特許7369801IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

顕微鏡システム、球面収差が補正される設定を探索する設定探索方法、及び、プログラム

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

ところで、球面収差が補正されているか否かを正確に判定するためには、S/N比が高い画像を用いてコントラスト値を算出することが望ましい。S/N比が低い画像では、球面収差量とは無関係なノイズの影響が相対的に大きくなり、球面収差に起因するコントラストの変化を正確に把握することが難しいからである。S/N比が高い画像は、例えば、照明光の強度を強くして、画像のシグナル成分をノイズ成分に対して大きくすることによって取得可能である。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一態様に係る顕微鏡システムは、球面収差補正装置を有し、前記球面収差補正装置の設定が異なる複数の状態の各々で画像データを取得することで複数の画像データを取得する顕微鏡装置と、前記複数の画像データの各々のコントラスト値を含む複数のコントラスト値に基づいて球面収差が補正される前記球面収差補正装置の設定を特定する演算装置と、を備え、前記演算装置は、前記複数の画像データのうちの少なくとも1つの画・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示によれば、飽和画素が生じた場合であっても球面収差が補正される設定を精度良く特定することができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 第1の顕微鏡システムの構成を例示した図である。
【図2】 図1に示す演算装置の構成を例示した図である。
【図3】 図1に示す顕微鏡装置の構成を例示した図である。
【図4】 第1の補正環設定処理のフローチャートである。
【図5】 飽和画素位置特定処理のフローチャートである。
【図6】 コントラスト算出処理のフローチャートである。
【図7】 従来のコントラスト値の算出方法を説明するための図である。
【図8】 第1の実施形態におけるコントラスト値の算出方法の一例を説明するための図である。
【図9】 第1の実施形態におけるコントラスト値の算出方法の別の例を説明するための図である。
【図10】 第2の補正環設定処理のフローチャートである。
【図11】 図10に示す補正環設定処理の変形例のフローチャートである。
【図12】 第3の関係算出処理のフローチャートである。
【図13】 補正環の設定と観察深さの関係の算出方法の一例を説明するための図である。
【図14】 第3のZ-Series撮影処理のフローチャートである。
【図15】 第4の屈折率表示処理のフローチャートである。
【図16】 屈折率の表示方法の一例を説明するための図である。
【図17】 屈折率の表示方法の一例を説明するための別の図である。
【図18】 コントラスト値の算出方法の更に別の例を説明するための図である。

代表図 図1本件の代表的な図

1 顕微鏡システム 10 顕微鏡制御装置 11 光源制御装置 12 ズーム制御装置 13 焦準制御装置 14 補正環制御装置 20 演算装置 21 プロセッサ 22 メモリ 26 可搬記録媒体 30 表示装置 40 キーボード 50 補正環操作装置 60 焦準操作装置 100 顕微鏡 101 レーザー 102 走査ユニット 107 光検出器 108 A/D変換器 109 焦準装置 110 対物レンズ 111 補正環

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