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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2023-10-11
(45)【発行日】2023-10-19
(54)【発明の名称】乾燥収縮ひずみの推定方法
(51)【国際特許分類】
G01N 33/38 20060101AFI20231012BHJP
G01B 11/16 20060101ALI20231012BHJP
【ＦＩ】
G01N33/38
G01B11/16 Z
【請求項の数】
7
(21)【出願番号】P 2019037627
(22)【出願日】2019-03-01
(65)【公開番号】P2020139909
(43)【公開日】2020-09-03
【審査請求日】2021-12-28
【前置審査】
(73)【特許権者】
【識別番号】000000240
【氏名又は名称】太平洋セメント株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100141966
【弁理士】
【氏名又は名称】新井 範彦
(72)【発明者】
【氏名】大野 拓也
(72)【発明者】
【氏名】三谷 裕二
(72)【発明者】
【氏名】面来 洋児
【審査官】小澤 理
(56)【参考文献】
【文献】特開２０１８－２００２９３（ＪＰ，Ａ）
【文献】米国特許出願公開第２００９／０２８４８０４（ＵＳ，Ａ１）
【文献】モルタル及びコンクリートの長さ変化測定方法－、第１部：コンパレータ方法、および附属書Ａ，日本産業規格，ＪＩＳ Ａ １１２９－１：２０１０，2010年，p.2224-2228
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｇ０１Ｎ ３３／３８
Ｇ０１Ｂ １１／１６
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
下記（Ａ）および（Ｂ）の工程を経て取得した、フライアッシュセメントＣ種、または供試体１０００ｃｍ
３
当たり１２ｇ以下の収縮低減剤を含むポルトランドセメントを含有するコンクリートの乾燥収縮ひずみの終局値に０．８５を乗じて得た値を、ＪＩＳ Ａ １１２９－１、ＪＩＳ Ａ １１２９－２、またはＪＩＳ Ａ １１２９－３に準拠して測定され得る、乾燥期間６か月における乾燥収縮ひずみの値として推定する、乾燥収縮ひずみの推定方法（ただし、「乾燥収縮ひずみ」とは、長さ変化率をいう。）。（Ａ）１個以上のレーザー変位計、乾燥収縮ひずみ測定用の供試体を載置するための台座、および、該供試体の位置決め治具を、少なくとも備えた乾燥収縮ひずみ測定装置の台座の上に、円板状または四角板状の供試体を、該供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触するように載置する、供試体の載置工程
（Ｂ）該供試体の周囲の側面に、レーザー変位計からレーザーを照射して、レーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離を測定し、該距離が一定に達した時点の供試体の乾燥収縮ひずみを、該供試体の乾燥収縮ひずみの終局値として取得する、乾燥収縮ひずみの終局値の取得工程
【請求項2】
前記供試体の位置決め治具が２本のピンであり、該位置決め治具が、該２本のピンを結ぶ直線と、レーザー変位計のレーザー照射方向とが直交するように設置されている乾燥収縮ひずみ測定装置を用いる、請求項１に記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
【請求項3】
円板状の供試体を、時計回りまたは反時計回りに回転して、該供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触した状態で、レーザー変位計と該供試体の周囲の側面の間の距離を複数回測定し、これらの距離の平均値を求め、該平均値と乾燥直前におけるレーザー変位計と該供試体の周囲の側面の間の距離との差を、乾燥直前における該供試体の直径で除した値を該供試体の乾燥収縮ひずみとして求める、請求項１または２に記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
【請求項4】
前記供試体の厚さが５～２０ｍｍである、請求項１～３のいずれか１項に記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
【請求項5】
所定の乾燥期間が経過する度に、供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と該供試体の周囲の側面の間の距離を測定する、請求項１～４のいずれか１項に記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
【請求項6】
乾燥前の供試体と同じ形状および寸法を有する金属板（基長板）を台座上に載置して、レーザー変位計と該金属板の側面の間の距離（Ｌ１）を測定した後、該金属板に代えて前記供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と供試体の側面の間の距離（Ｌ２）を測定し、Ｌ１とＬ２の差（Ｌ１－Ｌ２）を金属板（基長板）の長さ（Ｌ）で除した値（（Ｌ１－Ｌ２）/Ｌ）を乾燥収縮ひずみとして求める、請求項１～５のいずれか１項に記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
【請求項7】
乾燥前の供試体と同じ形状および寸法を有する金属板（基長板）を台座上に載置して、レーザー変位計と該金属板の側面の間の距離を測定し、該距離（の表示）をゼロに設定した後、該金属板に代えて前記供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と供試体の側面の間の距離を測定して、該距離を金属板（基長板）の長さ（Ｌ）で除した値を乾燥収縮ひずみとして求める、請求項１～６のいずれか１項に記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、セメントペースト硬化体、コンクリート、およびモルタル（以下「セメント質硬化体」という。）の、ＪＩＳ Ａ １１２９－１、ＪＩＳ Ａ １１２９－２、またはＪＩＳ Ａ １１２９－３（以下「ＪＩＳ Ａ １１２９－１～３」という。）に準拠して測定した、乾燥期間が６か月における乾燥収縮ひずみの値を早期に推定する、乾燥収縮ひずみの推定方法に関する。なお、本願において、「乾燥収縮ひずみ」および「乾燥ひずみ」は、いずれも長さ変化率（ε）を意味する。
【背景技術】
【0002】
従来、セメント質硬化体の乾燥収縮ひずみを測定する方法は、ＪＩＳ Ａ １１２９－１に規定するコンパレータを用いる方法、ＪＩＳ Ａ １１２９－２に規定するコンタクトゲージを用いる方法、およびＪＩＳ Ａ １１２９－３に規定するダイヤルゲージを用いる方法がある。しかし、これらの方法はいずれも、乾燥期間が６か月における乾燥収縮ひずみの値を得るのに、６か月もの長期間を要するほか、所定の期間毎に、１０ｃｍ×１０ｃｍ×４０ｃｍの供試体（セメント質硬化体）の長さを測定しなければならず、測定作業に手間がかかった。
【0003】
そこで、特許文献１では、コンクリートの乾燥収縮ひずみを、早期に評価する方法が提案されている。該方法は、温度８０℃における乾燥期間２８日目の乾燥収縮ひずみの実測値と、温度２０℃における最終乾燥収縮ひずみ値との関係式、または、温度８０℃における最終乾燥収縮ひずみ値と、温度２０℃における最終乾燥収縮ひずみ値との関係を、それぞれ一次式で近似した関係式を用いて、任意の長期材齢におけるコンクリートの乾燥収縮ひずみを早期に評価する方法である。しかし、この方法では、関係式を得るのに手間がかかるほか、温度８０℃における最終乾燥収縮ひずみ値と、温度２０℃における最終乾燥収縮ひずみ値との関係が線形でない場合は、評価の精度が低下する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【文献】特開２０１４－２０８６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
そこで、本発明は、ＪＩＳ Ａ １１２９－１～３に準拠して測定した、乾燥期間６か月における乾燥収縮ひずみの値を早期に推定する、乾燥収縮ひずみの推定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明者は、前記目的にかなう乾燥収縮ひずみの推定方法を鋭意検討した結果、特定の乾燥収縮ひずみ測定装置を用いて測定した乾燥収縮ひずみの終局値に特定の係数を乗ずれば、前記目的を達成できることを見出し、本発明を完成させた。
すなわち、本発明は、以下の構成を有する乾燥収縮ひずみの推定方法である。
すなわち、本発明は、以下の構成を有する乾燥収縮ひずみの推定方法である。
【0007】
［１］下記（Ａ）および（Ｂ）の工程を経て取得した、フライアッシュセメントＣ種、または供試体１０００ｃｍ
３
当たり１２ｇ以下の収縮低減剤を含むポルトランドセメントを含有するコンクリートの乾燥収縮ひずみの終局値に０．８５を乗じて得た値を、ＪＩＳ Ａ １１２９－１、ＪＩＳ Ａ １１２９－２、またはＪＩＳ Ａ １１２９－３に準拠して測定され得る、乾燥期間６か月における乾燥収縮ひずみの値として推定する、乾燥収縮ひずみの推定方法（ただし、「乾燥収縮ひずみ」とは、長さ変化率をいう。）。
（Ａ）１個以上のレーザー変位計、乾燥収縮ひずみ測定用の供試体を載置するための台座、および、該供試体の位置決め治具を、少なくとも備えた乾燥収縮ひずみ測定装置の台座の上に、円板状または四角板状の供試体を、該供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触するように載置する、供試体の載置工程
（Ｂ）該供試体の周囲の側面に、レーザー変位計からレーザーを照射して、レーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離を測定し、該距離が一定に達した時点の供試体の乾燥収縮ひずみを、該供試体の乾燥収縮ひずみの終局値として取得する、乾燥収縮ひずみの終局値の取得工程
［２］前記供試体の位置決め治具が２本のピンであり、該位置決め治具が、該２本のピンを結ぶ直線と、レーザー変位計のレーザー照射方向とが直交するように設置されている乾燥収縮ひずみ測定装置を用いる、前記［１］に記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
［３］円板状の供試体を、時計回りまたは反時計回りに回転して、該供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触した状態で、レーザー変位計と該供試体の周囲の側面の間の距離を複数回測定し、これらの距離の平均値を求め、該平均値と乾燥直前におけるレーザー変位計と該供試体の周囲の側面の間の距離との差を、乾燥直前における該供試体の直径で除した値を該供試体の乾燥収縮ひずみとして求める、前記［１］または［２］に記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
［４］前記供試体の厚さが５～２０ｍｍである、前記［１］～［３］のいずれかに記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
［５］所定の乾燥期間が経過する度に、供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と該供試体の周囲の側面の間の距離を測定する、前記［１］～［４］のいずれかに記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
［６］乾燥前の供試体と同じ形状および寸法を有する金属板（基長板）を台座上に載置して、レーザー変位計と該金属板の側面の間の距離（Ｌ１）を測定した後、該金属板に代えて前記供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と供試体の側面の間の距離（Ｌ２）を測定し、Ｌ１とＬ２の差（Ｌ１－Ｌ２）を金属板（基長板）の長さ（Ｌ）で除した値（（Ｌ１－Ｌ２）/Ｌ）を乾燥収縮ひずみとして求める、前記［１］～［５］のいずれかに記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
［７］乾燥前の供試体と同じ形状および寸法を有する金属板（基長板）を台座上に載置して、レーザー変位計と該金属板の側面の間の距離を測定し、該距離（の表示）をゼロに設定した後、該金属板に代えて前記供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と供試体の側面の間の距離を測定して、該距離を金属板（基長板）の長さ（Ｌ）で除した値を乾燥収縮ひずみとして求める、前記［１］～［６］のいずれかに記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
（Ａ）１個以上のレーザー変位計、乾燥収縮ひずみ測定用の供試体を載置するための台座、および、該供試体の位置決め治具を、少なくとも備えた乾燥収縮ひずみ測定装置の台座の上に、円板状または四角板状の供試体を、該供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触するように載置する、供試体の載置工程
（Ｂ）該供試体の周囲の側面に、レーザー変位計からレーザーを照射して、レーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離を測定し、該距離が一定に達した時点の供試体の乾燥収縮ひずみを、該供試体の乾燥収縮ひずみの終局値として取得する、乾燥収縮ひずみの終局値の取得工程
［２］前記供試体の位置決め治具が２本のピンであり、該位置決め治具が、該２本のピンを結ぶ直線と、レーザー変位計のレーザー照射方向とが直交するように設置されている乾燥収縮ひずみ測定装置を用いる、前記［１］に記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
［３］円板状の供試体を、時計回りまたは反時計回りに回転して、該供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触した状態で、レーザー変位計と該供試体の周囲の側面の間の距離を複数回測定し、これらの距離の平均値を求め、該平均値と乾燥直前におけるレーザー変位計と該供試体の周囲の側面の間の距離との差を、乾燥直前における該供試体の直径で除した値を該供試体の乾燥収縮ひずみとして求める、前記［１］または［２］に記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
［４］前記供試体の厚さが５～２０ｍｍである、前記［１］～［３］のいずれかに記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
［５］所定の乾燥期間が経過する度に、供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と該供試体の周囲の側面の間の距離を測定する、前記［１］～［４］のいずれかに記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
［６］乾燥前の供試体と同じ形状および寸法を有する金属板（基長板）を台座上に載置して、レーザー変位計と該金属板の側面の間の距離（Ｌ１）を測定した後、該金属板に代えて前記供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と供試体の側面の間の距離（Ｌ２）を測定し、Ｌ１とＬ２の差（Ｌ１－Ｌ２）を金属板（基長板）の長さ（Ｌ）で除した値（（Ｌ１－Ｌ２）/Ｌ）を乾燥収縮ひずみとして求める、前記［１］～［５］のいずれかに記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
［７］乾燥前の供試体と同じ形状および寸法を有する金属板（基長板）を台座上に載置して、レーザー変位計と該金属板の側面の間の距離を測定し、該距離（の表示）をゼロに設定した後、該金属板に代えて前記供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と供試体の側面の間の距離を測定して、該距離を金属板（基長板）の長さ（Ｌ）で除した値を乾燥収縮ひずみとして求める、前記［１］～［６］のいずれかに記載の乾燥収縮ひずみの推定方法。
【発明の効果】
【0008】
本発明の乾燥収縮ひずみの推定方法は、ＪＩＳ Ａ １１２９－１～３に準拠して測定した、セメント質硬化体の乾燥期間６か月における乾燥収縮ひずみを、早期に精度よく推定できる。また、本発明で用いる供試体は、ＪＩＳ Ａ １１２９－１～３で用いる供試体に比べ小さく、供試体を動かすなどの作業が容易なため、乾燥収縮ひずみの測定作業の労力を大幅に軽減できる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
【図1】１個のレーザー変位計を有する本発明の乾燥収縮ひずみ測定装置の上に、供試体を載置した状態の一例を示す概略図であって、左の図は該測定装置の平面図、右の図は該測定装置の側面図である。
【図2】２個のレーザー変位計を有する本発明の乾燥収縮ひずみ測定装置の上に、供試体を載置した状態の一例を示す概略図であって、左の図は該測定装置の平面図、右の図は該測定装置の側面図である。
【図3】支持部材の下部の一部を、台座に埋め込んだ状態で設置してなる支持部材の上に、供試体を載置した状態の一例を示す概略図であって、左の図は該測定装置の平面図、右の図は該測定装置の側面図である。ただし、図３では、レーザー変位計の記載は省略した。
【図4】実施例の各コンクリート供試体の乾燥収縮ひずみの経時変化を示す図であり、（Ｎ）は普通ポルトランドセメント、（ＢＢ）は高炉セメントＢ種、（Ｍ）は中庸熱ポルトランドセメント、（Ｌ）は低熱ポルトランドセメント、（ＥＸ）は膨張材含有セメント、（ＦＡ３０）はフライアッシュセメントＣ種を用いたコンクリート供試体の乾燥収縮ひずみ、および（ＳＲ）は収縮低減剤を含むコンクリート供試体の乾燥収縮ひずみ、を示す。
【発明を実施するための形態】
【0010】
本発明は、前記（Ａ）および（Ｂ）の工程を経て取得した乾燥収縮ひずみの終局値に、表１に記載のセメントの種類に応じて選択した係数を乗じて得た値を、ＪＩＳ Ａ １１２９－１～３に準拠して測定した、乾燥期間６か月における乾燥ひずみの値として推定する、乾燥収縮ひずみの推定方法である。
以下、本発明について、乾燥収縮ひずみ測定装置、乾燥収縮ひずみの測定と乾燥収縮ひずみの終局値の取得、および、乾燥収縮ひずみの推定方法に分けて詳細に説明する。
以下、本発明について、乾燥収縮ひずみ測定装置、乾燥収縮ひずみの測定と乾燥収縮ひずみの終局値の取得、および、乾燥収縮ひずみの推定方法に分けて詳細に説明する。
【0011】
１．乾燥収縮ひずみ測定装置
（Ａ） レーザー変位計
本発明で用いるレーザー変位計４は、特に制限されず、反射型や透過型等の市販のレーザー変位計が挙げられる。
本発明では、レーザー変位計の数を増やせばデータ数が増え、その分、測定精度が向上するが、装置はコスト高になるため、レーザー変位計の数は、好ましくは１～４個、より好ましくは１～２個である。
前記レーザー変位計は、台座上に載置した円板状または四角板状の供試体１の中心に向けてレーザーを照射できるように設置する。レーザー変位計の設置位置は、例えば、図１や図２に示す位置が挙げられる。
（Ａ） レーザー変位計
本発明で用いるレーザー変位計４は、特に制限されず、反射型や透過型等の市販のレーザー変位計が挙げられる。
本発明では、レーザー変位計の数を増やせばデータ数が増え、その分、測定精度が向上するが、装置はコスト高になるため、レーザー変位計の数は、好ましくは１～４個、より好ましくは１～２個である。
前記レーザー変位計は、台座上に載置した円板状または四角板状の供試体１の中心に向けてレーザーを照射できるように設置する。レーザー変位計の設置位置は、例えば、図１や図２に示す位置が挙げられる。
【0012】
（Ｂ）台座
本発明で用いる台座２は、乾燥収縮ひずみ測定用の供試体を載置するために用いる。台座の形状は、特に限定されず、例えば、図１や図２に示す正方形の板状や、円板状である。また、測定精度の向上のために、台座は水平に保たれていることが好ましい。
さらに、当該台座は、熱や衝撃による変形を防止するため、好ましくはインバー鋼材を用いて製造する。
本発明で用いる台座２は、乾燥収縮ひずみ測定用の供試体を載置するために用いる。台座の形状は、特に限定されず、例えば、図１や図２に示す正方形の板状や、円板状である。また、測定精度の向上のために、台座は水平に保たれていることが好ましい。
さらに、当該台座は、熱や衝撃による変形を防止するため、好ましくはインバー鋼材を用いて製造する。
【0013】
さらに、台座は、乾燥収縮ひずみ測定用の供試体を支持するための支持部材５を設置してもよい。支持部材を設置すると、乾燥収縮ひずみ測定用の供試体と台座の間の熱の移動を低減できるため、乾燥収縮ひずみの測定精度が向上する。
支持部材の形状は、特に制限されず、図３に示すような球状（図３では、支持部材の下部の一部が、台座に埋め込まれている。）や、柱状等が挙げられる。なお、支持部材を柱状にする場合は、上部を半球状にすることが好ましい。
支持部材の数は、３点以上あれば供試体を安定して載置できるから好ましいが、支持部材を多くすると装置の製造に手間がかかる。そのため、支持部材の数は３～４が好ましい。また、前記支持部材は、供試体を安定して載置するためには、正三角形または正方形を形成するように設置するのが好ましい。図３は、支持部材が正方形を形成するように設置されている例である。
さらに、支持部材は、熱や衝撃による変形を防止するため、好ましくはインバー鋼材を用いて製造する。
支持部材の形状は、特に制限されず、図３に示すような球状（図３では、支持部材の下部の一部が、台座に埋め込まれている。）や、柱状等が挙げられる。なお、支持部材を柱状にする場合は、上部を半球状にすることが好ましい。
支持部材の数は、３点以上あれば供試体を安定して載置できるから好ましいが、支持部材を多くすると装置の製造に手間がかかる。そのため、支持部材の数は３～４が好ましい。また、前記支持部材は、供試体を安定して載置するためには、正三角形または正方形を形成するように設置するのが好ましい。図３は、支持部材が正方形を形成するように設置されている例である。
さらに、支持部材は、熱や衝撃による変形を防止するため、好ましくはインバー鋼材を用いて製造する。
【0014】
(Ｃ)位置決め治具
本発明で用いる位置決め治具３は、供試体の乾燥収縮ひずみを測定する際に、供試体の載置位置を決めて固定するために用いるもので、例えば、図１や図２に示すように、台座上に倒立した状態で設置してなる２本のピン等が挙げられる。図１や図２では、乾燥期間が０（ゼロ）日の時点で、円板状の供試体を台座に載置した場合、円板状の供試体の中心と台座の中心が一致するように、位置決め治具が円板状の供試体の周囲の側面と接触する位置に設置されている。なお、当該位置決め治具は、台座上のほかに台座の外側に設置しても良い。
さらに、当該位置決め治具は、熱や衝撃による変形を防止するため、好ましくはインバー鋼材を用いて製造する。
本発明で用いる位置決め治具３は、供試体の乾燥収縮ひずみを測定する際に、供試体の載置位置を決めて固定するために用いるもので、例えば、図１や図２に示すように、台座上に倒立した状態で設置してなる２本のピン等が挙げられる。図１や図２では、乾燥期間が０（ゼロ）日の時点で、円板状の供試体を台座に載置した場合、円板状の供試体の中心と台座の中心が一致するように、位置決め治具が円板状の供試体の周囲の側面と接触する位置に設置されている。なお、当該位置決め治具は、台座上のほかに台座の外側に設置しても良い。
さらに、当該位置決め治具は、熱や衝撃による変形を防止するため、好ましくはインバー鋼材を用いて製造する。
【0015】
また、本発明の乾燥収縮ひずみ測定装置は、レーザー変位計、台座、および位置決め治具を、基盤を用いて一体化して構成することが好ましい。この場合、レーザー変位計、台座、および位置決め治具を設置するために用いる基盤は、熱や衝撃による変形を防止するため、好ましくはインバー鋼材を用いて製造する。
【0016】
２．乾燥収縮ひずみの測定と乾燥収縮ひずみの終局値の取得
本発明において乾燥収縮ひずみの測定は、まず、前記乾燥収縮ひずみ測定装置の台座上に、円板状または四角板状の供試体を、該供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触するように載置する（供試体の載置工程）。
本発明では、（１）別の場所で乾燥している供試体を、所定の乾燥期間毎に台座上に載置して、乾燥収縮ひずみを測る方法と、（２）台座上に供試体を載置したままの状態で、供試体を乾燥して、所定の乾燥期間毎に、乾燥収縮ひずみを測る方法、のいずれも可能であるが、多数の供試体の乾燥収縮ひずみを並行して測定できるため、前記（１）の方法が好ましい。
本発明において、供試体が円板状の場合、供試体の直径は、１０～３０ｃｍであれば、供試体の製造は容易で、また供試体の乾燥が速くなり好ましい。なお、供試体の直径は、より好ましくは１０～２０ｃｍである。また、供試体の厚さは、５～２０ｍｍであれば供試体は割れ難く、また供試体の乾燥がさらに速くなるため好ましい。なお、供試体の厚さは、より好ましくは６～１８ｍｍ、さらに好ましくは７～１５ｍｍ、特に好ましくは８～１２ｍｍである。
また、供試体が四角板状の場合、四角板の１辺の長さは、好ましくは１０～３０ｃｍ、より好ましくは１０～２０ｃｍであり、さらに好ましくは、１辺の長さが１０～３０ｃｍの正方形、特に好ましくは、１辺の長さが１０～２０ｃｍの正方形である。１辺の長さが１０～３０ｃｍであれば、供試体の製造は容易で、また供試体の乾燥が速くなる。また、四角板状の供試体の厚さは、好ましくは５～２０ｍｍ、より好ましくは６～１８ｍｍ、さらに好ましくは７～１５ｍｍ、特に好ましくは８～１２ｍｍである。供試体の厚さが５～２０ｍｍであれば、供試体は割れ難く、また供試体の乾燥はさらに速くなる。
なお、本発明の乾燥収縮ひずみ測定装置の台座に支持部材が設置されている場合、該支持部材上に、円板状または四角板状の供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触するように、該供試体を載置する。
本発明において乾燥収縮ひずみの測定は、まず、前記乾燥収縮ひずみ測定装置の台座上に、円板状または四角板状の供試体を、該供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触するように載置する（供試体の載置工程）。
本発明では、（１）別の場所で乾燥している供試体を、所定の乾燥期間毎に台座上に載置して、乾燥収縮ひずみを測る方法と、（２）台座上に供試体を載置したままの状態で、供試体を乾燥して、所定の乾燥期間毎に、乾燥収縮ひずみを測る方法、のいずれも可能であるが、多数の供試体の乾燥収縮ひずみを並行して測定できるため、前記（１）の方法が好ましい。
本発明において、供試体が円板状の場合、供試体の直径は、１０～３０ｃｍであれば、供試体の製造は容易で、また供試体の乾燥が速くなり好ましい。なお、供試体の直径は、より好ましくは１０～２０ｃｍである。また、供試体の厚さは、５～２０ｍｍであれば供試体は割れ難く、また供試体の乾燥がさらに速くなるため好ましい。なお、供試体の厚さは、より好ましくは６～１８ｍｍ、さらに好ましくは７～１５ｍｍ、特に好ましくは８～１２ｍｍである。
また、供試体が四角板状の場合、四角板の１辺の長さは、好ましくは１０～３０ｃｍ、より好ましくは１０～２０ｃｍであり、さらに好ましくは、１辺の長さが１０～３０ｃｍの正方形、特に好ましくは、１辺の長さが１０～２０ｃｍの正方形である。１辺の長さが１０～３０ｃｍであれば、供試体の製造は容易で、また供試体の乾燥が速くなる。また、四角板状の供試体の厚さは、好ましくは５～２０ｍｍ、より好ましくは６～１８ｍｍ、さらに好ましくは７～１５ｍｍ、特に好ましくは８～１２ｍｍである。供試体の厚さが５～２０ｍｍであれば、供試体は割れ難く、また供試体の乾燥はさらに速くなる。
なお、本発明の乾燥収縮ひずみ測定装置の台座に支持部材が設置されている場合、該支持部材上に、円板状または四角板状の供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触するように、該供試体を載置する。
【0017】
本発明における乾燥収縮ひずみの測定では、レーザー変位計を用いて供試体の周囲の側面にレーザーを照射して、レーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離を測定することにより、供試体の乾燥収縮ひずみを測る。そして、レーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離が一定に達した時点の供試体の乾燥収縮ひずみを、該供試体の乾燥収縮ひずみの終局値として取得する（乾燥収縮ひずみの終局値の取得工程）。ここで、レーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離が一定に達した時点とは、7日間での当該距離の変化量が０．００１ｍｍ以下になった時点を意味する。
本発明において、乾燥収縮ひずみの測定精度を向上させるため、好ましくは、供試体は円板状であり、該供試体を時計回りまたは反時計回りに回転して、該供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触した状態で、レーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離を、複数回、好ましくは３～５回測る。例えば、図１に示す供試体の点ａを測定した後、供試体を時計回りに９０°回転して点ｂを測定し、さらに時計回りに９０°回転して点ｃを測定して、３点の平均値を求め、該平均値と乾燥直前におけるレーザー変位計と該供試体の周囲の側面の間の距離との差を、乾燥直前における該供試体の直径で除した値を乾燥収縮ひずみとして求める。
なお、本発明における乾燥収縮ひずみの測定では、乾燥収縮ひずみの測定間隔は任意であるが、乾燥収縮ひずみの終局値を早期に得るためや、測定の手間を軽減するため、好ましくは乾燥期間１～１０日毎、より好ましくは乾燥期間１～７日毎である。
本発明において、乾燥収縮ひずみの測定精度を向上させるため、好ましくは、供試体は円板状であり、該供試体を時計回りまたは反時計回りに回転して、該供試体の周囲の側面が位置決め治具と接触した状態で、レーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離を、複数回、好ましくは３～５回測る。例えば、図１に示す供試体の点ａを測定した後、供試体を時計回りに９０°回転して点ｂを測定し、さらに時計回りに９０°回転して点ｃを測定して、３点の平均値を求め、該平均値と乾燥直前におけるレーザー変位計と該供試体の周囲の側面の間の距離との差を、乾燥直前における該供試体の直径で除した値を乾燥収縮ひずみとして求める。
なお、本発明における乾燥収縮ひずみの測定では、乾燥収縮ひずみの測定間隔は任意であるが、乾燥収縮ひずみの終局値を早期に得るためや、測定の手間を軽減するため、好ましくは乾燥期間１～１０日毎、より好ましくは乾燥期間１～７日毎である。
【0018】
また、本発明における乾燥収縮ひずみの測定では、乾燥収縮ひずみをより正確に測定するために、乾燥前の供試体と同じ形状および寸法を有する金属板（基長板）を台座上に載置して、レーザー変位計と該金属板の側面の間の距離（Ｌ１）を測定した後、該金属板に代えて前記供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と供試体の側面の間の距離（Ｌ２）を測定し、Ｌ１とＬ２の差（Ｌ１－Ｌ２）を金属板（基長板）の長さ（Ｌ）で除した値（（Ｌ１－Ｌ２）/Ｌ）を乾燥収縮ひずみとする。
また、前記測定した距離が画面上に表示される測定装置を用いる場合、本発明における乾燥収縮ひずみの測定は、乾燥前の供試体と同じ形状および寸法を有する金属板（基長板）を台座上に載置して、レーザー変位計と該金属板の側面の間の距離を測定し、該距離（の表示）をゼロに設定した後、該金属板に代えて前記供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と供試体の側面の間の距離を測定し、該距離を金属板（基長板）の長さ（Ｌ）で除した値を乾燥収縮ひずみとする。
前記金属板（基長板）は、温度の変化による長さの変化が同じになるよう、好ましくは台座と同じ材質の金属であり、熱や衝撃による変形を防止するため、より好ましくは、インバー鋼材である。
また、前記測定した距離が画面上に表示される測定装置を用いる場合、本発明における乾燥収縮ひずみの測定は、乾燥前の供試体と同じ形状および寸法を有する金属板（基長板）を台座上に載置して、レーザー変位計と該金属板の側面の間の距離を測定し、該距離（の表示）をゼロに設定した後、該金属板に代えて前記供試体を台座上に載置して、レーザー変位計と供試体の側面の間の距離を測定し、該距離を金属板（基長板）の長さ（Ｌ）で除した値を乾燥収縮ひずみとする。
前記金属板（基長板）は、温度の変化による長さの変化が同じになるよう、好ましくは台座と同じ材質の金属であり、熱や衝撃による変形を防止するため、より好ましくは、インバー鋼材である。
【0019】
３．乾燥収縮ひずみの推定方法
本発明の乾燥収縮ひずみの推定方法は、前記（Ａ）および（Ｂ）の工程を経て取得した乾燥収縮ひずみの終局値に、表１に記載のセメントの種類に応じて選択した係数を乗じて得た値を、ＪＩＳ Ａ １１２９－１～３に準拠して測定した、乾燥期間６か月における乾燥ひずみの値として推定する、乾燥収縮ひずみの推定方法である。
本発明の推定方法によれば、後述する実施例に示すとおり、ＪＩＳ Ａ １１２９－１～３に準拠して測定した乾燥期間６か月におけるセメント質硬化体の乾燥収縮ひずみの値、特に、圧縮強度が１８Ｎ／ｍｍ２以上のセメント質硬化体の乾燥収縮ひずみの値を、１００日以内という短期間で精度よく推定できる。
また、本発明の乾燥収縮ひずみの推定方法が適用できるセメント質硬化体の種類は、特に限定されず、普通コンクリートのほか、収縮低減剤または膨張材を含むコンクリート（図５参照）、速硬型コンクリート、軽量コンクリート、および高強度コンクリート等のセメント質硬化体にも適用できる。
また、コンクリートが収縮低減剤を含む場合、収縮低減剤の単位量は、好ましくは１２ｋｇ／ｍ３以下、より好ましくは９ｋｇ／ｍ３以下、さらに好ましく６ｋｇ／ｍ３以下であり、また、コンクリートが膨張材を含む場合、膨張材の単位量は、好ましくは３０ｋｇ／ｍ３以下、より好ましくは２５ｋｇ／ｍ３以下、さらに好ましく２０ｋｇ／ｍ３以下である。
また、セメントが高炉セメントである場合、該セメントは、好ましくは高炉セメントＡ種またはＢ種である。セメントがシリカフュームを含む場合、セメント中のシリカフュームの含有率は、好ましくは２０質量％以下である。
本発明の乾燥収縮ひずみの推定方法は、前記（Ａ）および（Ｂ）の工程を経て取得した乾燥収縮ひずみの終局値に、表１に記載のセメントの種類に応じて選択した係数を乗じて得た値を、ＪＩＳ Ａ １１２９－１～３に準拠して測定した、乾燥期間６か月における乾燥ひずみの値として推定する、乾燥収縮ひずみの推定方法である。
本発明の推定方法によれば、後述する実施例に示すとおり、ＪＩＳ Ａ １１２９－１～３に準拠して測定した乾燥期間６か月におけるセメント質硬化体の乾燥収縮ひずみの値、特に、圧縮強度が１８Ｎ／ｍｍ２以上のセメント質硬化体の乾燥収縮ひずみの値を、１００日以内という短期間で精度よく推定できる。
また、本発明の乾燥収縮ひずみの推定方法が適用できるセメント質硬化体の種類は、特に限定されず、普通コンクリートのほか、収縮低減剤または膨張材を含むコンクリート（図５参照）、速硬型コンクリート、軽量コンクリート、および高強度コンクリート等のセメント質硬化体にも適用できる。
また、コンクリートが収縮低減剤を含む場合、収縮低減剤の単位量は、好ましくは１２ｋｇ／ｍ３以下、より好ましくは９ｋｇ／ｍ３以下、さらに好ましく６ｋｇ／ｍ３以下であり、また、コンクリートが膨張材を含む場合、膨張材の単位量は、好ましくは３０ｋｇ／ｍ３以下、より好ましくは２５ｋｇ／ｍ３以下、さらに好ましく２０ｋｇ／ｍ３以下である。
また、セメントが高炉セメントである場合、該セメントは、好ましくは高炉セメントＡ種またはＢ種である。セメントがシリカフュームを含む場合、セメント中のシリカフュームの含有率は、好ましくは２０質量％以下である。
【実施例】
【0020】
以下、本発明を実施例により説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されない。
１．使用材料
（１）セメント（太平洋セメント社製）
(i)普通ポルトランドセメント（略号：ＮＣ）
(ii)高炉セメントＢ種（略号：ＢＢ）
(iii)中庸熱ポルトランドセメント（略号：ＭＣ）
(iv)低熱ポルトランドセメント（略号：ＬＣ）
(v)フライアッシュセメントＣ種（略号：ＦＡ)
ブレーン比表面積：３３００ｃｍ２／ｇ、フライアッシュの含有率：３０質量％）
（２）細骨材（略号：Ｓ）
山砂（表乾密度２．５６ｇ／ｃｍ３）
（３）粗骨材（略号：Ｇ）
砂岩砕石（表乾密度２．６１ｇ／ｃｍ３）
（４）水（略号：Ｗ）
水道水
（５）ＡＥ減水剤（略号：ＬＳ）
リグニンスルホン酸系ＡＥ減水剤、商品名 ポゾリスＮｏ．７０［登録商標］（ＢＡＳＦ社製）
（６）ＡＥ剤
商品名 マスターエア４０４［登録商標］（ＢＡＳＦ社製）
（７）収縮低減剤（略号：ＳＲ）
商品名 テトラガードＡＳ２１（太平洋マテリアル社製）
（８）膨張材（略号：ＥＸ）
太平洋ハイパーエクスパン（太平洋マテリアル社製）
１．使用材料
（１）セメント（太平洋セメント社製）
(i)普通ポルトランドセメント（略号：ＮＣ）
(ii)高炉セメントＢ種（略号：ＢＢ）
(iii)中庸熱ポルトランドセメント（略号：ＭＣ）
(iv)低熱ポルトランドセメント（略号：ＬＣ）
(v)フライアッシュセメントＣ種（略号：ＦＡ)
ブレーン比表面積：３３００ｃｍ２／ｇ、フライアッシュの含有率：３０質量％）
（２）細骨材（略号：Ｓ）
山砂（表乾密度２．５６ｇ／ｃｍ３）
（３）粗骨材（略号：Ｇ）
砂岩砕石（表乾密度２．６１ｇ／ｃｍ３）
（４）水（略号：Ｗ）
水道水
（５）ＡＥ減水剤（略号：ＬＳ）
リグニンスルホン酸系ＡＥ減水剤、商品名 ポゾリスＮｏ．７０［登録商標］（ＢＡＳＦ社製）
（６）ＡＥ剤
商品名 マスターエア４０４［登録商標］（ＢＡＳＦ社製）
（７）収縮低減剤（略号：ＳＲ）
商品名 テトラガードＡＳ２１（太平洋マテリアル社製）
（８）膨張材（略号：ＥＸ）
太平洋ハイパーエクスパン（太平洋マテリアル社製）
【0021】
２．乾燥収縮ひずみ測定用の供試体の作製
表２に示す配合に従い、前記の各材料を容量５０リッターのパン型ミキサに一括して投入し、２分間混練した後、混練物を内径１０ｃｍ、高さ２０ｃｍの型枠に打設して成形してコンクリートを得た。次に、該コンクリートを２０℃で１日間湿空養生した後に脱型し、さらに２０℃で７日間水中養生した。水中養生した後、コンクリートの高さ方向の中央部付近を切断して、直径１０ｃｍ、厚さ１０ｍｍの乾燥収縮ひずみ測定用の供試体を各３個作製した。
なお、ＪＩＳ Ａ １１０８「コンクリートの圧縮強度試験」に準拠して測定したコンクリートＡ、Ｄ、およびＦの材齢２８日の圧縮強度は、それぞれ４７Ｎ／ｍｍ２、４０Ｎ／ｍｍ２、および４６Ｎ／ｍｍ２であった。
表２に示す配合に従い、前記の各材料を容量５０リッターのパン型ミキサに一括して投入し、２分間混練した後、混練物を内径１０ｃｍ、高さ２０ｃｍの型枠に打設して成形してコンクリートを得た。次に、該コンクリートを２０℃で１日間湿空養生した後に脱型し、さらに２０℃で７日間水中養生した。水中養生した後、コンクリートの高さ方向の中央部付近を切断して、直径１０ｃｍ、厚さ１０ｍｍの乾燥収縮ひずみ測定用の供試体を各３個作製した。
なお、ＪＩＳ Ａ １１０８「コンクリートの圧縮強度試験」に準拠して測定したコンクリートＡ、Ｄ、およびＦの材齢２８日の圧縮強度は、それぞれ４７Ｎ／ｍｍ２、４０Ｎ／ｍｍ２、および４６Ｎ／ｍｍ２であった。
【0022】
【表2】
【0023】
３．供試体の乾燥収縮ひずみの測定
以下、図を用いて供試体の乾燥収縮ひずみの測定を説明する。
前記乾燥収縮ひずみ測定用の供試体１を、室温２０±２℃、相対湿度６０±５％の条件で乾燥した。そして、乾燥期間７日毎に、該供試体の周囲の側面が、図１に示す乾燥収縮ひずみ測定装置の位置決め治具３と接触するように台座２に載置した後、レーザー変位計４を用いて、レーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離を測定した。なお、本実施例では、１個の供試体に対して３箇所（図１の点ａ、点ｂ、および点ｃ）でレーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離を測定して平均値を求め、この平均値と乾燥直前におけるレーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離との差を、乾燥直前における供試体の直径で除した値を当該供試体の乾燥収縮ひずみとして算出し、さらに、この３個の供試体の乾燥収縮ひずみ（平均値）を平均して、全体の乾燥収縮ひずみを算出した。その結果を図４と表３に示す。
ただし、表３中の数値の意味は以下のとおりである。
(i）「ひずみの終局値 本発明」欄内の数値は、図１の乾燥収縮ひずみ測定装置を用いて測定した乾燥収縮ひずみの終局値を示す。
(ii）「ひずみの終局値 ＪＩＳ法」欄内の数値は、ＪＩＳ Ａ １１２９-２「モルタル及びコンクリートの長さ変化測定方法 第２部：コンタクトゲージ方法」（以下「ＪＩＳ法」という。）に準拠して測定した、乾燥収縮ひずみの終局値を示す。
(iii）「乾燥期間６か月のひずみの実測値」欄内の数値は、前記ＪＩＳ法に準拠して測定した、乾燥期間６か月における乾燥収縮ひずみの値（実測値）を示す（比較例）。
(iv）「乾燥期間６か月のひずみの推定値」欄内の数値は、実施例として、乾燥収縮ひずみの終局値に、表１から供試体中のセメントの種類に応じて選択した係数を乗じて得た値（推定値）を示す（実施例）。
以下、図を用いて供試体の乾燥収縮ひずみの測定を説明する。
前記乾燥収縮ひずみ測定用の供試体１を、室温２０±２℃、相対湿度６０±５％の条件で乾燥した。そして、乾燥期間７日毎に、該供試体の周囲の側面が、図１に示す乾燥収縮ひずみ測定装置の位置決め治具３と接触するように台座２に載置した後、レーザー変位計４を用いて、レーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離を測定した。なお、本実施例では、１個の供試体に対して３箇所（図１の点ａ、点ｂ、および点ｃ）でレーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離を測定して平均値を求め、この平均値と乾燥直前におけるレーザー変位計と供試体の周囲の側面の間の距離との差を、乾燥直前における供試体の直径で除した値を当該供試体の乾燥収縮ひずみとして算出し、さらに、この３個の供試体の乾燥収縮ひずみ（平均値）を平均して、全体の乾燥収縮ひずみを算出した。その結果を図４と表３に示す。
ただし、表３中の数値の意味は以下のとおりである。
(i）「ひずみの終局値 本発明」欄内の数値は、図１の乾燥収縮ひずみ測定装置を用いて測定した乾燥収縮ひずみの終局値を示す。
(ii）「ひずみの終局値 ＪＩＳ法」欄内の数値は、ＪＩＳ Ａ １１２９-２「モルタル及びコンクリートの長さ変化測定方法 第２部：コンタクトゲージ方法」（以下「ＪＩＳ法」という。）に準拠して測定した、乾燥収縮ひずみの終局値を示す。
(iii）「乾燥期間６か月のひずみの実測値」欄内の数値は、前記ＪＩＳ法に準拠して測定した、乾燥期間６か月における乾燥収縮ひずみの値（実測値）を示す（比較例）。
(iv）「乾燥期間６か月のひずみの推定値」欄内の数値は、実施例として、乾燥収縮ひずみの終局値に、表１から供試体中のセメントの種類に応じて選択した係数を乗じて得た値（推定値）を示す（実施例）。
【0024】
【表3】
【0025】
表３に示すように、本発明によれば、乾燥収縮ひずみの終局値に、供試体中のセメントの種類に応じて係数を乗じるだけで、ＪＩＳ法に準拠して測定した乾燥期間６か月の乾燥収縮ひずみの値を、誤差が３．１％以内という高い精度で、労せず早期に推定できる。また、本発明の高い推定精度はセメントの種類に依らないため、汎用性が高い。
【符号の説明】
【0026】
１ 供試体
２ 台座
３ 位置決め治具
４ レーザー変位計（ただし、黒色の矢印はレーザーを示す。）
５ 支持部材
２ 台座
３ 位置決め治具
４ レーザー変位計（ただし、黒色の矢印はレーザーを示す。）
５ 支持部材
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】