特許 7351540 光学的物質検知機器の制御方法、装置及び光学的物質検知機器

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2023-09-19

(45)【発行日】2023-09-27

(54)【発明の名称】光学的物質検知機器の制御方法、装置及び光学的物質検知機器

(51)【国際特許分類】

   G01N 21/27 20060101AFI20230920BHJP

【ＦＩ】

G01N21/27 F

【請求項の数】 8

(21)【出願番号】P 2021167484

(22)【出願日】2021-10-12

(62)【分割の表示】P 2019228910の分割

【原出願日】2019-12-19

(65)【公開番号】P2022003349

(43)【公開日】2022-01-11

【審査請求日】2021-10-12

(31)【優先権主張番号】201811624710.6

(32)【優先日】2018-12-28

(33)【優先権主張国・地域又は機関】CN

(73)【特許権者】

【識別番号】522225000

【氏名又は名称】北京雲端光科技術有限公司

(74)【代理人】

【識別番号】110001139

【氏名又は名称】ＳＫ弁理士法人

(74)【代理人】

【識別番号】100130328

【弁理士】

【氏名又は名称】奥野 彰彦

(74)【代理人】

【識別番号】100130672

【弁理士】

【氏名又は名称】伊藤 寛之

(72)【発明者】

【氏名】駱磊

(72)【発明者】

【氏名】牟涛涛

【審査官】伊藤 裕美

(56)【参考文献】

【文献】特許第６９６２９９９（ＪＰ，Ｂ２）

【文献】国際公開第２０１７／１７９５２０（ＷＯ，Ａ１）

【文献】特開平１０－１５３５４５（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００４－２２８９７６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００９－０３３４０７（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００５－１７７３７９（ＪＰ，Ａ）

【文献】米国特許出願公開第２０１４／０１３２４１４（ＵＳ，Ａ１）

【文献】中国特許出願公開第１０５２８３７６９（ＣＮ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ２１／００ －Ｇ０１Ｎ ２１／６１

Ｇ０１Ｂ １１／００ －Ｇ０１Ｂ １１／３０

Ｇ０１Ｊ １／００ －Ｇ０１Ｎ １／６０

Ｇ０１Ｊ ３／００ －Ｇ０１Ｎ ３／５２

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

光学的物質検知機器の制御方法であって、前記光学的物質検知機器は感光機器を含み、
前記光学的物質検知機器が衝撃を受けたことを検知する場合、前記光学的物質検知機器が衝撃を受けた時の衝撃力及び衝撃方向を収集することと、
データモデルに基づいて、前記衝撃力及び衝撃方向と結び付けて、前記感光機器の感光変位偏差値を計算することと、
前記感光変位偏差値に基づいて、感光補正処理を行うことと、を含み、
前記データモデルは、事前の複数回の試験により、各種の方式及び異なる大きさの力を用いて、光学的物質検知機器に対して衝撃を与えた衝撃力及び衝撃方向と、感光変位偏差値との間の対応関係であり、前記感光変位偏差値は、検知スペクトルと光学的物質検知機器の出荷校正後の正確なスペクトルとの位置偏差である、ことを特徴とする光学的物質検知機器の制御方法。

【請求項2】

感光補正処理を行うことは、
前記感光変位偏差値がプリセット最小値より小さい場合、前記光学的物質検知機器が継続して正常に動作するように制御することと、
前記感光変位偏差値がプリセット最小値以上で、且つプリセット最大値以下である場合、前記光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を送信することと、
前記感光変位偏差値がプリセット最大値より大きい場合、前記光学的物質検知機器が動作を停止するように制御し、前記光学的物質検知機器がメンテナンスを必要とするというメンテナンス警告情報を送信することと、
を含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。

【請求項3】

前記光学的物質検知機器は発光機器を含み、
前記方法はさらに、
前記光学的物質検知機器が落下していることを検知する場合、前記発光機器が検知光を出力している状態にあるか否かを判定することと、
前記発光機器が検知光を出力している状態にある場合、前記発光機器が検知光の出力を停止するように制御することと、を含むことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の方法。

【請求項4】

発光機器と感光機器を含む光学的物質検知機器の制御装置であって、収集モジュールと計算モジュールと補正モジュールとを備え、
前記収集モジュールは、前記光学的物質検知機器が衝撃を受けたことを検知した場合、前記光学的物質検知機器が衝撃を受けた時の衝撃力及び衝撃方向を収集し、
前記計算モジュールは、データモデルに基づいて、前記衝撃力及び衝撃方向と結び付けて、感光機器の感光変位偏差値を計算し、
前記補正モジュールは、前記感光変位偏差値に基づいて、感光補正処理を行い、
前記データモデルは、事前の複数回の試験により、各種の方式及び異なる大きさの力を用いて、光学的物質検知機器に対して衝撃を与えた衝撃力及び衝撃方向と、感光変位偏差値との間の対応関係であり、前記感光変位偏差値は、検知スペクトルと光学的物質検知機器の出荷校正後の正確なスペクトルとの位置偏差である、ことを特徴とする光学的物質検知機器の制御装置。

【請求項5】

前記補正モジュールは、具体的には、前記感光変位偏差値がプリセット最小値より小さい場合、光学的物質検知機器が継続して正常に動作するように制御し、
前記感光変位偏差値がプリセット最小値以上で、且つプリセット最大値以下である場合、光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を送信し、
前記感光変位偏差値がプリセット最大値より大きい場合、光学的物質検知機器が動作を停止するように制御するとともに、前記光学的物質検知機器がメンテナンスを必要とするというメンテナンス警告情報を送信するために用いられることを特徴とする請求項４に記載の装置。

【請求項6】

前記装置はさらに、
前記光学的物質検知機器が落下していることを検知する場合、前記発光機器が検知光を出力している状態にあるか否かを判定し、前記発光機器が検知光を出力している状態にある場合、制御モジュールにより、前記発光機器が検知光の出力を停止するように制御するための判定モジュールと、
前記発光機器が検知光の出力を停止するように制御するための前記制御モジュールと、を含むことを特徴とする請求項４又は請求項５に記載の装置。

【請求項7】

発光機器、感光機器、プロセッサ、メモリ、通信インタフェース及び通信バスを含み、前記発光機器、感光機器、プロセッサ、前記メモリ及び前記通信インタフェースは、前記通信バスにより、相互の通信を完了し、
前記メモリは少なくとも１つの実行可能なコマンドを記憶するために用いられ、前記実行可能なコマンドは前記プロセッサに請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の光学的物質検知機器の制御方法に対応する操作を実行させることを特徴とする光学的物質検知機器。

【請求項8】

コンピュータ記憶媒体であって、前記記憶媒体には、少なくとも１つの実行可能なコマンドが記憶されており、前記実行可能なコマンドはプロセッサに請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の光学的物質検知機器の制御方法に対応する操作を実行させることを特徴とするコンピュータ記憶媒体。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明の実施例は光学的物質検知の技術分野に関し、特に、光学的物質検知機器の制御方法、装置及び光学的物質検知機器に関する。

【背景技術】

【0002】

従来の光学的物質検知機器について、その基本原理は、発光することにより、物質を透過するか、または物質表面で散乱し、そしてスペクトルを収集し、収集するスペクトルに基づいて、当該物質を識別することである。

【0003】

本発明を実施する過程で、本発明の発明者は、光学的物質検知機器は常に精密であり、衝撃時に光路にずれを発生させる可能性があり、ミクロンほどのずれだけで、収集するスペクトルの不完全を引き起こす可能性があり、さらにスペクトルによる識別が不可能になることに気づく。

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

上記の課題に鑑みて提示される本発明の実施例は、上記の課題を解消するか、または上記の課題を部分的に解決する光学的物質検知機器の制御方法、装置及び光学的物質検知機器を提供する。

【課題を解決するための手段】

【0005】

上記の技術課題を解決するために本発明の実施例が用いる技術的解決手段は、発光機器と感光機器を含む光学的物質検知機器の制御方法であって、前記光学的物質検知機器が衝撃を受けることを検知する場合、前記光学的物質検知機器が衝撃を受ける時の衝撃力及び衝撃方向を収集することと、予め設置されたデータモデルに基づいて、前記衝撃力及び衝撃方向と結び付けて、前記感光機器の感光変位偏差値を計算することと、前記感光変位偏差値に基づいて、感光補正処理を行うことと、を含むことを特徴とする。

【0006】

好ましくは、感光補正処理を行うことは、前記感光変位偏差値がプリセット最小値より小さい場合、前記光学的物質検知機器が継続して正常に動作するように制御することと、前記感光変位偏差値がプリセット最小値以上で、且つプリセット最大値以下である場合、前記光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を送信することと、前記感光変位偏差値がプリセット最大値より大きい場合、前記光学的物質検知機器が動作を停止するように制御し、前記光学的物質検知機器がメンテナンスを必要とするというメンテナンス警告情報を送信することと、を含む。

【0007】

好ましくは、感光補正処理を行うことは、前記感光変位偏差値がプリセット光路補正範囲内にある場合、前記感光変位偏差値を事前に記憶するか否かを判定することと、ノーならば、光学的物質検知機器が継続して正常に動作するように制御し、前記感光変位偏差値を記憶し、そして、前記感光機器が戻り光を感知する時に、前記感光変位偏差値に基づいて、前記感光機器が感知する戻り光のスペクトル位置を補正することと、前記感光変位偏差値を事前に記憶すれば、前記光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を出力し、前記光学的物質検知機器が動作を停止するように制御することと、前記感光機器の感光光路の校正に成功することを検知する場合、記憶されている前記感光変位偏差値をクリアすることと、を含む。

【0008】

好ましくは、前記方法はさらに、前記光学的物質検知機器が落下状態にあることを検知する場合、前記発光機器が検知光を出力する状態にあるか否かを判定することと、イエスならば、前記発光機器が検知光の出力を停止するように制御することと、を含む。

【0009】

上記の技術課題を解決するために、本発明の実施例にて提供される光学的物質検知機器の制御装置は、前記光学的物質検知機器が衝撃を受けることを検知する場合、前記光学的物質検知機器が衝撃を受ける時の衝撃力及び衝撃方向を収集するための収集モジュールと、予め設置されたデータモジュールに基づいて、前記衝撃力及び衝撃方向と結び付けて、感光機器の感光変位偏差値を計算するための計算モジュールと、前記感光変位偏差値に基づいて、感光補正処理を行うための補正モジュールと、を含む。

【0010】

好ましくは、前記補正モジュールは、具体的には、前記感光変位偏差値がプリセット最小値より小さい場合、光学的物質検知機器が継続して正常に動作するように制御し、前記感光変位偏差値がプリセット最小値以上で、且つプリセット最大値以下である場合、光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を送信し、前記感光変位偏差値がプリセット最大値より大きい場合、光学的物質検知機器が動作を停止するように制御するとともに、前記光学的物質検知機器がメンテナンスを必要とするというメンテナンス警告情報を送信するために用いられる。

【0011】

好ましくは、前記補正モジュールはさらに、前記感光変位偏差値がプリセット最小値以上である場合、前記感光変位偏差値を事前に記憶するか否かを判定し、ノーならば、前記感光変位偏差値を記憶し、そして、前記感光機器が戻り光を感知する時に、前記感光変位偏差値に基づいて、前記感光機器が感知する戻り光のスペクトル位置を補正し、前記感光変位偏差値を事前に記憶すれば、前記光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を出力し、前記光学的物質検知機器が動作を停止するように制御し、前記感光機器の感光光路の校正に成功することを検知する場合、記憶されている前記感光変位偏差値をクリアするために用いられる。

【0012】

好ましくは、前記装置はさらに、前記光学的物質検知機器が落下状態にあることを検知する場合、前記発光機器が検知光を出力する状態にあるか否かを判定し、イエスならば、制御モジュールにより、前記発光機器が検知光の出力を停止するように制御するための判定モジュールと、前記発光機器が検知光の出力を停止するように制御するための前記制御モジュールと、を含む。

【0013】

上記の技術課題を解決するために、本発明の実施例にて提供される光学的物質検知機器は、発光機器、感光機器、プロセッサ、メモリ、通信インタフェース及び通信バスを含み、前記発光機器、感光機器、プロセッサ、前記メモリ及び前記通信インタフェースは、前記通信バスにより、相互の通信を完了する。

【0014】

上記の技術課題を解決するために、本発明の実施例にて提供されるコンピュータ記憶媒体については、記憶媒体には少なくとも１つの実行可能なコマンドが記憶されており、前記実行可能なコマンドはプロセッサに上記の光学的物質検知機器の制御方法に対応する操作を実行させる。

【発明の効果】

【0015】

従来技術と比べて、本発明の実施例は、光学的物質検知機器が衝撃を受ける時に、前記感光機器の感光変位偏差値を計算し、前記感光変位偏差値に基づいて、感光補正処理を行うことができ、光学的物質検知機器の後続の物質検知時、感光機器には感光偏差が生じ、感光機器が感知するスペクトルの不完全を引き起こし、さらに、光学的物質検知機器の物質検知の正確性に影響を及ぼすことを避けることに有利である。

【0016】

以上の説明は、本発明の技術的解決手段の概要に過ぎず、本発明の技術的解決手段をより明らかに理解するために、明細書の内容に従って実施してもよく、また、本発明の上記及び他の目的、特徴及び利点をより分かりやすくするために、以下は、特に本発明の具体的な実施例を挙げる。

【図面の簡単な説明】

【0017】

好適な実施例につていの詳細な説明により、他の利点及び有益な効果は当業者にとって明らかになる。図面は、好適な実施例を示すことを目的とするもので、本発明を限定するものではない。また、図面全体において、同一の参照符号は同一の部材を示している。図面において、

【図1】本発明の実施例に係る光学的物質検知機器の制御方法のフローチャートである。

【図2】本発明の別の実施例に係る光学的物質検知機器の制御方法のフローチャートである。

【図3】本発明の実施例に係る光学的物質検知機器の制御装置の機能ブロック図である。

【図4】本発明の実施例に係る光学的物質検知機器の構造模式図である。

【発明を実施するための形態】

【0018】

以下、図面を参照して本開示の実施例についてより詳細に説明する。図面には、本開示の実施例が表示されているが、本開示は各種の形態で実現でき、ここで説明されている実施例に限定されるものではないことが理解されたい。逆に、本開示を深く理解し、本開示の範囲を当業者に完全に伝えることができるために、これらの実施例が提供される。

【0019】

図１は本発明に係る光学的物質検知機器の制御方法の第１の実施例のフローチャートである。図１に示すように、当該方法はステップＳ１０１～Ｓ１０３を含む。

【0020】

ステップＳ１０１、前記光学的物質検知機器が衝撃を受けることを検知する場合、前記光学的物質検知機器が衝撃を受ける時の衝撃力及び衝撃方向を収集する。

【0021】

光学的物質検知機器とは、被検物質に検知光を照射し、被検物質が検知光に当てると、その分子により、検知光を散乱または反射させ、光学的物質検知機器が当該散乱または反射のスペクトルをキャプチャーして、散乱光と検知光との間の周波数差に基づいて被検物質の種別を確定する機器である。

【0022】

検知光は、光学的物質検知機器における発光機器によって出力され、当該散乱または反射のスペクトルのキャプチャーは光学的物質検知機器における感光機器によって実現される。光学的物質検知機器が衝撃を受ける場合、例えば、高所から落下して地面に衝撃する、または外来物体が光学的物質検知機器に直接衝撃する場合、感光機器又は／及び発光機器の位置ずれが生じることで、反射光または散乱光の光路が発光機器の感光面に落ちることなく、さらに光学的物質検知機器の物質識別がずれることになり、したがって、光学的物質検知機器が衝撃を受ける場合は、光学的物質検知機器に対してそれ相応の制御処理を行う必要がある。

【0023】

いくつかの実施例では、光学的物質検知機器が衝撃を受けるか否かを識別するために、光学的物質検知機器に、例えば、加速度センサー、重力センサー、ジャイロまたは地磁気センサーなどのセンサーを予め設置してもよく、センサーにより光学的物質検知機器が衝撃を受けるか否かを検知し、受ける場合、センサーが収集したデータにより、立体の三次元空間におけるＸ、Ｙ及びＺの３つの方向の衝撃力を確定する。

【0024】

ステップＳ１０２、予め設置されたデータモデルに基づいて、前記衝撃力及び衝撃方向と結び付けて、前記感光機器の感光変位偏差値を計算する。

【0025】

感光変位偏差値とは、同じ試験条件で、同一の物質を検知する場合、検知スペクトルと光学的物質検知機器の出荷校正後の正確なスペクトルとの位置偏差である。戻り光は被検物質が検知光に照射される時に生じる反射光または散乱光である。感光変位偏差値が生じる原因として、光学的物質検知機器におけるある部材または部品が変位することがあり、例えば、機器における光路のあるレンズの移動または緩みがその原因である。

【0026】

予め設置されたデータモデルとは、予め確立した、衝撃力及び衝撃方向と、感光変位偏差値との間の対応関係であり、当該対応関係は、事前の複数回の試験により、各種の方式及び異なる大きさの力を用いて、校正された光学的物質検知機器に対して衝撃を与え、衝撃前後の検知スペクトルの変位偏差を比較することで、光学的物質検知機器が一定の方向及び大きさの力の衝撃を受ける場合の感光変位偏差値を記録することによって得られるものである。

【0027】

ステップＳ１０３、前記感光変位偏差値に基づいて、感光補正処理を行う。

【0028】

光学的物質検知機器が衝撃を受ける場合、光学的物質検知機器に対して感光補正処理を行うと、光学的物質検知機器の感光偏差による物質識別の不正確を避けることに有利である。

【0029】

いくつかの実施例では、前記感光変位偏差値に基づいて、感光補正処理を行うステップＳ１０３は、（１）～（３）を含む。

【0030】

（１）前記感光変位偏差値がプリセット最小値より小さい場合、前記光学的物質検知機器が継続して正常に動作するように制御する。

【0031】

感光機器及び発光機器に微小な変位が発生する場合は、戻り光と感光機器の感光面の予め設置された感光領域に偏差が生じるが、当該偏差が光学的物質検知機器の検知の正確性に影響を及ぼさないとき、当該変位を無視して、光学的物質検知機器が継続して動作するようにさせてもよい。プリセット最小値は、戻り光との感光機器の感光面の予め設置された感光領域との間の偏差が光学的物質検知機器の検知の正確性に影響を及ぼさないほどの最大値である。

【0032】

（２）前記感光変位偏差値がプリセット最小値以上で、且つプリセット最大値以下である場合、前記光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を送信する。

【0033】

感光機器の感光面の面積は、常に、戻り光の横断面の面積より大きく、感光機器及び／又は発光機器が変位する場合、戻り光が感光機器の感光面以外に落ちない限り、感光機器は戻り光をすべて感知し、物質検知を実行でき、簡単に言うと、感光機器と発光機器の位置に一定のずれ許容量が許容され、当該ずれ許容量のプリセット最大値が感光面の大きさによって決定される。

【0034】

なお、上記のプリセット最小値は、複数回の試験に基づいて予め確立してもよく、プリセット最大値は、光学的物質検知機器における感光機器の感光面の最大範囲によって決定する。

【0035】

校正警告情報は、音声、表示によって出力してもよい。

【0036】

（３）前記感光変位偏差値がプリセット最大値より大きい場合、前記光学的物質検知機器が動作を停止するように制御し、前記光学的物質検知機器がメンテナンスを必要とするというメンテナンス警告情報を送信する。

【0037】

前記感光変位偏差値がプリセット最大値より大きい場合は、戻り光が感光機器の感光面以外に落ち、感光変位偏差値が大きくて物質検知が実行できず、校正の方式だけで補正を実現できないため、作業者に光学的物質検知機器をメンテナンスさせる必要があることを示している。

【0038】

メンテナンス警告情報も音声、表示によって出力してもよく、いくつかの実施例では、メンテナンス警告情報と校正警告情報は異なる表現方式を用いてもよく、例えば、黄色ランプで校正警告情報を示し、赤色ランプでメンテナンス警告情報を示し、これにより、作業者は光学的物質検知機器が出力する警告情報により、現在の光学的物質検知機器の状況を急速に識別し、対応する操作を急速に実行することができる。

【0039】

いくつかの実施例では、感光補正処理を行うことは、さらに、
前記感光変位偏差値がプリセット最小値以上で、且つプリセット最大値以下である場合、前記感光変位偏差値を事前に記憶するか否かを判定することと、ノーならば、前記感光変位偏差値を記憶し、そして、前記感光機器が戻り光を感知する時に、前記感光変位偏差値に基づいて、前記感光機器が感知する戻り光のスペクトル位置を補正することと、を含む。

【0040】

感光変位偏差値を記憶し、そして後続の光学的物質検知を行う時、感光変位偏差値により、感知した戻り光のスペクトル位置を補正することにより、光学的物質検知機器は、衝撃を受ける場合でも、物質検知を実行することができ、物質検知の正確性に影響を及ぼさなく、光学的物質検知機器を停止してメンテナンスすることを避ける。

【0041】

さらに、感光補正処理を行うことはさらに、前記感光変位偏差値を事前に記憶すれば、前記光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を出力し、前記光学的物質検知機器が動作を停止するように制御し、前記感光機器の感光光路の校正に成功することを検知するとき、記憶された前記感光変位偏差値をクリアすることを含む。

【0042】

前記感光変位偏差値が記憶されていれば、光学的物質検知機器が以前、衝撃を受け、且つ校正処理を行っていないことが示され、衝撃を再び受ける場合、機械的構造では、２回の衝撃の結果を簡単に重畳してはならなく、前回、光学的物質検知機器を衝撃する時は、光学的物質検知機器の機械的構造を変化させるに対して、今回の衝撃は、機械的構造が変化した光学的物質検知機器に衝撃を与えるため、その変化が予測できないことがその原因である。したがって、作業者にメンテナンスを行うと直接通知すれば、より合理的である。

【0043】

なお、本実施例では、感光変位偏差値があるか否かという方式により、光学的物質検知機器が校正状態にあるか否かを示し、即ち、感光変位偏差値を記憶しなければ、光学的物質検知機器をすでに校正したことを示し、感光変位偏差値が記憶されていれば、光学的物質検知機器を校正していないことを示す。他の実施例では、他の方式により、光学的物質検知機器が校正状態にあるか否かを示してもよいため、ここでは説明を省略する。もちろん、いくつかの実施例では、光学的物質検知機器が検知を行うたびに、光学的物質検知機器の検知の正確性を保証するように、校正操作を実行してもよい。

【0044】

本発明の実施例では、光学的物質検知機器が衝撃を受ける場合、前記感光機器の感光変位偏差値を計算し、そして前記感光変位偏差値に基づいて、感光補正処理を行うことで、光学的物質検知機器の後続の物質検知時、感光機器に感光偏差が生じ、感光機器が感知するスペクトルの不完全を引き起こし、さらに、光学的物質検知機器の物質検知の正確性に影響を及ぼすことを避けることに有利である。

【0045】

図２を参照すると、図２は本発明の他の実施例に係る光学的物質検知機器の制御方法のフローチャートであり、本実施例と上記の実施例の違いは、方法がさらにステップＳ１０４～ステップＳ１０５を含むことにある。

【0046】

ステップＳ１０４、前記光学的物質検知機器が落下状態にあることを検知する場合、前記発光機器が検知光を出力する状態にあるか否かを判定し、イエスならば、ステップＳ１０５を実行し、ノーならば、光学的物質検知機器が継続して動作するように制御する。

【0047】

発光機器が検知光を出力する状態にあれば、光学的物質検知機器が物質検知状態にあることが示される。光学的物質検知機器が物質検知状態にある場合、発光機器が出力する検知光の強さが非常に高く、当該検知光が他の物質に当たれば、他の物質を焼ける状況が発生する可能性がある。光学的物質検知機器が落下状態にある場合、発光機器が出力する光の方向は制御不能な状態であり、したがって、光学的物質検知機器が落下状態にある場合は、検知光が他の物質を焼けることを避けるように、検知光の出力を停止する必要がある。

【0048】

光学的物質検知機器が落下状態にあるか否かについては、光学的物質検知機器に設置されるセンサーにより検知してもよく、例えば、加速度により、光学的物質検知機器の加速度値を検知し、当該加速度値に基づいて光学的物質検知機器が落下状態にあるか否かを確定することが理解されたい。

【0049】

ステップＳ１０５、前記発光機器が検知光の出力を停止するように制御する。

【0050】

当然ながら、いくつかの実施例では、発光機器が検知光の出力を停止するように制御する以外に、光学的物質検知機器の他の部材が動作を停止するように制御することもできる。

【0051】

本発明の実施例では、光学的物質検知機器が落下状態にあると検知し、光学的物質検知機器の発光機器が検知光を出力すると検知する場合、光学的物質検知機器の落下中に、検知光が他の方向を照射して、他の物質を焼ける状況を避けるように、発光機器の検知光出力を停止するように制御する。

【0052】

本願の実施例は不揮発性コンピュータ記憶媒体を提供し、前記コンピュータ記憶媒体には、少なくとも１つの実行可能なコマンドが記憶されており、当該コンピュータ実行可能なコマンドは上記の任意の方法に係る実施例における光学的物質検知機器の制御に関するステップを実行できる。

【0053】

図３は本発明の実施例による光学的物質検知機器の制御装置の機能ブロック図を示し、当該装置は、収集モジュール３０１、計算モジュール３０２、補正モジュール３０３、判定モジュール３０４及び制御モジュール３０５を含む。

【0054】

収集モジュール３０１は、前記光学的物質検知機器が衝撃を受けることを検知する場合、前記光学的物質検知機器が衝撃を受ける時の衝撃力及び衝撃方向を収集するために用いられる。

【0055】

計算モジュール３０２は、予め設置されたデータモジュールに基づいて、前記衝撃力及び衝撃方向と結び付けて、感光機器の感光変位偏差値を計算するために用いられる。

【0056】

補正モジュール３０３は、前記感光変位偏差値に基づいて、感光補正処理を行うために用いられる。

【0057】

いくつかの実施例では、補正モジュール３０３は、具体的には、前記感光変位偏差値がプリセット最小値より小さい場合、光学的物質検知機器が継続して正常に動作するように制御し、前記感光変位偏差値がプリセット最小値以上で、且つプリセット最大値以下である場合、光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を送信し、前記感光変位偏差値がプリセット最大値より大きい場合、光学的物質検知機器が動作を停止するように制御するとともに、前記光学的物質検知機器がメンテナンスを必要とするというメンテナンス警告情報を送信するために用いられる。

【0058】

いくつかの実施例では、補正モジュール３０３はさらに、前記感光変位偏差値がプリセット最小値以上である場合、前記感光変位偏差値を事前に記憶するか否かを判定し、ノーならば、前記感光変位偏差値を記憶し、前記感光機器が戻り光を感知する時に、前記感光変位偏差値に基づいて前記戻り光のスペクトル位置を補正するために用いられる。

【0059】

いくつかの実施例では、補正モジュール３０３はさらに、前記感光変位偏差値を事前に記憶すれば、前記光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を出力し、前記光学的物質検知機器が動作を停止するように制御し、前記感光機器の感光光路の校正に成功することを検知する場合、記憶されている前記感光変位偏差値をクリアするために用いられる。

【0060】

判定モジュール３０４は、前記光学的物質検知機器が落下状態にあることを検知する場合、前記発光機器が検知光を出力する状態にあるか否かを判定するために用いられる。

【0061】

制御モジュール３０５は、イエスならば、前記発光機器が検知光の出力を停止するように制御するために用いられる。

【0062】

本発明の実施例では、収集モジュール３０１を用いて、光学的物質検知機器が衝撃を受ける時の衝撃力情報を収集し、計算モジュール３０２により、前記感光機器の感光変位偏差値を計算し、前記感光変位偏差値に基づいて、補正モジュール３０３により、感光補正処理を行うことで、光学的物質検知機器の後続の物質検知時、感光機器には感光偏差が発生し、感光機器が感知するスペクトルの不完全を引き起こし、さらに、光学的物質検知機器の物質検知の正確性に影響を及ぼすことを避けることに有利である。さらに、判定モジュール３０４により、光学的物質検知機器が落下状態にあることを検知する場合、光学的物質検知機器の発光機器が検知光を出力するか否かを判定してもよく、イエスならば、光学的物質検知機器の落下中に、検知光が他の方向を照射して、他の物質を焼ける状況を避けるために、発光機器が検知光の出力を停止するように制御する。

【0063】

図４は本発明の実施例による光学的物質検知機器の構造模式図を示す。

【0064】

図４に示すように、当該光学的物質検知機器は、プロセッサ４０２、発光機器４０３、感光機器４０４、メモリ４０５、通信インタフェース４０７、バス４０８及びプログラム４１０を含んでもよい。

【0065】

このうち、
プロセッサ４０２、発光機器４０３、感光機器４０４、メモリ４０５は通信バス４０８により、相互の通信を完了する。

【0066】

通信インタフェース４０７は、クライアントまたは他のサーバなど、他の機器のネットワークエレメントと通信するために用いられる。

【0067】

プロセッサ４０２は、プログラム４１０を実行し、具体的には、上記の光学的物質検知機器の制御方法に係る実施例における関連するステップを実行するために用いられる。

【0068】

具体的には、プログラム４１０は、プログラムコードを含んでもよく、当該プログラムコードはコンピュータ操作コマンドを含む。

【0069】

プロセッサ４０２は、中央処理装置ＣＰＵ、特定用途向け集積回路ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、または、１つまたは複数の本発明の実施例を実施する集積回路のように配置されるものである可能性がある。計算機器は１つまたは複数のプロセッサを含み、同一のタイプのプロセッサとしてもよく、例えば、１つまたは複数のＣＰＵが挙げられ、異なるタイプのプロセッサとしてもよく、例えば、１つまたは複数のＣＰＵ及び１つまたは複数のＡＳＩＣが挙げられる。

【0070】

メモリ４０５はプログラム４１０を記憶するために用いられる。メモリ４０５は、高速のＲＡＭメモリを含む可能性があり、また、例えば、少なくとも１つの磁気ディスクメモリのような不揮発性メモリ（ｎｏｎ－ｖｏｌａｔｉｌｅ ｍｅｍｏｒｙ）を含む可能性がある。

【0071】

プログラム４１０は、具体的には、プロセッサ４０２に以下の操作を実行させるために用いられる。
前記光学的物質検知機器が衝撃を受けることを検知する場合、前記光学的物質検知機器が衝撃を受ける時の衝撃力及び衝撃方向を収集する。予め設置されたデータモデルに基づいて、前記衝撃力及び衝撃方向と結び付けて、前記感光機器の感光変位偏差値を計算する。前記感光変位偏差値に基づいて、感光補正処理を行う。

【0072】

なお、光学的物質検知機器の衝撃、及び光学的物質検知機器が衝撃を受ける時の衝撃力と衝撃方向は、いずれもセンサーにより検知でき、したがって、光学的物質検知機器はさらにセンサー（図示せず）を含む。センサーは、データを収集した後、プロセッサに送信して処理させることで、光学的物質検知機器が衝撃を受けるか否か、及び衝撃を受ける時の衝撃力と衝撃方向を確定する。

【0073】

好ましい形態では、プログラム４１０は、具体的には、さらに、プロセッサ４０２に以下の操作を実行させるために用いられる。
前記感光変位偏差値がプリセット最小値より小さい場合、前記光学的物質検知機器が継続して正常に動作するように制御することと、前記感光変位偏差値がプリセット最小値以上で、且つプリセット最大値以下である場合、前記光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を送信することと、前記感光変位偏差値がプリセット最大値より大きい場合、前記光学的物質検知機器が動作を停止するように制御し、前記光学的物質検知機器がメンテナンスを必要とするというメンテナンス警告情報を送信することと、を含む感光補正処理を行う。

【0074】

好ましい形態では、プログラム４１０は、具体的には、さらに、プロセッサ４０２に以下の操作を実行させるために用いられる。
前記感光変位偏差値がプリセット光路補正範囲内にある場合、前記感光変位偏差値を事前に記憶するか否かを判定することと、ノーならば、光学的物質検知機器が継続して正常に動作するように制御し、前記感光変位偏差値を記憶し、前記感光機器が戻り光を感知する時に、前記感光変位偏差値に基づいて感知した戻り光のスペクトル位置を補正することと、を含む前記感光補正処理を行う。

【0075】

好ましい形態では、プログラム４１０は、具体的には、さらに、プロセッサ４０２に以下の操作を実行させるために用いられる。
前記感光変位偏差値を事前に記憶すれば、前記光学的物質検知機器が校正を必要とするという校正警告情報を出力し、前記光学的物質検知機器が動作を停止するように制御し、前記感光機器の感光光路の校正に成功することを検知する場合、記憶されている前記感光変位偏差値をクリアする。

【0076】

好ましい形態では、プログラム４１０は、具体的には、さらに、プロセッサ４０２に以下の操作を実行させるために用いられる。
前記光学的物質検知機器が落下状態にあることを検知する場合、前記発光機器が検知光を出力する状態にあるか否かを判定し、イエスならば、前記発光機器が検知光の出力を停止するように制御する。

【0077】

ここにて提供されるアルゴリズム及び表示は、いかなる特定のコンピュータ、仮想システムまたは他の機器と本質的に関係がない。各種の汎用システムもここに基づく教示とともに用いてもよい。以上の説明に基づいて、このようなシステムに要求される構造の構築が明らかである。また、本発明はいかなる特定のブログラミング言語に対するものではない。各種のブログラミング言語を用いて、ここで説明されている本発明の内容を実現することができ、また、以上の特定の言語に対する説明は本発明を開示するための最適な実施例であることが理解されたい。

【0078】

ここにて提供される明細書は、大量の詳細を説明するが、本発明の実施例は、これらの詳細がなくても実施できることが理解されたい。いくつかの実施例では、本明細書を鮮明に理解するために、公知の方法、構造及び技術が詳細に示されない。

【0079】

同様に、本開示を簡素化し、発明態様の１つまたは複数を分かりやすくするために、以上の本発明の実施例についての説明において、本発明の各特徴は、単一の実施例、図面、またはその説明にグループ化されることがあるが、当該開示の方法については、保護を請求する本発明は各請求項に明確に記載の特徴よりも多くの特徴を請求すると意図するように解釈すべきではない。具体的には、特許請求の範囲に示されるように、発明の態様は、前に開示された単一の実施例のすべての特徴より少ない。したがって、具体的な実施例に従う特許請求の範囲は、これにより、当該具体的な実施例に明らかに組み込まれ、各請求項は本発明の単独な実施例とする。

【0080】

当業者ならば理解できるように、実施例に係る機器におけるモジュールを自己適応的に変更して、当該実施例と異なる１つまたは複数の機器に設置してもよい。実施例におけるモジュール、ユニットまたはアセンブリを１つのモジュール、ユニットまたはアセンブリに組み合わせてもよいし、複数のサブモジュール、サブユニットまたはサブアセンブリに分割してもよい。特徴及び／又はプロセス、またはユニットにおける少なくとも一部が相互に排他的である以外、あらゆる組み合わせで、本明細書（添付する特許請求の範囲、要約及び図面を含む）にて開示されているすべての特徴及、及びこのように開示されるあらゆる方法または機器のすべてのプロセス若しくはユニットを組み合わせてもよい。明確に説明しない限り、本明細書（添付する特許請求の範囲、要約及び図面を含む）にて開示されている各特徴は、同じ、同等または類似の目的を提供する置換特徴で置換してもよい。

【0081】

また、当業者ならば理解できるように、ここに記載のいくつかの実施例は、他の特徴ではなく、他の実施例に含まれるいくつかの特徴を含むが、異なる実施例の特徴の組み合わせは、本発明の範囲にあるとともに、異なる実施例を形成すると意味している。例えば、特許請求の範囲において、保護を請求する実施例のいずれか１つは、あらゆる組み合わせ方式により用いてもよい。

【0082】

本発明の各部材の実施例は、ハードウェア、１つ若しくは複数のプロセッサで動作するソフトウェアモジュール、またはそれらの組み合わせにより実現できる。当業者ならば、実施中にマイクロプロセッサまたはデジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）を用いて、本発明の実施例によるメッセージポップアップウィンドウの表示装置における一部または全部の部材の一部または全部の機能を実現できることを理解すべきである。本発明はさらに、ここで説明されている方法の一部または全部を実行するための機器または装置プログラム（例えば、コンピュータプログラム及びコンピュータプログラム製品）として実現できる。このように本発明を実現するプログラムは、コンピュータ可読媒体に記憶されてもよいし、１つまたは複数の信号の態様を有してもよい。このような信号はインターネットウェッブからダウンロードして得てもよいし、キャリア信号上で、または任意の他の態様で提供してもよい。

【0083】

ただし、上記の実施例は本発明を説明するもので、本発明を限定するものではなく、当業者は添付する特許請求の範囲から逸脱せず、変形例を設計することができる。特許請求の範囲では、括弧にあるあらゆる参照符号は特許請求の範囲を限定するものではない。単語の「含む」は特許請求の範囲に挙げられない素子またはステップの存在を排除しない。素子の前の単語の「１」または「１つ」はこのような複数の素子の存在を排除しない。本発明は異なる複数の素子を含むハードウェア及び適当にプログラミングするコンピュータにより実現できる。複数の装置のユニットが挙げられる特許請求の範囲では、これらの装置のうち複数は同一のハードウェアにより具体的に実現してもよい。単語の「第１」、「第２」及び「第３」などは順序を表すものではない。これらの単語を名称として解釈してもよい。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】