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特許 7362933出願番号 特願 2022-541161
測定装置及びその測定方法並びに測定プログラム
出願人 アルプス電気株式会社（識別番号 10098）
2026年 特許公開件数ランキング 240位 113件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 204位 120件（※）
公報発行日 2023年10月17
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7362933 ログイン済みの方はこのURLへ
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※ 共同出願を含む
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技術分野
測定装置及びその測定方法並びに測定プログラムに関するものである。
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
しかしながら、特許文献１に記載の方法によれば、一様化されたノイズ成分の大きさによっては、各測定値に大きなノイズ成分が一様に含まれる結果となり、検出結果へのノイズ影響が大きくなる可能性がある。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
本開示の第１態様は、Ｎ個（Ｎ≧２）のセンサと、測定毎に、前記Ｎ個のセンサの中から所定の組み合わせのセンサを選択し、選択したセンサによる測定値に基づいてＭ個（Ｍ＜Ｎ）のセンサ端子の各々に検出値を出力する選択部と、測定毎に、前記Ｍ個のセンサ端子の各々に出力された検出値を取得する取得部と、Ｌ回の測定が行われた後に、前記取得部により取得されたＭ×Ｌ個の検出値の各々に時間依存ノイズ成分が含まれると仮定・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る
発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋
本開示によれば、ノイズの影響を効果的に低減することができるという効果を奏する。
この特許の権利範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
本開示の第１測定装置のシステム構成を示す図である。
【図2】
本開示の第１測定装置のハードウェア構成の一例を示した図である。
【図3】
本開示の第１測定装置の処理の手順の一例を示すフローチャートである。
【図4】
本開示の第１スキャン行列の一例を示す図である。
【図5】
本開示の第１測定装置のシステム構成の他の例を示す図である。
【図6】
本開示の第２測定装置のシステム構成を示す図である。
代表図 図1本件の代表的な図
１ ：測定装置
２ ：センサ部
３ ：回路部
４ ：選択部
５ ：検出部（取得部）
６ ：制御部
７ ：出力変換部
８ ：補正部
９ ：合成値算出部
１１ ：ＣＰＵ
１２ ：ＲＯＭ
１３ ：ＲＡＭ
１４ ：ハードディスクドライブ
１５ ：通信部
１８ ：バス
Ｓ０ ：センサ
Ｓ１ ：センサ
Ｓ２ ：センサ
Ｓ３ ：センサ
ｐ１ ：検出回路
ｐ２ ：検出回路
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