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マグネシウム合金のワイヤ及びその製造方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一態様は、線径が５０μｍ以下に細線化しても切れにくいマグネシウム合金のワイヤまたはその製造方法を提供することを課題とする。 また、本発明の一態様は、α－Ｍｇ相の平均結晶粒径を１μｍ以下とすることで高強度を有するマグネシウム合金のワイヤまたはその製造方法を提供することを課題とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

以下に本発明の種々の態様について説明する。 ［１］８０原子％以上のＭｇを含有し、α－Ｍｇ相を有するマグネシウム合金のワイヤにおいて、 前記ワイヤの線径をＤとし、前記ワイヤの長手方向に切断した断面で観察した前記α－Ｍｇ相の平均結晶粒径をＬとし、前記長手方向に対して垂直方向に切断した断面で観察した前記α－Ｍｇ相の平均結晶粒径をｄとした場合に下記の（式４１）、（式４２）及び（式４３）を満たすこ・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の一態様によれば、線径が５０μｍ以下に細線化しても切れにくいマグネシウム合金のワイヤまたはその製造方法を提供することができる。
また、本発明の一態様によれば、α－Ｍｇ相の平均結晶粒径を１μｍ以下とすることで高強度を有するマグネシウム合金のワイヤまたはその製造方法を提供することができる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明の一態様に係るマグネシウム合金のワイヤの製造方法を説明するための断面図である。
【図2】 実施例１によるサンプル１、サンプル２、サンプル３及びサンプル４それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図3】 実施例１によるサンプル５のワイヤの横断面でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図4】 図２に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図5】 図３に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図6】 サンプル１～５それぞれの横断面のα－Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。
【図7】 サンプル１～４それぞれのワイヤの長手方向に切断した断面（縦断面）で観察した組織写真である。
【図8】 サンプル１～５それぞれの縦断面のα－Ｍｇ相の平均結晶粒径（組織長）を示す図である。
【図9】 α－Ｍｇ相の結晶粒のアスペクト比を示す図である。
【図10】 サンプル２～５それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。
【図11】 実施例２によるサンプル５、サンプル６、サンプル７及びサンプル８それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図12】 実施例２によるサンプル９、サンプル１０、サンプル１１及びサンプル１２それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図13】 実施例２によるサンプル１３、サンプル１４、サンプル１５及びサンプル１６それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図14】 実施例２によるサンプル１７、サンプル１８、サンプル１９、サンプル２０、サンプル２５及びサンプル２６それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図15】 実施例２によるサンプル２１、サンプル２２、サンプル２３、サンプル２４、サンプル２７及びサンプル２８それぞれのワイヤの長手方向に対して垂直方向に切断した断面（横断面）でＥＢＳＤにより測定した際の粒径分布を示す組織写真である。
【図16】 図１１に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図17】 図１２に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図18】 図１３に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図19】 図１４に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図20】 図１５に示す粒径分布を結晶粒径とその比率の関係で示す図である。
【図21】 サンプル５～８それぞれの横断面のα－Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。
【図22】 サンプル９～１２それぞれの横断面のα－Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。
【図23】 サンプル１３～１６それぞれの横断面のα－Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。
【図24】 サンプル１７～２０，２５，２６それぞれの横断面のα－Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。
【図25】 サンプル２１～２４，２７，２８それぞれの横断面のα－Ｍｇ相の平均結晶粒径を示す図である。
【図26】 サンプル１３～１６それぞれのワイヤの長手方向に切断した断面（縦断面）で観察した組織写真である。
【図27】 サンプル２１～２４，２７，２８それぞれのワイヤの長手方向に切断した断面（縦断面）で観察した組織写真である。
【図28】 サンプル１３～１６，２１～２４，２７，２８それぞれの縦断面のα－Ｍｇ相の平均結晶粒径（組織長）を示す図である。
【図29】 サンプル１３～１６，２１～２４，２７，２８それぞれのα－Ｍｇ相の結晶粒のアスペクト比を示す図である。
【図30】 サンプル５～８それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。
【図31】 サンプル９～１２それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。
【図32】 サンプル１３～１６それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。
【図33】 サンプル１７～２０，２５，２６それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。
【図34】 サンプル２１～２４，２７，２８それぞれの０．２％耐力を測定した結果を示す図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１１…マグネシウム合金母材ワイヤ １２…マグネシウム合金のワイヤまたはマグネシウム合金母材ワイヤ １３…ダイス Ｄ…マグネシウム合金のワイヤの線径 ｄ３…マグネシウム合金母材ワイヤの線径

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