１ａの溝側面１２ａを第１ガイド面７ｂでガイドすることができ、また、第２ロープテスタ１１ｂの溝側面１２ａを第２ガイド面７ｃでガイドすることができる。したがって、検査するロープテスタ１１の挿入溝１２の大きさに対応して、適切なガイド面７ｂ，７ｃでロープテスタ１１の溝側面１２ａをガイドすることができる。

【0041】

なお、第１ガイド部７は、例えば、本実施形態のように、挿入溝１２の先端部１２ｃ、即ち、ロープテスタ１１の溝深さ方向Ｄ３の先端部１２ｃをガイドする先端ガイド面７ｄを備えていてもよい。これにより、例えば、磁石部４が挿入溝１２の溝底面１２ｂに当たることを抑制することができる。また、例えば、溝長さ方向Ｄ１視において、挿入溝１２に対する磁石部４の位置を一定にすることができる。そして、第１ガイド部７は、複数のガイド面７ｂ，７ｃ，７ｄによって、階段状に形成されている。

【0042】

また、図１３～図１７に示すように、第２ガイド部８は、例えば、第３ロープテスタ１１ｃの一対の溝側面１２ａ，１２ａをそれぞれガイド可能な一対の第３ガイド面８ｂ，８ｂと、第４ロープテスタ１１ｄの一対の溝側面１２ａ，１２ａをそれぞれガイド可能な一対の第４ガイド面８ｃ，８ｃと、第５ロープテスタ１１ｅの一対の溝側面１２ａ，１２ａをそれぞれガイド可能な一対の第５ガイド面８ｄ，８ｄとを備えていてもよい。

【0043】

そして、第３ガイド面８ｂ，８ｂ間の距離と、第４ガイド面８ｃ，８ｃ間の距離と、第５ガイド面８ｄ，８ｄ間の距離とは、それぞれ異なっている。例えば、本実施形態においては、第３ロープテスタ１１ｃの溝側面１２ａ，１２ａ間の距離、第４ロープテスタ１１ｄの溝側面１２ａ，１２ａ間の距離、第５ロープテスタ１１ｅの溝側面１２ａ，１２ａ間の距離の順で、大きいことに対して、第３ガイド面８ｂ，８ｂ間の距離、第４ガイド面８ｃ，８ｃ間の距離、第５ガイド面８ｄ，８ｄ間の距離の順で、大きくなっている。

【0044】

これにより、第３ロープテスタ１１ｃの溝側面１２ａを第３ガイド面８ｂでガイドすることができ、また、第４ロープテスタ１１ｄの溝側面１２ａを第４ガイド面８ｃでガイドすることができ、また、第５ロープテスタ１１ｅの溝側面１２ａを第５ガイド面８ｄでガイドすることができる。したがって、検査するロープテスタ１１の挿入溝１２の大きさに対応して、適切なガイド面８ｂ，８ｃ，８ｄでロープテスタ１１の溝側面１２ａをガイドすることができる。

【0045】

なお、第２ガイド部８は、例えば、本実施形態のように、挿入溝１２の先端部１２ｃ、即ち、ロープテスタ１１の溝深さ方向Ｄ３の先端部１２ｃをガイドする先端ガイド面８ｅを備えていてもよい。これにより、例えば、磁石部４が挿入溝１２の溝底面１２ｂに当たることを抑制することができる。また、例えば、溝長さ方向Ｄ１視において、挿入溝１２に対する磁石部４の位置を一定にすることができる。そして、第２ガイド部８は、複数のガイド面８ｂ，８ｃ，８ｄ，８ｅによって、階段状に形成されている。

【0046】

また、例えば、本実施形態のように、第１ガイド部７のガイド面７ｂ，７ｂ（７ｃ、７ｃ）間の距離は、第２ガイド部８のガイド面８ｂ，８ｂ（８ｃ，８ｃ；８ｄ，８ｄ）間の距離と、それぞれ異なっていてもよい。即ち、第１ガイド面７ｂ，７ｂ間の距離と、第２ガイド面７ｃ，７ｃ間の距離と、第３ガイド面８ｂ，８ｂ間の距離と、第４ガイド面８ｃ，８ｃ間の距離と、第５ガイド面８ｄ，８ｄ間の距離とは、それぞれ異なっていてもよい。

【0047】

例えば、本実施形態においては、第３ガイド面８ｂ，８ｂ間の距離、第１ガイド面７ｂ，７ｂ間の距離、第４ガイド面８ｃ，８ｃ間の距離、第２ガイド面７ｃ，７ｃ間の距離、第５ガイド面８ｄ，８ｄ間の距離の順で、大きくなっている。これにより、検査するロープテスタ１１の挿入溝１２の大きさに対応して、適切なガイド部７，８がベース部６に装着されることによって、ガイド面７ｂ，７ｃ，８ｂ，８ｃ，８ｄで、ロープテスタ１１の溝側面１２ａをガイドすることができる。

【0048】

次に、検査装置１でロープテスタ１１を検査する方法を、図１８を参照しながら説明する。なお、以下の方法は、ロープテスタ１１の検査方法等の理解を助けるために例示するものであり、ロープテスタ１１の検査方法を限定するものではない。

【0049】

例えば、図１８（ａ）に示すように、検査装置１がロープテスタ１１に対して第１方向Ｄ１にスライドする。その後、例えば、図１３（ｂ）に示すように、当止部９がロープテスタ１１に当て止めされる。

【0050】

このとき、例えば、第２方向Ｄ２視において、磁石部４の少なくとも一部は、溝磁性部１６の磁性凹部１６ａ，１６ａ間に配置されていてもよい。これにより、当止部９がロープテスタ１１に当て止めされた状態で、ロープテスタ１１は、磁石部４で発生された磁束を検出する。したがって、ロープテスタ１１がロープＸ１から漏洩する磁束を検出することを検査することができる。

【0051】

なお、特に限定されないが、例えば、本実施形態のように、磁石部４の第１方向Ｄ１の長さＷ１は、溝磁性部１６の磁性凹部１６ａ，１６ａの内端同士間における、第１方向Ｄ１の距離Ｗ２よりも、長く、且つ、溝磁性部１６の磁性凹部１６ａ，１６ａの外端同士間における、第１方向Ｄ１の距離Ｗ３よりも、短い、という構成が好ましい。

【0052】

［１］
以上より、ロープテスタ用検査装置１は、本実施形態のように、挿入溝１２の内部に配置されるロープＸ１から漏洩する磁束を検出するロープテスタ１１を、検査するためのロープテスタ用検査装置１であって、前記挿入溝１２の内部に配置される装置本体２と、前記装置本体２の外部に磁束Ｘ２を発生させる磁束発生部３と、を備える、という構成が好ましい。

【0053】

斯かる構成によれば、装置本体２が、ロープテスタ１１の挿入溝１２の内部に配置され、磁束発生部３が、装置本体２の外部に磁束Ｘ２を発生させることによって、ロープテスタ１１は、当該磁束Ｘ２を検出する。これにより、ロープテスタ１１がロープＸ１から漏洩する磁束を検出することを検査することができる。

【0054】

［２］
また、上記［１］のロープテスタ用検査装置１においては、本実施形態のように、前記装置本体２は、前記挿入溝１２をガイドするために、第１方向Ｄ１へ延びるガイド部７，８を備え、前記磁束発生部３は、自身の周りに磁界を形成する磁石部４を備え、前記磁石部４は、前記ガイド部７，８の前記第１方向Ｄ１の中間部に配置される、という構成が好ましい。

【0055】

斯かる構成によれば、磁石部４は、ガイド部７，８の第１方向Ｄ１の中間部で、自身の周りに磁界を形成する。これにより、ガイド部７，８の第１方向Ｄ１の中間部で、磁束Ｘ２が装置本体２の外部に発生する。

【0056】

［３］
また、上記［２］のロープテスタ用検査装置１においては、本実施形態のように、前記磁石部４は、電流を流すことによって磁束Ｘ２を発生させるソレノイド４ａを備える、という構成が好ましい。

【0057】

斯かる構成によれば、ソレノイド４ａに電流が流されることによって、磁束Ｘ２が発生するため、磁束Ｘ２が装置本体２の外部に発生する。そして、ソレノイド４ａに流す電流の大きさを変更することによって、装置本体２の外部に発生する磁束Ｘ２の大きさを変更することができる。

【0058】

［４］
また、上記［２］又は［３］のロープテスタ用検査装置１においては、本実施形態のように、前記挿入溝１２は、溝幅方向Ｄ２に離れる一対の溝側面１２ａ，１２ａを備えることに対し、前記装置本体２は、前記一対の溝側面１２ａ，１２ａをそれぞれガイド可能な一対の第１ガイド面７ｂ，７ｂ（８ｂ，８ｂ）と、前記一対の溝側面１２ａ，１２ａをそれぞれガイド可能な一対の第２ガイド面７ｃ，７ｃ（８ｃ，８ｃ；８ｄ，８ｄ）と、を備え、前記一対の第１ガイド面７ｂ，７ｂ（８ｂ，８ｂ）間の距離は、前記一対の第２ガイド面７ｃ，７ｃ（８ｃ，８ｃ；８ｄ，８ｄ）間の距離と、異なる、という構成が好ましい。

【0059】

斯かる構成によれば、第１ガイド面７ｂ，７ｂ（８ｂ，８ｂ）間の距離が、第２ガイド面７ｃ，７ｃ（８ｃ，８ｃ；８ｄ，８ｄ）間の距離と、異なっているため、挿入溝１２の溝側面１２ａ，１２ａ間の距離に対応して、第１ガイド面７ｂが溝側面１２ａをガイドしたり、第２ガイド面７ｃが溝側面１２ａをガイドしたりする。これにより、挿入溝１２の大きさに対応して、ガイド面７ｂ，７ｃ（８ｂ，８ｃ，８ｄ）で溝側面１２ａをガイドすることができる。

【0060】

［５］
また、上記［２］～［４］の何れか一つのロープテスタ用検査装置１においては、前記装置本体２は、前記磁石部４が固定されるベース部６を備え、前記ガイド部７，８は、前記ベース部６に選択して装着されるために、前記ベース部６に着脱可能な第１ガイド部７及び第２ガイド部８を含み、前記挿入溝１２は、溝幅方向Ｄ２に離れる一対の溝側面１２ａ，１２ａを備えることに対し、前記第１ガイド部７は、前記一対の溝側面１２ａ，１２ａをそれぞれガイド可能な一対のガイド面７ｂ，７ｂ（７ｃ，７ｃ）を備え、前記第２ガイド部８は、前記一対の溝側面１２ａ，１２ａをそれぞれガイド可能な一対のガイド面８ｂ，８ｂ（８ｃ，８ｃ；８ｄ，８ｄ）を備え、前記第１ガイド部７の前記一対のガイド面７ｂ，７ｂ（７ｃ，７ｃ）間における距離は、前記第２ガイド部８の前記一対のガイド面間における距離８ｂ，８ｂ（８ｃ，８ｃ；８ｄ，８ｄ）と、異なる、という構成が好ましい。

【0061】

斯かる構成によれば、第１ガイド部７のガイド面７ｂ，７ｂ（７ｃ，７ｃ）間の距離が、第２ガイド部８のガイド面８ｂ，８ｂ（８ｃ，８ｃ；８ｄ，８ｄ）間の距離と、異なっているため、挿入溝１２の溝側面１２ａ，１２ａ間の距離に対応して、第１ガイド部７のガイド面７ｂ，７ｃが溝側面１２ａをガイドしたり、第２ガイド部８のガイド面８ｂ，８ｃ，８ｄが溝側面１２ａをガイドしたりする。これにより、挿入溝１２の大きさに対応して、適切なガイド部７，８がベース部６に装着されることによって、ガイド面７ｂ，７ｃ，８ｂ，８ｃ，８ｄで溝側面１２ａをガイドすることができる。

【0062】

なお、ロープテスタ用検査装置１は、上記した実施形態の構成に限定されるものではなく、また、上記した作用効果に限定されるものではない。また、ロープテスタ用検査装置１は、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。例えば、下記する各種の変更例に係る構成や方法等を任意に一つ又は複数選択して、上記した実施形態に係る構成や方法等に採用してもよいことは勿論である。

【0063】

（Ａ）上記実施形態に係るロープテスタ用検査装置１においては、ガイド部７，８は、磁石部４及び固定部５を収容するために、第２方向Ｄ２に開放された収容凹部７ａ，８ａを備えている、という構成である。しかしながら、ロープテスタ用検査装置１は、斯かる構成に限られない。

【0064】

例えば、図１９に示すように、ガイド部７は、磁石部４及び固定部５を収容するために、第３方向Ｄ３に貫通する収容凹部７ａを備えていてもよい。斯かる構成においては、ガイド部７がベース部６に対して第３方向Ｄ３へ変位することによって、ガイド部７をベース部６に着脱することができる。

【0065】

また、例えば、図２０に示すように、ガイド部７は、磁石部４及び固定部５を第２方向Ｄ２で挟む一対のガイド片７ｅ，７ｅを備え、ガイド片７ｅは、磁石部４及び固定部５を収容するために、第２方向Ｄ２に開放する収容凹部７ａを備えている、という構成でもよい。斯かる構成においては、ガイド片７ｅがベース部６に対してそれぞれ第２方向Ｄ２へ変位することによって、ガイド部７をベース部６に着脱することができる。

【0066】

（Ｂ）また、上記実施形態に係るロープテスタ用検査装置１においては、磁束発生部３は、自身の周りに磁界を形成する磁石部４を備えている、という構成である。しかしながら、ロープテスタ用検査装置１は、斯かる構成に限られない。

【0067】

例えば、装置本体２は、第１方向Ｄ１に延びて磁性を有する長尺体（例えば、ロープ、鉄の棒等）であり、磁束発生部３は、長尺体の各端部に連結される磁石（例えば、永久磁石、電磁石等）と、長尺体の中間部に形成される凹み（例えば、欠損傷等）とである、という構成でもよい。斯かる構成によれば、当該凹みから磁束が漏洩するため、装置本体２の外部に磁束Ｘ２を発生させることができる。

【0068】

（Ｃ）また、上記実施形態に係るロープテスタ用検査装置１においては、磁石部４は、電流を流すことによって磁束を発生させるソレノイド４ａを備える、即ち、電磁石である、という構成である。しかしながら、ロープテスタ用検査装置１は、斯かる構成に限られない。例えば、磁石部４は、永久磁石である、という構成でもよい。

【0069】

（Ｄ）また、上記実施形態に係るロープテスタ用検査装置１においては、ガイド部７，８は、一対のガイド面７ｂ，７ｃ（８ｂ，８ｃ，８ｄ）を複数備え、一対のガイド面７ｂ，７ｃ（８ｂ，８ｃ，８ｄ）間の距離は、互いに異なる、という構成である。しかしながら、ロープテスタ用検査装置１は、斯かる構成に限られない。例えば、各ガイド部７，８は、一対のガイド面７ｂ，７ｃ（８ｂ，８ｃ，８ｄ）を一つのみ備えている、という構成でもよい。

【0070】

（Ｅ）また、上記実施形態に係るロープテスタ用検査装置１においては、ガイド部７，８は、ベース部６に着脱可能である、という構成である。しかしながら、ロープテスタ用検査装置１は、斯かる構成に限られない。例えば、ガイド部７，８は、ベース部６と一体であって、ベース部６に着脱不能である、という構成でもよい。

【0071】

（Ｆ）なお、例えば、特許請求の範囲、明細書及び図面において示した方法及び装置における動作、手順、ステップ、及び段階等の各処理の実行順序は、前の処理の出力を後の処理で用いるものでない限り、任意の順序で実現できる。例えば、便宜上、「まず」、「次に」等を用いて説明したとしても、この順で実行することが必須であることを意味するものではない。

【符号の説明】

【0072】

１…ロープテスタ用検査装置、１ａ…入力部、１ｂ…電源部、２…装置本体、３…磁束発生部、４…磁石部、４ａ…ソレノイド、４ｂ…磁性部、５…固定部、６…ベース部、７…第１ガイド部、７ａ…収容凹部、７ｂ…第１ガイド面、７ｃ…第２ガイド面、７ｄ…先端ガイド面、７ｅ…ガイド片、８…第２ガイド部、８ａ…収容凹部、８ｂ…第３ガイド面、８ｃ…第４ガイド面、８ｄ…第５ガイド面、８ｅ…先端ガイド面、９…当止部、１１…ロープテスタ、１１ａ…第１ロープテスタ、１１ｂ…第２ロープテスタ、１１ｃ…第３ロープテスタ、１１ｄ…第４ロープテスタ、１１ｅ…第５ロープテスタ、１２…挿入溝、１２ａ…溝側面、１２ｂ…溝底面、１２ｃ…先端部、１３…把持部、１４…磁化部、１４ａ…第１磁石、１４ｂ…第２磁石、１４ｃ…磁路部、１５…磁束検出部、１６…溝磁性部、１６ａ…磁性凹部、１６ｂ…接続部、１７…溝非磁性部、Ｄ１…溝長さ方向，第１方向、Ｄ２…溝幅方向，第２方向、Ｄ３…溝深さ方向，第３方向、Ｘ１…ロープ、Ｘ２…磁束

【要約】

【課題】 ロープテスタがロープから漏洩する磁束を検出することを検査することができるロープテスタ用検査装置を提供する。
【解決手段】 ロープテスタ用検査装置は、挿入溝の内部に配置されるロープから漏洩する磁束を検出するロープテスタを、検査するためのロープテスタ用検査装置であって、挿入溝の内部に配置される装置本体と、装置本体の外部に磁束を発生させる磁束発生部と、を備える。
【選択図】 図９

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】

【図20】