特許7364269IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

物体検知装置、画像処理表示方法及びプログラム

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかしながら、測距カメラを使用した距離測定技術における共通の問題点として、外乱要因（太陽光、天候、センサ干渉、物体表面の凹凸による乱反射等）により測距精度の低下および測距画像の物体視認性の悪化が発生し、危険判定などの精度が低下するという問題がある。また、照明のない暗所などの条件下では２Ｄ画像学習エンジンによる物体検知や監視者による物体認識が出来ない場合が発生する。測距カメラの方式によって得意な条件(距離、環境、外乱要因等)が異なり、条件が合わない場合は著しい精度低下や監視者及び危険検知システムに誤った判定をさせる可能性がある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の第１の態様によれば、物体検知装置は、監視領域を撮像してカメラ画像を出力する測距カメラと、前記カメラ画像から対象物体の検知を行う物体検知部と、当該対象物体に関する対象物体情報に基づいて対象物体のモデリング画像を作成するモデリング画像生成部と、当該モデリング画像を前記カメラ画像に重畳するオーバーレイ画像を生成するオーバーレイ画像生成部と、前記オーバーレイ画像を表示する表示部とを備える。

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、距離測定の精度低下や誤った判定を抑制することが可能な物体検知装置、画像処理表示方法及びプログラムを提供することができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の一物体検知装置Ａの機能構成を示すブロック図である。
【図2】 本発明の一物体検知装置Ａの動作を示すフローチャートである。
【図3】 本発明の一実施形態における物体候補の選択を示す模式図である。
【図4】 本発明の一実施形態におけるオーバーレイ表示処理の組合せを示す表である。
【図5】 本発明の一実施形態におけるオーバーレイ画像の位置調整を示す模式図である。
【図6】 本発明の一実施形態におけるオーバーレイ画像の一例を示す模式図である。
【図7】 本発明の最小構成に係る物体検知装置Ｂのブロック図である。
【図8】 最小構成の物体検知装置Ｂによる処理フローを示すフローチャートである。

代表図 図1本件の代表的な図

Ａ 物体検知装置 １ ３Ｄ測距カメラ ２Ａ ２Ｄ画像バッファ ２Ｂ 測距画像バッファ ３Ａ 第１ＡＩ物体検知部 ３Ｂ 第２ＡＩ物体検知部 ４ 製品ＤＢ ５ ３ＤＣＧモデリング部（モデリング画像生成部） ６Ａ ２Ｄモデリングバッファ ６Ｂ Ｚモデリングバッファ ７ 表示判定・位置補正部 ８Ａ ２Ｄオーバーレイ処理部 ８Ｂ Ｚオーバーレイ処理部 ９Ａ ２Ｄ画像補助表示部 ９Ｂ 測距画像補助表示部

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