特許7370166IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

マグネシウム合金のワイヤ及びその製造方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一態様は、α-Mg相の平均結晶粒径を1μm以下とすることで高強度を有するマグネシウム合金のワイヤまたはその製造方法を提供することを課題とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

以下に本発明の種々の態様について説明する。 [1]80原子%以上のMgを含有し、α-Mg相を有するマグネシウム合金のワイヤにおいて、 前記ワイヤの線径をDとし、前記ワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面で観察した前記α-Mg相の平均結晶粒径をdとした場合に下記の(式41)及び(式42)を満たすことを特徴とするマグネシウム合金のワイヤ。 (式41)0.1mm≦D≦1mm (・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一態様によれば、α-Mg相の平均結晶粒径を1μm以下とすることで高強度を有するマグネシウム合金のワイヤまたはその製造方法を提供することができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の一態様に係るマグネシウム合金のワイヤの製造方法を説明するための断面図である。
【図2】 実施例1によるサンプル1、サンプル2、サンプル3及びサンプル4それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面(横断面)でEBSDにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図3】 図2に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図4】 サンプル1~4それぞれの横断面のα-Mg相の平均結晶粒径を示す図である。
【図5】 サンプル1~4それぞれのワイヤの長手方向に切断した断面(縦断面)で観察した組織写真である。
【図6】 サンプル1~4それぞれの縦断面のα-Mg相の平均結晶粒径(組織長)を示す図である。
【図7】 α-Mg相の結晶粒のアスペクト比を示す図である。
【図8】 サンプル2~4それぞれの0.2%耐力を測定した結果を示す図である。
【図9】 実施例2によるサンプル5、サンプル6、サンプル7及びサンプル8それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面(横断面)でEBSDにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図10】 実施例2によるサンプル9、サンプル10、サンプル11及びサンプル12それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面(横断面)でEBSDにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図11】 実施例2によるサンプル13、サンプル14、サンプル15及びサンプル16それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面(横断面)でEBSDにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図12】 実施例2によるサンプル17、サンプル18、サンプル19及びサンプル20それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面(横断面)でEBSDにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図13】 実施例2によるサンプル21、サンプル22、サンプル23及びサンプル24それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面(横断面)でEBSDにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図14】 図9に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図15】 図10に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図16】 図11に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図17】 図12に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図18】 図13に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図19】 サンプル5~8それぞれの横断面のα-Mg相の平均結晶粒径を示す図である。
【図20】 サンプル9~12それぞれの横断面のα-Mg相の平均結晶粒径を示す図である。
【図21】 サンプル13~16それぞれの横断面のα-Mg相の平均結晶粒径を示す図である。
【図22】 サンプル17~20それぞれの横断面のα-Mg相の平均結晶粒径を示す図である。
【図23】 サンプル21~24それぞれの横断面のα-Mg相の平均結晶粒径を示す図である。
【図24】 サンプル13~16それぞれのワイヤの長手方向に切断した断面(縦断面)で観察した組織写真である。
【図25】 サンプル21~24それぞれのワイヤの長手方向に切断した断面(縦断面)で観察した組織写真である。
【図26】 サンプル13~16,21~24それぞれの縦断面のα-Mg相の平均結晶粒径(組織長)を示す図である。
【図27】 サンプル13~16,21~24それぞれのα-Mg相の結晶粒のアスペクト比を示す図である。
【図28】 サンプル5~8それぞれの0.2%耐力を測定した結果を示す図である。
【図29】 サンプル9~12それぞれの0.2%耐力を測定した結果を示す図である。
【図30】 サンプル13~16それぞれの0.2%耐力を測定した結果を示す図である。
【図31】 サンプル17~20それぞれの0.2%耐力を測定した結果を示す図である。
【図32】 サンプル21~24それぞれの0.2%耐力を測定した結果を示す図である。

代表図 図1本件の代表的な図

11…マグネシウム合金母材ワイヤ 12…マグネシウム合金のワイヤまたはマグネシウム合金母材ワイヤ 13…ダイス D…マグネシウム合金のワイヤの線径 d3…マグネシウム合金母材ワイヤの線径

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