特許7369008IP Force 特許公報全文掲載

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この開示は、ガラス粉末を含む導電性ペースト、およびそれを用いて形成された外部電極を備えた積層型電子部品

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

ところで、ホウケイ酸系ガラス組成物には、３配位のＢおよび４配位のＢが含まれている。アルカリ土類金属元素を含むホウケイ酸系ガラス組成物中のＢは、３配位を取りやすくなる。この３配位のＢが増加すると、導電性ペーストの焼き付けにより形成された下地電極層の耐湿性が下がる虞がある。しかしながら、特許文献１には、ホウケイ酸系ガラス組成物中の３配位のＢと４配位のＢとの比率、およびその比率と耐湿性との関係については、何ら言及されていない。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

この開示に係る導電性ペーストは、ＣｕおよびＮｉの中から選ばれる少なくとも１種類の元素を含む導電性粉末と、ガラス粉末と、有機材料とを備える。ガラス粉末は、ホウケイ酸系ガラス組成物を含む。そして、ホウケイ酸系ガラス組成物に含まれる元素の量をモル％で表した場合、４配位のＢの量をＣB4とし、３配位のＢの量をＣB3としたとき、ＣB4／（ＣB4＋ＣB3）で表される４配位のＢの存在比ＲB4が０．３５≦ＲB・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

この開示に係る導電性ペーストは、耐湿性の高い下地電極層を得ることができる。また、この開示に係る積層型電子部品は、耐湿性の高い下地電極層を含む外部電極を備えることができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 この開示に係る導電性ペーストの実施形態である導電性ペースト１の模式図である。
【図2】 ホウケイ酸系ガラス組成物のＢに着目したＮＭＲスペクトルの実測例である。
【図3】 ホウケイ酸系ガラス組成物のＢに着目したＮＭＲスペクトルのシミュレーションにより信号分離を行なった結果である。
【図4】 この開示に係る積層型電子部品の実施形態である積層セラミックコンデンサ１００の断面図である。
【図5】 積層セラミックコンデンサ１００の第１の外部電極１４ａの第１の下地電極層１４ａ1の微細構造を説明するための断面図である。
【図6】 Ｂ中のＣB4が既知であるリファレンス材料から得られた走査型透過Ｘ線顕微鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ Ｘ－ｒａｙ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ：以後、ＳＴＸＭと略称することがある）スペクトルである。
【図7】 Ｂ中のＣB4が既知であるリファレンス材料から得られたＳＴＸＭスペクトルのＡ／Ｂ比とＣB4との関係を表すグラフである。

代表図 図1本件の代表的な図

１ 導電性ペースト ２ 導電性粉末 ３ ガラス粉末 ４ 有機材料 １００ 積層セラミックコンデンサ １０ 積層体 １１ 誘電体層 １２ 内部電極層 １３ａ 第１の端面 １３ｂ 第２の端面 １４ａ 第１の外部電極 １４ａ1 第１の下地電極層 １４ａ2 第１のめっき層 １４ｂ 第２の外部電極 １４ｂ1 第２の下地電極層 １４ｂ2 第２のめっき層 １５ａ1 導電性領域 １６ａ1 ガラス領域 Ａ 第１の元素 ＡＥ 第２の元素

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